mpu6050和6000数据表中文英文对照Word下载.docx

mpu6050和6000数据表中文英文对照Word下载.docx

《mpu6050和6000数据表中文英文对照Word下载.docx》由会员分享，可在线阅读，更多相关《mpu6050和6000数据表中文英文对照Word下载.docx（23页珍藏版）》请在冰豆网上搜索。

precisiontrackingofbothfastandslowmotions,theMPU-60X0featuresauser-programmablegyroscopefull-scalerangeof±

250,±

500,±

1000,and±

2000°

/sec（dps）.Thepartsalsohaveauser-programmableaccelerometerfull-scalerangeof±

2g,±

4g,±

8g,and±

16g.

精密跟踪的快速和慢速运动,MPU-60X0功能可编程陀螺仪全面范围的±

250±

500±

1000和2000°

±

/秒（dps）。

的部分也有一个用户可编程的加速度计全面范围±

2g,±

4g,±

8g和±

16g.

TheMPU-6000familyiscomprisedoftwoparts,theMPU-6000andMPU-6050.Thesepartsareidenticaltoeachotherwithtwoexceptions.TheMPU-6050supportsI2Ccommunicationsatupto400kHzandhasaVLOGICpinthatdefinesitsinterfacevoltagelevels;

theMPU-6000supportsSPIatupto20MHzinadditiontoI2C,andhasasinglesupplypin,VDD,whichisboththedevice’slogicreferencesupplyandtheanalogsupplyforthepart.

控制器-6000家庭由两部分组成,单片机-6000和微处理器-6050。

这些部件是相同的两个例外。

微控制器-6050支持I2C通信高达400千赫VLOGIC销,它定义了接口电压水平;

微机-6000支持SPI高达20mhz除了I2C,和有一个供应销,VDD,供应设备的逻辑引用和模拟部分供应。

FormoredetailedinformationfortheMPU-60X0devices,pleaserefertothe“MPU-6000andMPU-6050ProductSpecification”.

MPU-60X0设备的详细信息,请参阅“微处理器-6000和微处理器-6050产品规格”。

VDD供电电压为2.5V±

5%、3.0V±

5%、3.3V±

5%；

VDDIO为1.8V±

5%，内建振荡器在工作温度范围内仅有±

1%频率变化。

可选外部时钟输入32.768kHz或19.2MHz

RegisterDescriptions寄存器描述

ThissectiondescribesthefunctionandcontentsofeachregisterwithintheMPU-60X0.

Note:

Thedevicewillcomeupinsleepmodeuponpower-up.

本节描述MPU-60X0中的每个寄存器的功能和内容。

注意:

该设备会在睡眠模式在升高。

Description:

描述:

Theseregistersareusedforgyroscopeandaccelerometerself-teststhatpermittheusertotestthemechanicalandelectricalportionsofthegyroscopeandtheaccelerometer.Thefollowingsectionsdescribetheself-testprocess.

这些寄存器用于陀螺仪和加速度计self-tests允许用户测试的机械和电气部分陀螺仪和加速度计。

以下部分描述自测过程。

1.GyroscopeHardwareSelf-Test:

RelativeMethod陀螺仪硬件自检:

相对的方法

Gyroscopeself-testpermitsuserstotestthemechanicalandelectricalportionsofthegyroscope.Codeforoperatingself-testisincludedwithintheMotionApps™softwareprovidedbyInvenSense.Pleaserefertothenextsection（ObtainingtheGyroscopeFactoryTrim（FT）Value）ifnotusingMotionAppssoftware.

陀螺仪自测允许用户测试陀螺的机械和电气部分。

内包含的代码操作自测MotionApps™InvenSense提供的软件。

请参考下一节（获得陀螺仪工厂削减（英尺）值）如果不是使用MotionApps软件。

Whenself-testisactivated,theon-boardelectronicswillactuatetheappropriatesensor.Thisactuationwillmovethesensor’sproofmassesoveradistanceequivalenttoapre-definedCoriolisforce.Thisproofmassdisplacementresultsinachangeinthesensoroutput,whichisreflectedintheoutputsignal.Theoutputsignalisusedtoobservetheself-testresponse.

当自测被激活时,车载电子将开动适当的传感器。

这个动作将传感器的证据质量的距离相当于一个预定义的科里奥利力。

兹证明质量位移导致传感器输出的变化,反映在输出信号。

输出信号是用来观察自测的回应。

自测响应（STR）定义如下:

𝑆

𝑒

𝑙

𝑓

𝑇

𝑠

𝑡

𝑅

𝑝

𝑜

𝑛

=

𝐺

𝑦

𝑟

𝑐

𝑂

𝑢

𝑤

𝑖

ℎ𝑆

-𝑇

𝐸

𝑎

𝑏

𝑑

−𝐺

𝐷

Thisselftest-responseisusedtodeterminewhethertheparthaspassedorfailedself-testbyfindingthechangefromfactorytrimoftheself-testresponseasfollows:

这个自我test-response用于确定是否已通过或失败部分自测通过寻找自测的变化从芯片削减响应如下:

Thischangefromfactorytrimoftheself-testresponsemustbewithinthelimitsprovidedintheMPU-6000/MPU-6050ProductSpecificationdocumentfortheparttopassself-test.Otherwise,thepartisdeemedtohavefailedself-test.

这种变化从工厂削减的自测的响应中提供必须的范围内微处理器-6000/微处理器-6050产品规范文档的一部分通过自测。

否则,该部分是视为失败的自测。

ObtainingtheGyroscopeFactoryTrim（FT）Value获得陀螺仪工厂削减（英尺）的值

IfInvenSenseMotionAppssoftwareisnotused,theproceduredetailedbelowshouldbefollowedtoobtaintheFactorytrimvalueoftheselftestresponse（FT）mentionedabove.Forthespecificregistersmentionedbelow,pleaserefertoregisters13-15.

如果InvenSenseMotionApps软件不使用,应遵循以下程序详细获取的工厂削减价值上面提到的自我测试响应（英尺）。

下面提到的特殊功能寄存器,请参阅寄存器13-15。

TheFactorytrimvalueoftheselftestresponse（FT）iscalculatedasshownbelow.FT[Xg],FT[Yg],andFT[Zg]refertothefactorytrim（FT）valuesforthegyroscopeX,Y,andZaxes,respectively.XG_TESTisthedecimalversionofXG_TEST[4-0],YG_TESTisthedecimalversionofYG_TEST[4-0],andZG_TESTisthedecimalversionofZG_TEST[4-0].

自我测试的工厂削减价值响应（英尺）计算如下所示FT[Xg],FT[Yg],andFT[Zg]refertothefactorytrim（FT）valuesforthegyroscopeX,Y,andZaxes,respectively.XG_TESTisthedecimalversionofXG_TEST[4-0],YG_TESTisthedecimalversionofYG_TEST[4-0],andZG_TESTisthedecimalversionofZG_TEST[4-0].

2.AccelerometerHardwareSelf-Test:

RelativeMethod加速度计硬件自检:

Accelerometerself-testpermitsuserstotestthemechanicalandelectricalportionsoftheaccelerometer.Codeforoperatingself-testisincludedwithintheMotionAppssoftwareprovidedbyInvenSense.Pleaserefertothenextsection（titledObtainingthe

AccelerometerFactoryTrim（FT）Value）ifnotusingMotionAppssoftware.

加速度计自测允许用户测试加速度计的机械和电气部分。

内包含的代码操作自测MotionAppsInvenSense提供的软件。

请参考下一节（标题为获得加速度计工厂削减（英尺）值）如果不是使用MotionApps软件。

Whenself-testisactivated,theon-boardelectronicswillactuatetheappropriatesensor.Thisactuationsimulatesanexternalforce.Theactuatedsensor,inturn,willproduceacorrespondingoutputsignal.Theoutputsignalisusedtoobservetheself-testresponse.

这个驱动模拟外部力量。

反过来,驱动传感器将产生相应的输出信号。

这个自我test-response用于确定是否已通过或失败部分自测通过寻找自测的变化从工厂削减响应如下:

ObtainingtheAccelerometerFactoryTrim（FT）Value

IfInvenSenseMotionAppssoftwareisnotused,theproceduredetailedbelowshouldbefollowedtoobtaintheFactorytrimvalueoftheselftestresponse（FT）mentionedabove.Forthespecificregistersmentionedbelow,pleaserefertoregisters13-16.

下面提到的特殊功能寄存器,请参阅寄存器13-16。

TheFactorytrimvalueoftheselftestresponse（FT）iscalculatedasshownbelow.FT[Xa],FT[Ya],andFT[Za]refertothefactorytrim（FT）valuesfortheaccelerometerX,Y,andZaxes,respectively.Intheequationsbelow,thefactorytrimvaluesfortheaccelshouldbeindecimalformat,andtheyaredeterminedbyconcatenatingtheupperaccelerometerselftestbits（bits4-2）withtheloweraccelerometerselftestbits（bits1-0）.

Parameters:

参数:

XA_TEST5-bitunsignedvalue.FT[Xa]isdeterminedbyusingthisvalueasexplainedabove.

XG_TEST5-bitunsignedvalue.FT[Xg]isdeterminedbyusingthisvalueasexplainedabove.

YA_TEST5-bitunsignedvalue.FT[Ya]isdeterminedbyusingthisvalueasexplainedabove.

YG_TEST5-bitunsignedvalue.FT[Yg]isdeterminedbyusingthisvalueasexplainedabove.

ZA_TEST5-bitunsignedvalue.FT[Za]isdeterminedbyusingthisvalueasexplainedabove.

ZG_TEST5-bitunsignedvalue.FT[Zg]isdeterminedbyusingthisvalueasexplainedabove.

Register25–SampleRateDividerSMPRT_DIV

ThisregisterspecifiesthedividerfromthegyroscopeoutputrateusedtogeneratetheSampleRatefortheMPU-60X0.

这个寄存器指定的分配器陀螺仪输出率用于生成MPU-60X0采样率。

Thesensorregisteroutput,FIFOoutput,DMPsamplingandMotiondetectionareallbasedontheSampleRate.

传感器寄存器输出,输出FIFO、DMP抽样和运动检测都是基于采样率。

Theaccelerometeroutputrateis1kHz.ThismeansthatforaSampleRategreaterthan1kHz,thesameaccelerometersamplemaybeoutputtotheFIFO,DMP,andsensorregistersmorethanonce.

加速度计的输出率是1khz。

这意味着一个采样率大于1khz,相同的加速度计样本可能输出FIFO,不止一次DMP和传感器寄存器。

1）SMPLRT_DIV 

8位无符号值，通过该值将陀螺仪输出分频，得到采样频率 

该寄存器指定陀螺仪输出率的分频，用来产生MPU-60X0的采样率。

传感器寄存器的输出、FIFO输出、DMP采样和运动检测的都是基于该采样率。

采样率的计算公式

采样率= 

陀螺仪的输出率/（1+SMPLRT_DIV）

当数字低通滤波器没有使能的时候，陀螺仪的输出平路等于8KHZ，反之等于1KHZ。

Foradiagramofthegyroscopeandaccelerometersignalpaths,seeSection8oftheMPU-6000/MPU-6050