六西格玛黑带考试知识点_精品文档Word文件下载.docx

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Varax=a2Varx

2.二项分布

B（n,p）

px=Cnxpx1-pn-x

E（x）=np

varx=np1-p

3.泊松分布

λ=D∕U

px=λxx!

ⅇ-λ

E（x）=var（x）=λ

4.超几何分布

X~H（n,N,M）n,样本量；

N,批量；

M,批不合格品数；

x,样本不合格数

px=CN-Mn-xCmxCNn/px=CNN-xCNM

Ex=nMN

varx=nN-nN-1MN1-MN

5.均匀分布

X~U（a,b）

px=1b-a,a<

b

Ex=a+b2

varx=b-a212

6.指数分布

x~Eλ

pX≤x=1-ⅇ-λx

Ex=1λ

varx=1λ2

7.Cp=%PV%PT

8.CpkA=CpA-ΔA3σA

ΔA=μA-μ0

9.

10.pd=ϕ3Cpk-6Cp+ϕ-3Cpk

11.分辨力Unit测量值最小间距

⋃nⅈt≤min6σ10,UsL-LsL10

nⅆc=1.41*σpσms=2σp2σmS2

12.P图控制限

UCL=p+3p1-pn

LCL=p-3p1-pn

13.C图控制限

UCL=C+3c

LCL=0

14.过程分布中心/偏移量

2M-μT=1-CpkCp

M：

均值；

μ：

规格中心

15.二项分布概率

Cnx=n!

n-x!

Px=Cnxpx1-pn-x

16.决定系数/相关系数

R2=ssAssT

Raⅆj2=1-SSE*n-1SST*n-m

n：

样本数

m：

自变量数

17.卡方分布

期望值=（行和*列和）/总和

χ2=j=1gf0-fe2fe

f0：

观测值

fe：

期望值

18.T值

t=x-μσn

19.中心值M。

=（XH+XL）/2

半间距D=（XH-XL）/2

代码值K=（Xi–M。

）/D

代码值Kbefore=Kafter/D

20.泰勒科学管理方法、职能化组织

费希尔方差分析、试验设计理论

休哈特SPC、PDCA（贝尔实验室过程控制组）

1）变异不可避免

2）单一的观测几乎不能构成客观决策的依据

道奇和罗米格抽样检验（贝尔实验室产品控制组）

费根堡姆全面质量管理TQC

克劳斯比零缺陷明确需求、做好预防、一次做对、科学衡量

朱兰帕累托原理pareto

质量三部曲质量策划、质量控制、质量改进

戴明8/2原则、质量管理14要点

石川馨因果图、质量控制圈QCC

田口线外质量控制（技术开发、产品设计、工艺设计）或（系统设计、参数设计、容差设计）

线内质量控制（工序的诊断和调节、预测与校准、检测与处理、售后服务）

计量管理技术、实验设计技术

质量损失函数

Placett-Burman筛选设计（部分因子，没有交互效应）

BOX-Behncen曲面响应设计（实验点在棱边中点；

与CCD比实验次数少

21.Ⅰ型浪费（muda）：

生产中不创造价值，但现有技术与生产条件下不可避免的作业内容，如在线检测、物料运输

Ⅱ型浪费（muda）：

不创造价值且可立即去掉的作业内容，如等待、多余动作、不必要的审批

首先消除Ⅱ型浪费（muda）

22.精益生产的核心理念：

1）以消除浪费为核心思想

2）暴露问题、解决问题

23.精益思想的五项基本原则

1）正确的确定价值

2）识别价值流valuestreammapping

3）流动flow

4）拉动pull

5）尽善尽美perfection

24.亲和图头脑风暴后，对想法进行分类和整理

关联图/关系图按原因—结果或目的—手段，理清复杂问题的关系、范围或边界。

确认关键因素，拟定措施。

树图/系统图按主题—主要类别—组成要素—子要素的顺序分解或分层。

矩阵图找成对要素，确定关键点。

优先矩阵图关注关键事项，确定活动或目标的重要程度。

25.指数分布首次故障时间、故障后维修时间

对数分布元素衰减、地质勘探、化学成分、麻醉时间、流行病蔓延时间、电器寿命、化学反应时间、材料被击穿时间

威布尔分布可靠性、寿命试验、时效期

26.不良质量成本=预防成本+鉴定成本中的不增值部分+非符合性成本

内部故障成本：

报废、返修、降级使用、停工、质量事故处理、纠正措施等内部故障费用

外部故障成本：

售后服务、保修、顾客投诉处理产品责任费用等