电源测试方法.docx
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电源测试方法
电源测试方法
范围
适用于SwitchingModePowerSupply（简称：
S.M.P.S.）产品。
目的
统一SwitchingModePowerSupply标准测试方法。
TESTITEM
1.AC（/DC）InputCurrentTest（AC或DC输入电流测试）3
2.InrushCurrentTest（浪涌电流测试）4
3.AC（/DC）OutputTest（AC或DC输入端测试）6
4.AC（/DC）RampUpTest（输入AC或DC爬升测试）7
5.AC（/DC）RampDownTest（输入AC或DC下降测试）8
6.Ripple/NoiseTest（纹波和杂讯测试）9
7.Overshoot&UndershootTest（输出电压上下冲测试）11
8.DynamicLoadTest（动态测试）12
9.StepLoadTest（负载递变测试）13
10.SwitchOnTimeTest（开机输入输出时间差测试）14
11.HoldUpTimeTest（输出保持时间测试）15
12.RiseTimeTest（爬升时间测试）16
13.PowerGoodOnTimingTest（PG输出时间测试）17
14.PowerGoodOffTimingTest（PG下落时间测试）18
15.PowerFailTimeTest（PG持续时间测试）19
16.SequenceTest（时序测试）20
17.PowerFactor/EfficiencyTest（功率因素与效率测试）21
18.CrossRegulationTest交错调整率测试22
19.OCPTest（过电流测试）24
20.ShortCurrentTest（短路测试）25
21.OVPTest（过电压测试）26
1.
AC（/DC）InputCurrentTest（AC或DC输入电流测试）
一．目的:
测试S.M.P.S.工作中之输入（AC或DC）电流。
二．使用仪器设备:
（1）.ACSource/DCSource（AC或DC输入源）
（2）.ElectronicLoadorResistanceLoad（电子或电阻负载）
（3）.AC/DCPowerMeter（功率表）
三．测试方法:
（1）.依规格设定测试条件（电压,频率,Load）。
（2）.记录AC/DC电流值。
四．测试回路图:
/DCSOURCE
待测品
ELECTRONICLOAD
OR
RESISTANCELOAD
ACSOURCE
POWERMETER
2.
InrushCurrentTest（浪涌电流测试）
一．目的:
测试S.M.P.S.实际Inrushcurrent是否在规格内以免损坏输入回路元件。
二．使用仪器设备:
（1）.ACSource/DCSource（AC或DC输入源）
（2）.ElectronicLoadorResistanceLoad（电子或电阻负载）
（3）.StorageScope（存储示波器）
（4）.CurrentAmplifier（电流枪）
三．测试方法:
（以AC为主描述）
（1）.将待测各组输出负载设在Max.Load。
（2）.将ACSOURCE设定在90°开机。
（3）.Scope的Ch1接上电流放大器CurrentAmplifierOutput,以电流探头量测inrushcurrent。
（4）.ScopeCh1阻抗匹配设定在1Mohm,刻度设定在1A/DIV。
（根据具体情况而定）
（5）.Ch2则接到AC输入电压，Ch1作为示波器之TriggerSource。
（6）.Triggerslope设定为"+",TriggerMode设定为"Normal"。
（7）.找出Trigger动作电流值。
（在90°开机时电流值）。
四．注意事项：
热开机InrushCurrent（Warm-Start）
（1）.需在高温环境下且BuckCap.电荷须放尽,以及热敏电阻亦处于高温下，然后仅能第一次开机，若需第二次开机须再待电荷放尽才可再开机测试。
（2）.需使用墙壁市电，不可使用ACSource以免造成电流受限制。
（3）.仪器本身的电源需经隔离变压器。
（4）.注意使用CurrentAmplifier时,每改变A/DIV刻度线curve皆须归零。
亦即每次调CurrentAmplifier之A/DIV时,必须调CurrentAmplifier之"ZEROADJ"使scopescreen上的波形归零。
（Agilent1147ACURRENTPROBE需消磁，先将探头合上，再直接按PROBE上"DEMAG"即可）。
冷开机InrushCurrent
（1）.需在低（常）温环境下且BuckCap.电荷须放尽,以及热敏电阻亦处于（低）常温下,然后仅能第一次开机,若需第二次开机须再待电荷放尽才可再开机测试。
（2）.需使用墙壁市电，不可使用ACSource以免造成电流受限制。
针对DCInput没有相位之分，不需要VoltageDipSimulation,直接接入电流枪测试即可。
注意选择的DCSource的输出电流值满足电源的要求。
五．测试回路图:
/DCSOURCE
3.AC（/DC）OutputTest（AC或DC输入端测试）
一．目的:
测试S.M.P.S.输入AC（/DC）OutputandL.N.GND点是否正常。
二．使用仪器设备:
（1）.ACSource/DCSource（AC或DC输入源）
（2）.ElectronicLoadorResistanceLoad（电子或电阻负载）
（3）.DCVoltageMeter（DVM）（电压表）
三．测试方法:
（以AC说明）
（1）.未输入AC电源时,用电表欧姆档量input&output之L.N.GND点是否一致。
（2）.输入AC电源,照规格负载测AC输出电压是否正常。
四．测试回路图:
/DCSOURCE
待测品
ELECTRONICLOAD
OR
RESISTANCELOAD
ACSOURCE
DVM
4.
AC（/DC）RampUpTest（输入AC或DC爬升测试）
一.目的:
測試S.M.P.S.AC（或DC）InputCurrent在AC（或DC）InputVoltage上升变化时是否在规格内，以免损坏输入回路元件。
二．使用仪器设备:
（1）.ACSource/DCSource（AC或DC输入源）
（2）.ElectronicLoadorResistanceLoad（电子或电阻负载）
（3）.AC/DCPowerMeter（功率表）
三．测试方法:
（以AC说明）
（1）.设定ACInputVoltage在规格的下限（90Vac,180Vac）,输出负载为Max.Load之后Poweron待测品。
（2）.将ACInputVoltage依规定的Step慢慢地往上调至规格的上限（137Vac,265Vac）,并记录每个Step的ACCurrent,且可知其变化量。
四．测试回路图:
/DCSOURCE
待测品
ELECTRONICLOAD
OR
RESISTANCELOAD
ACSOURCE
POWERMETER
5.
AC（/DC）RampDownTest（输入AC或DC下降测试）
一.目的:
测试S.M.P.S.AC（或DC）InputCurrent在AC（或DC）InputVoltage下降变化时是否在规格内，以免损坏输入回路元件。
二．使用仪器设备:
（1）.ACSource/DCSource
（2）.ElectronicLoadorResistanceLoad（电子或电阻负载）
（3）.AC/DCPowerMeter（AC或DC功率表）
三．测试方法:
（以AC说明）
（1）.设定ACInputVoltage在规格上限（137Vac,265Vac）,输出负载为Max.Load之后Poweron待测品。
（2）.将ACInputVoltage依规定的step慢慢地往下调至规格的下限（90Vac,180Vac）,并记录每个step的ACCurrent,且可知其变化量。
四．测试回路图:
/DCSOURCE
6.
Ripple/NoiseTest（纹波和杂讯测试）
一.目的:
测试S.M.P.S.直流输出电源之交流纹波成份（Ripple）及杂讯（Noise）。
二.使用仪器设备:
（1）.ACSource/DCSource（AC或DC输入源）
（2）.ElectronicLoadorResistanceLoad（电子或电阻负载）
（3）.StorageScope（存储示波器）
（4）.Chamber（烤箱）
（5）.DifferentialProbe&Amplifier（差分放大器）
三．测试方法:
（1）.测试时按照正常之接线将Load和AC（/DC）SOURCE接上PowerSupply并PowerOnUnit,各种Line和Load的Condition皆需做测试，若只作WorstCaseCondition时LowLineMax.Load的Ripple&Noise最大。
（下图A:
Ripple+NoiseB:
RippleC:
SwitchRipple+NoiseD:
SwitchRippleE:
ACRippleF:
ACCycleTimeG:
SwitchCycleTime）
（2）.将ScopeCh1设定在"AC"档位,量测各组输出。
四．注意事项:
（1）.需在各输出端并联一个10uF钽质及0.01uF陶瓷电容,并以此为测试点。
（电容值大小,如spec.有特别的要求,则依spec.定之。
）
（2）.测量Ripple/Noise时，请将Probe之地线夹尽量减短，以减少进入的杂讯干扰。
最佳的方式为将地线夹去掉，直接搭接在电容引脚上。
（3）.测试带宽依spec.而定,一般设在20MHz带宽。
（4）.高温与常温均要测试。
五．测试回路图:
/DCSOURCE
待测品
CHAMBER
ELECTRONICLOAD
OR
RESISTANCELOAD
ACSOURCE
TEMP.
Vac
Hz
90/137
47/63
180/265
&
SCOPE
Differentialprobe
&
Amplifier
7.
Overshoot&UndershootT
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