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半导体工艺仿真指导书

半导体工艺仿真实验指导书

——基于silvacoTCAD

 

光电学院微电子教研中心

王智鹏

2014.3

本指导书首先介绍了silvacoTCAD半导体工艺仿真软件的安装方法、主要界面信息与基本命令。

然后分别从半导体工艺仿真与半导体器件仿真入手,重点介绍了silvacoTCAD软件的仿真操作。

本指导书适用于《半导体工艺及器件仿真实验》、《半导体器件仿真综合课程设计》课程教学。

一、silvacoTCAD软件概述

1、软件的安装

a)1、运行安装文件,出现如图1.1的安装向导界面,勾选在“InstallLicenseServer”选项,点击Next,即开始安装程序。

图1.1silvacoTCAD安装向导界面

b)安装完毕后,根据提示,设置6位数服务器密码。

并保留图1.2中浏览器中自动打开的服务器网页。

图1.2服务器网页

c)运行桌面上快键方式“S.EDATools”,选择“StopServer”以停止服务。

把_key文件夹中的rpc.sflmserverd.exe文件复制到安装目录的“sedatools\lib\rpc.sflmserverd\8.0.3.R\x86-nt”目录中。

d)在快捷方式中运行“StartServer”。

e)浏览b)中保留的服务器网页。

若已关闭可运行快捷方式中的“SFLMAdmin”再次打开。

f)输入b)中设置的密码,点击login,并记录下方框中的“MachineIDs”。

g)打开_key文件夹中Silvaco.lic文件,如图1.3所示,将“LM_HOSTIDSxxxxxxxxxNL_HOSTIDS”中“xxxxxxxx”位置的内容替换为f)中记录的MachineIDs。

图1.3Silvaco.lic文件

h)将Silvaco.lic文件复制到目录sedatools\etc下。

i)浏览服务器网页,选择左边的“Installnewlicense”,弹出图1.4所示的“newlicense”窗口后,选择“InstallSavedFile”。

图1.4“newlicense”窗口

j)在如图1.5所示的窗口中浏览sedatools\etc目录,选择Silvaco.lic文件,并点击“Agree”。

图1.5浏览本地license文件

k)在图1.6所示的信息确认窗口中选择Done即完成安装。

若方框中MachineIDs所示内容包含“NL_HOSTIDS”,则重新修改Silvaco.lic文件,删除MachineIDs文本后面的“NL_HOSTIDS”。

图1.6信息确认窗口

 

2、

软件界面

a)运行快捷方式中DeckBuild,打开如图1.7所示的DeckBuild界面

图1.7DeckBuild界面

b)在DeckBuild中的Edit目录下,选择“Preferences”打开work文件夹设置窗口,在“workingdirectory”标签中可以查看或修改当前工作目录。

图1.8work文件夹设置

c)仿真完成后,通常会出现如图1.9的tonyplot结果显示窗口,用于显示仿真得到的二维、三维结构或结构特性曲线

图1.9结果显示窗口

d)在二维结构结果显示窗口中依次点击“plot”——“display”选项,弹出如图1.10的图形显示设置窗口。

在窗口中可以分别设置网格、边距、区域、等位线、矢量信息、光特性、结、电极、三维信息、颜色信息参数。

图1.10图形显示设置窗口

e)在特性曲线结果显示窗口中依次点击“plot”——“display”选项,弹出如图1.11所示的波形显示设置窗口。

在窗口中可设置曲线显示类型、坐标类型、XY轴显示量等参数。

图1.11波形显示设置窗口

f)在二维结构结果显示窗口中依次点击“tool”——“cutline”选项,弹出如图1.12所示的cutline窗口。

可以通过选取cutline,提取结构中某一点的特性参数。

图1.12cutline窗口

g)调取仿真实例

h)在deckbuild界面依次点击“help”——“example”菜单,启动如图1.13的“exampleloader”窗口。

图1.13“exampleloader”窗口

在“exampleloader”窗口第一行的下拉菜单中可以选择MOS、BJT等器件或Athena-implant等工艺类型,选定类型后可从下方列表中选取所需实例。

二、

silvacoTCAD工艺仿真操作

1、基本命令

a)go与quit

作用:

启动和退出仿真器。

例子:

goathena

#

linexloc=0spac=0.1

linexloc=0.2spac=0.006

.

.

.

tonyplot-overlay-stmos1ex02_1.log

quit

b)set

作用:

设置全局变量或tonyplot显示方式

例子:

settemp=1000

difusetime=30temp=$temp

此例中将“temp”设置为全局变量,在之后的仿真中声明“$temp”即可调用变量值。

c)tonyplot

作用:

图形显示仿真生成的器件结构、波形曲线等信息。

例子:

tonyplot-overlaycv.logiv.log-setshow.set

此例中将cv.log和iv.log两个文件,按照设置文件show.set的设置,叠加显示在一个窗口中。

d)extract

作用:

提取仿真中得到的器件、材料特性信息。

例子:

extractname=“gateox”thicknessoxidemat.occno=1

提取名称gateox厚度氧化物材料截取点1个x.val=0.49

x轴坐标0.49

此例中在x坐标0.49处,截取一个采样点,提取氧化物厚度,生成名为“gateox”的参数,并输出。

例子:

extractname=“nxj”xjsiliconmat.occno=1x.val=0.1

提取名称nxj结深硅材料截取点1个x轴坐标0.1

junc.occno=1

结截取点1个

此例中在x坐标0.1处,截取一个采样点,提取硅材料中的结深,生成名为“nxj”的参数,并输出。

e)structure

作用:

翻转已有结构,或保存、倒入结构文件

例子:

structureoutfile=filename.str

保存当前结构为结构文件“filename.str”。

structureinfile=filename.str

导入名为“filename.str”的结构文件。

structuremirrorleft

对当前结构做镜像翻转。

structureflip.y

对当前结构做上下翻转。

2、网格定义

a)衬底网格定义

命令:

line

参数:

x——x轴

y——y轴

location——坐标位置

spacing——格点间距

例子:

linexloc=0.0spacing=0.1

linexloc=1.0spacing=0.1

lineyloc=0.0spacing=0.2

lineyloc=2.0spacing=0.2

此例中定义x坐标起点0.0、终点1.0,格点间距0.1;y坐标起点0.0、终点2.0,格点间距0.2。

b)新增淀积层网格定义

参数:

divisions——格点分层数量

dy——设定格点间距

ydy——格点间距起始位置

min.dy_最小格点间距

min.space——最小边界间距

例子:

depositpolysiliconthick=0.50divisions=10dy=0.1

ydy=0.02min.dy=0.01min.space=0.01

此例中将厚度为0.5的多晶硅坐标格点分为10层,设定格点间距为0.1,从0.02处开始执行0.1的间距,最小格点间距0.01,最小边界间距0.01。

3、衬底初始化

a)命令与语法

INITIALIZE

[MATERIAL][ORIENTATION=][ROT.SUB=][C.FRACTION=]

[C.IMPURITIES=|RESISTIVITY=][C.INTERST=]

[C.VACANCY=][BORON|PHOSPHORUS|ARSENIC|ANTIMONY]

[NO.IMPURITY][ONE.D|TWO.D|AUTO][X.LOCAT=][CYLINDRICAL]

[INFILE=][STRUCTURE|INTENSITY][SPACE.MULT=]

[INTERVAL.R=][LINE.DATA][SCALE=][FLIP.Y]

[DEPTH.STR=][WIDTH.STR=]

b)常用参数:

MATERIAL——衬底材料

ORIENTATION——衬底晶向

C.IMPURITIES——衬底杂质浓度

RESISTIVITY——衬底电阻率

ONE.D,TWO.D,AUTO——仿真维度

c)例子:

initsiliconc.boron=3.0e15orientation=100two.d

此例中初始化衬底为100晶向的单晶硅,衬底掺杂浓度为3.0e15的硼杂质,仿真维度为二维。

initsiliconphosphorresistivity=10orientation=111

此例中初始化衬底为111晶向的硅,衬底掺杂磷,电阻率10。

4、氧化、扩散

a)命令与语法

DIFFUSE

TIME=[HOURS|MINUTES|SECONDS]

TEMPERATURE=[T.FINAL=|T.RATE=]

[DRYO2|WETO2|NITROGEN|INERT][HCL.PC=][PRESSURE=]

[F.02=|F.H2=|F.H20=|F.N2=|F.HCL=]

[C.IMPURITIES=][NO.DIFF][REFLOW]

[DUMP][DUMP.PREFIX=][TSAVE=][TSAVE.MULT=]

[B.MOD=][p.MOD=][AS.MOD=][IC.MOD=][VI.MOD=]

b)常用参数:

TIME——时间

HOURS,MINUTES,SECONDS——时间单位

TEMPERATURE——工作氛围温度

DRYO2,WETO2,NITROGEN——工作气体氛围

HCL.PC——氧化剂中HCL百分比

PRESSURE——工作气压

F.02,F.H2,F.H20,F.N2,F.HCL——气体流速

C.IMPURITIES——工作气氛中杂质及其浓度

c)例子:

diffusetime=30temp=1000c.boron=1.0e20

此例中设定扩散时间30分钟、恒温1000℃、掺杂硼浓度1.0e20。

diffusetime=30temp=1000dryo2

此例中设定扩散时间30分钟、恒温1000℃、气氛为干氧,则实际为氧化工艺。

diffusetime=10temp=1000f.o2=10f.h2=10f.hcl=.1

此例中设定扩散时间10分钟、恒温1000℃、氧气10L/min、氢气10L/min、HCL0.1L/min。

5、离子注入

a)命令与语法

IMPLANT

[GAUSS|PEARSON|FULL.LAT|MONTECARLO|BCA][CRYSTAL|AMORPHOUS]

IMPURITYENERGY=DOSE=[FULL.DOSE]

[TILT=][ROTATION=][FULLROTATION][PLUS.ONE][DAM.FACTOR=]

[DAM.MOD=][PRINT.MOM][X.DISCR=][LAT.RATIO1][LAT.RATIO2]

[S.OXIDE=][MATCH.DOSE|RP.SCALE|MAX.SCALE][SCALE.MOM][ANY.PEARSON]

[N.ION=][MCSEED=][TEMPERATURE=][DIVERGENCE=]

[IONBEAMWIDTH=][IMPACT.POINT=][SMOOTH=]

[SAMPLING][DAMAGE][MISCUT.TH][MISCUT.PH][TRAJ.FILE=]

[N.TRAJ=][Z1=][M1=]

b)常用参数:

GAUSS,BCA,PEARSON,FULL.LAT,MONTECARLO——离子注入模型

CRYSTAL,AMORPHOUS——设定衬底晶体结构

IMPURITY——注入杂质类型

ENERGY——注入能量

DOSE——注入剂量

TILT——离子束入射角

ROTATION——离子束与仿真面夹角

FULLROTATION——设置为全角度注入

TEMPERATURE——注入时衬底温度

c)例子:

implantphosphdose=1e14energy=50tilt=10

此例中设定磷注入、注入剂量1e14、注入能量energy=50、入射角10°。

6、淀积

a)命令与语法

DEPOSIT

MATERIAL[NAME.RESIST=]THICKNESS=

[SITOPOLY][TEMPERATURE=]

[DIVISIONS=][DY=][YDY=][MIN.DY=][MIN.SPACE=]

[C.IMPURITIES=][F.IMPURITIES=][C.INTERST=][F.INTERST=]

[C.VACANCY=][F.VACANCY=][C.FRACTION=]F.FRACTION=]

[MACHINE=][TIME=][HOURS|MINUTES|SECONDS]

[N.PARTICLE=][OUTFILE=][SUBSTEPS=][VOID]

b)常用参数:

MATERIAL——淀积材料

NAME.RESIST——淀积光刻胶类型

THICKNESS——淀积厚度

C.IMPURITIES——淀积层杂质浓度

F.IMPURITIES——淀积层顶部杂质浓度

c)例子:

depositaluminthick=0.03divi=2

此例中淀积厚度为0.03的铝,材料厚度纵向分为2层。

depositmaterial=BPSGthickness=0.1div=6c.boron=1e20c.phos=1e20

此例中淀积厚度为0.1的BPSG,含硼杂质浓度1e20,磷杂质浓度1e20,材料厚度纵向分为6层。

7、刻蚀

a)命令与语法

ETCH

[MATERIAL][NAME.RESIST]

[ALL|DRY][THICKNESS=][ANGLE=][UNDERCUT=]

[LEFT|RIGHT|ABOVE|BELOW][P1.X=][P1.Y=][P2.X=][P2.Y=]

[START|CONTINUE|DONE][X=][Y=]

[INFILE=][TOP.LAYER][NOEXPOSE][DT.FACT=][DT.MAX=]

[DX.MULT=][MACHINE=][TIME=][HOURS|MINUTES|SECONDS]

[MC.REDEPO][MC.SMOOTH=][MC.DT.FACT=][MC.MODFNAME=]

b)常用参数:

MATERIAL——刻蚀材料

NAME.RESIS——刻蚀光刻胶种类

THICKNESS——刻蚀厚度

LEFT,RIGHT,ABOVE,BELOW——指定刻蚀区域方向

P1.X,P1.Y,P2.X,andP2.YT——指定刻蚀区域坐标

ALL——刻蚀所有指定材料

c)例子:

etchaluminiumrightp1.x=1.5

此例中刻蚀x坐标1.5右侧的铝。

etchoxideall

此例中刻蚀所有氧化物。

etchsiliconthick=0.5

此例中刻蚀硅材料厚度为0.5。

etchoxidestartx=1.5y=0.0

etchcontinuex=1.5y=−0.6

etchcontinuex=3.5y=−0.6

etchdonex=3.5y=0.0

此例中以x=1.5y=0.0;x=1.5y=−0.6;x=3.5y=−0.6;x=3.5y=0.0四个坐标为顶点,刻蚀坐标点包围区域内的氧化物。

8、光刻

a)命令与语法

MASK

NAME=[REVERSE][DELTA=]

ILLUMINATION

[I.LINE|G.LINE|H.LINE|KRF.LASER|DUV.LINE|ARF.LASER|F2.LASER|LAMBDA=]

[X.TILT=][Z.TILT=][INTENSITY=]

PROJECTION

[NA=][FLARE=]

PUPIL.FILTER

CIRCLE|SQUARE|GAUSSIAN|ANTIGAUSS

[GAMMA=][IN.RADIUS=][OUT.RADIUS=][PHASE=]

[TRANSMIT=][CLEAR.FIL]

b)常用参数:

NAME——导入掩模文件名

I.LINE,G.LINE,H.LINE——照明系统所用波长

LAMBDA——定义和改变光源波长

X.TILT,Z.TILT——照明系统与光轴夹角

NA——光学投影系统孔隙数

FLARE——成像时的耀斑数

CIRCLE,SQUARE,GAUSSIAN——发射孔形状

GAMMA——发射孔透明度

TRANSMIT——透射率

三、

silvacoTCAD器件仿真操作

图3.1silvacoTCAD器件仿真流程

1.初始化网格

a)命令与语法

meshspace.mult=

b)常用参数:

location——格点位置

spacing——格点间距

c)例子:

x.meshlocation=0.0spacing=0.05

此例中定义x格点坐标0.0,格点间距0.05。

2.区域定义

a)命令与语法

regionnumber=[]

b)例子:

regionnum=1y.max=0.5silicon

regionnum=2y.min=0.5y.max=1.0x.min=0x.max=1.0oxide

regionnum=3y.min=1.0y.max=2.0x.min=0x.max=1.0GaAs

此例中定义了3个区域,材料分别是硅、氧化物、砷化镓;每个区域通过x、y轴的最大与最小坐标确定范围。

3.电极定义

a)命令与语法

electrodename=[number=][substrate]

b)例子:

elecname=emitterx.min=1.75x.max=2.0y.min=-0.05

y.max=0.05

此例中定义电极名称为“emitter”,并通过x、y轴的最大与最小坐标确定电极位置。

4.杂质分布

a)命令与语法

doping

b)例子:

dopinguniformconc=1e16n.typeregion=1

此例中定义在区域1中形成浓度为1e16的n型均匀掺杂。

5.电极连接

a)使用contact命令和common参数短接两个电极

b)例子:

contactname=basecommon=collector

实现基极与集电极的短接

6.获取器件特性

使用solve命令通过对器件施加电流或电压来获取器件特性。

a)直流特性

solveinit

初始化,所有电极电压加为0V;

solvevbase=0.1

基极电压加为0.1V;

solvevdrain=0.0vstep=0.05vfinal=5.0name=drain

对漏极施加0-5V,步长为0.05V的扫描电压;

solvevbase=0.1

solvevbase=0.2

...

solvevbase=2.0

基极电压从0.1V加到0.2V,再逐步加到2V,可用于获取BE结I-V特性;

solveprevious

将之前计算所得结果用作当前计算的初始近似。

b)交流小信号特性

solvevbase=0vstep=0.05vfinal=2.0name=baseacfreq=1e6

频率不变,改变基极直流电压偏置,可用于获取特定频率下CV特性;

solvevbase=0.7acfreq=1e9fstep=1e9nfstep=10

基极电压0.7V,交变频率以1GHz步长,从1GHz增加到11GHz;

solvevbase=0.7acfreq=1e6fstep=2mult.fnfstep=10

solveprevacfreq=1e6fstep=2mult.fnfstep=10

基极电压0.7V,初始频率1MHz,频率每次增加变为原来的2被,最终频率1GHz;

7.提取仿真结果

a)命令:

extractextract-parameters

b)语法:

——表示字符串;

——表示整数;

竖线|——表示在左右的参数中选其一;

中括号[]——表示其中的参数为可选参数;

c)参数提取

extractname=“chan_surf_conc”surf.concimpurity=“Net

Doping”material=“Silicon”mat.occno=1x.val=0.45

在x坐标0.45处选取1个材料截取点,提取名为“chan_surf_conc”对硅表面浓度;

extractname=“n++sheetrho”sheet.resmaterial=“Silicon”

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