IQ正交调制器基础知识和测试详解.docx

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IQ正交调制器基础知识和测试详解

IQ正交调制器基础知识和测试详解

1. 概述

近几年来,移动通信在我国得到了迅速的发展和普及,无线通信的发射机与接收机技术也得到迅猛发展。

射频发射机的主要功能是实现基带信号调制、上变频和功率放大。

与接收机的结构相比,发射机的结构相对比较简单。

通常有:

· 直接上变频(又称:

零中频调制)

· 间接上变频(又称:

两级变频或超外差式)

· 数字中频发射机

标准的IQ正交调制电路的结构非常简单,它分为IQ基带发生器和IQ混频器两大部分。

不管是调幅,调频或是调相信号,只需要通过改变不同的IQ基带信号就可以实现。

而IQ调制器的作用是将基带IQ信号搬移到载波上。

正交调制器通常能实现较高的相位精度与幅度平衡,非常适合于通信系统中的直接上变频(零中频调制),因此广泛用于直接上变频发射机,例如蜂窝移动通信、WLAN、UWB超通信系统、蓝牙、GPS等系统中,是现代无线通信系统中的关键元件。

下图1所示是正交调制器的框图,如果用于直接上变频发射机,省去了第二本振,中频滤波器和混频器,使发射机系统结构简化,从而降低了成本、体积和功耗。

图1.正交调制器原理框图

正交调制器的固有缺点在于本振泄漏和边带抑制(本振泄漏主要是由IQ信号的直流偏置,IQ差分信号的不平衡性以及本振和射频的隔离指标差等因素造成的)。

理想情况下,正交调制器只是完成基带频谱的搬移和叠加,不会造成信号的带外频谱增生或是产生带内失真。

正交调制器会不可避免的存在非理想因素,使得输出信号产生各种失真,影响通信质量,所以正交调制器的射频性能需要进行全方面的测试。

测试IQ调制器的镜像抑制一般采用单边带CW信号,输入的I信号:

sinω0t,Q信号:

cos⁡ω0t与正交本振混频以后可得调制信号s(t),其中ω0一般为扫频信号,从DC附近开始到几十或几百兆:

 s(t)=sinω0t∙cosωct-cosω0t∙sinωc t

    =sin⁡(ωc-ω0 )t

如果IQ调制器完全理想,只会在(ωc-ω0)处产生一个单边带信号(单边带CW信号),但是由于调制器的不理想性,也会在(ωc+ω0)处产生一个镜像信号。

与此同时在本振频率ωc位置也会有一个信号,称为本振泄漏。

本振和镜像信号的抑制度是IQ调制器的重要指标。

图2是一个典型的IQ调制器的单边带CW输出结果,载波为10G,IQ信号为30MHz,测试得到镜像信号的抑制度为42dB。

此时采用任意波形发生器产生两路30MHz的sin和cos信号,分别提供给IQ调制器作为基带输入,也可以使用带有双源选件的矢网的两个通道输出相位差恒定为90度的CW连续波,用矢网的另一个好处就是,可以实现扫频模式下的本振和镜像抑制度的测试。

图2.频谱仪测试矢量信号源的IQ调制镜像抑制度

2.测试任务

本文采用的正交调制器待测件是来自ANALOGDEVICES的ADL5371,它的工作频率范围:

500MHz~1.5GHz。

下图3所示,该器件I+,I-,Q+,Q-端口分别为IQ双路差分基带输入,LO为单端本振输入(LOIN接匹配负载)。

基带输入需要500mV的偏置电压。

射频输出VOUT为单端50Ω。

图3.正交调制器ADL5371pin(左)和ADL5371的评估板

测试时,ADL5371的评估板需要输入0dBm、900MHz的单端本振。

IQ双路差分基带输入的正弦波的峰峰值为1.4V,频率为1MHz,并且带有500mV的偏置电压。

测试项目包括:

输出功率;输出1dB压缩点;载波馈通;边带抑制;正交相位误差;IQ幅度不平衡性;二次、三次谐波抑制;TOI;基带到射频幅频响应。

3.测试平台

测试平台的核心是矢量信号源和信号与频谱分析仪,如下图所示。

还包括直流电源和万用表(电压测量)。

ADL5371安装在评估板QMOD上。

矢量信号源通常配备了差分IQ输出,可以将基带IQ以差分信号的形式从后面板的四个BNC接头输出。

图4.正交调制器测试平台

4.测试结果

4.1信号源基本设置

4.2~4.4的测试项目中信号源设置如下图所示,基带产生1MHz的正弦波,基带IQ输出采用差分模式,输出电压峰值为0.7V,IQ端口偏置电压500mV。

图5.信号源SMU200A基本设置

4.2输出功率

从图6的标注M1看出,输出功率7.86dBm

图6.输出功率测试结果

4.3本振泄漏和边带抑制、二次谐波和三次谐波

从图7中D3,D2看出,边带抑制-51.5dBc,本振泄漏-57dBc

从图7中D4,D1看出,二次谐波抑制度为-72dB,三次谐波抑制度为-53dB。

图7.输出功率测试结果本振泄漏和边带抑制、二次谐波和三次谐波测量结果

4.41dB压缩点

按1dB的步进增大差分IQ输出的电压,在频谱仪上看到输出功率的增加值小于1dB时就测出了1dB压缩点,从下图8中看出,输出压缩点为13.8dBm,在信号源上读取对应的输入IQ功率为1.567V。

图8.1dB压缩点测量结果

4.5IQ幅度不平衡性和正交相位误差

信号源产生1M符号速率的QPSK,IQ输出的设置与前面的测试项目相同。

使用频谱仪的矢量信号分析(VSA)解调,下图9测试结果显示正交相位误差为0.08度,IQ幅度不平衡性为0.04dB。

图9.IQ不理想特性测量结果

4.6TOI

信号源标配的Multi-Carrier功能产生3.5MHz和4.5MHz的双音IQ信号,IQ输出的设置与前面的测试项目相同,调整IQ输入电压直到双音信号输出功率到1.6dBm。

利用频谱仪自带的TOI功能测得TOI为27.7dBm。

图10.TOI测量结果

4.7基带到射频幅频响应

进行幅频响应测试需要用计算机程控信号源步进改变基带频偏,频谱仪的测量迹线采用最大保持功能。

从图11看出,从900MHz到940MHz,该正交调制器评估板的幅频响应最大值7.8dBm,最小值7.1dBm。

需要特别注意的是,上述的幅频响应测量结果是对ADL5371评估板的测量结果,如果要得到ADL5371芯片的1dB和0.1dB带宽,还需对评估板电路的电路特性进行校准并修正。

图11.幅频响应测量结果,采用SMU200A测量(上)与AFQ100B测量(下)

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