当光在半导体中传输时，光波的能量随着传播会逐渐衰减，其原因是光子
在半导体中产生了吸收。
半导体对光子的吸收最主要的吸收为本征吸收，本征
吸收分为直接跃迁和间接跃迁。
通过测试半导体的本征吸收光谱除了可以得到
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半导体的禁带宽度等信息外，还可以用来分辨直接带隙半导体和间接带隙半导
体。
本征吸收导致材料的吸收系数通常比较高，由于半导体的能带结构所以半导体具有连续的吸收谱。
从吸收谱可以看出，当本征吸收开始时，半导体的吸收谱有一明显的吸收边。
但是对于硅材料，由于其是间接带隙材料，与三五族材料相比跃迁几率较低，因而只有非常小的吸收系数，同时导致在相同能量的光子照射下在硅材料中的光的吸收深度更大。
直接带隙材料的吸收边比间接带隙材料陡峭很多，图1-1画出了几种常用半导体材料（如GaAs、InP、InAs、Si、Ge、GaP等材料）的入射光波长和光吸收系数、渗透深度的关系[2]。
图1-1半导体材料光吸收系数与波长的关系
%
光电探测器的性能指标
光电探测器的性能指标主要由量子效率、响应度、响应速度和本征带宽、光电流，暗电流和噪声等指标组成：
1.量子效率：
￥
（wa表示吸收层的厚度，αs表示光吸收系数，入射波长λ、材料消光系数k决定吸收系数αs=4πk/λ。
）考虑实际情况，入射光在探测器表面会被反射。
同时探测器表面存在一定宽度的接触掺杂区域，其中也会产生光子的消耗，考虑以上两种因素的量子效率的表达式：
其中d表示接触层厚度，Rf表示光电探测器表面的反射率。
反射率与界面的折射率nsc和吸收层的消光系数κ有关，Rf可以表示成下式：
*
2.响应度：
定义为光电探测器产生光电流与入射光功率比，单位通常为A/W。
响应度与量子效率的大小有关，为量子效率的外在体现。
响应度R：
或
表示光电探测器产生的光电流，Pr代表入射光功率。
则量子效率可变为下式表示：
】
进而可得响应度的公式为：
可知响应度与量子效率成正比，由于硅材料本身为间接带隙，所以材料的量子效率较低，硅基光电探测器的响应度也较小。
3、响应速度与本征带宽
响应速度可以用光生载流子的渡越时间表示，载流子的渡越时间外在的频率响应的表现就是探测器的带宽。
光生载流子的渡越时间在光生电流变化中表现为两部分：
上升时间和下降时间。
通常取上升时间和下降时间中的较大者衡量探测器的响应速度。
决定探测器响应速度的因素主要有：
￥
⑴、耗尽区载流子渡越时间：
载流子的渡越时间是影响探测器响应速度的最重要因素，当耗尽区电场强度达到最大时，表示载流子的最大漂移速度，W表示耗尽区宽度，那么载流子的渡越时间为：
⑵耗尽区外载流子扩散时间：
载流子扩散的速度较慢，同时大多数产生于耗尽区之外的载流子的寿命非常短，复合发生速度快。
所以扩散运动只对距离耗尽区范围较近的载流子才能通过扩散运动达到耗尽区中，并在电场中漂移产生光电流。
Dc表示载流子的扩散系数，d表示扩散距离，则扩散时间如下式：
⑶光电二极管耗尽区电容：
越大，响应速度就越慢。
为了达到最优的探测器的响应速度，需要在探测器的吸收层厚度和光电探测器的面积中折衷。
如增大探测器材料的吸收层厚度可以有效减小耗尽区平板电容，同时可增大吸收层厚度可以提高探测器的量子效率。
但是吸收层厚度的增加导致耗尽区宽度的变大，是光生载流子渡越时间变长而有可能降低探测器的响应速度。
%
⑷暗电流和噪声
光电流指在入射光照射下光电探测器所产生的光生电流，暗电流可以定义为没有光入射的情况下探测器存在的漏电流。
其大小影响着光接收机的灵敏度大小，是探测器的主要指标之一。
暗电流主要包括以下几种：
①耗尽区中边界的少子扩散电流；②载流子的产生－复合电流，通过在加工中消除硅材料的晶格缺陷，可以有效减小载流子的产生－复合电流，通常对于高纯度的单晶硅产生－复合电流可以降低到以下；③表面泄漏电流，在制造工艺结束时，对芯片表面进行钝化处理，可以将表面漏电流降低到量级。
当然，暗电流也受探测器工作温度和偏置电压的影响。
探测器的暗电流与噪声是分不开的，通常光电探测器的噪声主要分为暗电流噪声、散粒噪声和热噪声：
a暗电流噪声：
对于一个光电探测器来讲，可接收的最小光功率是由探测器的暗电流决定的，所以减小探测器的暗电流能提高光接收机的灵敏度；b散粒噪声：
当探测器接收入射光时，散粒噪声就产生于光子的产生-复合过程中。
由于光生载流子的数量变化规律服从泊松统计分部，所以光生载流子的产生过程存在散粒噪声；c热噪声：
由于导体中电子的随机运动会产生导体两端电压的波动，因此就会产生热噪声。
光电探测器的电路模型中包含的电阻为其热噪声的主要来源。
4、噪声等效功率NEP：
单位信噪比时的入射光功率。
5、探测度D：
—
6、线性度:
光电探测器的选择与主要应用
光电探测器的应用选择
光电探测器件的应用选择，实际上是应用时的一些事项或要点。
在很多要求不太严格的应用中，可采用任何一种光电探测器件。
不过在某些情况下，选用某种器件会更合适些。
例如，当需要比较大的光敏面积时，可选用真空光电管，因其光谱响应范围比较宽[3]，故真空光电管普遍应用于分光光度计中。
当被测辐射信号微弱、要求响应速度较高时，采用光电倍增管最合适，因为其放大倍数可达100以上，这样高的增益可使其信号超过输出和放大线路内的噪声分量[4]，使得对探测器的限制只剩下光阴极电流中的统计变化。
因此，在天文学、光谱学、激光测距和闪烁计数等方面，光电倍增管得到广泛应用。
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目前，固体光电探测器用途非常广。
CdS光敏电阻因其成本低而在光亮面积的器件，它除用做探测器件外，还可作太阳能变换器；硅光电二极管体积小、响应快、可靠性高，而且在可见光与近红外波段内有较高的量子效率，困而在各种工业控制中获得应用。
硅雪崩管由于增益高、响应快、噪声小，因而在激光测距与光纤通信中普遍采用[4]。
<1>、光电探测器必须和辐射信号源及光学系统在光谱特性上相匹配。
如果测量波长是紫外波段，则选用光电倍增管或专门的紫外光电半导体器件；如果信号是可见光，则可选用光电倍增管、光敏电阻和Si光电器件；如果是红外信号，则选用光敏电阻，近红外选用Si光电器件或光电倍增管。
<2>、光电探测器的光电转换特性必须和入射辐射能量相匹配。
其中首先要注意器件的感光面要和照射光匹配好，因光源必须照到器件的有效位置，如光照位置发生变化，则光电灵敏度将发生变化。
如光敏电阻是一个可变电阻，有光照的部分电阻就降低，必须使光线照在两电极间的全部电阻体上，以便有效地利用全部感光面。
光电二极管、光电三极管的感光面只是结附近的一个极小的面积，故一般把透镜作为光的入射窗，要把透镜的焦点与感光的灵敏点对准。
一股要使入射通量的变化中心处于检测器件光电特性的线性范围内[5]，以确保获得良好的线性输出。
对微弱的光信号，器件必须有合适的灵敏度，以确保一定的信噪比和输出足够强的电信号。
光电探测器的主要应用
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photodetector利用半导体材料的光电导效应制成的一种光探测器件。
所谓光电导效应，是指由辐射引起被照射材料电导率改变的一种物理现象。
光电导探测器在军事和国民经济的各个领域有广泛用途。
在可见光或近红外波段主要用于射线测量和探测、工业自动控制、光度计量等；在红外波段主要用于导弹制导、红外热成像、红外遥感等方面。
光电导体的另一应用是用它做摄像管靶面。
为了避免光生载流子扩散引起图像
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