整理ANT20SE操作手册1.docx

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整理ANT20SE操作手册1

SDH高级网络分析仪ANT-20SE

V7.x操作使用手册

ACTERNA

1.主要技术指标

ANT－20系列产品是ACTERNA公司生产的SDH网络综合分析仪,该仪表采用了先进的模块化设计，操作平台采用了Windows的界面风格，使操作使用方便易学，在技术指标上，ANT－20系列产品在全部的功能要求上满足了ITU－T的最新O.172建议，并且在抖动和漂移的测试能力上还部分超越了ITU－T建议的要求，其中一些强大的功能是目前的SDH传输测试仪表上所独有的。

在外观设计上，ANT－20系列产品采用了便携式的友好界面，并提供了触摸屏和操作笔，非常适合工程技术人员，维护人员和研发人员的使用。

ANT－20系列产品可同时提供SDH版本和SONET版本，也可分别提供。

现首先就SDH版本的ANT－20SE主要技术性能介绍如下：

（1）ANT－20SE支持的接口速率为：

SDH：

STM－1（电口），STM－1（光口）,STM－4（光口），STM－16（光口）;在光口提供可选的波长1310nm（和/或），1550nm

PDH:

2Mbit/s,8Mbit/s,34Mbit/s,140Mbit/s

（2）ANT－20SESDH版本支持的映射方式：

C12，C3，C4以及ATM和Bulk填充

（3）ANT－20SE测试时钟可由仪表内部产生，也可由外部输入

（4）ANT－20SE支持PDH中的复用/解复用功能，64K/140M逐级，跳级均可

（5）ANT－20SE支持ATM业务的测试，提供STM－1/4/16映射，STM－4c映射,STM－16c映射,E4映射，E3映射,DS3映射和E1映射；具有两种ATM测试模块：

ATM模块和BAG模块，适用于PVC和SVC的测试

（6）在抖动和漂移的产生与测试方面,可从PDH的2Mbit/s，8Mbit/s，34Mbit/s，140Mbit/s，一直到SDH的155Mbit/s,622Mbit/s和2.5Gbit/s,并且在不需另外的PC机情况下可完成MTIE/TDEV的脱线分析，在漂移的发生方面，ANT－20SE不仅可生成符合O.172建议的12uHz－10Hz的调制信号，而且ANT－20SE比ITU－T建议做得更好，调制频段为10uHz－100Hz。

其次，在抖动测试方面，ANT－20SE可做到0.1Hz以上，比O.172的10Hz以上要求要好。

（7）ANT－20SE提供远程控制和远程操作功能，可通过V.24或GPIB进行远程控制和操作。

（8）ANT－20SE提供丰富的自动测试序列，可用于集成和生产线测试

（9）ANT－20SE不仅提供ITU－T的标准滤波器，并且提供了比ITU－T标准更多的滤波器

（10）ANT－20SE提供APS倒换时间的测试和时延测试，精度可达1ms

（11）ANT－20SE提供断电保护功能，可使已测试的结果不丢失

（12）ANT－20SE可长时间在线监测。

监测时间可达99天之久，并且测试结果

可打印输出，打印报告具有用户自定义的风格

（13）ANT－20SE在电口上提供75Ω的端口，支路口提供75Ω和120Ω两种阻抗端口，光口上提供通用的光适配器

（14）ANT－20SE提供通过模式，可对支路信号进行分解和插入，并且在通过

模式下对信号进行加抖和加误码的功能

（15）ANT－20SE提供字节捕捉功能，可对开销字节进行捕捉

（16）ANT－20SE是目前唯一能提供TCM（串联连接监测）事件发生的仪表

（17）ANT－20SE提供自动扫描和自动查找功能

（18）ANT－20SE提供了触发功能

（19）ANT－20SE内部时钟稳定度为±2PPM

以上是ANT－20SE的主要技术指标，详细的资料请向公司索取

2.前、后（侧）板解释

（1）ANT－20SE的正面板如图2-1

图2-1

I是两排告警指示灯，左面为历史告警，右面为当前告警

II是大显示屏，根据用户要求可配置成触摸式

III是热键功能指示和键盘状态指示

IV是热键

V是触摸屏操作笔

VI是嵌入式键盘

（2）ANT－20SE正面板的两侧是通风口，并且在内部安装了空气过滤片

（3）ANT－20SE底部有支架，可将仪表支起来；也可用仪表的板盖将仪表支起

来

（4）ANT－20SE的所有测试端口在顶部，每一个测试端口都有编号，逐项介绍

如下：

〖01〗外接鼠标接口

〖02〗PCMCIA接口

〖03〗外接键盘接口

〖04〗外接显示器接口

〖05〗打印机接口

〖06〗V.24接口

〖08〗软盘驱动器

〖90〗、〖91〗、〖92〗为分光器的三个接口，其中〖90〗为100％输入口，

〖91〗为10％输出口，〖92〗为90％输出口

〖10〗、〖11〗为75Ω阻抗支路口，〖10〗为输入口，〖11〗为输出口

〖12〗、〖13〗为120Ω阻抗支路口，〖12〗为输入口，〖13〗为输出口

〖14〗、〖15〗为155Mbit/s线路电口，〖14〗为输入口，〖15〗为输出口

同时，该两端口还可通过软件设置成任何速率的PDH端口，（2Mbit/s、8Mbit/s34Mbit/s140Mbit/s）

〖16〗为622Mbit/s电口输入端

〖17〗、〖18〗为155Mbit/s和622Mbit/s的光口，〖17〗为输入口，〖18〗为输出口

〖21〗为155Mbit/s和622Mbit/s的数据通道输入/输出口

〖22〗为时钟输出口

〖25〗为外接参考时钟输入口

〖26〗为触发输入,输出端口

〖30〗抖动外调制信号输入口，（适用于622Mbit/s及其以下速率）

〖31〗抖动解调输出口（适用于622Mbit/s及其以下速率）

〖35〗漂移测试参考时钟输入（适用于622Mbit/s及其以下速率）

〖40〗STM－16DCC/ECC通道

〖41〗2.5GHz时钟输出

〖43〗2.5Gbit/s电口输入

〖44〗2.5Gbit/s光口输入

〖46〗2.5Gbit/s电口输出

〖47〗2.5Gbit/s光口输出

〖50〗2.5Gbit/s抖动外调制信号输入

〖51〗2.5Gbit/s抖动解调输出

〖54〗2.5Gbit/s漂移测试参考时钟输入

3.菜单结构

ANT－20E的软件采用了“虚仪表”的设计思想，所谓“虚仪表”就是完成一定对应测试功能的软件模块，在ANT－20E的SDH版本共提供了Anomaly/DefectAnalyser,Anomaly/DefectInsertion,JitterGenerator/Analyser,OverheadGenerator,OverheadAnalyser,PDHGenerator/Analyser,PerformanceAnalysis,PointerGenerator,PointerAnalyser9个虚仪表，分别完成异常/缺陷的分析，异常/缺陷的发生，抖动发生和测试，开销发生，开销分析,PDH发生/分析，性能分析，指针发生，指针分析9个功能，还有一个虚仪表，SignalStructure（信号结构）。

用来完成测试信号结构的设置和一些其他的设置，所有的虚仪表由Application虚仪表来管理。

每一个虚仪表都有自己的菜单，用于各对应测试项目参数的设定，图3－1显示了“应用”主虚仪表和“信号结构”虚仪表的状况。

图3-1

各个虚仪表的调用和删除通过“应用”虚仪表的Instruments（仪表）菜单来操作，在Instruments菜单中有Add&Remove项，点取该项，可弹出对话框如图3－2

图3-2

通过选择左边框中的虚仪表，再按Add按钮，可选中该虚仪表到右边框中，再按OK按钮确认，完成虚仪表的添加。

同时，也可选择右边框中的虚仪表，按Remove按钮，使被选的虚仪表到左边框中，按OK确认，完成对虚仪表的删除。

在信号结构虚仪表中，通过Edit菜单中的SignalStructure完成对信号结构的编

辑，选中该项时，会弹出编辑对话框如图3－3，通过该对话框完成对信号结构的编辑，其他各个虚仪表及其菜单会在操作方法中详细描述。

图3-3

4.操作方法

4.1差错测试（比特差错，块差错，差错性能分析）

①测试连接图如下：

测试端口速率可以通过信号结构的编辑功能进行设置，如果在电口上进行测试，则选择〖14〗、〖15〗端口，其速率可设置成2Mbit/s、8Mbit/s、34Mbit/s、140Mbit/s和155Mbit/s。

如果在光口上进行测试，则选择〖17〗、〖18〗端口，该端口速率可设置为155Mbit/s和622Mbit/s，如果测试端口速率为2.5Gbit/s，则选择端口〖44〗、〖47〗

②测试时所用虚仪表有：

Ⅰ.Application（应用）虚仪表

Ⅱ.SignalStructure（信号结构）虚仪表

Ⅲ.Anomaly/DefectAnalyser（异常/缺陷分析）虚仪表

Ⅳ.PerformanceAnalysis（性能分析）虚仪表

第一步：

选择Application虚仪表中的Instruments菜单中的Add&Remove对话框

如图4-1：

图4-1

第二步：

选择SignalStructure,Anomaly/DefectAnalyser,PerformanceAnalysis到右边InstrumentsUsed框中，然后按OK确认，选择后的界面如图4-2：

图4-2

第三步：

在SignalStructure中编辑测试接口的速率，以下给出几个典型的编辑

过程。

①2Mbit/s的PDH速率：

选择Tx按钮，按Clear键，在PDH框中选择2M，并选择成帧或不成帧以及测试图案，按Tx＝>Rx键，使发端和收端一致

②155Mbit/s的SDH速率：

选择Tx按钮，按Clear键，在SDH框中选择STM－1，在Interface框中选择Electric（电口）或Optical（光口）管理单元选择AU4，在Mapping框中选择VC12，在PDH框中选择2M，并在PDHMode框中选择成帧或不成帧，以及在Settings框中选择映射为Async，2M帧结构类型，测试图案长度。

第四步：

将Anomaly/DefectAnalyser调到前台，可在View菜单中选择观察模

式，该虚仪表提供了三种观察模式：

直方图、表格、统计方式。

显示区域划分成两部分，用于分别显示Anomaly（异常）和Defect（缺陷），在显示的参数中用户可以选择All或User，选中User时表明用户通过Filter菜单选择自己感兴趣参数进行观察，在Setting菜单中可选择比特，或块。

显示结果大致如图4-3：

图4-3

第五步：

在做差错测试时，可同时完成性能分析的评估，此时，将PerformanceAnalysis调到前台。

评估所采用的ITU－T的建议，可从Analysis菜单中选择，也可直接选择相应的按钮，针对不同的建议，Setting菜单中可完成不同参数的设置，在做性能评估时，可从Hierarchy菜单中选择评估对象，评估的结果会以Accepted或Rejected的方式给出来。

显示结果如图4-4示例：

图4-4

第六步：

当做完了所有的设置之后，可以通过F5热键启动测试，F6热键停止测试。

也可通过Application虚仪表中的Measurement菜单中Start和Stop来启动和停止测试。

4.2抖动漂移测试：

1.输出抖动

①测试连接如图：

有3种方式来提供定时、选择SignalStructure虚仪表中的Interface菜单Settings弹

出的对话框如图4-5：

图4-5

在ClockSource中选择：

Rx（从线路中提取时钟）或External（外部时钟），

外时钟有2种方式：

2Mbits/s，或2MHz。

在连接①中，选择Rx，此时仪表从线路中提取时钟；

在连接②中，选择外时钟，此时仪表的时钟由设备的时钟输出来供给；

在连接③中，也选择外时钟，此时，设备和仪表都使用外部时钟源。

②在抖动和漂移的测试中，除了要使用Application虚仪表和SignalSmucture虚

仪表，还要添加JitterGenerator/Analyser虚仪表，该虚仪表如图4-6：

图4-6

测试端口速率设置如前所述，在测试输出抖动时选择PP_RMS按钮，该界面中提供了Tx，Rx两部分，Tx部分用于选择发送端抖动调制信号的幅值和频率，当按下TxON按钮时，将在仪表发端施加抖动，在不需时，TxON按钮应弹起，在Rx部分提供了测试范围选择和测试滤波器选择，小的测试范围会使测试精度提高，测试滤波器的选择应符合ITU－T规定的滤波器，当设置完毕后，按F5启动测试，结果会以抖动峰峰值的最大值和瞬时值形式显示出来，同时给出正峰和负峰的最大值和瞬时值以及RMS均方根值。

选择PP_PH按钮时,过相的计数也在结果中给出，过相的门限在SET按钮中设定，默认值为＋0.5UI和－0.5UI。

测试的结果有两种方式显示，表格式和图形式，显示结果方式的选择通过View菜单中来选择，图形方式显示如图4_7：

可通过光标操作达到任一测试时刻的抖动值。

图4-7

2.抖动/漂移容限

①测试连接图如下：

②在JitterGenerator/Analyser虚仪表中选择MTJ按钮，在该界面下有Start按键和Stop按键，通过按Start按钮即可开始进行输入抖动/漂移容限的测试，测试结果也有两中方式显示：

表格式和图形式，测试设置有3个，ErrorSource：

设定判断参数，Threshold：

设定判断门限，Settlingtime：

设置恢复时间，以下图4-8是测试的结果样例。

图4-8

3.映射抖动

①测试连接图如下:

一、环境影响评价的发展与管理体系、相关法律法规体系和技术导则的应用在Tx端，端口速率为SDH信号速率，Rx端为PDH速率，在测试中，仪表和设备同步起来，此时，仪表不能选用内时钟，也不能从接收端提取时钟，而应选择使用外时钟，外时钟可从单独的时钟单元来供给。

1.规划环境影响评价的报审②在进行映射抖动测试时，总共要使用4个虚仪表：

安全评价的基本原则是具备国家规定资质的安全评价机构科学、公正和合法地自主开展安全评价。

Application（应用）虚仪表，

4.选择评价方法SignalStructure（信号结构）虚仪表，

（4）列出辨识与分析危险、有害因素的依据，阐述辨识与分析危险、有害因素的过程。

JitterGenerator/Analyse（抖动发生/分析）虚仪表，

（3）环境影响技术评估。

PDHGenerator/Analyser（PDH发生/分析）虚仪表。

在JitterGenerator/Analyser虚仪表中，选择AMOFF按钮，并选择适当的测试范围和测试滤波器，在PDHGenerator/Analyser虚仪表中，对发送信号施加一定的频偏。

如图4-9：

图4-9

这时可以启动测试，测试过程中可不断改变频偏，测试的结果在Jitter

（3）介绍评价对象的选址、总图布置、水文情况、地质条件、工业园区规划、生产规模、工艺流程、功能分布、主要设施、设备、装置、主要原材料、产品（中间产品）、经济技术指标、公用工程及辅助设施、人流、物流等概况。

Generator/Analyser虚仪表中观察。

环境影响评价，是指对规划和建设项目实施后可能造成的环境影响进行分析、预测和评估，提出预防或者减轻不良环境影响的对策和措施，进行跟踪监测的方法和制度。

4.

5.（3）对环境影响很小、不需要进行环境影响评价的建设项目，填报环境影响登记表。

结合抖动

①主体是人类；

结合抖动的测试连接方法如下：