风华贴片安规电容规格书.docx

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风华贴片安规电容规格书

*新型独石结构,体积小,电容量高,能在高压下工作。

*符合UL60950-1标准。

*仅用于回流焊接。

*它们实用于薄型设备。

●应用范围

*适合于无变压器的DAA调制调解器线路滤波器及耦合用。

*适合信息设备线路滤波器用。

●Features

*AvailableforequipmentbaseonUL60950-1.

*Onlyforreflowsoldering

*Fitforuseonthintypeequipment.

●Application

*IdealforuseonlinefiltersandcouplingsforDAAmodemswithouttransformers.

*Idealforuseonlinefiltersforinformationequipment.

二、结构及尺寸STRUCTUREANDDIMENSIONS

型号Type尺寸Dimensions(mm

英制表示

British

expression

公制表示

Metric

expression

LWTWB180845204.50±0.402.00±0.20≤2.500.75±0.25

181245324.50±0.403.20±0.30≤3.500.80±0.30

222057505.70±0.405.00±0.40≤3.501.00±0.40

222557635.70±0.506.30±0.50≤3.501.00±0.40备注:

可根据客户的特殊要求设计符合客户需求的产品。

Note:

Wecandesignaccordingtocustomerspecialrequirements.

WB

安全规格认证多层片式陶瓷电容器SafetyRecognizedMLCC

一、特性

三、型号规格表示方法HOWTOORDER

Y208B/102K302NT

①②③④⑤⑥⑦⑧

※说明NOTES:

①代号Code:

X1Y2X2Y3X1安规电容器Y2安规电容器X2安规电容器Y3安规电容器

②尺寸DIMENSIONS单位(unit:

inch/mm

代号08122025尺寸规格

SizeCode

1808181222202225长×宽

(L×Winch

0.18×0.080.18×0.120.22×0.200.22×0.25

长×宽

(L×Wmm

4.50×2.004.50×3.20

5.70×5.005.70×

6.30

③介质种类DIELECTRICSTYLE

介质种类(DielectricCodeCGB/

介质材料(DielectricCOG或NPOX7R

④标称容量NOMINALCAPACITANCE位(unit:

pF

表示方式(ExpressMethod

实际值

(ActualValue

注:

头两位数字为有效数字,第三位数字为0

的个数;R为小数点。

Note:

thefirsttwodigitsaresignificant;third

digitdenotesnumberofzeros;R=decimalpoint.

10210×102

22222×102

⑤容量误差CAPACITANCETOLERANCE

代码(CodeJKM

误差(Tolerance±5.0%±10.0%±20%

⑥工作电压RatedVoltage单位(unit:

V

工作电压交流250V

⑦端头材料TERMINALMATERIALSTYLES

端头类别(TerminationStyles表示方式(ExpressMethod三层电镀端头(NickelBarrierTerminationN

⑧包装方式PACKAGESTYLES

BT

散包装(BulkBag编带包装(TapingPackage

※以最新版本的内容为准

项目X1、X2安规电容器

材料COG

X7R

代号0812202508

122025尺寸1808

1812

2220

2225

1808

1812

2220

2225

电容量

2PF5PF6.8PF8.2PF10PF15PF22PF33PF47PF56PF68PF82PF100PF120PF150PF180PF220PF270PF330PF470PF680PF820PF1.0nF1.5nF2.2nF3.3nF4.7nF6.8nF

片式安规电容

※以最新版本的内容为准

项目X1、X2安规电容器

材料COG

X7R

代号0812202508

122025尺寸1808

1812

2220

2225

1808

1812

2220

2225

电容量

2PF5PF6.8PF8.2PF10PF15PF22PF33PF47PF56PF68PF82PF100PF120PF150PF180PF220PF270PF330PF470PF680PF820PF1.0nF1.5nF2.2nF3.3nF4.7nF6.8nF

片式安规电容

可靠性测试ReliabilityTest

项目Item

技术规格

TechnicalSpecification

测试方法

TestMethodandRemarks

容量Capacitance

Ⅰ类

ClassⅠ

应符合指定的误差级别

Shouldbewithinthe

specifiedtolerance.

标称容量Capacitance测试频率

Measuring

Frequency

测试电压

Measuring

Voltage

≤1000pF1MHZ±10%1.0±

0.2Vrms>1000pF1KHZ±10%

Ⅱ类ClassⅡ应符合指定的误差级别

Shouldbewithinthe

specifiedtolerance.

测试温度:

25℃±3℃

测试频率:

1KHZ±10%

测试电压:

1.0±0.2Vrms

TestTemprature:

25℃±3℃

TestFrequency:

1KHZ±10%

TestVoltage:

1.0±0.2Vrms

损耗角正切(DF,tanδDissipation

Factor

Ⅰ类

ClassⅠ

DF

标称容量

Capacitance

测试频率

Measuring

Frequency

测试电压

Measuring

Voltage≤0.56%Cr<5pF1MHZ±10%

1.0±

0.2Vrms

1.5[(150/Cr+7]×10-45pF≤Cr<50pF1MHZ±10%

≤0.15%50pF≤Cr≤1000pF1MHZ±10%

≤0.15%>1000pF1KHZ±10%

Ⅱ类

ClassⅡ

X7R

≥50V

C≤10µF

测试频率:

1KHZ±10%

测试电压:

1.0±0.2Vrms

TestFrequency:

1KHZ±10%

TestVoltage:

1.0±0.2Vrms

≤2.5%

绝缘电阻

(IRInsulationResistance

Ⅰ类

ClassⅠ

C≤10nF,Ri≥50000MΩ

C>10nF,Ri•CR≥500S

测试电压:

DC500±50V

测试时间:

60±5秒

测试湿度:

≤75%

测试温度:

25℃±3℃

测试充放电电流:

≤50mA

MeasuringVoltage:

DC500±50V

Duration:

60±5s

TestHumidity:

≤75%

TestTemprature:

25℃±5℃

TestCurrent:

≤50mA

Ⅱ类

ClassⅡ

X7R

C≤25nF,Ri≥

10000MΩ

C>25nF,Ri•CR

>100S

片式安规电容

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【南京南山半导体有限公司—贴片电容选型资料】片式安规电容项目Item技术规格TechnicalSpecification测试方法TestMethodandRemarks在端子间施加表中的电压60±1S时观任何不应察到故介质耐电强度(DWVDielectricWithstandingVoltageX型Y型Nodefectsorabnormalities无缺陷或异常障,并且充电/放电电流不超过50mANofailureshoulebeobservedwhenvoltageinthetableisappliedbetweentheterminationsfor60sec.providedthecharge/dischargecurrentislessthan500mA.测量电压DC1075VAC1500V将电容在80~120℃的温度下预热10~30秒.上锡率应大于95%可焊性Solderability外观:

无可见损伤.Atleast95%oftheterminalelectrodeiscoveredbynewsolder.VisualAppearance:

Novisibledamage.Preheatingconditions:

80to120℃;10~30s.有铅:

焊料(Sn/Pb:

63/37)浸锡温度:

235±5℃浸锡时间:

2±0.5sSolderTemperature:

235±5℃Duration:

2±0.5s无铅:

焊料浸锡温度:

245±5℃浸锡时间:

2±0.5sSolderTemperature:

245±5℃Duration:

2±0.5项目ItemΔC/C耐焊接热ResistancetoSolderingHeatIRDFSametoinitialvalue.同初始标准Sametoinitialvalue.NPO至SLNPOtoSL≤±0.5%或±0.5PF,取值较大≤±0.5%or±0.5PF,whicheveris-5~+10%larger同初始标准X7R将电容在100~200℃的温度下预热10±2分钟.浸锡温度:

265±5℃浸锡时间:

10±1s然后取出溶剂清洗干净,在10倍以上的显微镜底下观察.放置时间:

24±2小时放置条件:

室温Preheatingconditions:

100to200℃;10±2min.SolderTemperature:

265±5℃Duration:

10±1sCleanthecapacitorwithsolventandexamineitwitha10X(min.microscope.RecoveryTime:

24±2hRecoverycondition:

Roomtemperature外观:

无可见损伤上锡率:

≥95%Appearance:

Novisibledamage.Atleast95%oftheterminalelectrodeiscoveredbynewsolder.第1页/共8页

【南京南山半导体有限公司—贴片电容选型资料】片式安规电容项目Item技术规格TechnicalSpecification测试方法TestMethodandRemarks试验基板:

Al2O3或PCB弯曲深度:

1mm施压速度:

0.5mm/sec.单位:

mm应在弯曲状态下进行测量。

※T=10抗弯度曲强ResistancetoFlexureofSubstrate(BendingStrength外观:

无可见损伤.Appearance:

Novisibledamage.ΔC/C≤±10%45±245±2TestBoard:

Al2O3orPCBWarp:

1mmSpeed:

0.5mm/sec.Unit:

mmThemeasurementshouldbemadewiththeboardinthebendingposition.施加的力:

5NAppliedForce:

5N※端头强结合度外观无可见损伤TerminationNovisibledamage.Adhesion时间:

10±1SDuration:

10±1S:

上限类别温度,1小时恢复:

24±1h预处理(2类)初始测量循环次数:

5次,一个循环分以下4步:

阶段温度(℃)时间(分钟)下限温度第1步30NPO/X7R:

-55ΔC/C:

Ⅰ类:

≤±1%或±1pF,取两者中最大者Ⅱ类:

B:

≤±10%E,F:

≤±20%ClassⅠ:

≤±1%or±1pF,whicheverislarger.ClassⅡ:

B:

≤±10%(Y5V:

-25Z5U:

+10第2步第3步第4步常温(+202~3302~3上限温度(NPO/X7R:

+125Y5V/Z5U:

+85温度循环TemperatureCycle常温(+20试验后放置(恢复)时间:

24±2hPreheatingconditions:

up-categorytemperature,1hRecoverytime:

24±1hInitialMeasurementCyclingTimes:

5times,1cycle,4steps:

Temperature(℃)Time(min.StepNPO/X7R:

-551Low-categorytemp.(Y5V:

-25Z5U:

+10302Normaltemp.(+202~3NPO/X7R:

+1253Up-categorytemp.(Y5V/Z5U:

+85304Normaltemp.(+202~3Recoverytimeaftertest:

24±2h第1页/共8页

【南京南山半导体有限公司—贴片电容选型资料】片式安规电容项目Item技术规格TechnicalSpecificationⅠ类:

≤±2%或±1pF,取两者之中较大者ΔC/CⅡ类:

B:

≤±10%ClassⅠ:

≤±2%or±1pF,whicheverislarger.ClassⅡ:

B:

≤±10%DF≤2倍初始标准Notmorethantwiceofinitialvalue.Ⅰ类:

Ri≥2500MΩ或Ri•CR≥25S取两者之中较小者.ClassⅠ:

Ri≥2500MΩ或whicheverissmaller.较小者.ClassⅡ:

Ri≥1000MΩ或whicheverissmaller.外观:

无损伤Appearance:

Novisibledamage.Ⅰ类:

≤±2%或±1pF取两者之中较大者Ⅱ类:

B:

≤±20%ΔC/CE,F:

≤±30%ClassⅠ:

≤±2%or±1pF,whicheverislarger.ClassⅡ:

B:

≤±20%E,F:

≤±30%≤2倍初始标准Notmorethantwiceofinitialvalue.较小者.ClassⅠ:

Ri≥4000MΩ或IRwhicheverissmaller.Ri•CR≥25SRi•CR≥25S测试方法TestMethodandRemarks温度:

40±2℃湿度:

90~95%RH时间:

500小时放置条件:

室温放置时间:

小时(Ⅰ类;小时(Ⅱ类2448Temperature:

40±2℃Humidity:

90~95%RHDuration:

500hRecoveryconditions:

RoomtemperatureRecoveryTime:

24h(Class1or48h(Class2潮湿试验MoistureResistanceIRⅡ类:

Ri≥1000MΩ或Ri•CR≥25S取两者之中1.2倍工作电压时间:

100小时充电电流:

不应超过50mA温度:

125℃(NPOX7R)放置条件:

室温放置时间:

小时24(Ⅰ类)或48小(,时Ⅱ类),Duration:

100hCharge/DischargeCurrent:

50mAmax.Temperature:

125℃(NPOX7R);寿命试验LifeTestDFⅠ类:

Ri≥4000MΩ或Ri•CR≥40S取两者之中1.2MultipleRi•CR≥40SⅡ类:

Ri≥2000MΩ或Ri•CR≥50S取两者之中RecoveryConditions:

RoomTemperatureRecoveryTime:

24h(Class1,or48h较小者.ClassⅡ:

Ri≥2000MΩ或Ri•CR≥50S(Class2whicheverissmaller.外观:

无损伤VisualAppearance:

Novisibledamage.第1页/共8页

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