α射线能谱测量有算能量刻度哦Word格式.docx
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而本实验主要从以下几个方面进行：
1、了解a谱仪工作原理与特性
2、掌握a能谱测量原理及测量方法
3、测量获取表中各种放射源在不同探源距下a能谱的数据与图像记录并进行刻度
2实验内容
测定a谱仪在不同源距下a能谱的数据，并通过计算获得相关能量分辨率。
同时，进行能量刻度。
3实验原理
3.1a能谱
a粒子通过物质时，主要是与物质的原子的壳层电子相互作用发生电离损失，使物质产
生正负离子对，对于一定物质，a在其内部产生一对离子所需的平均能量是一定的（即平均电能W）,所以在物质中产生的正负离子对数与a粒子损失的能量成正比，即:
N=
公式中N为a粒子在物质中产生的正负离子对数目，E是在物质中损失的a粒子能量。
如果a粒子将其全部能量损失在物质内，E就是a粒子的能量。
由于a粒子在空气中的射程很短（在T=15C,P=1大气压时，天然放射性核素衰变产
生的a粒子，射程最大为The'
（212Po）为8.62cm，能量最小232Th为2.5cm）,所以测量
室应采用真空室，如上图1所示，采用真空泵将测量室抽成真空，这样与探测器接触的a粒
子的能量才近似等于放射性核素经过a粒子放出的a粒子的初始能量（近似是因为不可能将
测量室抽成绝对真空）
a粒子在探测器中因电离、激发（由于a粒子的质量很大，所以与物质的散射作用很不
明显。
a粒子在空气中的径迹是一条直线，这种直线很容易在威尔逊云室中看到。
）等效应
而产生电流脉冲，其幅度与a粒子能量成正比。
电流信号经前置放大器、主放大器放大，出来的电信号通过多道分析器进行数据采集，最后通过计算机采集并显示其仪器谱（实验用a
谱仪硬件连接及内部结构框图如图1所示）。
仪器谱以a粒子的能量（即脉冲幅度）为横坐
标，某个能量段内a粒子数（或计数率）为纵坐标，即可计算样品中各单个核素发射的a粒子的能量与活度。
理论上，单能a粒子谱是线状谱，应是位于相应能量点处垂直于横坐标轴的单一直线，但由于a粒子入射方向、空气吸收、样品源自吸收的差异和低能粒子的叠加等原因，实际测得的是具有一定宽度的单个峰，其峰顶位置相应于a粒子的能量，谱线以下的面积为相应能量的a粒子的总计数率，峰的半高宽与峰顶能量比值的百分数则为a谱仪的能量分辨率。
a谱仪硬件连接及内部结构框图图一所示。
、
半导悻
I探测器_丿
图一a谱仪硬件连接及内部结构框图
3.2a放射源
4-8MeV，在空气中
a放射源是以发射a粒子为基本特征的放射源。
a粒子能量一般为
的射程为2.5-7.5cm，在固体中的射程为10-20um。
由于a粒子穿透物质的能力弱，为此,
设计制备a放射源时必须考虑源的自吸收。
目前工业用的a放射源主要有241Am、238Pu、
239Pu、244Cm（锔）和210Po（钋）等，用量最大的是241Am源。
因为241Am容易生产，价格便宜，而且半衰期长。
常用a放射源核素数据如表一。
本次实验，所用a源：
Am241的5.486MeV和Pu239的5.155MeV。
半衰
期
主要a粒
子能量（MeV）
及分支比（％）
比
活度
（GBq/g
）
来源
2
10Po
138.
4d
5.305
（100）
1.6
7X105
209Bi（n,Y210Bi5.01d210Po
4.824
33U
1.59
X105a
（84.4）
4.783
232Th（n,Y233Th22.3min
233Pa
27.0d
233
（13.2）
35U
7.1X
108a
4.216（6）
4.368
（12）
4.374（6）
4.400
天然放射性核素
87.7
5.445
63237Np（n,Y238Np2.117d238Pu
38Pu
5a
（28.7）
5.499
（71.1）
6.4
5.103
（11）
238,/、
239…23.5min239…
2.355d239
2.44
5.142
2.2
U（n,Y
U
Np
39Pu
X10
4a
（15）
8
5.155
（73）
5.443
432
（12.7）
12
238U多
次中
子俘获
生成
41Am
a
5.486
6.9
241pu14.4a
241八
Am
（86）
6.071
162.
（26.3）
1.2
238U多次中子俘获加
B衰变
42Cm
5d
6.115
5X105
（73.7）
表一常用a放射源核素数据
3.3a谱仪
放射性样品的粒子与探测器相互作用，经前置放大器输出正比于粒子能量的脉冲
信号，经线性放大后输入多道脉冲分析器分析，得到的计数按照能量（道址）分布的粒子能
谱，实现核素的识别和活度测定。
本次试验仪器拟采用西南科技大学国防重点试验室a能谱仪，该a谱仪为美国ORTEC
公司生产的8通道a能谱仪，型号为：
ALPHA-ENSEMBLE.
ORTEC在a谱仪上采用超低本底和PIPS工艺（表面钝化、离子注入、可擦洗）硅探测
器，同时真空舱室也为超低本底材料。
面积上提供300、450、490、600、900和1200
平方毫米的选择，有效耗尽层100呵。
结构特性与性能指标：
样品直径可从13mm至51mm。
探测器与被测样品之间有10档距离可选，相邻
两档之间的距离差为4mm，最大距离可达44mm。
真空计：
范围10mTorr到20Torr（1Torr〜133.322Pa）。
探测器偏压：
范围0±
100V，大小和正负极性可调节。
漏电流检测器：
范围0到
10,000nA，显示分辨率3nA。
脉冲产生器；
范围0到10MeV，稳定性＜50ppm/oC,脉冲的幅度可调。
数字化MCA（多道脉冲幅度分析仪）：
通过软件可设置系统转换增益（道数）为256、512、1024、2048或者4096道，细调增益为0.25至U1;
增益稳定性：
w150ppm/oC;
每个事件的转换时间（死时间）：
＜2卩s。
数字化稳谱、ADC的零点（ZERO）和下阈（LLD）均由计算机调节设置。
谱仪的探测器偏压、漏电流均可在软件相关界面上以数字和图形显示出来。
输入电源：
120/240Vac，50/60Hz输入功率50W。
通讯：
USB2.0接口。
每一个AlphaEnsemble最终提供一条电缆给PC。
应用软件：
MAESTRO-32或AlphaVision
工作条件温度0oC到50oC，相对湿度w95%。
分辨率与本底：
基于使用450mm2ULTRA-AS探测器和高质量的241Am点源，能量分辨率（FWHM）：
W20KeV（探测器到源的距离等于探测器的直径），探测器效率：
＞25%（探测器到源的距离小于10mm），本底：
在3MeV以上，每小时计数w1。
所有型号均可选择用于反冲抑制保护的样品盘选项。
主要特点：
探测室、前放、主放和多道一体化，系统具有高度的可靠性；
全部功能由计算机通过仿真软件控制；
每一路都完全独立、互不干扰或影响；
每一路谱仪可配不同规格型号探测器；
容纳样品直径最大可达51mm，探测器面积最大可达1200mm2；
系统可以扩展至8台共64路探测器。
3.4探测器测量a射线能谱相关原理
因离子注入PIPSa谱仪相关资料不足，故本实验报告以金硅面垒探测器为例加以说明。
金硅面垒探测器是用一片N型硅，蒸上一薄层金（100-200貝），接近金膜的那一层硅
具有P型硅的特性，这种方式形成的PN结靠近表面层，结区即为探测粒子的灵敏区。
探测
器工作加反向偏压。
粒子在灵敏区内损失能量转变为与其能量成正比的电脉冲信号，经
放大并由多道分析器测出幅度的分布，从而给出带电粒子的能谱。
偏置放大器的作用是当多
道分析器的道数不够用时，利用它切割、展宽脉冲幅度，以利于脉冲幅度的精确分析。
为了
提高谱仪的能量分辨率，探测器要放在真空室中。
另外金硅面垒探测器一般具有光敏的特性，在使用过程中，应有光屏蔽措施。
金硅面垒型半导体w谱仪具有能量分辨率高、能量线性范围宽、脉冲上升时间快、体
积小和价格便宜等优点，在戸粒子及其它重带电粒子能谱测量中有着广泛的应用。
3.5a谱仪的能量刻度和能量分辨率
图一峰位-偏压曲线
谱仪的能量刻度就是确定”粒子能量与脉冲幅度大小以谱线峰位在多道分析器中的道
址表示。
W谱仪系统的能量刻度有两种方法：
用一个239Pu、241Am、244Cm混合的戸刻度源，已知各核素▼粒子的能量，测出该能
量在多道分析器上所对应的道址，作能量对应道址的刻度曲线，并表示为：
E=Gd+Eo
图二能量分辨率-偏压曲线
E为a粒子能量（keV）,d为对应E谱峰所在道址，G是直线斜率（keV/每道），称为刻度常数。
Eo是直线截距（keV），它表示由于a粒子穿过探测器金层表面所损失的能量。
4实验仪器、器材
1、ALPHA-ENSEMBLEa谱仪探测器
2、PC机
3、真空泵n3GcnBT44、所用a源：
Am241的5.486MeV和Pu239的5.155MeV
5实验步骤
1、打开PC机、8路a谱仪和真空泵
2、点击PC桌面上“MAESTROforWindows
3、测量源（也可测本底）
3.1点"
MAESTROforWindows”的"
Acquire
3.1.0设置
3.1.1设置高压，点highvoltage的可控按钮"
on”，出现标志"
On”表明高压设置
ok
3.2点“MAESTROforWindows”的“Alpha”
3.2.1Target设为”300”（小于1000即可）
3.2.2vacuum设置
A．“Pump”抽真空，通过“actual”看是否抽真空
B．“Vent“放弃真空
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