SPC制作程序1.docx
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SPC制作程序1
TO:
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1.目的
2.范围
3.职责
4.定义
5.参考文件
6.生效日期
7.SPC运用
8.SPC技术
9.纠正和预防措施
10.记录
REVISION/AMENDMENTHISTORY
DATE
REV
PAGE
DESCRIPTION
2005-10-18
A0
All
Forfirstissue
1.目的
确保所有产品/物料/设备/工艺在设计开发、来料检验、生产过程中的产品和过程特性参数始终处于受控和稳定状态，通过SPC数据统计和分析对此进行监控，保持对异常波动的控制来提高过程能力和品质水平。
2.范围
适用于南太所有产品/物料/设备/工艺重要参数的监控。
3.职责
3.1R&D负责ITV、SEF、PS的发行，定义产品特性参数；及量产前产品特征参数不符合项改善
3.2PE/TE负责过程控制计划（PMP）和WI制作，定义过程特性参数，设备/工艺重要参数的SPC分析和改善；
3.3QC负责指定项目SPC数据测量及相应检验WI的制作，并对异常提出报告给PE/TE分析改善；
3.4PROD负责生产过程指定项目SPC的数据测量和报告；
3.5IQC/VQC负责来料指定SPC控制项目的数据测量和分析。
不良项目并通知供应商改善
4.定义
4.1SPC：
StatisticalProcessControl，统计过程控制，通过对数据的统计和分析来评估过程能力并监控其稳定性。
4.2过程控制计划：
PMP，ProcessManagementPlan，是指导从来料、生产到出货整个过程控制的主导文件。
4.3产品特性：
是指产品或部件固有特性，如尺寸、容值、阻值、电压、电流等。
4.4过程特性：
是指工艺或过程中可能影响到产品特性变化的因素，如温度、拉力、锡膏厚度等。
4.5关键参数：
产品或过程中对对品质影响大，需要进行测量控制，不做SPC统计，在文件中用［*］标识。
4.6统计参数：
此参数的轻微异常波动均会影响到产品品质，需要用SPC进行监控，在文件中用［X］标识。
5.参考文件
5.1MSP-029-002《SEF检查程序》
5.2MSP-010-004《ITV、SEF的发行和修订》
5.3MSP-010-005《PS的发行和修订》
5.5MSP-010《新产品开发程序》
5.6MSP-016-010《新MODEL试作程序控制》
5.7MSP-031《纠正/预防措施》
5.8《PMP程序》
6.生效日期：
发行日期为生效日期。
7.SPC运用
7.1SPC运用流程图（如下）：
7.2详细流程分为四个阶段：
7.2.1ESSample制作阶段
R&D根据需要评估产品特征参数
7.2.2QASample制作阶段
1.R&D对产品特性进行评估，提供数据，对需要的参数计算CPK。
例如尺寸、电流、FR功率等关键参数，用［*］标识于ITV（SEF）或PS文件中，并附关键参数的测量数据，以指导后续阶段的测量和评估。
2.AssemblyPE负责主导PMP制作,PE/TE/QA/R&D各自负责相应部分的PMP初稿制作，最后由ASSYPE汇总，并由ProjectTeam会议确定PMP中SPC控制项目，并用［X］标识，,最后经过ProjectLeaderApprove,指导后续阶段的测量和评估。
（详细参考PMP程序）
3.根据PMP定义的SPC统计参数[X]，相应SPC执行部门在QA阶段对相应参数进行测量，（如果没有特别要求，Cpk项目样品数30PCS），测量其［X］参数。
所有的参数测量必须在SPEC范围内，测量后对数据进行分析，要求结果呈正态分布，在《Cpk分析报告》里计算出Cpk和数据分布。
如果Cp或Cpk达不到要求，须找出其根本原因和制作控制计划，并进行记录，并将所有结果反馈给相应参数的定义者。
7.2.3试产阶段
1.试产前，Project会议确定PMP中的SPC控制点：
PE负责过程参数定义，R&D负责产品特性参数定义，ProjectteamReview,Teamleader负责确认。
2.PE修订PMP，更新统计参数，用［X］标识。
3.PMP中定义的统计参数［X］的执行部门，IQC/PROD/QC根据PMP的定义进行测量，并制作相应控制图表，对异常项目，过程统计参数提交给PE，产品统计参数提交给RND改善。
4.所有[X]参数必须符合PMP中定义的要求，否则，不可进入量产阶段进行控制。
7.2.4量产阶段
1.在量产前，PE发行正式版本的PMP，明确定义从来料、生产到出货整个过程的需要SPC监控的关键统计参数，用［X］标识。
2.PE发行WI，指导生产过程中的SPC测量和统计。
3.根据过程控制计划PMP要求，IQC、PROD、QC对要求的关键统计参数进行测试，（如果没有特别要求Cpk取样为30PCS）计算并绘制相应PMP规定的图表。
4.Cp和Cpk值，必须在制程稳定状态下进行抽样计算。
《X-R管理图》管制上限和下限，如：
人员、设备、原材料、工艺方法、测量系统、环境，如果条件发生变化，则必须重新制定控制图的上限和下限；同时，要求三个月重新修订和更新一次控制图的上限和下限。
5.统计不良率或不良数量，需要制作《制程控制P-图表》或U-Chart图，对品质状况进行实时监控。
6.如果Cp或Cpk达不到要求，或其他管制图发现异常波动，须找出其根本原因和制作控制计划，并进行记录。
制程控制异常由PE负责分析改善，零部件CPK异常IQC通知供应商分析改善
7.3统计参数[X]选取及统计要求
7.3.1统计参数[X]选取
∙客户指定必须测量的参数；
∙经ProjectTeam定义为直接产品风险，而不稳定的参数；
∙ProjectTeam在必要时决定需过程统计控制的其他参数。
7.3.2统计参数选取前提
∙产品参数：
R&D提供QASAMPLE和试产阶段的数据，作为选取的依据。
∙过程参数：
PE/TE提供QASAMPLE和试产阶段的数据，作为选取的依据。
7.3.2统计要求
∙CPK样本抽取的数量，如果没有特别要求，必须在30或以上；
∙要求必须保证达到Cp>=1.6或Cpk>=1.33，如果客户对Cp或Cpk值有特别要求，以该客户的要求为准。
8.SPC技术
8.1数据分析
SPC衡量数据分布有两个重要的指标
8.1.1平均值：
这是一个算术平均，如k个测量值X1、X2、X3、….Xk的平均值如下计算：
8.1.2标准差：
和平均值一起使用，描述数据分布的宽度或数据分布的集中程度，计算方法如下：
8.2过程能力分析
过程能力分析时主要用到两个重要的指标
8.2.1Cp：
是衡量数据的集中程度的指数，值越大，表示集中程度越高，反之则越低，计算方法：
Cp=（UCL-LCL）/（6*δ）
8.2.2Cpk：
整体评价制程的能力，是体现人员和设备对制程影响程度的一个指标，计算方法：
8.3SPC控制图的识别
最常见的控制图失控表现在如下三种方式：
1.点超出了上限或下限；
2.九个点在中心线一侧排成连续一行；
3.六个点排成一行有规则的持续上升或下降；
4.其他任何明显的非随机性图形。
9.纠正和预防措施
9.1IQC对统计参数计算出Cpk，如果达不到南太公司要求的值，则应该立即通知供应商调查和分析，找到对策并改善，直到Cpk值满足要求为止。
9.2生产过程中或QC检验过程中对统计参数计算出Cpk达不到要求，或过程不稳定，则通知PE/TE立即进行调查和分析，找到对策并改善，直到过程稳定和Cpk值满足要求为止。
9.3IPQC会每日对整个过程中的SPC运行状况进行稽核，发现有失控或异常波动，或计算Cp/Cpk值不满足要求，而相关部门没有及时进行分析和对策时，IPQC应开具《不良改善通知书》，要求责任部门立即进行处理，并进行效果确认。
9.4其他异常波动产生时，参考《纠正/预防措施》进行处理。
10.记录
序号
文件名称
保存地点
保存期限
1
Cpk分析报告
使用部门
1年
2
X-R管理图
使用部门
1年
3
制程控制P-图表
使用部门
1年
4
不良改善通知书
QC
1年
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