JB4730 94压力容器无损检测标准Word格式文档下载.docx
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母材厚度,mm
陷点数
图D-1可扩大评定区的缺陷点数上限值
附录E透照厚度及底片有效检出范围的计算方法
（补充件）E1外径小于或等于76mm的钢管焊缝,采用双壁双投影法一次成象透照时,透照厚度TA
应按下列公式计算。
E1.1TA计算式:
TA=0.8〔（D-T）T〕1
2+T………………（E-1）
式中:
D-钢管外径,mm;
T-钢管壁厚,mm。
E1.2等效TA计算式:
TA=2T〔1十d/D）〕…………………………（E-2）
T-钢管壁厚,mm;
d-钢管内径,mm;
D-钢管外径,mm。
E2采用双壁双投影一次成象透照时,其检出范围必须保证在90%以上,并应按下式计
算:
L=〔（L1—4L2）/L1〕100%…………………（E-3）
L-检出范围,%;
L1-外壁周长,mm;
L2-底片上不见钢丝区域的长度,mm。
附录F专用象质计和未焊透深度对比块的型式和规格
（补充件）
F1I型专用象质计
F1.1外径大于76mm且小于或等于89mm的钢管焊缝,采用双壁单投影法分段透照,应
选用I型专用象质计。
F1.2I型专用象质计由5根直径相同的钢丝和铅字符号组成,其制作要求应符合
GB5618的规定,其型式、线编号见图F-1。
F2未焊透对比块
F2.1未焊透对比块的形式和规格应符合图F-2和表F-1的规定。
F2.2专用对比块应与被检工件材料相同。
F3沟槽对比块
F3.1沟槽对比块的形式和规格应符合图F-3和表F-2的规定。
F3.2沟槽对比块应与被检工件材料相同。
图F-1I型专用象质计
L?
5mmS?
~5mm
图F-2专用对比块
表F-1mm
管壁厚
T第一阶厚度
T1偏差第二阶厚度
T2偏差第三阶厚度
T3偏差
3.510.650.5410.60.4510.50.25610-0.060.4+0.02500.1+0.0250图F-3沟槽对比块
表F-2mm
尺寸h1h2h3h4h5偏差h偏差d偏差D偏差
Ⅰ0.30.61.21.51.80-0.062.50-0.101.0+0.060——对
比
块
编
号Ⅱ0.51.01.52.02.50-0.103.50-0.121.0+0.0602.0+0.060
附录G双晶直探头性能要求
G1距离—波幅特性曲线
用图8—1试块,在各个厚度上测定其回波高度（dB）,并作出如图G-1所示的特性曲
线,该特性曲线须满足下列条件:
a.在厚度19mm上的回波高度,与最大回波高度差必须在3～6dB范围内。
b.在厚度3mm上的回波高度,与最大回波高度差也必须在3～6dB范围内。
G2表面回波高度
用直接接触法的表面回波高度,必须比最大回波高度低40dB以上。
G3检出灵敏度
对准图G-2试块φ5.6mm平底孔,其回波高度与最大回波高度差必须在-10+2dB范
围内。
G4有效波束宽度
对准图G-2试块φ5.6mm平底孔,与声波分割面平行地移动探头,按6dB法测定波束宽度,其有效值必须大于16mm。
回波高度
dB板厚,mm
图G-1距离—波幅特性曲线
图G-2测定仪器和探头组合性能试块
附录H压力容器钢板横波检测
H1适用范围
本附录规定了用斜探头超声波（横波）检测钢板中非夹层性缺陷的方法,并作为直探
头超声检测的补充。
H2检测装量
H2.1原则上选用K1斜探头,圆晶片直径应在13～25mm之间,方晶片面积应不小于200mm2。
如有特殊需要也可选用其它尺寸和K值的探头。
H2.2检测频率为2～5MHz。
H3灵敏度校准试块
H3.1试块用钢板应与被检钢板厚度相同,声学特性相同或相似。
H3.2试块上的人工缺陷为尖角槽,角度为60°
槽深为板厚的3%,槽的长度为25mm,槽宽不超过深度的一倍。
H3.3试块的尺寸、尖角槽位置应符合图H-1的规定
切槽
图H-1灵敏度校准试块
H3.4对于板厚超过50mm的钢板,要在钢板的底面配置第二个如H3.3所述的校准槽。
H4灵敏度的确定
H4.1厚度小于或等于50mm的钢板。
H4.1.1把探头放在试块有槽的一面上,使声束对准槽的宽边,找出第一个全跨距反射的
最大波幅,调节仪器,使该反射的最大波幅为满刻度的80%,在荧光屏上记录下这一信号
的位置。
H4.1.2移动探头,得到第二个全跨距信号,并找出信号最大反射波幅,记下这一信号幅值
点在荧光屏上的位置,在荧光屏上将这两个槽反射信号幅值点连成一直线,获得距离—波
幅曲线。
H4.2厚度大于50mm而小于或等于150mm的钢板。
H4.2.1将探头声束对准试块背面的槽,并找出第一个1/2跨距反射的最大波幅。
调节仪
器,使反射波幅为满刻度的80%,在荧光屏上记下这个信号的位置。
不改变仪器调整状态,
在3/2跨距上重复该项操作。
H4.2.2不改变仪器调整状态,把探头再次放在试块面上,使波束对准试块表面上的槽,并
找出全跨距最大反射波的位置。
在荧光屏上记下这一幅值点。
H4.2.3在荧光屏上将H4.2.1和H4.2.2所确定的点相连接,获得距离—波幅曲线。
H4.3厚度大于150mm而小于或等于250mm的钢板。
H4.3.1把探头置于试块表面上,使声束对准试块底面上的切槽的槽边,并找出第一个
1/2跨距反射的最大幅度位置。
调节仪器,使这一反射波为荧光屏满刻度的80%,在荧光
屏上记下这个幅值点。
‘
H4.3.2不改变仪器的调整状态,把探头再次放在试块面上,以全跨距对准切槽获得最大
反射,在荧光屏上记下这个幅值点。
H4.3.3在荧光屏上将H4.3.1和H4.3.2所确定的点连成一直线,此线即为这种钢板的距
离—波幅曲线。
H5扫查方法
H5.1以垂直和平行于钢板主要压延方向的格子线扫查钢板的轧制面,格子线中心距为
200mm。
扫查时把探头放在钢板的某一边缘附近,使声束与该边缘垂直。
H5.2当发现缺陷信号时,移动探头使之能在荧光屏上得到最大反射。
H5.3对于每一个等于或超过距离—波幅曲线的缺陷显示,应记录其位置,并移动探头使
波幅降到满刻度的25%来测量其长度,波幅低于距离—波幅曲线的缺陷,指示长度较长时,
也可记录备案。
H5.4在每一个记录缺陷位置上,应以记录缺陷中心起,在200mm×
200mm的区域作
100%检测。
H6验收标准
等于或超过距离一波幅曲线的任何缺陷信号均应认为是不合格的。
但用纵波方法作
辅助检测时,若发现缺陷性质是分层类的,则应按纵波检测的规定处理。
附录I压力容器锻件横波检测
I1适用范围
横波检测仅适用于内外径之比大于或等于80%的环形和筒形锻件。
I2探头
I2.1探头公称频率主要为2.5MHz。
I2.2探头晶片面积为140～400mm2。
I2.3原则上应采用K1探头,但根据工件几何形状的不同,也可采用其它的K值探头。
I3灵敏度校准试块
I3.1为了调整检测灵敏度,可利用被检工件壁厚或长度上的加工余量部分制作对比试
块。
在锻件的内外表面,分别沿轴向和周向加工平行的V形槽作为标准沟槽。
V形槽长
度为25mm,深度为锻件壁厚的1%,角度为60°
。
也可采用其它等效的反射体（如边角反
射等）。
I4检测方法
I4.1扫查方式
I4.1.1扫查方向见图I-1。
图I-1
I4.1.2探头移动速度不应超过150mm/s。
I4.1.3扫查复盖量应为探头宽度的15%以上。
I4.2灵敏度校验
从锻件外圆面将探头对准内断面的标准沟槽,调整增益,使最大反射高度为满刻度的
80%,将该值标在面板上,以其为基准检测灵敏度;
再移动探头测定外圆面的标准沟槽,并
将最大的反射高度也标在面板上,将以上两点用直线连接并延长,使之包括全部检测范围,
绘出距离—波幅曲线。
内圆面检测时的灵敏度也应按上述方法确定,但探头斜楔应与内
圆曲率一致。
I5记录
记录超过距离—波幅曲线一半的缺陷反射波和缺陷位置。
附录J高压无缝钢管轴向横波检测
J1检测设备
检测设备由超声波探伤仪、斜探头等组成,探头应与钢管表面吻合良好,晶片长度不
大于25mm。
探头频率为2.5～10MHz。
J2灵敏度校准试块
J2.1灵敏度校准试块应选取与被检钢管规格相同,材质、热处理工艺相同或相似的钢管,
不得有影响人工缺陷显示的缺陷。
J2.2钢管横向缺陷检测试块的尺寸、尖角槽和位置应符合图J—1和表J-1的规定。
t
图J-1横向缺陷试块
表J-1人工缺陷等级mm
等级长度L人工缺陷深度t
Ⅰ40公称壁厚的5%,最小为0.2mm,最大为1mm
Ⅱ40公称壁厚的8%,最小为0.2mm,最大为3mm
Ⅲ40公称壁厚的10%,最小为0.2mm,最大为3mm
J2.3钢管横向缺陷检测试块的人工缺陷槽一般在外表面加工,当外径大于或等于80mm且壁厚不小于10mm时,应同时在内表面加工。
同一个试块上内外表面人工缺陷沿钢管
轴向应有足够的间距,以使在调试时容易分辨。
J3检测灵敏度的确定J3.1可直接在对比试块上将人工尖角槽的反射回波幅度调到荧光屏满刻度的50%,以
此作为基准灵敏度。
J3.2对于在内外表面加工槽的对比试块,应将内表面槽的回波幅度调到满刻度的80%。
然后再将外表面槽的反射回波幅度点标在荧光屏上,作出距离一波幅曲线。
J3.3检测灵敏度应比基准灵敏度高6dB。
J4结果评定
J4.1若缺陷回波幅度大于或等于人工缺陷的基准回波幅度或是高于距离—波幅曲线,
则该钢管为不合格。
不合格品允许采取修磨等方法进行处理,复验合格后可判为合格。
J4.2合格级别的确定由供需双方商定。
附录K压力容器奥氏体钢锻件斜角检测
K1适用范围
斜角检测仅适用于内外径之比大于或等于80%的环形和筒形锻件。
K2对比试块
K2.1为了调整检测灵敏度,利用被检工件壁厚或长度上的加工余量部分制作对比试
度为25mm,深度t为锻件壁厚的3%或5%,角度为60°
也可采用其它等效的反射体（如
边角反射等）。
K3扫查方式
扫查方向如附录I图1-1的规定
K4灵敏度校验
K4.1采用刻槽法时,一般需将探头置于外圆表面上,声束垂直于刻槽长度方向,移动探
头并调整仪器灵敏度,使外壁槽第二次反射（W型反射）或内壁槽第二次反射（N反射）回波
高度至少为满刻度的20%。
连接外壁槽第一、第二次回波峰值点或内壁槽第一、二次回
波的峰值点,以此作为全跨距校正的距离一波幅曲线。
K4.2如果采用全跨距校正从内外壁表面的槽上都得不到至少为满刻度20%的第二次
回波,则应采用半跨距校正（此时内外壁均应各制一槽,并使其互不影响）。
使来自外壁槽
的第一次回波高度至少为满刻度的20%,连接内壁槽第一次回波和外壁槽第一次回波的
峰值点,以此作为半跨距校正的距离—波幅曲线。
K4.3内径小于500mm,而且长度超过900mm的筒形锻件,通常都不从内表面进行扫查。
附录L声能传输损耗差的测定
（补充件）工件本身影响反射波幅的两个主要因素是:
材料的材质衰减和工件表面粗糙度及耦
合状况造成的表面声能损失。
普遍碳素钢或低合金钢板材的材质衰减,在频率低于3MHz、声程不超过200mm时,
或者衰减系数小于0.01dB/mm时,可以不计。
标准试块和对比试块均应满足这一要求。
受检工件检测时,如声程较大,或材质衰减系数超过上述范围,在确定缺陷反射波幅
时,应考虑材质衰减修正。
如被检工件表面比较粗糙还应考虑表面声能损失问题。
L1横波超声材质衰减的测量
L1.1制作与受检工件材质相同或相近,厚度约40mm、表面粗糙度与对比试块相同的平
面型试块,见图L-1。
图L-1超声衰减的测定
L1.2用斜探头按深度1:
1调节仪器时基扫描线。
L1.3另选用一只与该探头尺寸、频率、K值相同的斜探头,两探头按图L-1所示方向
置于平板试块上,两探头入射点间距为1P,仪器调为一发一收状态,找到最大反射波幅,记
录其波幅值H1（dB）。
L1.4将两探头拉开到距离为2P,找到最大反射波幅,记录其波幅值H2（dB）。
L1.5衰减系数aH可用下式计算:
[]aHHSSH=---1221D/（）……………………………（L-1）
Sl1140=+/cosb………………………………………（L-2）
Sl2180=+/cosb………………………………………（L-3）lltgtg10=ab/…………………………………………（L-4）
l0-晶片到射点的距离,作为简化处理亦可取l1=l0,mm;
△-声程S1、S2不考虑材质衰减时大平面的反射波幅dB差。
可用公式20lgS2/S1
计算或从该探头的距离—波幅曲线上查得,△约为6dB。
L1.6如果在图L-1试块和对比试块的探测面测得波幅相差不超过1dB,则可不考虑工件
的材质衰减。
L2传输损失差的测定
L2.1用斜探头按深度调节仪器时基扫描线。
L2.2选用另一只与该探头尺寸、频率、K值相同的斜探头,两探头按图K-2所示方向
置于对比试块探测面上,两探头入射点间距离为1P,仪器调为一发一收状态。
图L-2传输损失差的测定
L2.3在对比试块上,找出最大反射波幅,记录其波幅值H1（dB）。
L2.4在受检工件上（不通过焊缝）同样测出接收波最大反射波幅,记录其波幅值H2（dB）。
L2.5传输损失差△V为:
△V=H1一H2—D1-D2………………………（L-5）
D1-不考虑材质衰减时,声程S1、S2的反射波幅dB差,可用公式20lgS2/S1计算或从探
头的距离—波幅曲线上查得,dB;
S1──在对比试块中的声程,mm;
S2──在工件板材中的声程,mm;
D2──试块中声程S1与工件中声程S2的超声材质衰减差值,dB。
如试块材质衰
减系数小于0.01dB/mm,此项可以不予考虑。
附录M用于非标准温度的检测方法
M1概述
当渗透检测不可能在15～50℃温度范围内进行时,则要求对较低或较高温度时的
检测方法作出鉴定。
通常使用铝合金对比试块进行。
M2鉴定方法
M2.1温度低于15℃条件下渗透检测方法的鉴定
在试块和所有使用材料都降到预定温度后,将准备的低温检测方法用于B区。
然后
把试块加热到15～50℃之间,在A区用标准方法进行检测,比较A、B两区的裂纹显示
迹痕。
如果显示迹痕基本上相同,则可以认为准备采用的方法是可行的。
M2.2温度高于50℃条件下渗透检测方法的鉴定
如果准备采用的检测温度高于50℃,则将试块加温至这一温度,在B区进行检测。
然后把试块冷却到15～50℃之间,在A区用标准方法进行检测,比较A、B两区的裂纹
显示迹痕。
附录N胶片手工冲洗和干燥操作40（参考件）
N1准备工作
将胶片装在显影夹上,并在开始显影之前搅动溶液。
N2开始显影
启动计时器并将胶片浸入显影液中,显影夹之间应留有一定距离,使冲洗过程中胶片
彼此不会相贴。
不断将显影夹上下移动,大约15s。
N3显影
室温20℃时,正常的显影时间约为5～8min。
延长显影时间,会使底片黑度增加,并
稍微增加对比度。
在选择显影时间时,应遵照胶片制造厂的建议;
在温度稍高或稍低时必
须调整显影时间,调整量也应根据胶片制造厂所推荐的数据。
N4搅动
显影过程中应不时将胶片作垂直方向的上下移动,以使胶片均匀显影。
N5停显或漂洗
在显影结束后,将胶片浸入3%醋酸停显液约30s,以中和遗留在胶片乳胶中的显影
剂。
如果不能使用停显液,则可在清水中将胶片强力抖动,进行漂洗2～3min。
N6定影
为保证均匀而快速的定影,胶片在浸入定影液时以及在第1min末,要均匀作上下方
向的移动约10s左右,然后浸泡到定影结束（其时间至少为达到底片透明所需时间的两
倍）。
在新鲜的定影液中,定影时间一般不超过15min。
若经常移动胶片,可以缩短定影时
间,但必须避免胶片在定影液中互相接触。
N7定影液的中和
在定影和冲洗工序之间,可使用“海波”净化剂或定影液中和剂进行中和处理,这样
可以减少冲洗时间和用水量。
N8冲洗
冲洗的效率,与冲洗用水、水温、水流量以及被冲洗底片的种类有关。
一般当温度
在16℃以下时冲洗过程比较缓慢。
当温度在30℃以上时,应注意底片浸在水中的时间
不能太长。
底片在槽中冲洗时,不允许再加入新从定影液中取的底片。
如水槽容积有限
而一次冲洗又有较多底片,则应随时把一部分已经冲洗过的底片移到进水口的方向上
去。
利用小水量分级冲洗的方法在相同的冲洗时间里能达到最佳的冲洗效果。
最好把冲
洗槽分为两部分（可以用两个水槽）,把从定影液中取出的底片放在出水口部分,经过一段
时间冲洗后,把底片移到进水口部分,从而在新鲜水中完成冲洗。
N9洗涤剂
把底片浸入洗涤剂中约30s,可以使水从底片表面均匀流下,以缩短干燥时间,避免底
片上出现水迹。
一般可采用0.1%左右浓度的餐具洗涤剂的水溶液作为洗涤剂,或采用其
它成分的洗涤剂。
N10干燥
底片的干燥与下列因素有关:
胶片类型、处理方法（水洗后乳胶的硬度、洗涤剂的应
用）以及干燥用的空气（温度、湿度、流量）。
一般可在常温下干燥,也可用不高于60℃的
鼓风机循环空气进行干燥。
附录O显影液的补充方法
（参考件）
O1配方
成分显影液补充液
水
对甲氨基酚硫酸盐（米吐尔）
无水亚硫酸盐
对苯二酚（几奴尼）
无水碳酸盐
溴化钾
氢氧化钠
加水至800m14g65g10g45g5g—
1000m1800m16g70g20g60g—
10g1000m1
药品应按表中次序加入水中,并搅动使之溶解。
O2显影温度及时间
温度（℃）1820222426
时间（min）76543.5
O3注意事项
O3.1补充液只允许加入至原显影液体积的3倍。
O3.2当用洗片夹在槽中显影时,每显1m2胶片将会带出约320m1显影液,故每显1m2胶
片应加入320m1补充液。
O3.3最后一次添加补充液后,每公升显影液可显1
42m胶片,然后废弃。
附录P串列式检测方法
P1—般要求
P1.1超声波探伤仪的工作方式必须满足一收—发工作状态。
P1.2探头扫查可以采用手动方法,也可采用自动方法,但应保证探头相对串列基准线等
距离移动。
P1.3推荐采用频率为2～2.5MHz、K值为1的探头,两探头入射点最短间距应小于
20mm。
P2仪器调整
P2.1时基线扫描的调节应按单斜探头的方法调节,最大探测范围应大于1跨距声程。
P2.2灵敏度调整应在工件无缺陷部位进行,将收、发两探头相对放置,间距为1跨距,见
图P-1和式（P-1）,找出底面最大反射波,使反射波幅为荧光屏满刻度的40%,以此为基准波
高。
将灵敏度分别提高8dB、14dB、20dB即为判废灵敏度、定量灵敏度和评定灵敏
图P-1灵敏度调节
P3检测程序
P3.1检测准备
a.检测面为对接焊缝的单面双侧;
b.在离参考线距离（L-0.5P）的位置标记串列基准线,见图P-2和式（P-1）。
参考线
检测截面扫查线串列基准线
图P-2串列基准线的标记
L—为参考线至检测截面的距离
P=2TK…………………………………………（P-1）P3.2初始检测
P3.2.1检测
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