主板维修思路分析Word文档下载推荐.docx

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1．首先用电阻测量法，测量电源、接口的5V、12V、3.3V等对地电阻，如果没有对地

短路，再进行下一步的工作。

2．加电（接上电源接口，然后按POWER开关）看是否能开机，若不能开机，修开机电

路，若能开机再进行下一步工作。

3．测试CPU主供电、核心电压、只要CPU主供电不超过2.0V，就可以加CPU（前提

是目测时主板上没有电容鼓包、漏液），同时把主板上外频和倍频跳线跳好（最好看

一下CMOS），看看CPU是否能工作到C，或者D3（C1或D3为测试卡代码，表示

CPU已经工作），如果不工作进行下一步。

4．暂时把CPU取下，加上假负载，严格按照资料上的测试点，测试各项供电是否正常。

核心电压1.5V，2.5V和PG的2.5V及SLOT1的3.3V等，如正常再进行下一小

工作。

5．根据资料上的测试点测试时钟输出是否正常,时钟输出为1.1-1.9V，如正常进行下一

步。

6．看测试卡上的RESET灯是否正常（正常时为开机瞬间，灯会闪一下，然后熄灭，当

我们短接RESET跳线时，灯会随着短接次数一闪一闪，如灯常亮或者常来均为无复

位。

），如果复位正常再进行下一步。

7．首先测BIOS的CS片选信号（为CPU第一指令选中信号），低电平有效，然后测试

BIOS的CE信号（此信号表示BIOS把数据放在系统总线上）低电平有效。

8．若以上步骤后还不工作，首先目测主板是否有断线，然后进行BIOS程序的刷新，检

查CPU插座接触是否良好。

9．若以上步骤依然不管用，只能用最小系统法检修。

步骤为：

更换I/O南桥北桥

10．检测接口电路:

检修接口电路时,一般用电阻测量法非常管用。

一般接口电路的损坏

都是其背面的电阻、电容以及电感损坏较多，具体检修见详图。

开机电路检修流程图

CMOS/跳线

跳回正确位

不正确

正常

正确

测Power开关的3.3V或5V

不正常

测南桥旁边的晶振是否起振,

起振电压为0.5V到1.6V左右

不正常正常

更换晶振旁边的滤波电容以

及晶振本身

查紫线到Power开关之

间电路

测Power开关到南桥或I/O之间是

否有低电平输入南桥或I/O

有无

查绿线到南桥或I/O之间的

电路是否损坏

完好损坏

更换南桥或者I/O（视开机电更换元器件,修复电路

路而言）

查Power开关到南桥或I/O

之间的元件,更换损坏元件

注：

开机电路常坏元器件器有接绿线的三极管、与开机电路有关的门电路芯片，

还有紫色线给Power开关供电的三级管或是二级管等。

Power南桥或I/O绿线（开机过程）

（低电平）

CPU主供电的检修流程图

测Q1的D极5V

测Q1G极3-5V控制电压

正常不正常

查电源红线到D极线路

更换场效应管Q1

把Q1的G极悬空,测电源控制芯片的输出端电压

更换Q1或Q2测电源控制芯片的12V和5V供电

测PG电源好5V（电源灰线）查R1及C4,更换

更换电源控制芯片

更换与电源灰线相连的芯片

常坏的元器件是电源控制芯

片和场效应管以及R1限流

电阻，一般CPU供电中

15V,2.5V,主供电全无输出

时,电源控制芯片坏的可能

性最大,如果只有其中一项

输出不正常,则是输出此项

的场效应管坏的最多（如Q3

的1.5V输出）。

时钟电路和检修流程图

测3.3V和2.5V供电

测晶振的启振电压1.1-1.6V

查Q1或橙色3.3V和L1等

更换时钟芯片

更换晶振或时钟芯片

时钟电路是否能工作正常，

前提是供电一定要正常，才

有可能正常工作。

比较容易

损坏的元件有时钟芯片及

周围Q1及L1等元件。

3.3V

如果是通过晶体管供电,此

管也易损坏。

复位电路检修流程图

测Reset开关3.3V或5V

查红线到Reset开关之间的电路

测灰线PG5V

测Reset开关到南桥之间是否

有低电平输出给南桥

有否

找出Reset开关到南桥

之间损坏的元件,更换

更换南桥

找到与灰线相连的元件更换

复位电路是否能正常工

作前提是供电和时钟是

否正常。

复位电路常坏

的元件有与复位电路有

关的门电路芯片以及与

灰线相连的晶体管。

BIOS电路检修流程图

测VCC和Vpp供电

测CE/CS是否有跳变

表示CPU没选中BIOS，

查CPU或总线故障

查电源5V和12V到

Vcc和Vpp之间电路

测OE是否有跳变

查总线（南桥或I/O）

和BIOS芯片损坏

刷新BIOS程序或更

换BIOS芯片

BIOS电路的检修是在

供电、时钟、复位都

正常主板还未工作

时，才采取的措施。

BIOS电路一般是程序

损坏为多，芯片其次。

键盘、鼠标口的检修流程图

测Vcc（E点）对地阻值为180-380

测A和C（500-800阻值）

查与Vcc5V供电的跳线是否跳好或

是保险电阻（电感）损坏

找到与之相连的电感L2和L3，更换

刷BIOS或更换I/O

键盘与鼠标口的管

脚定义完全一样，

一般最容易损坏

的元器件为L1、

L2、L3，一般在并

口、串口、软驱能

用的情况下，I/O

一般不会坏，有时

接口本身也可能

损坏。

并口（打印口）检修流程图

测1-17针500-800的阻值

沿着不正常的针脚找到所

连接的地器件，更换

更换接口插座或更换I/O芯片

一般打印口的损坏最

多的元件是与打印口

相连的电阻、电感、

或电容器最多，占总

故障的百分之八十左

右（如打印口旁边的

排阻、排容、电阻、

电容等）

串口检修流程图

测1-4针，6-9针（1000-1700的阻值）

更换串口芯片或更换I/O芯片

沿着不正常的针脚找到所连接的元件，更换

一般串口坏大多是所

连的电阻、电容和串

口芯片损坏率最高。

如果在键盘口、鼠标

口、打印口都能用的

情况下，I/O损坏的可

能性非常少。

USB口检修流程图

测1-5针（180-380）和2、3、6、7针（400-600）

沿着不正常的针脚引线找到所

连接的元件，更换

更换USB接口插座

USB由南桥连接管理，

在主板能正常工作的

情况下，USB的损坏

不会由南桥引起。

易

坏的元件有USB所连

的电阻、电容及USB

接口插座本身。

IDE（硬盘口）检修流程图

测1-9、11-20、22-29、34-40针（500-700阻值）

沿着不正常的针脚找到所连

接的电阻或排阻，更换

若IDE与南桥之间接有244、

245芯片，需更换或更换南桥

一般主板能正常显示

时，南桥坏的可能性

及少，IDE口损坏大多

是相连的排阻、电阻

和244、245芯片损坏，

占百分之八十左右。

FDD（软驱口）检修流程图

测18、20-34针（280-620的阻值）

沿着不正常的针脚引线找到相连

的元件，更换

更换I/O或刷新BIOS

FDD口由I/O直接管理，

在键盘口、鼠标口、打印

口嗵正常使用的情况下，

I/O芯片损坏的可能性及

小，大多是FDD相连的

电阻、电容损坏最多，在

各引脚阻值正常时，刷

BIOS有时也能修好FDD

口。

集成显卡接口检修流程图

测1-3（60-180）、12-15（500-800）的阻值

沿着不正常的针脚引线找到相连的元件，更换

更换显卡接口插座或更换北桥芯

集成显卡由北桥芯片管

理，一般北桥坏的可能

性不大，损坏较多的元

件有与显卡接口连接的

电感、电容、电阻和三

极管较多。

（这些元件大

多都在显卡接口后面）

集成声卡检修流程图

测Vcc3.3V供电

查3.3V供电所连的元件,更换

测晶振Y1的A,B（1.1-1.6V）启振电压

查与MIC、耳机、OUT相连

的元件以及更换声卡接口

更换晶振或更换声卡芯片

更换数/模芯片

声卡比较易损坏的元件

有声卡芯片、耦合电容

C1、C2、C3或是声卡接

口的弹簧片。

ATX开机电路故障:

1.不通电故障原因:

CMOS针帽

CMOS电池电量

32.768K是否起振

ATX的5VSB与南桥的电压有否3.3V

POWERSW有无3.5-5V电平

POWERON线路,5V电平,对地阻值500-600欧

74HCT系统门控芯片

I/O芯片的供电5VSB.电池（8671-8702,8703,8705,8712,华邦85627HF,83977EF,P4的

有83627,83657）

南