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不相干散射:

光子部分能量传给原子,损失能量,波长变长。

相干散射适于衍射分析

9.什么叫X射线的光电效应?

什么叫荧光X射线?

什么叫俄歇电子?

当X射线的波长足够短时,其光子的能量就很大,以至于能把原子中处于某一能级的电子打出来,而它本身被吸收,他的能量就传给该电子了,使之成为具有一定能量的光电子,使原子处于高能激发态,这个过程称为光电效应。

伴随光电效应而发生的有荧光X射线和俄歇电子。

光电吸收后,原子处于高能激发态,内层出现了空位,外层的电子往此空位跳,就会产生标识X射线,这种由X射线激发出来的X射线我们称为荧光X射线。

另一方面,外层电子跃入内层空位时,多余的能量可以不以X射线的形式放出,而是传递给其它外层电子,使之脱离原子,这样的电子称为俄歇电子。

10.X射线衍射分析的基本原理?

(X射线照射物体时,产生相干散射与非相干散,由于相干散射产生的次级X射线具有相同的波长,如果散射物质内的原子或分子排列具有周期性(晶体物质)则会发生相互加强的干涉现象,这就是X射线衍射分析的基本原理。

11.写出布拉格方程,说明其含义。

什么是布拉格定律?

假设入射波从晶体中的平行原子平面作镜面反射,在这种类似镜子的镜面反射中,其反射角等于入射角。

当来自平行原子平面的反射发生相长干涉时,就得出衍射束。

考虑晶面间距为d的平行晶面,相邻平行晶面反射的射线行程差是2dsinx,当行程差是波长的整数倍时,反射线就发生了相互干涉。

这就是布拉格定律。

布拉格定律用公式表达为:

2dsinx=nλ(d为平行原子平面的间距,λ为入射波波长,x为入射光与晶面之夹角)布拉格定律的成立条件是波长小于等于2d。

12.什么叫布拉格角?

什么叫衍射角?

13.多重性因子?

14.X射线衍射研究方法有哪几种?

各研究方法有什么用途?

单晶:

劳厄法、转动晶体法、衍射仪法;

多晶:

粉晶法、衍射仪法。

劳厄法的应用:

①主要测定晶体的取向:

--θ②观测晶体的对称性,鉴定是否单晶。

③粗略观测晶体的完整性。

转晶法应用①测定单晶体试样的晶胞常数。

②观测晶体的系统消光规律。

以确定晶体的空间群。

物相分析(定性分析、定量分析)测定晶体结构,晶格常数,晶粒大小,应力状态。

15.透射劳厄法、背射劳厄法的劳厄图各有什么特征?

16.转晶法衍射花样特征?

17.粉末照相法中应用最广的方法是什么方法?

其衍射照片特征?

根据照片如何确定2θ?

18.什么是衍射仪法?

该法为什么能广泛应用?

它有什么用途?

用单色X射线照射多晶(粉晶)或转动的单晶试样,用探测器和测角仪探测衍射线的强度和位置,并将它们转变为电信号,然后进行自动记录,或用计算机对数据进行分析处理。

衍射仪法特点:

测量精度高数据分析处理能力强。

衍射仪法应用:

X射线衍射分析的所有应用

19.粉末衍射仪核心部件是什么?

该部件包括那些部分?

20.衍射仪的探测器由哪几种?

并阐述各自的原理?

21.扫描仪的工作方式有哪两种?

各有什么优缺点?

(1)连续扫描:

优点是快速而方便,缺点是由于滞后效应和平滑效应,造成衍射峰位向扫描方向移动、分辨力降低、线形畸变等

(2)步进扫描:

无滞后效应,峰位准确、分辨力好,计数的均方偏差可以足够小,减少统计涨落对强度的影响。

22.衍射线峰位的确定方法有哪几种?

各适用于什么情况?

(1)峰顶法:

适用于线型尖锐的情况

(2)切线法:

线形顶部平坦,两侧直线性好(3)半高宽中点法:

线形顶部平坦,两侧直线性不好(4)7/8高度法:

有重叠峰存在,但峰顶能明显分开(5)中点连线法:

(6)抛物线拟合法:

衍射峰线形漫散和双峰难分离的情况(7)重心法:

干扰小、重复性好,计算量大,配合计算机使用

23.画图说明半高宽中点法确定峰位的方法。

24.X射线物相分析(定性、定量)的理论依据是什么?

25.哪些国家、什么委员会、编制了什么卡片?

26.PDF卡片索引有哪三种?

各以什么依据排序?

适用于什么情况下检索?

27.为什么说d值的数据比相对强度的数据重要?

由于吸收和测量误差的影响,相对强度的数值往往可以发生很大的偏差,而d值的误差一般不会太大。

因此在将实验数据与卡片上的数据核对时,d值必须相当符合,一般要到小数点后第二位才允许有偏差。

28.结合布拉格公式说明,为什么说低角度区的衍射数据比高角度区的数据重要?

低角度的衍射线对应于d值较大的晶面。

对于不同的晶体来说差别较大,互相重叠的机会少,不易相互干扰,而高角度的衍射线对应于d值较小的晶面,对不同的晶体来说,晶面间距相近的机会多容易相互混淆。

29.X射线定量分析的理论依据是什么?

多相混合物中,某一相衍射线的强度随该相含量的增加而增大(即物相的相对含量越高,则衍射线的相对强度也越大)。

30.现有一样品,进行XRD分析为两相混合物,设为A相和B相,查得:

测得样品各相最强峰的积分强度值:

,用K值法计算A、B相含量。

IA/IB=KAWA/KBWBWA+WB=1(课本74页)

31.写出谢乐公式,说明各参数的含义,并说明利用谢乐公式计算微晶尺寸时,样品尺寸的适用范围和主要注意事项。

第二章电子显微分析

1.什么是显微镜的分辨本领(分辨能力、分辨率),它和那些因素有什么关系?

2.什么是电子显微分析?

电子显微分析的特点是什么?

3.电子的波性是什么?

电子波长由什么决定?

运动着的微观粒子也伴随着一个波——物质波或德布罗意波。

波长由加速电压决定。

4.什么是静电透镜、磁透镜?

产生旋转对称等电位面的电极装置即为静电透镜,产生旋转对称磁场的线圈装置称为磁透镜

静电透镜和磁透镜各有什么特点?

各用于电镜中的什么位置?

5.电磁透镜的像差有哪几种?

球差色差轴上像散畸变

6.电磁透镜的场深、焦深?

7.原子核对电子的弹性散射和非弹性散射?

8.电子的弹性散射有什么特点?

用于什么分析?

9.背散射电子和透射电子?

电子射入试样后,受到原子的弹性和非弹性散射,有一部分电子的总散射角度大于90度,重新从试样表面溢出,称为背散射电子;

当试样的厚度小于入射电子的穿透深度时,入射电子将穿透试样,从另一表面射出,称为透射电子。

10.简述透射电镜的工作原理。

11.简述透射电镜的特点。

12.透射电子显微镜的结构分为那几个系统?

13.透射电镜光学成像系统的结构分为哪几部分?

14.透射电镜的性能指标包括哪些方面?

15.简述透射电镜粉末样品和薄膜样品的制备。

课本125页

16.说明电子显微像的理论叫什么理论?

透射电镜衬度有哪几种?

各适用于什么材料?

衬度理论衬度——电子图像的光强度差别(电子束强度差别)。

质厚衬度:

适用于非晶体薄膜和复形膜试样所成图像的解释;

衍射衬度和相位衬度:

适用于晶体薄膜试样所成图像的解释。

17.简述电子衍射的特点。

18.试比较单晶和多晶的电子衍射谱,并说明多晶电子衍射谱中环行花样形成的原因。

19.透射电镜分析的应用。

20.用透射电镜能否观察形貌?

怎样处理?

21.简述扫描电镜的特点。

10-30mm的试样,制样简单;

场深大、适于粗糙表面和断口,图像富有立体感和真实感;

放大倍率变化范围大15倍~20万倍;

分辨率:

3-6nm;

可用电子学方法、控制和改善图像质量;

可多功能分析(微区成分、阴极荧光图像和阴极荧光光谱、晶体管或集成电路的PN结及缺陷);

可动态分析(加热、冷却、拉伸等);

扫描电镜图像的衬度有哪几种?

这几种衬度是如何形成的?

22.背散射电子像有什么特点?

背散射电子像的用途?

背散射电子特点:

背散射电子能量高,接近入射电子E0;

试样中产生范围大,像分辨率低。

可利用背散射电子像来研究样品表面形貌和成分分布。

23.简述二次电子像是如何形成的?

24.什么是二次电子?

二次电子有什么特点?

二次电子像主要反映试样的什么特征?

用什么衬度解释?

该衬度的形成主要取决于什么因素?

入射电子和原子的核外电子碰撞,将核外的电子激发到空能级或脱离原子核成为二次电子。

特点:

(1)能量小于50eV;

反映试样表面10nm层内的状态;

成像分辨率高。

(2)二次电子发射系数δ与入射束的能量有关,入射束能量达到一定值后,随着入射束能量的增加,二次电子的发射系数减小(3)二次电子发射系数和试样表面倾角θ有关,它们之间存在如下关系:

δ(θ)=δ0/cosθ(4)二次电子在试样上方的角分布也服从余弦分布。

二次电子像主要反映试样表面的形貌特征,用形貌衬度来解释,形貌衬度的形成主要取决于试样表面相对于入射电子束的倾角

25.扫描电镜试样有什么要求?

如何制备?

试样要求大小:

块状—Φ30~35×

5~10mm;

除去水分;

污染试样—清洗;

某些试样—侵蚀—清洗;

消磁。

课本156

26.什么是电子探针?

电子探针有哪些用途?

电子探针X射线显微分析是一种显微分析和成分分析相结合的微区分析。

定点定性分析、定量分析、线扫描分析、面扫描分析

27.什么是波谱仪?

28.透射电镜、扫描电镜有哪些电子显微图像?

在这些电子显微像中各包含有哪些信息?

各用什么衬度理论解释?

它们的明亮处是怎样形成的?

第三章热分析

1.热分析法有哪几种?

各种热分析法的概念?

2.差热分析?

示差扫描量热分析?

是把试样和参比物(热中性体)置于相同的加热条件下,测定两者的温度差对温度或时间作图的方法。

记录称为差热曲线。

是把试样和参比物,置于相等的温度条件,在程序控温下,测定试样与参比物的温度差保持为零时,所需要的能量对温度或时间作图的方法。

记录称为示差扫描量热曲线。

3.热重法和热膨胀法

4.参比物和试样的要求。

5.简述差热曲线中吸热峰的形成过程。

6.差热曲线中如何确定吸热(放热)峰的起点和终点?

起点和终点各代表什么意义?

(画图)曲线开始偏离基线点的切线与曲线最大斜率切线的交点。

起点:

反应起始温度点;

终点:

反应完成温度点;

7.

8.影响差热曲线的因素有哪些方面?

(1)升温速度:

升温速度快,峰形窄而尖,慢,峰形宽而平,峰位向后移动

(2)填装密度:

密度不同,导热率不同(3)粒度和形状:

颗粒形状不同,反应峰形态不同(4)压力与气氛:

压力增大,反应温度向高温移动,压力减小,反应温度向低温移动,不同的气氛会发生不同的反应

9.升温速率对差热曲线的影响?

如何确定升温速率?

加热速率主要根据式样的数量、传热性质、参比物、加热炉、试样座的特征及记录仪的灵敏度来确定,传热差的试样,记录仪的灵敏度要高,加热速率以慢些为宜。

10.压力、气氛对差热曲线的影响怎样?

11.差热分析在定量工作中的应用。

12.简述差热分析技术的发展。

第四章振动光谱

1.什么是红外光谱?

激光拉曼光谱?

物质受到光的作用时,当分子或原子基团的震动与光发生共振,从而产生对光的吸收,如果将透过物质的光辐射用单色器色散,同时测量不同波长的辐射强度,得到吸收光谱。

光源是红外光,就是红外吸收光谱,光源是单色激光,得到激光拉曼光谱。

2.红外光谱分析有哪些应用及应用领域?

主要用于化学组成和物相分析,分子结构研究;

较多用于有机化学领域,无机化合物和矿物的研究开始较晚

3.红外光的波长范围是多少?

红外光依据波长可以划分为那几部分?

4.简述红外光谱图的表示方法?

5.简述红外光谱法中产生震动吸收的条件。

6.红外光谱图有哪四个特征(表象)?

(1)谱带数目:

首先分析所含的谱带数目,仪器性能不好,或制样不好,就不好分辨,使吸收谱带数目减少

(2)吸收带位置:

每个基团的振动频率不同,红外光谱中表现出特定的吸收谱带的位置,在鉴定化合物时,谱带位置是最重要的参数(3)谱带形状:

如果化合物较纯,谱带较尖锐,对称性好,混合物出现谱带重叠、加宽,对称性被破坏(4)谱带强度:

对于一定的化合物他们的基频吸收的强度都较大,红外辐射的透过率小

7.影响红外吸收光谱谱带强度的因素有哪些?

入射光强度、样品厚度、样品吸收系数

8.红外光谱法的特点?

第五章光电子能谱

1.表面分析可以得到哪些信息?

物质表面层的化学成分、元素所处的状态、物质状态、物理性质

2.表面分析方法有哪几种?

俄歇电子能谱、紫外电子能谱、离子电子能谱、电子探针显微分析

3.光电子能谱分析表面的深度。

4.俄歇电子能谱分析有哪些应用?

5.与XPS比较,AES分析由哪些特点?

6.AES元素定性分析依据是什么?

7.AES元素定性分析方法和注意事项?

8.AES元素定量分析依据和分析方法?

论述题

1.测定材料的化学组成可用哪些方法?

各方法有什么特点?

2.测定材料的物相组成可用哪些方法?

3.观察材料的表面或断口可用哪些方法?

综合应用题

1.TiO2有金红石和锐钛矿两种晶型,用溶胶-凝胶法制备TiO2纳米晶,经600℃煅烧后得到白色粉体。

现要分析粉体的物相和粒度大小,请说明用什么分析方法?

并简要说明分析过程。

2.Sr3SiO5:

Eu是一种新型白光LED荧光材料。

现要对固相反应法制备的Sr3SiO5:

Eu的晶体结构、颗粒形貌、颗粒尺寸、发光性能(光谱特征)进行表征,说明采用什么方法、什么仪器分析测试?

3.现要用共沉淀法制备BaTiO3单晶纳米粉体,用什么仪器?

什么方法?

如何鉴定粉体颗粒是否单晶?

可用哪些方法测定颗粒大小?

4.SrAl2O4:

Eu,Dy是一种新型长余辉发光材料。

现要对固相反应法制备的SrAl2O4:

Eu,Dy的晶体结构、颗粒形貌、尺寸、发光性能(光谱特征)进行表征,说明采用什么方法、什么仪器分析测试?

5.Sr3SiO5:

现要了解用SrCO3、SiO2和Eu2O3采用固相反应法制备Sr3SiO5:

Eu时,在加热过程中发生了什么反应,以及发生这些反应的温度,说明采用什么方法、什么仪器分析测试?

对分析测试结果如何分析?

6.某水泥厂要对煅烧的水泥熟料进行检验,现要分析水泥熟料中含有哪些成分(物相)?

各成分(物相)含量多少?

说明采用什么方法进行分析?

使用什么仪器?

7.观察材料的表面或断口,可用哪几种方法?

各方法有什么优缺点?

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