晶体管引脚识别方法Word文档格式.docx

上传人:b****8 文档编号:22325088 上传时间:2023-02-03 格式:DOCX 页数:7 大小:20.64KB
下载 相关 举报
晶体管引脚识别方法Word文档格式.docx_第1页
第1页 / 共7页
晶体管引脚识别方法Word文档格式.docx_第2页
第2页 / 共7页
晶体管引脚识别方法Word文档格式.docx_第3页
第3页 / 共7页
晶体管引脚识别方法Word文档格式.docx_第4页
第4页 / 共7页
晶体管引脚识别方法Word文档格式.docx_第5页
第5页 / 共7页
点击查看更多>>
下载资源
资源描述

晶体管引脚识别方法Word文档格式.docx

《晶体管引脚识别方法Word文档格式.docx》由会员分享,可在线阅读,更多相关《晶体管引脚识别方法Word文档格式.docx(7页珍藏版)》请在冰豆网上搜索。

晶体管引脚识别方法Word文档格式.docx

cpu核心

达林顿

it

分类:

电脑方面

、中、小功率三极管的检测

  A、已知型号和管脚排列的三极管,可按下述方法来判断其性能好坏

  (a)、测量极间电阻。

将万用表置于R×

100或R×

1k挡,按照红、黑表笔的六种不同接法进行测试。

其中,发射结和集电结的正向电阻值比较低,其他四种接法测得的电阻值都很高,约为几百千欧至无穷大。

但不管是低阻还是高阻,硅材料三极管的极间电阻要比锗材料三极管的极间电阻大得多。

  (b)、三极管的穿透电流ICEO的数值近似等于管子的倍数β和集电结的反向电流ICBO的乘积。

ICBO随着环境温度的升高而增长很快,ICBO的增加必然造成ICEO的增大。

而ICEO的增大将直接影响管子工作的稳定性,所以在使用中应尽量选用ICEO小的管子。

  通过用万用表电阻直接测量三极管e-c极之间的电阻方法,可间接估计ICEO的大小,

具体方法如下:

万用表电阻的量程一般选用R×

1k挡,对于PNP管,黑表管接e极,红表笔接c极,对于NPN型三极管,黑表笔接c极,红表笔接e极。

要求测得的电阻越大越好。

e-c间的阻值越大,说明管子的ICEO越小;

反之,所测阻值越小,说明被测管的ICEO越大。

一般说来,中、小功率硅管、锗材料低频管,其阻值应分别在几百千欧、几十千欧及十几千欧以上,

如果阻值很小或测试时万用表指针来回晃动,则表明ICEO很大,管子的性能不稳定。

  (c)、测量放大能力(β)。

目前有些型号的万用表具有测量三极管hFE的刻度线及其测试插座,可以很方便地测量三极管的放大倍数。

先将万用表功能开关拨至挡,量程开关拨到ADJ位置,把红、黑表笔短接,调整调零旋钮,使万用表指针指示为零,

然后将量程开关拨到hFE位置,并使两短接的表笔分开,把被测三极管插入测试插座,即可从hFE刻度线上读出管子的放大倍数。

另外:

有此型号的中、小功率三极管,生产厂家直接在其管壳顶部标示出不同色点来表明管子的放大倍数β值,

其颜色和β值的对应关系如表所示,但要注意,各厂家所用色标并不一定完全相同。

  B、检测判别电极

  (a)、判定基极。

用万用表R×

1k挡测量三极管三个电极中每两个极之间的正、反向电阻值。

当用第一根表笔接某一电极,而第二表笔先后接触另外两个电极均测得低阻值时,则第一根表笔所接的那个电极即为基极b。

这时,要注意万用表表笔的极性,如果红表笔接的是基极b。

黑表笔分别接在其他两极时,测得的阻值都较小,则可判定被测三极管为PNP型管;

如果黑表笔接的是基极b,红表笔分别接触其他两极时,测得的阻值较小,则被测三极管为NPN型管。

  (b)、判定集电极c和发射极e。

(以PNP为例)将万用表置于R×

1k挡,红表笔基极b,用黑表笔分别接触另外两个管脚时,

所测得的两个电阻值会是一个大一些,一个小一些。

在阻值小的一次测量中,黑表笔所接管脚为集电极;

在阻值较大的一次测量中,黑表笔所接管脚为发射极。

  C、判别高频管与低频管

高频管的截止频率大于3MHz,而低频管的截止频率则小于3MHz,一般情况下,二者是不能互换的。

  D、在路电压检测判断法

在实际应用中、小功率三极管多直接焊接在印刷电路板上,由于元件的安装密度大,拆卸比较麻烦,

所以在检测时常常通过用万用表直流电压挡,去测量被测三极管各引脚的电压值,来推断其工作是否正常,进而判断其好坏。

2、大功率晶体三极管的检测

  利用万用表检测中、小功率三极管的极性、管型及性能的各种方法,对检测大功率三极管来说基本上适用。

但是,由于大功率三极管的工作电流比较大,因而其PN结的面积也较大。

PN结较大,其反向饱和电流也必然增大。

所以,若像测量中、小功率三极管极间电阻那样,使用万用表的R×

1k挡测量,必然测得的电阻值很小,

好像极间短路一样,所以通常使用R×

10或R×

1挡检测大功率三极管。

3、普通达林顿管的检测

  用万用表对普通达林顿管的检测包括识别电极、区分PNP和NPN类型、估测放大能力等项内容。

因为达林顿管的E-B极之间包含多个发射结,所以应该使用万用表能提供较高电压的R×

10k挡进行测量。

4、大功率达林顿管的检测

  检测大功率达林顿管的方法与检测普通达林顿管基本相同。

但由于大功率达林顿管内部设置了V3、R1、R2等保护和泄放漏电流元件,

所以在检测量应将这些元件对测量数据的影响加以区分,以免造成误判。

具体可按下述几个步骤进行:

  A、用万用表R×

10k挡测量B、C之间PN结电阻值,应明显测出具有单向导电性能。

正、反向电阻值应有较大差异。

  B、在大功率达林顿管B-E之间有两个PN结,并且接有电阻R1和R2。

用万用表电阻挡检测时,当正向测量时,

测到的阻值是B-E结正向电阻与R1、R2阻值并联的结果;

当反向测量时,发射结截止,测出的则是(R1+R2)电阻之和,

大约为几百欧,且阻值固定,不随电阻挡位的变换而改变。

但需要注意的是,有些大功率达林顿管在R1、R2、上还并有二极管,

此时所测得的则不是(R1+R2)之和,而是(R1+R2)与两只二极管正向电阻之和的并联电阻值。

5、带阻尼行输出三极管的检测

  将万用表置于R×

1挡,通过单独测量带阻尼行输出三极管各电极之间的电阻值,即可判断其是否正常。

具体测试原理,方法及步骤如下:

  A、将红表笔接E,黑表笔接B,此时相当于测量大功率管B-E结的等效二极管与保护电阻R并联后的阻值,

由于等效二极管的正向电阻较小,而保护电阻R的阻值一般也仅有20Ω~50Ω,所以,二者并联后的阻值也较小;

反之,将表笔对调,即红表笔接B,黑表笔接E,则测得的是大功率管B-E结等效二极管的反向电阻值与保护电阻R的并联阻值,

由于等效二极管反向电阻值较大,所以,此时测得的阻值即是保护电阻R的值,此值仍然较小。

  B、将红表笔接C,黑表笔接B,此时相当于测量管内大功率管B-C结等效二极管的正向电阻,一般测得的阻值也较小;

将红、黑表笔对调,即将红表笔接B,黑表笔接C,则相当于测量管内大功率管B-C结等效二极管的反向电阻,测得的阻值通常为无穷大。

  C、将红表笔接E,黑表笔接C,相当于测量管内阻尼二极管的反向电阻,测得的阻值一般都较大,约300Ω~∞;

将红、黑表笔对调,即红表笔接C,黑表笔接E,则相当于测量管内阻尼二极管的正向电阻,测得的阻值一般都较小,约几Ω至几十Ω

CUP的核心类型

核心(Die)又称为内核,是CPU最重要的组成部分。

CPU中心那块隆起的芯片就是核心,是由单晶硅以一定的生产工艺制造出来的,

CPU所有的计算、接受/存储命令、处理数据都由核心执行。

各种CPU核心都具有固定的逻辑结构,一级缓存、二级缓存、执行单元、

指令级单元和总线接口等逻辑单元都会有科学的布局。

  为了便于CPU设计、生产、销售的管理,CPU制造商会对各种CPU核心给出相应的代号,这也就是所谓的CPU核心类型。

  不同的CPU(不同系列或同一系列)都会有不同的核心类型(例如Pentium4的Northwood,Willamette以及K6-2的CXT和

K6-2+的ST-50等等),甚至同一种核心都会有不同版本的类型(例如Northwood核心就分为B0和C1等版本),

核心版本的变更是为了修正上一版存在的一些错误,并提升一定的性能,而这些变化普通消费者是很少去注意的。

每一种核心类型都有其相应的制造工艺(例如0.25um、0.18um、0.13um以及0.09um等)、核心面积(这是决定CPU成本的关键因素,

成本与核心面积基本上成正比)、核心电压、电流大小、晶体管数量、各级缓存的大小、主频范围、流水线架构和支持的指令集

(这两点是决定CPU实际性能和工作效率的关键因素)、功耗和发热量的大小、封装方式(例如S.E.P、PGA、FC-PGA、FC-PGA2等等)、

接口类型(例如Socket370,SocketA,Socket478,SocketT,Slot1、Socket940等等)、前端总线频率(FSB)等等。

因此,核心类型在某种程度上决定了CPU的工作性能。

  一般说来,新的核心类型往往比老的核心类型具有更好的性能(例如同频的Northwood核心Pentium41.8AGHz就要比Willamette

核心的Pentium 

41.8GHz性能要高),但这也不是绝对的,这种情况一般发生在新核心类型刚推出时,

由于技术不完善或新的架构和制造工艺不成熟等原因,可能会导致新的核心类型的性能反而还不如老的核心类型的性能。

例如,早期Willamette核心Socket423接口的Pentium4的实际性能不如Socket370接口的Tualatin核心的PentiumIII和赛扬,

现在的低频Prescott核心Pentium4的实际性能不如同频的Northwood核心Pentium4等等,

但随着技术的进步以及CPU制造商对新核心的不断改进和完善,新核心的中后期产品的性能必然会超越老核心产品。

  CPU核心的发展方向是更低的电压、更低的功耗、更先进的制造工艺、集成更多的晶体管、更小的核心面积

(这会降低CPU的生产成本从而最终会降低CPU的销售价格)、更先进的流水线架构和更多的指令集、更高的前端总线频率、集成更多的功能

(例如集成内存控制器等等)以及双核心和多核心(也就是1个CPU内部有2个或更多个核心)等。

CPU核心的进步对普通消费者而言,最有意义的就是能以更低的价格买到性能更强的CPU。

  在CPU漫长的历史中伴随着纷繁复杂的CPU核心类型,以下分别就IntelCPU和AMDCPU的主流核心类型作一个简介。

主流核心类型介绍(仅限于台式机CPU,不包括笔记本CPU和服务器/工作站CPU,而且不包括比较老的核心类型)。

※三极管:

三极管就是由二个PN结构成三个极的电子元件,基极(B)集电极(C)、发射极(E)。

※三极管作用:

三极管在电路中主要起电流放大和开关作用;

也起隔离作用。

※三极管命名:

中国半导体器件型号命名方法

半导体器件型号由五部分(场效应器件、半导体特殊器件、复合管、PIN型管、激光器件的型号命名只有第三、四、五部分)组成。

第一部分:

用数字表示半导体器件有效电极数目。

2-二极管、3-三极管

第二部分:

用汉语拼音字母表示半导体器件的材料和极性。

表示二极管时:

A-N型锗材料、B-P型锗材料、C-N型硅材料、D-P型硅材料。

表示三极管时:

A-PNP型锗材料、B-NPN型锗材料、C-PNP型硅材料、D-NPN型硅材料。

第三部分:

用汉语拼音字母表示半导体器件的内型。

P-普通管、V-微波管、W-稳压管、C-参量管、Z-整流管、L-整流堆、S-隧道管、N-阻尼管、U-光电器件、K-开关管、X-低频小功率管(F<

3MHz,Pc<

1W)、G-高频小功率管(f>

1W)、D-低频大功率管(f<

3MHz,Pc>

1W)、A-高频大功率管(f>

1W)、T-半导体晶闸管(可控整流器)、Y-体效应器件、B-雪崩管、J-阶跃恢复管、CS-场效应管、BT-半导体特殊器件、FH-复合管、PIN-PIN型管、JG-激光器件。

第四部分:

用数字表示序号 

第五部分:

用汉语拼音字母表示规格号

例如:

3DG18表示NPN型硅材料高频三极管

展开阅读全文
相关资源
猜你喜欢
相关搜索

当前位置:首页 > 经管营销 > 销售营销

copyright@ 2008-2022 冰豆网网站版权所有

经营许可证编号:鄂ICP备2022015515号-1