CPK制程能力分析最新版_精品文档PPT资料.pptx

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常態分配的標準差（StandardDeviation）常態分配特性

（1）曲線與橫軸所圍的面積為1;

（2）以為中心呈對稱性分布;

（3）變異2代表分配函數的離散程度如圖1所示,具有相同的二個常態分配（a）與（b）,（a）的離散程度比（b）小,即2a2b,所以常態分配（a）大多數的點傾向於集中的附近.圖1（a）2a（b）2bCpkTrainingdatumVersion:

A33PercentagesOfTheNormalDistributionPercentagesOfTheNormalDistributionCpkTrainingdatumVersion:

A44管制圖與常態分配管制圖與常態分配+k圖圖22X值在+k與-k之間之或然率（Probability）或稱機率如右圖.以圖中斜線部分表示,其公式為:

群體平均值=標準差=x圖圖11-kCpkTrainingdatumVersion:

A55群體（制程）與樣本間之關系分配之期望值分配之標準差設為樣本平均,為群體平均S=S為樣本標準差為群體標準差在統計學上注:

如可視為無限群體用上式為有限群體之修正系數設系有限數群體而則分配之標準差2143CpkTrainingdatumVersion:

A66群體群體（制程制程）與樣本間之關系與樣本間之關系樣本平均值之分配群體平均值之分配CpkTrainingdatumVersion:

A77CpkVsDefectiveYield我們常用產品品質特性的常態分配與規格相比較,以決定產品的不良率.如右圖所示產品品質特性的常態分配.規格上限:

USL（UpperSpecificationLimit）規格下限:

LSL（LowerSpecificationLimit）落在規格上,下限外的斜線面積即為產品的不良率.LSLUSL-3-2-1+3+2+168.27%95.45%99.73%0.135%0.135%StandardDeviationfrommeanCpkTrainingdatumVersion:

A88目前在品管里常注重制程的分散寬度,故有定義制程能力為下式者:

群體標準差每不易直接求得一般以樣本資料推定之,其推定方法有下列三式:

（1）直接由樣本特性值計算時

（2）由次數分配表計算時

（2）管制圖計算時一般均采用公式（3）制程能力的數量表示法制程能力的數量表示法1.分散寬度以表示之.制程能力=（或）d2Cpk計算時用此公式

（1）CpkTrainingdatumVersion:

A1010TheAccuracyofaninstrumentcanbeimprovedbyrecalibratingtoreduceitserror,butrecalibratinggenerallydoesnotimprovetheinstrumentsPrecision.（Repeatabilityalsosometimesknownas“Precision”）Accuracy&

PrecisionAccuracy&

PrecisionCpkTrainingdatumVersion:

A1111T/2Ca（制程準確度）Tux-Ca:

（Capabilityofaccuracy）從生產過程中所獲得的資料其實際平均值（）與規格中心值（）之間偏差的程度=12.50%25%50%100%A級B級C級D級X（實績）規格中心值規格上限或下限X（實績）X（實績）等級A12.5%B12.5%25%C25%50%D50%Ca值CaCaCaCaCpkTrainingdatumVersion:

A1212Ca之處置原則A級:

維持原則B級:

改進為A級C級:

立即檢討改善D級:

采取緊急措施,全面檢討,必要時停止生產.CpkTrainingdatumVersion:

A1313Cp（制程精密度）TCp:

（Capabilityofprecison）以規格公差（T）與生產中所獲得的6個估計實績標準差（）其間相差的程度雙邊單邊66B級6A級Cp=1.331.006C級0.836D級規格下限SL規格中心規格上限SU等級A1.33CpBCDCp值1.00Cp1.330.83Cp1.00Cp0.83CpkTrainingdatumVersion:

A1414工程能力指數工程能力指數（Cp）之處理之處理T3T3355Cp=1.67Cp=1.331.33Cp1.67顯示有足夠之工程力.對規格而言,為正常狀態,應繼續保持.2Cp處理1.67Cp,顯示非常有工程能力雖然有若干製品之標準差很大,但不會出現不良品.1344CpkTrainingdatumVersion:

A1515工程能力指數工程能力指數（Cp）之處理之處理Cp=1.00Cp=1.00Cp1.00Cp1.00TT31.00Cp1.33,顯示工程能力並不充足,但尚且可以.要注意有發生不良品之雇慮,必要時應提升工程之能力.33Cp1.00顯示工程能力不足.在這種狀況下會出現不良品.必需藉著作業方法之改善,規格之再檢討,機械設備之改善,來提升工程能力.44333CpkTrainingdatumVersion:

A1616Ca,Cp的綜合評價1.計算方法:

Z1=3Cp（1+Ca）由Z1查常態分配表得p1%Z2=3Cp（1-Ca）由Z2查常態分配表得p2%p%=p1%+p2%.即為推定群體超出規格上下之不良率.2.依不良率P%分級做評定標準:

等級總評P%AP0.44%B0.44%P1.22%C1.22%P6.68%D6.68%P投影片30或CpkTrainingdatumVersion:

A1717e.g:

（例題）今庫存有某圓軸6000支,其品質特性為圓軸之長度,已知其長度母平均=15.7cm,母標準差=0.3cm,試問此6000支,中長度超過16.1cm的約有幾支?

KeyCpkTrainingdatumVersion:

A1919Ca,Cp不良時的一般處理方法不良時的一般處理方法1.Ca1.Ca不良時的一般處理方法不良時的一般處理方法製造單位為主,技術單位為副,品管單位為輔.2.Cp2.Cp不良時的一般處理方法不良時的一般處理方法技術單位為主,製造單位為副,品管單位為輔.CpkTrainingdatumVersion:

A2022/11/12022/11/1SilitekElectronics（GZ）VQMDepartmentSilitekElectronics（GZ）VQMDepartment2020制程能力指數CpK綜合Ca與Cp兩值之指數

（1）CpK值之計算式有兩種B.單邊規格時:

（2）等級判定CpK值愈大,品質愈佳.依CpK值大小分為五級等級A1.33CpK1.67BCDCpK值1.00CpK1.330.67CpK1.00CpK0.67A+1.67CpKA.雙邊規格時:

A2022/11/12022/11/1SilitekElectronics（GZ）VQMDepartmentSilitekElectronics（GZ）VQMDepartment2121CpK之處置原則A+:

考慮管理的簡單化或成本的降低方法A:

維持原狀B:

改進為A級C:

需全數選別並管理,改善制程D:

進行品質改善,探求原因,需要采取緊急對策,並且重新檢討規格.CpkTrainingdatumVersion:

A2022/11/12022/11/1SilitekElectronics（GZ）VQMDepartmentSilitekElectronics（GZ）VQMDepartment2222制程能力與規格之關系制程能力與規格之關系或或66代表制程在正常狀態下變化之範圍代表制程在正常狀態下變化之範圍,稱為自然公稱為自然公差差（Naturaltolerance）（Naturaltolerance）規格上下限之差為規格上下限之差為SSuu-S-SL,L,則則或或66與與SSuu-S-SLL有下列三種關系有下列三種關系（情況情況）如圖示如圖示:

1.61.6Su-SLSu-SLCpkTrainingdatumVersion:

A2022/11/12022/11/1SilitekElectronics（GZ）VQMDepartmentSilitekElectronics（GZ）VQMDepartment2525EvaluationformCpkTrainingdatumVersion:

A2022/11/12022/11/1SilitekElectronics（GZ）VQMDepartmentSilitekElectronics（GZ）VQMDepartment2626CpkTrainingdatumVersion:

A2022/11/12022/11/1SilitekElectronics（GZ）VQMDepartmentSilitekElectronics（GZ）VQMDepartment2727CpkCpk為什麼要大於或等於為什麼要大於或等於1.33?

1.33?

1.Cp=0.67時,穩態控制下不合格品率為4.6%;

2.Cp=1.00時,穩態控制下不合格品率為0.27%;

3.Cp=1.33時,穩態控制下不合格品率為0.0063%=63PPM在圖例上表示為中心沒有偏移（實際中心值與規格中心重合）DPPMCpkTrainingdatumVersion:

A2022/11/12022/11/1SilitekElectronics（GZ）VQMDepartmentSilitekElectronics（GZ）VQMDepartment2828DR=DRL+DRRDR（DefectRate）:

總不良DRL（DefectRateLeft）:

左不良DRR（DefectRateRight）:

右不良CpkTrainingdatumVersion:

A2022/11/12022/11/1SilitekElectronics（GZ）VQMDepartmentSilitekElectronics（GZ）VQMDepartment2929Table1QualitylevelsandCorrespondingNumberofDefectsCpkTrainingdatumVersion:

A2022/11/12022/11/1SilitekElectronics（GZ）VQMDepartmentSilitekElectronics（GZ）VQMDepartment3030Table2.TheNumberofDefective（PartsperMillion）forSpecifiedOff-CenteringoftheProcessandQualityLevelsCpkTrainingdatumVersion:

A2022/11/12022/11/1SilitekElectronics（GZ）VQMDepartmentSilitekElectronics（GZ）VQMDepartment3131中心偏离時dppm的計算off-center（）CpkTrainingdatumVersion:

A2022/11/12022/11/1SilitekElectronic