制程能力Cpk分析教程.docx
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制程能力Cpk分析教程
.
(二數据分類与數据整理
數据可分為計量值數据和計數值數据兩類:
計量值數据是可以連續取值的:
如長度,重量,溫度等.
計數值數据是不可以連續取值的:
如不合格品數,缺陷數等.
數据的整理可分為兩種形式:
1整理成能夠反映某些信息的統計量2整理成反映一定規律的圖形
第三章:
統計量与統計圖
(一典型常用的統計量
(1平均數Xbar
(2極值Xmax;Xmin(3極差R=Xmax-Xmin(4標准偏差σ
(二直方統計圖
直方圖是在統計數据頻率數的基礎上,用圖形表示數据分布情況的一种圖形化方法.(1直方圖的作法
例:
在1-50的范圍內,有如下一組數据(50PCS
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版本A
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3.0
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統計其頻數如下:
作其直方圖如下:
(二.直方圖的觀察与分析
(1對圖形形狀的分析:
常見的直方圖有以下幾种
工程能力分析与控制
統計量与統計圖
4228272633291824321434223029222422284812429353630341442386283222253639241828163836212026208181237
¤À²Õ0~5
6~1011~1516~2021~2526~3031~3536~4041~4546~50Ó¼Æ1236
10
10
8
7
2
1
1
2
3
6
10
10
8
7
2
1
系列2
正常型
偏向型孤島型雙峰型
1正常型
2孤島型:
說明在短時間內有异常因素在作用,如原材料發生變化,有不熟練工人替班等.3偏向型:
說明加工中心發生了偏移4雙峰型:
是由產品混批造成的
5造成這种情況不是生產上的問題,往往是由于測量誤差或分組不當造成的.
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(一正態分布(nomaldistribution
在計量值數据中,應用最廣的一類連續形概率分布為正態分布.正態分布隨机變量X的分布函數為
正態分布函數密度曲線為
(二正態分布的解釋与應用
正態分布函數中的μ与σ是互相獨立的兩個分布函數,μ決定正態曲線的位置,σ決定它的形狀.
第四章:
質量數據的統計分布規律
工程能力分析与控制
質量數據的統計分布規律
μ
σ
折齒型
篩選不良
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(一工序能力
工序能力是指工序處于穩定狀態下的實際加工能力.有時也稱工序能力為工序能夠穩定的生產出合格品的能力.從定量的角度看,工序能力是工序本身所固有的一种可以度量的特性.如果工序能力高,所加工產品質量指標的波動就小,說明工序質量好.
我們可以用產品質量的實際波動來定量描述工序能力的大小,定義:
B=6σ,為什么用6σ來刻划工序能力呢?
因為當工序處于穩定狀態時,產品的質量指標服從政態分布,此時,在μ±3σ的范圍內包括了99.73%的產品,如果取μ±4σ或μ±5σ,相應的產品范圍會增大至99.994%和99.9994%,分別增加了0.264%和0.26994%,而同時要求提供的各种保証更多,精力花費更大,經濟上是不合理的.因此在兼顧工序能力滿足技術要求的程度和工序加工的經濟兩個方面,用6σ來表示工序能力.
(二工序能力指數
以6σ定義的工序能力只表示工序所固有的實際加工能力,并不說明這一能力能否滿足產品質量要求.為了反映工序能力滿足產品質量要求的程度,引入工序能力指數的概念.
工序能力指數,是指產品質量標准(或技朮要求與工序能力的比值.一般采用符號CP(ProcessCapability表示,即
T為質量標准的范圍,即公差.
1.工序能力指數的計算.當質量標准為雙向公差,且質量數據的分布中心(μ與公差中心(M重合時,用符號CP表示.
式中:
TL------公差下限;TU------公差上限;S-------樣本的標准差.
CP值的計算式,只有在分布中心μ與公差中心M重合時才成立.實際生產中,這種情況是極少的,
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動刻度盤,使指針指向“0”位置,再將刻度盤鎖緊螺絲擰緊.
因為這時計算的CP值,只考慮了質量指標值的波動,而忽略了分布中心的位置對工序質量的影響.為了避免這種現象,對CP值要進行修正,工序能力指數,用CPK來表示如下:
CPK=(1-K。
CP
式中K為偏移系數,其值為K=ε/T/2
ε為偏移量,其值為
第五章:
工序能力分析
CP=T/6σ
CP=T/6α=TU-TL/6S
工程能力分析与控制
工序能力分析
工程能力分析与控制
工序能力分析
,
重要差別.正常生產
低,誤差小
規律的圖形
123610108721
.
定的生產高,所加工
服從政態圍會增大至花費更大,用6σ來表
是極少的,
是工序能力准的前提下,
般工藝可以既縮小T,
定的生產高,所加工
服從政態
圍會增大至花費更大,
用6σ來表
是極少的,
是工序能力准的前提下,
般工藝可以既縮小T,