六西格玛黑带考试知识点_精品文档Word文件下载.docx
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Varax=a2Varx
2.二项分布
B(n,p)
px=Cnxpx1-pn-x
E(x)=np
varx=np1-p
3.泊松分布
λ=D∕U
px=λxx!
ⅇ-λ
E(x)=var(x)=λ
4.超几何分布
X~H(n,N,M)n,样本量;
N,批量;
M,批不合格品数;
x,样本不合格数
px=CN-Mn-xCmxCNn/px=CNN-xCNM
Ex=nMN
varx=nN-nN-1MN1-MN
5.均匀分布
X~U(a,b)
px=1b-a,a<
b
Ex=a+b2
varx=b-a212
6.指数分布
x~Eλ
pX≤x=1-ⅇ-λx
Ex=1λ
varx=1λ2
7.Cp=%PV%PT
8.CpkA=CpA-ΔA3σA
ΔA=μA-μ0
9.
10.pd=ϕ3Cpk-6Cp+ϕ-3Cpk
11.分辨力Unit测量值最小间距
⋃nⅈt≤min6σ10,UsL-LsL10
nⅆc=1.41*σpσms=2σp2σmS2
12.P图控制限
UCL=p+3p1-pn
LCL=p-3p1-pn
13.C图控制限
UCL=C+3c
LCL=0
14.过程分布中心/偏移量
2M-μT=1-CpkCp
M:
均值;
μ:
规格中心
15.二项分布概率
Cnx=n!
n-x!
Px=Cnxpx1-pn-x
16.决定系数/相关系数
R2=ssAssT
Raⅆj2=1-SSE*n-1SST*n-m
n:
样本数
m:
自变量数
17.卡方分布
期望值=(行和*列和)/总和
χ2=j=1gf0-fe2fe
f0:
观测值
fe:
期望值
18.T值
t=x-μσn
19.中心值M。
=(XH+XL)/2
半间距D=(XH-XL)/2
代码值K=(Xi–M。
)/D
代码值Kbefore=Kafter/D
20.泰勒科学管理方法、职能化组织
费希尔方差分析、试验设计理论
休哈特SPC、PDCA(贝尔实验室过程控制组)
1)变异不可避免
2)单一的观测几乎不能构成客观决策的依据
道奇和罗米格抽样检验(贝尔实验室产品控制组)
费根堡姆全面质量管理TQC
克劳斯比零缺陷明确需求、做好预防、一次做对、科学衡量
朱兰帕累托原理pareto
质量三部曲质量策划、质量控制、质量改进
戴明8/2原则、质量管理14要点
石川馨因果图、质量控制圈QCC
田口线外质量控制(技术开发、产品设计、工艺设计)或(系统设计、参数设计、容差设计)
线内质量控制(工序的诊断和调节、预测与校准、检测与处理、售后服务)
计量管理技术、实验设计技术
质量损失函数
Placett-Burman筛选设计(部分因子,没有交互效应)
BOX-Behncen曲面响应设计(实验点在棱边中点;
与CCD比实验次数少
21.Ⅰ型浪费(muda):
生产中不创造价值,但现有技术与生产条件下不可避免的作业内容,如在线检测、物料运输
Ⅱ型浪费(muda):
不创造价值且可立即去掉的作业内容,如等待、多余动作、不必要的审批
首先消除Ⅱ型浪费(muda)
22.精益生产的核心理念:
1)以消除浪费为核心思想
2)暴露问题、解决问题
23.精益思想的五项基本原则
1)正确的确定价值
2)识别价值流valuestreammapping
3)流动flow
4)拉动pull
5)尽善尽美perfection
24.亲和图头脑风暴后,对想法进行分类和整理
关联图/关系图按原因—结果或目的—手段,理清复杂问题的关系、范围或边界。
确认关键因素,拟定措施。
树图/系统图按主题—主要类别—组成要素—子要素的顺序分解或分层。
矩阵图找成对要素,确定关键点。
优先矩阵图关注关键事项,确定活动或目标的重要程度。
25.指数分布首次故障时间、故障后维修时间
对数分布元素衰减、地质勘探、化学成分、麻醉时间、流行病蔓延时间、电器寿命、化学反应时间、材料被击穿时间
威布尔分布可靠性、寿命试验、时效期
26.不良质量成本=预防成本+鉴定成本中的不增值部分+非符合性成本
内部故障成本:
报废、返修、降级使用、停工、质量事故处理、纠正措施等内部故障费用
外部故障成本:
售后服务、保修、顾客投诉处理产品责任费用等