电子信息行业标准复审结论表.docx

1、电子信息行业标准复审结论表2009年电子信息行业标准复审结论表（修订部分）序号标准编号标准名称复审结论1 SJ 1.10-1987电子工业技术标准制修订工作有关规范和要求 标准草案（送审稿）审定会会议纪要（或审定结论）的主要内容修订2 SJ 1.11-1987电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求 标准草案（报批稿）报批报告的内容修订3 SJ 1.1-1987电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求 电子工业标准年度计划编制工作的主要程序和要求修订4 SJ 1.12-1987电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求 对专业标准化技术委员会审查标准草案（报批稿）的要求修订5 SJ 1.2-19

2、87电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求 调整标准编制计划的原则和程序修订6 SJ 1.3-1987电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求 编制电子工业技术标准主办单位责任制修订7 SJ 1.4-1987电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求 电子工业技术标准编制计划实施阶段划分及要求修订8 SJ 1.5-1987电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求 标准草案（送审稿）函审程序修订9 SJ 1.6-1987电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求 电子工业技术标准报批程序和规定修订10 SJ 1.7-1987电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求 标准草案（报批稿）报批时资料齐套

3、性要求修订11 SJ 1.8-1987电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求 标准草案编写时应遵循的要求修订12 SJ 1.9-1987电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求 标准草案（报批稿）报批审查时退稿的原则和程序修订13 SJ 1000-1975双动冲床引伸模 引伸凸模修订14 SJ 1003-1975双动冲床引伸模 通用模架修订15 SJ 1004-1975双动冲床引伸模 上托修订16 SJ 1005-1975双动冲床引伸模 底座修订17 SJ 1006-1975双动冲床引伸模 下压板修订18 SJ 1007-1975双动冲床引伸模 上压板修订19 SJ 1008-1975双动冲

4、床引伸模 螺钉修订20 SJ 1009-1975手柄翻开式钻模 模架修订21 SJ 1018-1975型管状非固体电解质烧结钽电容器修订22 SJ 1165-1977阴极射线荧光粉 荧光粉修订23 SJ 1168-1977阴极射线荧光粉 荧光粉修订24 SJ 1185-1977彩色电视测量测试卡（CT752卡）（暂行）修订25 SJ 1269-1977型通心玻璃粉绝缘子修订26 SJ 1270-1977通心玻璃绝缘子修订27 SJ 1274-1977金刚石拉丝模修订28 SJ 1276-1977金属镀层和化学处理层质量检验技术要求修订29 SJ 1277-1977金属镀层和化学处理层质量检验验

5、收规则修订30 SJ 1278-1977金属镀层和化学处理层外表的检验方法修订31 SJ 1279-1977金属镀层硬度的检验方法修订32 SJ 1280-1977金属镀层孔隙率的检验方法修订33 SJ 1281-1977金属镀层和化学处理层厚度的检验方法修订34 SJ 1282-1977金属镀层结合力的检验方法修订35 SJ 1283-1977金属镀层和化学处理层腐蚀试验方法修订36 SJ 1284-1977金属镀层腐蚀试验结果评定方法修订37 SJ 1285-1977铝和铝合金氧化处理层电气绝缘性能的测试方法修订38 SJ 1472-1979型硅外延平面高频小功率三极管修订39 SJ 14

6、77-1979型硅外延平面高频小功率三极管修订40 SJ 1480-1979型硅外延平面高频小功率三极管修订41 SJ 1486-1979型硅外延平面高频小功率高反压三极管修订42 SJ 151-1980电子设备用继电器型号命名标志方法修订43 SJ 151A-1984电子设备用继电器规格号标志方法修订44 SJ 1531-1979金属陶瓷电子管引出环接触直径系列修订45 SJ 1538-1987电真空器件用镍及镍合金化学成分修订46 SJ 1539-1987电真空器件用镍及镍合金薄壁管修订47 SJ 1540-1987电真空器件用镍及镍合金丝修订48 SJ 1541-1987电真空器件用镍及

7、镍合金带修订49 SJ 1542-1987电真空器件用镍及镍合金化学分析方法修订50 SJ 1543-1988电真空器件用镍及镍合金光谱分析方法修订51 SJ 1552-1979电子工业专用设备机械装配技术要求（暂行）修订52 SJ 1563-1980实心聚四氟乙烯绝缘同轴射频电缆（暂行）修订53 SJ 1590-1980铈钨粉、块、杆中氧化铈的分析方法修订54 SJ 1632-1980波导元件型号命名方法修订55 SJ 1646-1980型、型硅扩散台面低频大功率三极管修订56 SJ 1649-1980型、型硅扩散台面低频大功率三极管修订57 SJ 1654-1980型、型、型硅扩散台面低频

8、大功率三极管修订58 SJ 1657-1980铜垫密封超高真空法兰型式及尺寸系列修订59 SJ 1659-1980铜密封垫型式及尺寸系列修订60 SJ 1661-1980电子工业专用设备热处理技术要求（暂行）修订61 SJ 1677-1980光纤光缆名词术语修订62 SJ 1678-1980纤维光学连接器名词术语修订63 SJ 1748-1981UY12、UY16铁氧体U型磁芯修订64 SJ 1767-1981真空设备金属钟罩 公称直径修订65 SJ 1768-1981真空设备金属钟罩 筒体修订66 SJ 1769-1981真空设备金属钟罩 封头修订67 SJ 1770-1981真空设备金属钟

9、罩 法兰修订68 SJ 1771-1981真空设备金属钟罩 密封圈修订69 SJ 1774-1981真空设备观察窗修订70 SJ 1783-1981电真空陶瓷零件技术条件修订71 SJ 1794-1981半导体器件生产用扩散炉通用技术条件修订72 SJ 1819-1981小模数齿轮模数、齿数、齿宽、基准孔直径优选系列修订73 SJ 1820-1981优选小模数圆柱直齿轮修订74 SJ 1821-1981优选小模数圆柱直齿片齿轮修订75 SJ 1822-1981优选小模数圆锥直齿轮修订76 SJ 1823-1981优选小模数圆柱直齿双片齿轮（暂行）修订77 SJ 1824-1981小模数蜗轮蜗杆

10、优选结构尺寸修订78 SJ 1826-1981型硅外延平面小功率开关三极管修订79 SJ 1830-1981型硅外延平面小功率开关三极管修订80 SJ 1831-1981型硅外延平面小功率开关三极管修订81 SJ 1832-1981型硅外延平面小功率开关三极管修订82 SJ 1833-1981型硅外延平面小功率开关三极管修订83 SJ 1834-1981型硅外延平面小功率开关三极管修订84 SJ 1838-1981型硅外延平面小功率开关三极管修订85 SJ 1839-1981型硅外延平面小功率开关三极管修订86 SJ 1871-1981气体激光器的测试条件修订87 SJ 1872-1981气体

11、激光器着火电压的测试方法修订88 SJ 1873-1981气体激光器最佳工作电流的测试方法修订89 SJ 1874-1981气体激光器管压降的测试方法修订90 SJ 1875-1981气体激光器输出功率的测试方法修订91 SJ 1876-1981气体激光器输出功率稳定性的测试方法修订92 SJ 1877-1981气体激光器光束方向偏移的测试方法修订93 SJ 1878-1981气体激光器横模的鉴别方法修订94 SJ 1879-1981气体激光器发散角的测试方法修订95 SJ 1880-1981气体激光器频率漂移的测试方法修订96 SJ 1881-1981气体激光器偏振度的测试方法修订97 SJ

12、 1885-1981复合介质电容器总技术条件修订98 SJ 2065-1982半导体器件生产用扩散炉测试方法修订99 SJ 2066-1982小模数渐开线圆柱齿轮通用技术条件修订100 SJ 2085-1982聚氯乙烯绝缘安装软线修订101 SJ 2086-1982聚氯乙烯绝缘安装线修订102 SJ 2154-1982薄膜集成电路用微晶玻璃基片修订103 SJ 2168-1982涂覆用环氧粉末修订104 SJ 2214.10-1982半导体光敏二、三极管光电流的测试方法修订105 SJ 2214.1-1982半导体光敏管测试方法总则修订106 SJ 2214.2-1982半导体光敏二极管正向压

13、降的测试方法修订107 SJ 2214.3-1982半导体光敏二极管暗电流的测试方法修订108 SJ 2214.4-1982半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法修订109 SJ 2214.5-1982半导体光敏二极管结电容的测试方法修订110 SJ 2214.6-1982半导体光敏三极管集电极发射极反向击穿电压的测试方法修订111 SJ 2214.7-1982半导体光敏三极管饱和压降的测试方法修订112 SJ 2214.8-1982半导体光敏三极管暗电流的测试方法修订113 SJ 2214.9-1982半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法修订114 SJ 2215.10-1982

14、半导体光耦合器直流电流传输比的测试方法修订115 SJ 2215.11-1982半导体光耦合器脉冲上升、下降、延迟、贮存时间的测试方法修订116 SJ 2215.1-1982半导体光耦合器测试方法总则修订117 SJ 2215.12-1982半导体光耦合器入出间隔离电容的测试方法修订118 SJ 2215.13-1982半导体光耦合器入出间绝缘电阻的测试方法修订119 SJ 2215.14-1982半导体光耦合器入出间绝缘耐压的测试方法修订120 SJ 2215.2-1982半导体光耦合器（二极管）正向压降的测试方法修订121 SJ 2215.3-1982半导体光耦合器（二极管）正向电流的测试

15、方法修订122 SJ 2215.4-1982半导体光耦合器（二极管）反向电流的测试方法修订123 SJ 2215.5-1982半导体光耦合器（二极管）反向击穿电压的测试方法修订124 SJ 2215.6-1982半导体光耦合器（二极管）结电容的测试方法修订125 SJ 2215.7-1982半导体光耦合器集电极发射极反向击穿电压的测试方法修订126 SJ 2215.8-1982半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法修订127 SJ 2215.9-1982半导体光耦合器（三极管）反向截止电流的测试方法修订128 SJ 2216-1982硅光敏二极管修订129 SJ 2217-1982硅光敏三极管修

16、订130 SJ 2221-1982中、小型系列组合夹具技术要求修订131 SJ 2222-1982中、小型系列组合夹具编号规则修订132 SJ 2223-1982中型系列组合夹具结构要素修订133 SJ 2224-1982小型系列组合夹具结构要素修订134 SJ 2225-1982中型系列组合夹具类型和规格尺寸修订135 SJ 2226-1982小型系列组合夹具类型和规格尺寸修订136 SJ 2253-1982阴极碳酸盐颗粒度的测定方法修订137 SJ 2254-1982阴极碳酸盐分析方法的一般要求（暂行）修订138 SJ 2268-1983旋转多晶铁氧体材料系列修订139 SJ 2318-1

17、983扬声器用铝镍钴系永磁体修订140 SJ 2354.10-1983、雪崩光电二极管列阵串光因子的测试方法修订141 SJ 2354.11-1983、雪崩光电二极管列阵盲区宽度的测试方法修订142 SJ 2354.1-1983、雪崩光电二极管光电参数测试方法 总则修订143 SJ 2354.12-1983雪崩光电二极管反向击穿电压温度系数的测试方法修订144 SJ 2354.13-1983雪崩光电二极管倍增因子的测试方法修订145 SJ 2354.14-1983雪崩光电二极管过剩噪声指数的测试方法修订146 SJ 2354.2-1983、雪崩光电二极管反向击穿电压的测试方法修订147 SJ

18、2354.3-1983、雪崩光电二极管暗电流的测试方法修订148 SJ 2354.4-1983、雪崩光电二极管正向压降的测试方法修订149 SJ 2354.5-1983、雪崩光电二极管电容的测试方法修订150 SJ 2354.6-1983、雪崩光电二极管响应度的测试方法修订151 SJ 2354.7-1983、雪崩光电二极管光谱响应曲线和光谱响应范围的测试方法修订152 SJ 2354.8-1983、雪崩光电二极管脉冲上升、下降时间的测试方法修订153 SJ 2354.9-1983、雪崩光电二极管噪声等效功率的测试方法修订154 SJ 2355.1-1983半导体发光器件测试方法 总则修订15

19、5 SJ 2355.2-1983半导体发光器件测试方法 正向压降的测试方法修订156 SJ 2355.3-1983半导体发光器件测试方法 反向电流的测试方法修订157 SJ 2355.4-1983半导体发光器件测试方法 结电容的测试方法修订158 SJ 2355.5-1983半导体发光器件测试方法 法向光强和半强度角的测试方法修订159 SJ 2355.6-1983半导体发光器件测试方法 光通量的测试方法修订160 SJ 2355.7-1983半导体发光器件测试方法 发光峰值波长和光谱半宽度的测试方法修订161 SJ 2422-1983电子元器件用镀锡铜线修订162 SJ 2465-1984通

20、用型应用电视云台总技术条件修订163 SJ 2488-1984电子设备用变压器、阻流圈和铁芯噪声测试方法修订164 SJ 2553-1984波导和同轴元件驻波测量方法修订165 SJ 2554-1984波导和同轴元件相位测量方法修订166 SJ 2557-1984小模数渐开线圆柱齿轮传动链精度计算方法修订167 SJ 2572-1985太阳能电池用硅单晶棒、片修订168 SJ 2593-1985高纯四氧化硅修订169 SJ 2594-1985高纯四氯化硅中硼及金属杂质的化学光谱分析方法修订170 SJ 2595-1985高纯四氯化硅中痕量磷的分光光度比色测试方法修订171 SJ 2656-19

21、86钨的光谱分析方法修订172 SJ 2657-1986钼的光谱分析方法修订173 SJ 2658.10-1986半导体红外发光二极管测试方法 调制带宽的测试方法修订174 SJ 2658.11-1986半导体红外发光二极管测试方法 脉冲响应特性的测试方法修订175 SJ 2658.1-1986半导体红外发光二极管测试方法 总则修订176 SJ 2658.12-1986半导体红外发光二极管测试方法 峰值发射波长和光谱半宽度的测试方法修订177 SJ 2658.13-1986半导体红外发光二极管测试方法 输出光功率温度系数的测试方法修订178 SJ 2658.2-1986半导体红外发光二极管测试

22、方法 正向压降测试方法修订179 SJ 2658.3-1986半导体红外发光二极管测试方法 反向电压测试方法修订180 SJ 2658.4-1986半导体红外发光二极管测试方法 电容的测试方法修订181 SJ 2658.5-1986半导体红外发光二极管测试方法 正向串联电阻的测试方法修订182 SJ 2658.6-1986半导体红外发光二极管测试方法 输出光功率的测试方法修订183 SJ 2658.7-1986半导体红外发光二极管测试方法 辐射通量的测试方法修订184 SJ 2658.8-1986半导体红外发光二极管测试方法 法向辐射率的测试方法修订185 SJ 2658.9-1986半导体红

23、外发光二极管测试方法 辐射强度空间分布和半强度角的测试方法修订186 SJ 2709-1986印制板组装件温度测试方法修订187 SJ 2716-1986数字计算机系统的设计文件的成套和编制修订188 SJ 2738-1986微型控制电机用齿轮减速器基本参数修订189 SJ 2739-1986微型控制电机用齿轮减速器通用技术条件修订190 SJ 2743-1987电源用磁性氧化物磁芯（磁芯）的尺寸修订191 SJ 2749-1987半导体激光二极管测试方法修订192 SJ 2757-1987重掺半导体载流子浓度的红外反射测试方法修订193 SJ 2760-1987及型塑料封装高压硅堆详细规范修

24、订194 SJ 2857.3-1988温差电致冷材料性能的测试方法 温差电动势率的测试方法修订195 SJ 2858-1988温差电致冷组件性能的测试方法 温差及最低冷面温度测试方法修订196 SJ 2914-1988型多模光纤光缆连接器详细规范修订197 SJ 2915-1988微波铁氧体单晶器件名词术语和定义修订198 SJ 2923-1988可调中心距小模数渐开线圆柱齿轮副传动精度计算方法修订199 SJ 2929-1988电视对称馈线修订200 SJ 2931-1988玻璃丝编织耐热线修订201 SJ 2932-1988阻燃聚氟乙烯安装线修订202 SJ 2933-1988阻燃电视高压

25、线修订203 SJ 2936-1988中功率计技术条件修订204 SJ 2937-1988中功率测量方法修订205 SJ 2938-1988电视图像信号发生器通用技术条件修订206 SJ 2939-1988电视图象信号发生器测试方法修订207 SJ 2949-1988广播电视接收机用调谐器的环境试验要求和试验方法修订208 SJ 2950-1988广播电视接收机用调谐器验收规则修订209 SJ 2960-1988电子设备用压电陶瓷陷波器 总规范修订210 SJ 2961-1988电子设备用压电陶瓷陷波器 分规范 电视视频吸收回路用压电陶瓷陷波器修订211 SJ 2962-1988电子设备用压电

26、陶瓷陷波器 空白详细规范 电视机视频吸收回路用压电陶瓷陷波器 评定水平修订212 SJ 2964-1988电子设备用压电陶瓷鉴频器 总规范修订213 SJ 2965-1988电子设备用压电陶瓷鉴频器 分规范 电视伴音中频鉴频电路用压电陶瓷鉴频器修订214 SJ 2966-1988电子设备用压电陶瓷鉴频器 空白详细规范 电视伴音中频鉴频电路用压电陶瓷鉴频器修订215 SJ 3057-1988冲裁模通用模架 下基础板修订216 SJ 3058.10-1988冲裁模通用模架 垫板修订217 SJ 3058.11-1988冲裁模通用模架 垫板修订218 SJ 3058.1-1988冲裁模通用模架 垫板修订219 SJ 3058.2-1988冲裁模通用模架 垫板修订220 SJ 3058.3-1988冲裁模通用模架 垫板修订221 SJ 3058.4-1988冲裁模通用模架 垫板修订222 SJ 3058.5-1988冲裁模通用模架 垫板修订223 SJ 3058.6-1988冲裁模通用模架 垫板修订224 SJ 3058.7-1988