《单片机原理与应用》实验指导书.docx

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《单片机原理与应用》实验指导书

 

《单片机原理与应用》

实验指导书

 

目录

实验一无符号双字节乘法运算子程序

实验二BCD码与ASCII码转换

实验三P1口实验

实验四数码显示实验

实验五8279键盘显示接口实验

实验六8259中断控制器实验

 

实验一无符号双字节乘法运算子程序

一、实验目的:

熟悉MCS-51指令系统,学会使用KeilC编程软件。

熟悉汇编语言编程。

二、实验设备:

EL-8051-III型单片机实验箱。

三、实验内容:

(1)在(R2R3)和(R6R7)中输入双字节无符号整数。

(2)将(R2R3)和(R6R7)中双字节无符号整数相乘,积存入R2R3R4R5中。

(3)连续或单步运行所编程序。

检查R2R3R4R5中的内容是正确。

四、实验原理:

R6R7

R2R3

R4R5

BA

BA

BA

(B)R2(B+B+A)R3(R4+A+A)R4R5

5、实验调试

1、打开Keil,新建Keil项目;

2、选择CPU类型为ATMEL中的AT89C52单片机;

3、根据流程图新建汇编源程序(*.asm),并保存;

4、在项目管理器窗口(projectwindows)中,将新建的ASM源程序添加到“sourcegroup1”中;

5、在Keil中选择“project”→“buildtarget”菜单,编译汇编源程序,如有错,修改后重新编译;

6、选择“debug”→“start/stopdebugsession”菜单,进入程序调试环境;

7、按“F11”键,单步运行程序,观察“projectwindows”中,寄存器R0~R7的变化情况,最后验证R2R3R4R5无符号双字节相差的结果是否正确(可和程序/附件计算器的相乘结果对比)。

六、参考程序

 

实验二BCD码与ASCII码转换程序

一、实验目的:

熟悉MCS-51指令系统,学会使用KeilC编程软件。

熟悉汇编语言编程。

二、实验设备:

EL-8051-III型单片机实验箱。

三、实验内容:

将本人的班号学号以压缩的BCD码的形式由低到高存放在50H开始的单元中,如11050941班,学号为01的同学,将1150H、0551H、0952H、4153H、0154H。

然后编程将50H~54H中压缩的BCD码转换成ASCII码,并由低到高存放在60H开始的单元中。

四、参考程序

 

实验三P1口实验

一、实验目的:

1.学习P1口的输出输入使用方法。

2.学习延时子程序的编写和使用。

二、实验设备:

EL-8051-III型单片机实验箱。

三、实验内容:

1.P1口做输出口,接八只发光二极管,编写程序,使发光二极管循环点亮。

2.P1口做输入口,接八个按纽开关,以实验箱上74LS273做输出口,编写程序读取开关状态,在发光二极管上显示出来。

四、实验原理:

P1口为准双向口,P1口的每一位都能独立地定义为输入位或输出位。

作为输入位时,必须向锁存器相应位写入“1”,该位才能作为输入。

8031中所有口锁存器在复位时均置为“1”,如果后来在口锁存器写过“0”,在需要时应写入一个“1”,使它成为一个输入。

可以用第二个实验做一下实验。

先按要求编好程序并调试成功后,可将P1口锁存器中置“0”,此时将P1做输入口,会有什么结果。

再来看一下延时程序的实现。

现常用的有两种方法,一是用定时器中断来实现,一是用指令循环来实现。

在系统时间允许的情况下可以采用后一种方法。

本实验系统晶振为6.144MHZ,则一个机器周期为12÷6.144us即1÷0.512us。

现要写一个延时0.1s的程序,可大致写出如下:

MOVR7,#X

(1)

DEL1:

MOVR6,#200

(2)

DEL2:

DJNZR6,DEL2(3)

DJNZR7,DEL1(4)

上面MOV、DJNZ指令均需两个机器周期,所以每执行一条指令需要1÷0.256us,现求出X值:

1÷0.256+X(1÷0.256+200×1÷0.256+1÷0.256)=0.1×10⁶

指令

(1)指令

(2)指令(3)指令(4)

所需时间所需时间所需时间所需时间

X=(0.1××10⁶-1÷0.256)/(1÷0.256+200×1÷0.256+1÷0.256)=127D=7FH

经计算得X=127。

代入上式可知实际延时时间约为0.100215s,已经很精确了。

五、实验原理图:

P1口输出实验

 

P1口输入实验

 

六、实验步骤:

执行程序1(T1_1.ASM)时:

P1.0~P1.7接发光二极管L1~L8。

执行程序2(T1_1.ASM)时:

P1.0~P1.7接平推开关K1~K8;74LS273的O0~O7接发光二极管L1~L8;74LS273的片选端CS273接CS0(由程序所选择的入口地址而定,与CSO~CS7相应的片选地址请查看第一部分系统资源,以后不赘述)。

七、程序框图:

 

循环点亮发光二极管

通过发光二极管将P1口的状态显示

八、参考程序:

 

实验四数码显示实验

一、实验目的:

1.进一步掌握定时器的使用和编程方法。

2.了解七段数码显示数字的原理。

3.掌握用一个段锁存器,一个位锁存器同时显示多位数字的技术。

二、实验设备:

EL-MUT-III型单片机实验箱、8051CPU模块

三、实验原理:

本试验采用动态显示。

动态显示就是一位一位地轮流点亮显示器的各个位(扫描)。

将8031CPU的P1口当作一个锁存器使用,74LS273作为段锁存器。

四、实验题目

利用定时器1定时中断,控制电子钟走时,利用实验箱上的六个数码管显示分、秒,做成一个电子钟。

显示格式为:

分秒

定时时间常数计算方法为:

定时器1工作于方式1,晶振频率为6MHZ,故预置值Tx为:

(2e+16-Tx)x12x1/(6x10e+6)=0.1s

Tx=15535D=3CAFH,故TH1=3CH,TL1=AFH

五、实验电路:

六、实验接线:

将P1口的P1.0~P1.5与数码管的输入LED6~LED1相连,74LS273的O0~O7与LEDA~LEDDp相连,片选信号CS273与CS0相连。

去掉短路子连接。

 

七、参考程序:

8、程序框图:

 

实验五8279键盘显示接口实验

一、实验目的:

1.进一步了解8279键盘、显示电路的编程方法。

2.进一步了解键盘电路工作原理及编程方法。

二、实验设备:

EL-MUT-III型单片机实验箱、8051CPU模块

三、实验原理:

本实验用到了8279的键盘输入部分。

键盘部分提供的扫描方式最多可和64个按键或传感器阵列相连,能自动消除开关抖动以及对多键同时按下采取保护。

由于键盘扫描由8279自动实现,简化了键盘处理程序的设计,因而编程的主要任务是实现对扫描值进行适当处理,以两位十六进制数将扫描码显示在数码管上。

可省略对8279进行初始化,因为监控程序对8279已经进行了初始化,详见第三章键盘操作说明的4.5节。

四、实验题目

利用实验箱上提供的8279,键盘电路,数码显示电路,组成一个键盘分析电路,编写程序,要求在键盘上按动一个键,就将8279对此键扫描的扫描码显示在数码管上。

五、实验电路:

六、实验接线:

将键盘的KA10~KA12接8279的KA0~KA2;RL10~RL17接8255A的RL0~RL7;

7、参考程序:

8、实验提示:

编译全速运行程序后,按某一键,数码管将显示键值,可仔细观察键与键值的对应关系。

 

实验六8259中断控制器实验

一、实验目的:

1、学习8259中断扩展控制器的工作原理。

2、学习8259中断扩展控制器的使用方法。

二、实验设备:

EL-MUT-III型单片机实验箱、8051CPU模块

三、实验内容:

向8259中断扩展控制器写入控制命令字,通过发光二极管观察中断情况。

四、实验原理图

五、实验接线:

1、8259的片选CS8259与CS0相连;51INTX与INT0相连;

2、P1.0----P1.7与发光二极管的输入LED1---LED8相连;P+逐次与IR0---IR7相连。

六、实验步骤:

1、编译、全速运行程序T18.ASM,应能观察到发光二极管点亮约2秒后熄灭,

2、先将P+与IR0相连,按动PULSE按键,发光二极管LED1点亮,再按PULSE键,发光二极管LED1熄灭,依次将P+与IR1---IR7相连,重复按动PULSE键,相应的LED发光二极管有亮、灭的交替变化。

7、参考程序:

八、程序框图:

实验报告

实验:

实验题目:

姓名:

学号:

专业:

一、实验目的

 

二、实验原理

 

三、流程图

 

四、源程序

 

五、实验结果及分析

(请记录单步调试时观察到的各个寄存器变化、遇到的问题及解决方法)

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