螺旋测微器校验规程.docx
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螺旋测微器校验规程
螺旋测微器校验规程
1.0目的
规范螺旋测微器校验的操作，确保螺旋测微器的测量精度处于受控状态，检验结果真实、可靠，以确保产品品质。
2.0范围
本规程适用于分度值为0.01mm测量范围至300mm螺旋测微器的内部校验。
螺旋测微器是应用螺旋副传动原理，将回转运动变为直线运动的一种通用长度计量器具，主要用于测量各种外尺寸。
又称千分尺（micrometer）、螺旋测微仪、分厘卡。
螺旋测微器分为机械式千分尺和电子千分尺两类。
3.0参考文件
JJG21-2008千分尺检定规程
GB/T1216-2004《外径千分尺》
JJG34-2008指示表（指针式，数显式）检定规程
JJF1071国家计量校准规范编写规则
JJF1001通用计量术语及定义
GBT/T8170数值修约规则与极限数值的表示和判定
4.0计量特性
4.1测微螺旋杆的轴向窜动和径向摆动
测微螺旋杆的轴向窜动和径向摆动均不大于0.01mm。
4.2测钻工作面与测微螺旋杆工作面的相对偏移量，该偏移量见表1
表1测钻工作面与测微螺旋杆工作面的相对偏移量mm
测量范围
偏移量
0～25
0.05
25～50
0.08
50～75
0.13
75～100
0.15
100～200
0.2-0.3
200～300
0.3-0.4
4.3测力
外径千分尺工作面与球面接触时所作用的力为（5～10）N
4.4刻线宽度及宽度差
固定套管上的纵刻线和微分筒上的刻线宽度为（0.08～0.20）mm,刻线宽度差应不大于0.03mm。
4.5微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离
微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离应不大于0.4mm。
4.6微分筒锥面的端面与固定套管上毫米刻线的相对位置
当微分筒零刻线与固定套管纵刻线对准时，微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的右边缘应相切。
若不相切时，允许压线应不大于0.05mm，离线应不大于0.1mm。
4.7工作面的表面粗糙度
外径千分尺和校对用量杆工作面的表面粗糙度应不大于Ra0.05μm。
4.8工作面的平面度
工作面的平面度应不大于0.6μm。
4.9两工作面的平行度
两工作面的平行度应在表2规定范围内。
表2外径千分尺两工作面的平行度
测量范围/mm
平行度/μm
0～25
25～50
50～75
75～100
100～200
200～300
2
2
3
4
5
6～7
4.10外径千分尺的示值误差，应在表3的规定范围内
表3外径千分尺的示值误差
测量范围/mm
平行度/μm
0～100
100～150
150～200
200～300
±4～±5
±6
±7
±8～±9
4.11校对用的量杆
校对用的量杆尺寸偏差和变动量在表4规定的范围内。
表4校对用的量杆尺寸偏差和两工作面的平行度
标杆尺寸/mm
尺寸偏差/μm
变动量/μm
25
50
75
100～125
125～175
200～225
250～300
±2
±2
±3
±4
±4
±5
±6
1
1
1.5
2
2.5
3.5
3.5
5.0校准条件
5.1环境条件
校准外径千分尺的室内温度在表5的规定范围内，在室内平衡温度的时间不少于表5的要求，室内湿度不大于70%RH
表5校准外径千分尺的室内温度和室内平衡温度时间
测量范围/mm
室内温度对20℃的允许偏差/℃
平衡温度的时间/h
外径千分尺
校对用的量杆
～100
±5
±3
2
>100～>300
±4
±2
3
5.2校准用标准器及相应的设备
校准用标准器及相应设备的计量性能见表6
表6校准用标准器及相应设备的计量性能
名称
计量特性
杠杆千分表
平板
指示表
测力仪
读数显微镜或工具显微镜
塞尺
表面粗糙度比较样块
平面平晶
刀口尺
平行平晶
量块
测长机
分度值为0.002mm（1级）
3级
分度值0.01mm（1级）
分度值为0.1N（2.5级）
准确度≤10μm
2级
误差+12%～-17%
2级
1级
5等
±（0.5+L/100）μm
6.0校准项目和校准方法
首先检查外观，确定没有影响计量特性因素后再进行校准。
6.1测微螺杆的轴向窜动和径向窜动
采用手感法校准。
当有异议时，采取杠杆指示表与测微螺杆测量面接触。
沿测微螺杆轴向方向分别往返加力（3-5）N，杠杆千分表示值的变化量，即为轴向窜动量。
径向摆动的校准，将测微螺杆伸出距尺架内端10mm，用杠杆指示表接触测微螺杆径向顶部，分贝沿杠杆指示表测力方向和反向方向加力（2-3）N（要求在相互垂直的两方向测量）杠杆指示表示值的最大变化量，即为径向摆动量。
6.2测砧与测微螺杆工作面相对偏移量
在平板上用指示表校准。
将外径千分尺平放在平板上的3个可调支架上，在测微螺杆示值处于测量下限时，调整支撑使其测微螺杆轴线与平板工作面平行，然后用指示表测出测砧与测微螺杆在同一方位上至平板间的距离差△x，再用可调V形支撑把外径千分尺尺架转动90°后竖立固定于平板上，按上述方法测出△y，测砧工作面与测微螺杆工作面相对偏移量△，按下列求的：
△=△x²+△y²。
6.3测力
用量仪测力仪的球工作面与外径千分尺工作面相接触后，进行校准。
6.4刻线宽度及宽度差
用读数显微镜或工具显微镜校准。
微分筒和固定套管的刻线应至少任意各抽查3条进行测量。
6.5微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离
用0.4的塞尺至于固定套管刻线面上用比较法校准，微分筒锥面的端面棱边上边缘硬不高塞尺表面。
测量应在微分筒任意一周内不少于3个位置，也可用读数显微镜或工具显微镜校准。
6.6微分筒锥面的端面与固定套管上毫米刻线的相对位置
首先将外径千分尺测量下限调整正确，然后使微分筒锥面的端面与固定套管任意毫米刻线的右边缘相切，此时读取微分筒的零刻度线与固定套管纵刻度线的偏移量即为离、压线数值
6.7工作面的表面粗糙度
用表面粗糙度比较样块校准。
6.8工作面的平面度
用2级平面平晶以技术光波干涉法校准。
使用中核修理后的外径千分尺也可以用1级刀口尺以光隙法校准。
工作面直径为6.5mm的，距离边缘0.2mm范围内不计；工作面直径为8mm的距边缘0.5mm范围内不计。
6.9两工作面的平行度
测量上限至100mm的千分尺两工作面的平行度用平行平晶校准，也可用两块校准，量块精度不低于5等量块。
6.10外径千分尺的示值误差
外径千分尺示值误差校准用5等量块或相应等级的专用量块校准，受检点应均匀分布于测量范围的5点上，也可根据对测量不确定度的要求，在适当的环境条件下，采用不同等级的量块进行校准。
其分布点为：
L=A+B
式中：
A–测量下限mm；
B–测微头示值误差的被测点尺寸mm。
示值误差的校准应在外径千分尺尺身处于水平位置状态下进行。
6.11校对用的量杆
校对用的量杆的尺寸及变动量在光学计或测长机上采用相应等级的量块以比较法进行校准。
7.0校准结果表达
填写并完成测量仪器内部校验报告。
校准完后需填写校准记录由实验室或档案室保存至少3年。
8.0校准周期
校准周期可根据被校外径千分尺的使用情况，一般不超过一年，凡在使用过程中经过修理或示值调整的均需重新校准。
9.0记录表格
内校合格证
千分尺校验记录
内校合格证
内校合格证
仪器编号
校准日期
复效日期
校准人
千分尺校验记录
送样单位
分度值
0.01（mm）
制造厂
出厂编号
检定地点
本院
测量范围
0～25（mm）
检定温度
（℃）
相对湿度
（%）
检定前样品有效性检查
检定后样品有效性检查
检定用仪器使用前状态
检定用仪器使用后状态
本次检定所依据规程JJG21-2008《千分尺》
序号
检定项目
检定结果
1
外观
2
各部分相互作用
3
测微螺杆的轴向窜动和径向摆动
（mm）
4
测砧与测微螺杆测量面的相对偏移
（mm）
5
测力
（N）
6
刻线宽度及宽度差
（mm）
7
指针与刻度盘相对位置
（mm）
8
微分筒锥面的端面棱边至固定套筒刻线面的距离
（mm）
9
微分筒锥面的端面与固定套筒毫米刻线的相对位置
压线：
（mm）离线：
（mm）
10
测量面的平面度
固定测砧：
（μm）
活动测砧：
（μm）
11
数显外径千分尺的示值重复性
（μm）
12
数显外径千分尺的示值任意位置时数值漂移
（μm）
13
两测量面的平行度
（μm）
14
示
值
误
差
受检点
（mm）
千分尺读数误差
（μm）
量块误差
（μm）
受检点误差
（μm）
A
A+5.12
-0.12
A+10.24
-0.47
A+15.36
-0.40
A+21.50
-0.02
A+25.00
+0.07
15
数显千分尺细分误差
受检点
mm
0.04
0.08
0.12
0.16
0.20
0.24
0.28
0.32
0.36
0.40
0.44
0.48
误差
μm
16
校对用量杆
标称尺寸：
mm
实际尺寸：
mm
变动量：
μm
结论
主要设备名称
量块
主要设备编号
640047A、780027A
检定：
核验：
检定日期：
200年月日
注：
表中A表示千分尺测量下限
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