电子信息行业标准复审结论表.docx
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电子信息行业标准复审结论表
2009年电子信息行业标准复审结论表（修订部分）
序号
标准编号
标准名称
复审结论
1
SJ1.10-1987
电子工业技术标准制修订工作有关规范和要求标准草案（送审稿）审定会会议纪要（或审定结论）的主要内容
修订
2
SJ1.11-1987
电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求标准草案（报批稿）报批报告的内容
修订
3
SJ1.1-1987
电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求电子工业标准年度计划编制工作的主要程序和要求
修订
4
SJ1.12-1987
电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求对专业标准化技术委员会审查标准草案（报批稿）的要求
修订
5
SJ1.2-1987
电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求调整标准编制计划的原则和程序
修订
6
SJ1.3-1987
电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求编制电子工业技术标准主办单位责任制
修订
7
SJ1.4-1987
电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求电子工业技术标准编制计划实施阶段划分及要求
修订
8
SJ1.5-1987
电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求标准草案（送审稿）函审程序
修订
9
SJ1.6-1987
电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求电子工业技术标准报批程序和规定
修订
10
SJ1.7-1987
电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求标准草案（报批稿）报批时资料齐套性要求
修订
11
SJ1.8-1987
电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求标准草案编写时应遵循的要求
修订
12
SJ1.9-1987
电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求标准草案（报批稿）报批审查时退稿的原则和程序
修订
13
SJ1000-1975
双动冲床引伸模引伸凸模
修订
14
SJ1003-1975
双动冲床引伸模通用模架
修订
15
SJ1004-1975
双动冲床引伸模上托
修订
16
SJ1005-1975
双动冲床引伸模底座
修订
17
SJ1006-1975
双动冲床引伸模下压板
修订
18
SJ1007-1975
双动冲床引伸模上压板
修订
19
SJ1008-1975
双动冲床引伸模螺钉
修订
20
SJ1009-1975
手柄翻开式钻模模架
修订
21
SJ1018-1975
ＣＡ３０型管状非固体电解质烧结钽电容器
修订
22
SJ1165-1977
阴极射线荧光粉Ｙ６荧光粉
修订
23
SJ1168-1977
阴极射线荧光粉Ｙ１２荧光粉
修订
24
SJ1185-1977
彩色电视测量测试卡（CT752卡）（暂行）
修订
25
SJ1269-1977
ＦＢＪ型通心玻璃粉绝缘子
修订
26
SJ1270-1977
通心玻璃绝缘子
修订
27
SJ1274-1977
金刚石拉丝模
修订
28
SJ1276-1977
金属镀层和化学处理层质量检验技术要求
修订
29
SJ1277-1977
金属镀层和化学处理层质量检验验收规则
修订
30
SJ1278-1977
金属镀层和化学处理层外表的检验方法
修订
31
SJ1279-1977
金属镀层硬度的检验方法
修订
32
SJ1280-1977
金属镀层孔隙率的检验方法
修订
33
SJ1281-1977
金属镀层和化学处理层厚度的检验方法
修订
34
SJ1282-1977
金属镀层结合力的检验方法
修订
35
SJ1283-1977
金属镀层和化学处理层腐蚀试验方法
修订
36
SJ1284-1977
金属镀层腐蚀试验结果评定方法
修订
37
SJ1285-1977
铝和铝合金氧化处理层电气绝缘性能的测试方法
修订
38
SJ1472-1979
３ＣＧ１１０型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管
修订
39
SJ1477-1979
３ＣＧ１２０型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管
修订
40
SJ1480-1979
３ＣＧ１３０型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管
修订
41
SJ1486-1979
３ＣＧ１８０型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率高反压三极管
修订
42
SJ151-1980
电子设备用继电器型号命名标志方法
修订
43
SJ151A-1984
电子设备用继电器规格号标志方法
修订
44
SJ1531-1979
金属陶瓷电子管引出环接触直径系列
修订
45
SJ1538-1987
电真空器件用镍及镍合金化学成分
修订
46
SJ1539-1987
电真空器件用镍及镍合金薄壁管
修订
47
SJ1540-1987
电真空器件用镍及镍合金丝
修订
48
SJ1541-1987
电真空器件用镍及镍合金带
修订
49
SJ1542-1987
电真空器件用镍及镍合金化学分析方法
修订
50
SJ1543-1988
电真空器件用镍及镍合金光谱分析方法
修订
51
SJ1552-1979
电子工业专用设备机械装配技术要求（暂行）
修订
52
SJ1563-1980
实心聚四氟乙烯绝缘同轴射频电缆（暂行）
修订
53
SJ1590-1980
铈钨粉、块、杆中氧化铈的分析方法
修订
54
SJ1632-1980
波导元件型号命名方法
修订
55
SJ1646-1980
３ＤＤ１７５型、３ＤＤ１７６型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管
修订
56
SJ1649-1980
３ＤＤ２５７型、３ＤＤ２５８型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管
修订
57
SJ1654-1980
３ＤＤ２７０型、３ＤＤ２７１型、３ＤＤ２７２型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管
修订
58
SJ1657-1980
铜垫密封超高真空法兰型式及尺寸系列
修订
59
SJ1659-1980
铜密封垫型式及尺寸系列
修订
60
SJ1661-1980
电子工业专用设备热处理技术要求（暂行）
修订
61
SJ1677-1980
光纤光缆名词术语
修订
62
SJ1678-1980
纤维光学连接器名词术语
修订
63
SJ1748-1981
UY12、UY16铁氧体U型磁芯
修订
64
SJ1767-1981
真空设备金属钟罩公称直径
修订
65
SJ1768-1981
真空设备金属钟罩筒体
修订
66
SJ1769-1981
真空设备金属钟罩封头
修订
67
SJ1770-1981
真空设备金属钟罩法兰
修订
68
SJ1771-1981
真空设备金属钟罩密封圈
修订
69
SJ1774-1981
真空设备观察窗
修订
70
SJ1783-1981
电真空陶瓷零件技术条件
修订
71
SJ1794-1981
半导体器件生产用扩散炉通用技术条件
修订
72
SJ1819-1981
小模数齿轮模数、齿数、齿宽、基准孔直径优选系列
修订
73
SJ1820-1981
优选小模数圆柱直齿轮
修订
74
SJ1821-1981
优选小模数圆柱直齿片齿轮
修订
75
SJ1822-1981
优选小模数圆锥直齿轮
修订
76
SJ1823-1981
优选小模数圆柱直齿双片齿轮（暂行）
修订
77
SJ1824-1981
小模数蜗轮蜗杆优选结构尺寸
修订
78
SJ1826-1981
３ＤＫ１００型ＮＰＮ硅外延平面小功率开关三极管
修订
79
SJ1830-1981
３ＤＫ１０１型ＮＰＮ硅外延平面小功率开关三极管
修订
80
SJ1831-1981
３ＤＫ２８型ＮＰＮ硅外延平面小功率开关三极管
修订
81
SJ1832-1981
３ＤＫ１０２型ＮＰＮ硅外延平面小功率开关三极管
修订
82
SJ1833-1981
３ＤＫ１０３型ＮＰＮ硅外延平面小功率开关三极管
修订
83
SJ1834-1981
３ＤＫ１０４型ＮＰＮ硅外延平面小功率开关三极管
修订
84
SJ1838-1981
３ＤＫ２９型ＮＰＮ硅外延平面小功率开关三极管
修订
85
SJ1839-1981
３ＤＫ１０８型ＮＰＮ硅外延平面小功率开关三极管
修订
86
SJ1871-1981
气体激光器的测试条件
修订
87
SJ1872-1981
气体激光器着火电压的测试方法
修订
88
SJ1873-1981
气体激光器最佳工作电流的测试方法
修订
89
SJ1874-1981
气体激光器管压降的测试方法
修订
90
SJ1875-1981
气体激光器输出功率的测试方法
修订
91
SJ1876-1981
气体激光器输出功率稳定性的测试方法
修订
92
SJ1877-1981
气体激光器光束方向偏移的测试方法
修订
93
SJ1878-1981
气体激光器横模的鉴别方法
修订
94
SJ1879-1981
气体激光器发散角的测试方法
修订
95
SJ1880-1981
气体激光器频率漂移的测试方法
修订
96
SJ1881-1981
气体激光器偏振度的测试方法
修订
97
SJ1885-1981
复合介质电容器总技术条件
修订
98
SJ2065-1982
半导体器件生产用扩散炉测试方法
修订
99
SJ2066-1982
小模数渐开线圆柱齿轮通用技术条件
修订
100
SJ2085-1982
聚氯乙烯绝缘安装软线
修订
101
SJ2086-1982
聚氯乙烯绝缘安装线
修订
102
SJ2154-1982
薄膜集成电路用微晶玻璃基片
修订
103
SJ2168-1982
涂覆用环氧粉末
修订
104
SJ2214.10-1982
半导体光敏二、三极管光电流的测试方法
修订
105
SJ2214.1-1982
半导体光敏管测试方法总则
修订
106
SJ2214.2-1982
半导体光敏二极管正向压降的测试方法
修订
107
SJ2214.3-1982
半导体光敏二极管暗电流的测试方法
修订
108
SJ2214.4-1982
半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法
修订
109
SJ2214.5-1982
半导体光敏二极管结电容的测试方法
修订
110
SJ2214.6-1982
半导体光敏三极管集电极－发射极反向击穿电压的测试方法
修订
111
SJ2214.7-1982
半导体光敏三极管饱和压降的测试方法
修订
112
SJ2214.8-1982
半导体光敏三极管暗电流的测试方法
修订
113
SJ2214.9-1982
半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法
修订
114
SJ2215.10-1982
半导体光耦合器直流电流传输比的测试方法
修订
115
SJ2215.11-1982
半导体光耦合器脉冲上升、下降、延迟、贮存时间的测试方法
修订
116
SJ2215.1-1982
半导体光耦合器测试方法总则
修订
117
SJ2215.12-1982
半导体光耦合器入出间隔离电容的测试方法
修订
118
SJ2215.13-1982
半导体光耦合器入出间绝缘电阻的测试方法
修订
119
SJ2215.14-1982
半导体光耦合器入出间绝缘耐压的测试方法
修订
120
SJ2215.2-1982
半导体光耦合器（二极管）正向压降的测试方法
修订
121
SJ2215.3-1982
半导体光耦合器（二极管）正向电流的测试方法
修订
122
SJ2215.4-1982
半导体光耦合器（二极管）反向电流的测试方法
修订
123
SJ2215.5-1982
半导体光耦合器（二极管）反向击穿电压的测试方法
修订
124
SJ2215.6-1982
半导体光耦合器（二极管）结电容的测试方法
修订
125
SJ2215.7-1982
半导体光耦合器集电极－发射极反向击穿电压的测试方法
修订
126
SJ2215.8-1982
半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法
修订
127
SJ2215.9-1982
半导体光耦合器（三极管）反向截止电流的测试方法
修订
128
SJ2216-1982
硅光敏二极管
修订
129
SJ2217-1982
硅光敏三极管
修订
130
SJ2221-1982
中、小型系列组合夹具技术要求
修订
131
SJ2222-1982
中、小型系列组合夹具编号规则
修订
132
SJ2223-1982
中型系列组合夹具结构要素
修订
133
SJ2224-1982
小型系列组合夹具结构要素
修订
134
SJ2225-1982
中型系列组合夹具类型和规格尺寸
修订
135
SJ2226-1982
小型系列组合夹具类型和规格尺寸
修订
136
SJ2253-1982
阴极碳酸盐颗粒度的测定方法
修订
137
SJ2254-1982
阴极碳酸盐分析方法的一般要求（暂行）
修订
138
SJ2268-1983
旋转多晶铁氧体材料系列
修订
139
SJ2318-1983
扬声器用铝镍钴系永磁体
修订
140
SJ2354.10-1983
ＰＩＮ、雪崩光电二极管列阵串光因子的测试方法
修订
141
SJ2354.11-1983
ＰＩＮ、雪崩光电二极管列阵盲区宽度的测试方法
修订
142
SJ2354.1-1983
ＰＩＮ、雪崩光电二极管光电参数测试方法总则
修订
143
SJ2354.12-1983
雪崩光电二极管反向击穿电压温度系数的测试方法
修订
144
SJ2354.13-1983
雪崩光电二极管倍增因子的测试方法
修订
145
SJ2354.14-1983
雪崩光电二极管过剩噪声指数的测试方法
修订
146
SJ2354.2-1983
ＰＩＮ、雪崩光电二极管反向击穿电压的测试方法
修订
147
SJ2354.3-1983
ＰＩＮ、雪崩光电二极管暗电流的测试方法
修订
148
SJ2354.4-1983
ＰＩＮ、雪崩光电二极管正向压降的测试方法
修订
149
SJ2354.5-1983
ＰＩＮ、雪崩光电二极管电容的测试方法
修订
150
SJ2354.6-1983
ＰＩＮ、雪崩光电二极管响应度的测试方法
修订
151
SJ2354.7-1983
ＰＩＮ、雪崩光电二极管光谱响应曲线和光谱响应范围的测试方法
修订
152
SJ2354.8-1983
ＰＩＮ、雪崩光电二极管脉冲上升、下降时间的测试方法
修订
153
SJ2354.9-1983
ＰＩＮ、雪崩光电二极管噪声等效功率的测试方法
修订
154
SJ2355.1-1983
半导体发光器件测试方法总则
修订
155
SJ2355.2-1983
半导体发光器件测试方法正向压降的测试方法
修订
156
SJ2355.3-1983
半导体发光器件测试方法反向电流的测试方法
修订
157
SJ2355.4-1983
半导体发光器件测试方法结电容的测试方法
修订
158
SJ2355.5-1983
半导体发光器件测试方法法向光强和半强度角的测试方法
修订
159
SJ2355.6-1983
半导体发光器件测试方法光通量的测试方法
修订
160
SJ2355.7-1983
半导体发光器件测试方法发光峰值波长和光谱半宽度的测试方法
修订
161
SJ2422-1983
电子元器件用镀锡铜线
修订
162
SJ2465-1984
通用型应用电视云台总技术条件
修订
163
SJ2488-1984
电子设备用变压器、阻流圈和铁芯噪声测试方法
修订
164
SJ2553-1984
波导和同轴元件驻波测量方法
修订
165
SJ2554-1984
波导和同轴元件相位测量方法
修订
166
SJ2557-1984
小模数渐开线圆柱齿轮传动链精度计算方法
修订
167
SJ2572-1985
太阳能电池用硅单晶棒、片
修订
168
SJ2593-1985
高纯四氧化硅
修订
169
SJ2594-1985
高纯四氯化硅中硼及金属杂质的化学光谱分析方法
修订
170
SJ2595-1985
高纯四氯化硅中痕量磷的分光光度比色测试方法
修订
171
SJ2656-1986
钨的光谱分析方法
修订
172
SJ2657-1986
钼的光谱分析方法
修订
173
SJ2658.10-1986
半导体红外发光二极管测试方法调制带宽的测试方法
修订
174
SJ2658.11-1986
半导体红外发光二极管测试方法脉冲响应特性的测试方法
修订
175
SJ2658.1-1986
半导体红外发光二极管测试方法总则
修订
176
SJ2658.12-1986
半导体红外发光二极管测试方法峰值发射波长和光谱半宽度的测试方法
修订
177
SJ2658.13-1986
半导体红外发光二极管测试方法输出光功率温度系数的测试方法
修订
178
SJ2658.2-1986
半导体红外发光二极管测试方法正向压降测试方法
修订
179
SJ2658.3-1986
半导体红外发光二极管测试方法反向电压测试方法
修订
180
SJ2658.4-1986
半导体红外发光二极管测试方法电容的测试方法
修订
181
SJ2658.5-1986
半导体红外发光二极管测试方法正向串联电阻的测试方法
修订
182
SJ2658.6-1986
半导体红外发光二极管测试方法输出光功率的测试方法
修订
183
SJ2658.7-1986
半导体红外发光二极管测试方法辐射通量的测试方法
修订
184
SJ2658.8-1986
半导体红外发光二极管测试方法法向辐射率的测试方法
修订
185
SJ2658.9-1986
半导体红外发光二极管测试方法辐射强度空间分布和半强度角的测试方法
修订
186
SJ2709-1986
印制板组装件温度测试方法
修订
187
SJ2716-1986
数字计算机系统的设计文件的成套和编制
修订
188
SJ2738-1986
微型控制电机用齿轮减速器基本参数
修订
189
SJ2739-1986
微型控制电机用齿轮减速器通用技术条件
修订
190
SJ2743-1987
电源用磁性氧化物磁芯（ＥＣ－磁芯）的尺寸
修订
191
SJ2749-1987
半导体激光二极管测试方法
修订
192
SJ2757-1987
重掺半导体载流子浓度的红外反射测试方法
修订
193
SJ2760-1987
２ＣＬ７０～７７及２ＣＬ７９型塑料封装高压硅堆详细规范
修订
194
SJ2857.3-1988
温差电致冷材料性能的测试方法温差电动势率的测试方法
修订
195
SJ2858-1988
温差电致冷组件性能的测试方法温差及最低冷面温度测试方法
修订
196
SJ2914-1988
ＣＬＦ－１Ａ型多模光纤光缆连接器详细规范
修订
197
SJ2915-1988
微波铁氧体单晶器件名词术语和定义
修订
198
SJ2923-1988
可调中心距小模数渐开线圆柱齿轮副传动精度计算方法
修订
199
SJ2929-1988
３００Ω电视对称馈线
修订
200
SJ2931-1988
玻璃丝编织耐热线
修订
201
SJ2932-1988
阻燃聚氟乙烯安装线
修订
202
SJ2933-1988
阻燃电视高压线
修订
203
SJ2936-1988
中功率计技术条件
修订
204
SJ2937-1988
中功率测量方法
修订
205
SJ2938-1988
电视图像信号发生器通用技术条件
修订
206
SJ2939-1988
电视图象信号发生器测试方法
修订
207
SJ2949-1988
广播电视接收机用调谐器的环境试验要求和试验方法
修订
208
SJ2950-1988
广播电视接收机用调谐器验收规则
修订
209
SJ2960-1988
电子设备用压电陶瓷陷波器总规范
修订
210
SJ2961-1988
电子设备用压电陶瓷陷波器分规范电视视频吸收回路用压电陶瓷陷波器
修订
211
SJ2962-1988
电子设备用压电陶瓷陷波器空白详细规范电视机视频吸收回路用压电陶瓷陷波器评定水平Ｅ
修订
212
SJ2964-1988
电子设备用压电陶瓷鉴频器总规范
修订
213
SJ2965-1988
电子设备用压电陶瓷鉴频器分规范电视伴音中频鉴频电路用压电陶瓷鉴频器
修订
214
SJ2966-1988
电子设备用压电陶瓷鉴频器空白详细规范电视伴音中频鉴频电路用压电陶瓷鉴频器
修订
215
SJ3057-1988
冲裁模通用模架下基础板
修订
216
SJ3058.10-1988
冲裁模通用模架垫板
修订
217
SJ3058.11-1988
冲裁模通用模架垫板
修订
218
SJ3058.1-1988
冲裁模通用模架垫板
修订
219
SJ3058.2-1988
冲裁模通用模架垫板
修订
220
SJ3058.3-1988
冲裁模通用模架垫板
修订
221
SJ3058.4-1988
冲裁模通用模架垫板
修订
222
SJ3058.5-1988
冲裁模通用模架垫板
修订
223
SJ3058.6-1988
冲裁模通用模架垫板
修订
224
SJ3058.7-1988
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