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电波暗室的设计及校准测试

电波暗室的设计及校准测试

paper,thecaseofdesignandmeasurementforanechoicchamberinNIMisintroduced

Keywords

normalizedsiteattenuati0n(NSA);fielduniformity(FU);absorbermaterial

1引言

在电磁兼容领域,辐射骚扰测试场地主要有开阔场

和电波暗室.为了满足规范化条件,通常对测试场地提

出严格的要求.不同的场地有不同的缺点与问题,在辐

射测量中,场地引起的测量不确定度往往可能大于仪表

引起的不确定度.多年来,测量场地一直是人们关注的

热点问题.

2电波暗室的工作原理

电波暗室(AnechoicChamber)X称电波消声室,或电

波无反射室.有两种结构形式:

电磁屏蔽半波暗室

(ElectromagneticShieldedSemi—AnechoicChamber)和微

波电波暗室(MicrowaveAnechoicChamber),又称全电波

暗室.

由于开阔试验场远离市区,使用不便,或者建在

市区,背景噪声电平大而影响EMC测试,于是模拟开

阔试验场的电磁屏蔽半波暗室成了应用较普遍的

EMC测试场地.美国FCC,日本VCCI以及IEC,CISPR

等标准都容许用电磁屏蔽半电波暗室替代开阔试验场进

行EMC测试.

电波暗室是一个大体积的无反射的金属体,其功能

主要为两方面,其一为具有完全屏蔽的金属外壳,用来屏

蔽外面的电磁场,使得内部不存在各种电磁波的干扰;其

二是在内部屏蔽体上全部安装能吸收电磁波的吸波材

料,以便在壳体内部形成无反射的区域,相对于电磁波来

讲,可以称为暗室.为了达到无反射区的均匀,各向同性

的电磁场分布,需要优化设计电波暗室系统,包括:

屏蔽

室的优化尺寸,吸波材料的性能和形状,屏蔽门的位置

等.这就要求在设计和建造暗室之前进行仿真计算,同

时对仿真模型进行优化.

本文按照计量院施工场所的尺寸设计了所建的电波

暗室.为了充分利用现有设备和场地,仿真设计目标为:

建立的电波暗室要求最高可用频率为18GHz,场地归一

化衰减性能应满足±3.0dB,电场均匀性满足0-6dB的要

求.随后按照仿真设计方案建造了电波暗室.

3电波暗室设计与性能分析

电波暗室的设计是依据标准开阔场地的要求,很多

电磁兼容测试标准中都对开阔场地有描述,在ANSIC

63.4—2002,CISPR16—1993和GB9254--1998中,规定了

开阔试验场的构造特征.它是一个平坦的,空旷的,电导

率均匀良好的,无任何反射物的椭圆形试验场地.其长轴

是两焦点距离的2倍;短轴是焦距的\/3倍.发射天线

(或被试设备)与接收天线分别置于椭圆的两焦点上,如

图1所示.

目前,在众多电磁兼容性标准中,对电子设备辐射干

扰的测试及对开阔试验场的校验,均在3m法,10m法

和30m法情况下进行.因此,椭圆形开阔试验场尺寸的

大小与所要满足的试验有关.如需满足30m法试验,则

场地应为60mx52m;如只要满足10m法试验,则场地

 

椭同形试验场的边界

图1椭圆形测试场地与天线布置

只须20mxl8m就可以了.

为了与实际建造的电波暗室保持一致性,仿真模型

尺寸根据即将建造的电波暗室的尺寸确定.仿真模型包

含了材料的特性,发射天线的实际模型以及搅拌桨的模

型等重要参数.本文的计算模型非常接近实际情况.

(1)电波暗室的屏蔽体

屏蔽室是一个用金属材料制成的大型六面体房间.

其四壁和天花板,地板均采用金属材料f如铜网,钢板或

铜箔等)制造.由于金属板(网)对入射电磁波的吸收损耗,

界面反射损耗和板中内部反射损耗,而使屏蔽室产生屏

蔽的作用.设计的电波暗室长为23m,宽为19m,高为

11.4m.屏蔽室金属壁的材料是镀锌钢板,取其电导率

盯=1.72x10S/m,厚度为2.5mm.在仿真模型中,忽略了

门的位置和效应,因此,这个模型中整个屏蔽体是一个密

封的金属长方体.

(2)暗室的材料

在EMC的测试中,场地是检测中的主要部分之一,

EMC的各个测试项目都要求有特定的测试场地,测试场

地影响测试结果.半电波暗室的结构设计包含暗室尺寸

的确定,吸波材料的选择和布置,地板和电源等内容.

鉴于半电波暗室中的测试环境是要模拟开阔试验场

的传播条件,因此暗室尺寸应以开阔试验场的要求为依

据:

测试距离R为3m,10m等,测试空间的长度为2R,

宽应为,/R.高度应考虑为上半个椭园的短轴高度

/3R/2加上发射源的高度.由于今后要对半电波暗

室进行归一化场地衰减的测试和评定,要求发射天线

的最大高度为2m,所以暗室高度应考虑为,/3/5/2+2.

进行10m法测试时,接收天线的高度要求在1~4m范

围内改变;如采用垂直极化天线,还应在4[11E加天线上

半部尺寸和天线端与暗室顶部吸波材料尖端间的距离

0.25m.因此,lOm法测试空间高度约10.3m.3m法所

需测试空间比较小,尺寸也小,暗室造价相对比较便宜.

10m法半电波暗室必须采用钢支撑结构,用以承

受所有的屏蔽和安装设施重量(包括吸波材料等),所有

重量及负载通过钢结构传导到t昆凝土地面.10m法半

电波暗室屏蔽体应采用全进口钢板拼装结构(或焊接

结构),钢板拼接处应保证优异的射频屏蔽和电接触;

屏蔽体的底部在建造时应经过防潮处理,具有一定的抗

震裂度;混凝土地面最大可允许波纹度在3m距离内

小于±3mm;屏蔽体应采用单点接地方式,接地电阻小

于2l-I;屏蔽体的顶部应合理设计,应能承受足够的重

量;安装完吸收体后,屏蔽体的顶部和四周应不发生明显

的变形;屏蔽室内表面应非常平整,满足盯≤±10mm,便

于安装铁氧体,绝缘板固定在屏蔽板内表面.供电系统对屏

蔽壁应能承受1500V的试验电压,绝缘电阻大于2MfI.

10m法半电波暗室底部钢板不兼作反射钢板,高架

地板为钢板式结构,以便有平整的反射面,高架地板高度

根据转台高度确定,转台应与10m法半电波暗室反射地

面平齐.高架反射地板,高约50cm,使用模块式安装,表

面为不锈钢板,不锈钢板下面可以有衬板,维修人员可以

进入反射地板下面;每平方米承载大于1000kg时,保持

平整,不变形,满足盯≤±10mm;高架反射地板应和10m

法半电波暗室的屏蔽体f墙)有良好的电连接,连接电阻小

于2l-I.从大门到6.5m转台之间的高架反射地板应能

承受6000kg的重量,以便汽车的进出.

4校准测试

开阔试验场地建成后,必须进行归一化场地衰减的

测试,在以后的长期使用过程中,还要进行定期检测,以

确认含设备在内的场地高频特性的适用性.

测量NSA的方法有两种:

一种是离散频率法,即使

用调谐偶极子天线,针对所需频率调整其长度进行测量

的方法;另一种是扫描频率法,即用宽带天线进行扫频测

量.现以离散频率法为例,介绍开阔试验场NSA的测试.

测量布置如图2,图3所示.

jl'-------—————-------?

—----—--------————-----—-————------——一

03m,

1Om或30mI

图2水平极化场地衰减测量设备布置图

接收天线安装在一个可在一定高度范围内升降的天线

杆上.它距发射天线为3m,10m和30m,并用电缆连接到

和功率放大器(in10W1000,1~1000MHz,10w).

NSA的测量值A按式

(1)计算:

Ar.—AA—△AF

(1)

式中,厂发射天线输入电压,dBIxV,dBIxV;一接收天线

输出电压,dBIxV;AFT一发射天线系数,dB;AFR一接收天

线系数,dB;△4互阻抗修正系数,dB.

既然半电波暗室是为模拟开阔试验场而建造,暗室

中的NSA就应和开阔场相一致,测试值与标准值之差小

于±4dB.ANSIC63.4—1992,CISPR22—1997对半电波暗

室模拟开阔场的NSA测量作了如下规定:

①用双锥天线

和对数周期天线等宽带天线进行测量,而不用调谐偶极

子天线.估计是因为前者低频端几何尺寸比后者小,又便

于扫频测试.②考虑到受试设备具有一定体积,设备上各

点与周边吸波材料距离不同,应对受试设备所占空间进

行多点NSA测量.具体是在发射天线所处中心位置及

前,后,左,右各移动O.75ITI的5个点,以及发射天线在

不同高度陲直极化时1ITI和1.5ITI,水平极化时lITI和2m)

下进行.因此总共要进行2O种组合情况下的NSA测量,

包括5个位置,2个高度,2种极化.CISPR22—1997给出

了使用宽带天线和推荐尺寸的半电波暗室归一化场地衰

减标准值.天线布置如图4所示.

我们根据相关标准完成了NIM所建标准10ITI法暗

室的检测,其NSA结果如图5和图6所示.

进行电磁辐射敏感度测量时,需在被测设备(EUT)处产

生规定的场强f310V/m),考察是否会引起EUT工作性能下

降.由于EUT表面有一定范围,所以在EUT区域内规定了

个1-5mx1.5m的垂直平面,要求该平面上场强均匀,这就

是测试面场的均匀性.具体做法是:

把该面均匀划分16个

点,如图7所示.用各向同性探头测量每个点的场强,取数

值最接近的12个值,剔除另外4个.l2个值中,最大和最小

图4测试位置示意图

测试距离:

10Ill,测试空问:

D=6Ill

^

/j.法J

l瓣

i,,谭\,f

露i,,.tf,/,,曩

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'

艚固'

v,

3O4o5O6o7O8o90100110120130140150160170180190200

f/MHz

图5归一化场地衰减测试结果(30-200MHz)

测试距离:

10m,测试空间:

D=6m

l

l

lJ

I

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图6归一化场地衰减测试结果(200~1000MHz)

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的差值小于6dB,则认为i亥测试面场是均匀的.可以i亍电磁辐射敏感度的检测.

图7垂直平面16点测试位置

在进行均匀性测试时,要求在发射天线与受试设备间的地面上铺设吸波

材料,防止地面反射影响场的均匀性.此外,各向同性探头应采用光缆与场强

计相连.不能用普通金属屏蔽电缆,否则会产生很大误差.暗室的场均匀性校

准是为了评估新建的电波暗室测试面场强均匀性,其测试结果如图8所示.

垂直极化verticalpolafisation

l1IIIIl

I100%75%--+6dB

l

L

L』.

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.

-jWj削J/,/,,/I/—弭

'\I,1

05Ol0Ul5O20o25O30U35O4叫45050U55O6oo6507叫75U踟U5090U9501000

f/MHz

图8场均匀性测试结果

5结论

在NIM新建的电波暗室项目中,可以看出,其NSA整体小于±3.0dB,是

个比较理想的测试场地,因而可以认为,要想得到一个好的电波暗室,就必

须从设计开始,选用好的吸波材料,通过仿真计算,模拟出最佳位置模型,尺

寸尽可能地接近理论要求,才能得到理想的NSA测量值.

暗室的性能极大地依赖于暗室的设计与建造.一旦建造完成,很难进行

大的修改.因此,设计阶段应尽量考虑周全合理.建造时应精心施工,保证质

量,才能使暗室最终具有良好的性能.

参考文献

[1]吴钒武彤.30-1000MHz天线校准系统研制报告E京:

中国计量科学研究院,2002.

【2]电子工业部标准化研究所.GB9254--1998信息技术设备的无线电骚扰限值和测

量方法[s].北京:

中国标准出版礼.1998.

[3】吴毅,杨盛祥.高频,微波场强与干扰的计量测试[M].北京:

计量出版社,1986.

编辑:

王淑华E-mail:

wangsh@cesi-

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