嵌入式实验报告Word文档下载推荐.docx
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MOVr10,#7
MOVr11,#8
STMFDsp!
{r4-r11}
MOVr3,#0/*r3=0*/
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.end
实验二存储器实验
实验目的：
1.通过实验熟悉ARM的内部存储空间分配。
2.掌握对存储区配置方法。
3.掌握对存储区进行读写访问的方法。
实验设备：
硬件：
EmbestEduKit-III实验平台，EmbestARM标准/增强型仿真器套件，PC机；
软件：
EmbestIDEforARM集成开发环境，Windows98/2000/NT/XP。
实验内容：
1.熟练使用命令脚本文件对ARM存储控制寄存器进行正确配置；
2.使用C语言编程，实现对RAM的读写访问。
实验原理：
2410init.s整个系统的入口点，建立中断向量表
2410lib.c包括所有程序调用的函数，驱动
Call_int.s中断向量映射时进行现场保护
2410addr.h寄存器的地址
2410addr.inc寄存器的地址
Memcfg.h内存的定义
Option.inc配置参数
实验步骤：
1.准备实验环境
拷贝光盘CD1\Software\EduKit2410文件夹EmbestIDE\Examples\Samsung目录下（如果已经拷贝，跳过该操作）；
使用EduKit-III目标板附带的串口线连接目标板上UART0和PC机串口COMx；
2.串口接收设置
在PC机上运行windows自带的超级终端串口通信程序（波特率115200、1位停止位、无校验位、无硬件流控制）；
或者使用其它串口通信程序。
3.打开实验例程
1）运行EmbestIDE开发环境，进入实验例程目录EduKit2410\4.1.1_memory_test子目录下的memory_test.pjf例程，编译链接工程；
2）点击IDE的Debug菜单，选择RemoteConnect项或F8键，远程连接目标板；
3）点击IDE的Debug菜单，选择Download下载调试代码到目标系统的RAM中；
4）打开Memory窗口，点击Memory1在地址输入栏中输入0x30010000；
5）在工程管理窗口中双击memory_test.c就会打开该文件，在约第37行
（*pt=（UINT32T）pt;
）设置断点后，点击Debug菜单Go或F5键运行程序；
6）当程序停留到断后,按F10，在Memory1窗口观察地址的内容并与地址相比较，对比是否一致，继续执行F10。
7）去掉断点，按F5并执行程序，观察超级终端串口程序的输出。
8）结合实验内容和实验原理部分，掌握汇编语言和高级语言程序访问RAM指令的使用方法。
4.观察实验结果
在PC机上观察超级终端程序主窗口，可以看到如下界面：
实验程序：
/*****************************************************/
*File：
main.c
*Author:
embest
*Desc：
cmainentry
*History:
*****************************************************/
#include"
option.h"
def.h"
/*functiondeclare*/
/*****************************************************/
*name:
main
*func:
ccodeentry
*para:
none
*ret:
*modify:
*comment:
******************************************************/
voidMain（intargc,char**argv）
{
sys_init（）;
/*Initials3c2410'
sClock,MMU,Interrupt,PortandUART*/
//userinterface
uart_printf（"
\n\rEmbestEduKit-IIIEvaluationBoard"
）;
memory_test（）;
}
/****************************************************/
memory.c
embest
memorytestfile
voidmemory_test（void）
inti;
UINT32Tdata;
intmemError=0;
UINT32T*pt;
//memorytest
Uart_printf（"
\nMemory
Test（%xh-%xh）:
WR\n"
_RAM_STARTADDRESS+0x10000,（_ISR_STARTADDRESS&
0xf0ff0000））;
//memorywrite
pt=（UINT32T*）（_RAM_STARTADDRESS+0x10000）;
while（（UINT32T）pt<
（_ISR_STARTADDRESS&
0xf0ff0000））
*pt=（UINT32T）pt;
pt++;
//MEMORYREAD
Memory
RD\n"
0x0f0ff0000））;
//uart_printf（"
\b\bRD"
while（（UINT32T）pt<
data=*pt;
if（data!
=（UINT32T）pt）
memError=1;
\b\bFAIL:
0x%x=0x%x\n"
i,data）;
break;
if（memError==0）
\n\b\bO.K.\n"
课后练习
实验三IO口实验
实验目的
1.掌握S3C2410X芯片的I/O控制寄存器的配置；
2.通过实验掌握ARM芯片使用I/O口控制LED显示；
3.了解ARM芯片中复用I/O口的使用方法。
实验设备
EmbestEduKit-III实验平台，EmbestARM标准/增强型仿真器套件，PC机。
EmbestIDEforARM集成开发环境，Windows98/2000/NT/XP。
实验内容
编写程序，控制实验平台的发光二极管LED1,LED2,LED3,LED4，使它们有规律的点亮熄
灭，具体顺序如下：
LED1亮->
LED2亮->
LED3亮->
LED4亮->
LED1灭->
LED2灭->
LED3
灭->
LED4灭->
全亮->
全灭，如此反复
实验操作步骤
拷贝光盘CD1\Software\EduKit2410文件夹到EmbestIDE\Examples\Samsung\目录下（如果已经拷贝，跳过该操作）；
使用EduKit-III目标板附带的串口线连接目标板上UART0和PC机串口COMx；
2.串口接收设置在PC机上运行windows自带的超级终端串口通信程序（波特率115200、1位停止位、无校验位、无硬件流控制）；
1）运行EmbestIDE开发环境，进入实验例程目录EduKit2410\4.2_led_test子目录下的
led_test.pjf例程，编译链接工程；
2）点击IDE的Debug菜单，选择RemoteConnect项或F8键，远程连接目标板；
3）点击IDE的Debug菜单，选择Download下载调试代码到目标系统的RAM中；
4）在工程管理窗口中双击led_test.c就会打开该文件，分别在约第34行
（for（i=0;
i<
100000;
i++）;
）和58行（for（i=0;
）设置断点后，
点击Debug菜单Go或F5键运行程序；
5）程序停到第一个断点处，观察四个灯是否都被点亮（注意观察渐变过程），按stepout（shift
+F11）,跳出这个子函数，继续执行；
6）程序运行到led_off（），按stepinto（F11）,停到第二个断点处，观察四个灯是否都熄灭（注
意观察渐变过程）。
按stepout（shift+F11）,继续执行；
7）去掉断点，重新下载，执行程序
观察实验结果
观察发光二极管的亮灭情况，可以观察到的现象与前面实验内容中的相符，说明实验成功的实现了对I/0的操作。
实验参考成绩
/************************************************/
led_test.c
embest
IOporttestfile
*************************************************/
2410lib.h"
led_xxx
theledoperations
none
voidled_on（void）
{
inti,nOut;
nOut=0xF0;
rGPFDAT=nOut&
0x70;
-165-
for（i=0;
0x30;
0x10;
0x00;
100000
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