1、1 首先用电阻测量法,测量电源、接口的5V、12V、3.3V 等对地电阻,如果没有对地短路,再进行下一步的工作。2 加电(接上电源接口,然后按 POWER 开关)看是否能开机,若不能开机,修开机电路,若能开机再进行下一步工作。3 测试 CPU 主供电、核心电压、只要 CPU 主供电不超过 2.0V,就可以加 CPU(前提是目测时主板上没有电容鼓包、漏液),同时把主板上外频和倍频跳线跳好(最好看一下 CMOS),看看 CPU 是否能工作到 C,或者 D3(C1 或 D3 为测试卡代码,表示CPU 已经工作),如果不工作进行下一步。4 暂时把 CPU 取下,加上假负载,严格按照资料上的测试点,测试
2、各项供电是否正常。核心电压 1.5V,2.5V 和 PG 的 2.5V 及 SLOT1 的 3.3V 等,如正常再进行下一小工作。5 根据资料上的测试点测试时钟输出是否正常,时钟输出为 1.1-1.9V,如正常进行下一步。6 看测试卡上的 RESET 灯是否正常(正常时为开机瞬间,灯会闪一下,然后熄灭,当我们短接 RESET 跳线时,灯会随着短接次数一闪一闪,如灯常亮或者常来均为无复位。),如果复位正常再进行下一步。7 首先测 BIOS 的 CS 片选信号(为 CPU 第一指令选中信号),低电平有效,然后测试BIOS 的 CE 信号(此信号表示 BIOS 把数据放在系统总线上)低电平有效。8
3、若以上步骤后还不工作,首先目测主板是否有断线,然后进行 BIOS 程序的刷新,检查 CPU 插座接触是否良好。9 若以上步骤依然不管用,只能用最小系统法检修。步骤为:更换 I/O 南桥 北桥10 检测接口电路:检修接口电路时,一般用电阻测量法非常管用。一般接口电路的损坏都是其背面的电阻、电容以及电感损坏较多,具体检修见详图。开机电路检修流程图CMOS/跳线跳回正确位不正确正常正确测 Power 开关的 3.3V 或 5V 不正常测南桥旁边的晶振是否起振,起振电压为 0.5V 到 1.6V 左右不正常 正常更换晶振旁边的滤波电容以及晶振本身查紫线到 Power 开关之间电路测 Power 开关到
4、南桥或 I/O 之间是否有低电平输入南桥或 I/O有 无查绿线到南桥或 I/O 之间的电路是否损坏完好 损坏更换南桥或者 I/O(视开机电 更换元器件,修复电路路而言)查 Power 开关到南桥或 I/O之间的元件,更换损坏元件注:开机电路常坏元器件器有接绿线的三极管、与开机电路有关的门电路芯片,还有紫色线给 Power 开关供电的三级管或是二级管等。Power 南桥或 I/O 绿线(开机过程) (低电平)CPU 主供电的检修流程图测 Q1 的 D 极 5V 测 Q1 G 极 3-5V 控制电压正常 不正常查电源红线到 D 极线路更换场效应管 Q1 把 Q1 的 G 极悬空,测电源控制芯片的输
5、出端电压更换 Q1 或 Q2 测电源控制芯片的 12V 和 5V 供电测 PG 电源好 5V(电源灰线) 查 R1 及 C4,更换更换电源控制芯片更换与电源灰线相连的芯片常坏的元器件是电源控制芯片和场效应管以及 R1 限流电 阻 , 一 般 CPU 供 电 中15V,2.5V, 主 供 电 全 无 输 出时,电源控制芯片坏的可能性最大,如果只有其中一项输出不正常,则是输出此项的场效应管坏的最多(如 Q3的 1.5V 输出)。时钟电路和检修流程图测 3.3V 和 2.5V 供电测晶振的启振电压 1.1-1.6V查 Q1 或橙色 3.3V 和 L1 等更换时钟芯片更换晶振或时钟芯片时钟电路是否能工
6、作正常,前提是供电一定要正常,才有可能正常工作。比较容易损坏的元件有时钟芯片及周围 Q1 及 L1 等元件。3.3V如果是通过晶体管供电,此管也易损坏。复位电路检修流程图测 Reset 开关 3.3V 或 5V 查红线到 Reset 开关之间的电路测灰线 PG 5V测 Reset 开关到南桥之间是否有低电平输出给南桥有 否找出 Reset 开关到南桥之间损坏的元件,更换更换南桥找到与灰线相连的元件更换复位电路是否能正常工作前提是供电和时钟是否正常。复位电路常坏的元件有与复位电路有关的门电路芯片以及与灰线相连的晶体管。BIOS 电路检修流程图测 VCC和 Vpp供电测 CE/CS 是否有跳变表示
7、 CPU 没选中 BIOS,查 CPU 或总线故障查电源 5V 和 12V 到Vcc 和 Vpp 之间电路测 OE 是否有跳变查总线(南桥或 I/O)和 BIOS 芯片损坏刷新 BIOS 程序或更换 BIOS 芯片BIOS 电路的检修是在供电、时钟、复位都正 常 主 板 还 未 工 作时,才采取的措施。BIOS 电路一般是程序损坏为多,芯片其次。键盘、鼠标口的检修流程图测 Vcc(E 点)对地阻值为 180-380 测 A 和 C(500-800 阻值)查与 Vcc 5V 供电的跳线是否跳好或是保险电阻(电感)损坏找到与之相连的电感 L2 和 L3,更换刷 BIOS 或更换 I/O 键盘与鼠标
8、口的管脚定义完全一样,一 般 最 容 易 损 坏的元器件为 L1、L2、L3,一般在并口、串口、软驱能用的情况下,I/O一般不会坏,有时接 口 本 身 也 可 能损坏。并口(打印口)检修流程图测 1-17 针 500-800 的阻值沿着不正常的针脚找到所连接的地器件,更换更换接口插座或更换 I/O 芯片一般打印口的损坏最多的元件是与打印口相连的电阻、电感、或电容器最多,占总故障的百分之八十左右(如打印口旁边的排阻、排容、电阻、电容等)串口检修流程图测 1-4 针,6-9 针(1000-1700 的阻值)更换串口芯片或更换 I/O 芯片沿着不正常的针脚找到所连接的元件,更换一般串口坏大多是所连的
9、电阻、电容和串口芯片损坏率最高。如果在键盘口、鼠标口、打印口都能用的情况下,I/O 损坏的可能性非常少。USB 口检修流程图测 1-5 针(180-380)和 2、3、6、7 针(400-600)沿着不正常的针脚引线找到所连接的元件,更换更换 USB 接口插座USB 由南桥连接管理,在主板能正常工作的情况下,USB 的损坏不会由南桥引起。易坏的元件有 USB 所连的电阻、电容及 USB接口插座本身。IDE(硬盘口)检修流程图测 1-9、11-20、22-29、34-40 针(500-700 阻值)沿着不正常的针脚找到所连接的电阻或排阻,更换若 IDE 与南桥之间接有 244、245 芯片,需更
10、换或更换南桥一般主板能正常显示时,南桥坏的可能性及少,IDE 口损坏大多是相连的排阻、电阻和 244、245 芯片损坏,占百分之八十左右。FDD(软驱口)检修流程图测 18、20-34 针(280-620 的阻值)沿着不正常的针脚引线找到相连的元件,更换更换 I/O 或刷新 BIOS FDD 口由 I/O 直接管理,在键盘口、鼠标口、打印口嗵正常使用的情况下,I/O 芯片损坏的可能性及小,大多是 FDD 相连的电阻、电容损坏最多,在各引脚阻值正常时,刷BIOS 有时也能修好 FDD口。集成显卡接口检修流程图测 1-3(60-180)、12-15(500-800)的阻值沿着不正常的针脚引线找到相
11、连的元件,更换更换显卡接口插座或更换北桥芯集成显卡由北桥芯片管理,一般北桥坏的可能性不大,损坏较多的元件有与显卡接口连接的电感、电容、电阻和三极管较多。(这些元件大多都在显卡接口后面)集成声卡检修流程图测 Vcc 3.3V 供电查 3.3V 供电所连的元件,更换测晶振 Y1 的 A,B(1.1-1.6V)启振电压查与 MIC、耳机、OUT 相连的元件以及更换声卡接口更换晶振或更换声卡芯片更换数/模芯片声卡比较易损坏的元件有声卡芯片、耦合电容C1、C2、C3 或是声卡接口的弹簧片。ATX 开机电路故障:1. 不通电故障原因:CMOS 针帽CMOS 电池电量32.768K 是否起振ATX 的 5VSB 与南桥的电压有否 3.3VPOWER SW 有无 3.5-5V 电平POWER ON 线路,5V 电平,对地阻值 500-600 欧74HCT 系统门控芯片I/O 芯片的供电 5VSB.电池(8671-8702,8703,8705,8712,华邦 85627HF,83977EF,P4 的有 83627,83657)南
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