PC3000中文说明书.docx

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PC3000中文说明书

ACELaboratory

Softwareandhardwarecomplex

 

PC-3000中文说明书

第一部分:

PC3000-V12主菜单及各模块菜单

第二部分:

PC3000-V12的工具模块列表

第三部分:

PC3000-V11使用说明(整理)

 

PC-3000AT主菜单

ВЫБОРРЕЖИМА

选择项目

Выбортипанакопителя

选择存储器

Проверканакопителя

检查存储器

Проверкаконтроллера

检查磁盘控制器

Комплексныйтест

磁盘综合测试

Скрытиедефектов

磁盘缺陷扫描

Форматирование

通用的低级格式化

Выход

退出

 

РЕГИСТРСОСТОЯНИЙ

状态寄存器

BASDRDYDWFDSCDRQCORRINXERR

 

РЕГИСТРОШИБОК

误差寄存器

BBKUNCOIDNFOABRTTONFAMNF

 

 

LBA

CHS

(c)

关于

Выход

退出

 

вверх

向上

 

Отмен

取消

 

 

 

 

 

вниз

向下

 

Ввод

输入

SMART

维护和自动修理技术信息

Passp

磁盘信息

 

Проверканакопителя检查存储器

 

 

Тран.

对扇区写入编号

 

Выход

退出

Шаг-

减少柱数

Шаг+

增加柱数

X->0

全部清零

Отмен

取消

X->A

磁头移到?

A<->B

磁头来回移动

RND

磁头随机移动

Стир

全部扇区填零

Просм

按(柱/头/扇)查看

Зап

按每柱填充代码

Ввод

输入

Гол

(головку)磁头移到?

Т

 

 

 

 

ОпределениепараметровНМД

参数定义

 

 

Выполняется

完成

 

Ошибка

错误

накопительневыдалсостояние

存储器没有准备好

готовностивтечении15сек

нажмителюбуюклавишу

按任意键继续

 

Проверкаконтроллера检查控制器

Чтениерегистрасостояниявцикле

循环阅读寄存器的情况

Тестбуферасектора

测试扇区缓冲器

Записьсекторавцикле

循环写入扇区缓冲器

Чтениесекторавцикле

循环读出扇区缓冲器

ТестIRQ

测试硬盘中断IRQ

ВнутренняядиагностикаНМД

内部的诊断

СбросНМД

硬盘复位

Выход

退出

 

 

 

Комплексныйтест综合的测试

 

ВНИМАНИЕ

注意

Впроцессетестирования

过程

Данныебудутразрушены

数据将会丢失

Начальныйцилиндр:

0

开始的柱

Конечныйцилиндр:

1

结束的柱

Производитьзапись:

да

进行写入动作:

是的

нажмите[Ввод]или[Отмена]

按键输入或者取消

 

Тестконтроллера

测试控制器

ТестIRQ

测试IRQ

Тестбуферасектора

测试扇区缓冲器

Тестрекалибровки

Проверкаформата

检查格式

Случайноечтение

随机的读出

Проверкаповерхностей

表面检查

 

Прерываниеоператора

操作员中断

продолжатьтест

继续做测试

пропуститьтест

跳过测试

пропуститьвсетесты

跳过全部测试

 

 

 

 

Скрытиедефектов缺陷

 

Выборскрытие

选择

Автоматическоескрытие

自动

Ручноескрытие

手动

Отменитьскрытие

取消

[Esc]-Выход

退出

 

ВНИМАНИЕ

注意

Начальныйцилиндр:

0

开始的柱

Конечныйцилиндр:

1

结束的柱

Количествопроходов:

3

反复次数

нажмите[Ввод]или[Отмена]

按键输入或者取消

 

ВНИМАНИЕ

注意

Впроцессеотменыскрытиядефектов

缺陷扫描过程取消

Данныепользователябудутразрушены

数据将会丢失

Начальныйцилиндр:

0

开始的柱

Конечныйцилиндр:

1

结束的柱

нажмите[Ввод]или[Отмена]

按键输入或者取消

 

Форматирование通用的擦除

 

ВНИМАНИЕ

注意

Впроцессеформатирования

过程

Данныепользователябудутразрушены

数据将会丢失 

Начальныйцилиндр:

0

开始的柱

Конечныйцилиндр:

1

结束的柱

нажмите[Ввод]или[Отмена]

按键输入或者取消

 

 

PC-3000各个模块主菜单

一、富士通Ver4.52(中文说明)

1、Servotest伺服测试

1.1|-------------------------------------------------------------------------------------------------|

|Thetestimgprocedurewilldestroyalluserdatadrive

|这个测试程序将破坏驱动器的全部使用数据

|teststartingcylinder:

xxxxxxxx

|测试开始的柱面:

xxxxxxxx

|testendingcylinder:

xxxxxxxx

|测试结束的柱面:

xxxxxxxx

|placedefecfsto:

P-List

|放置坏道到:

P-List(空格健变换P-List和Glist)

|limitfogroupingintocylinders:

xxxxxxxx

|一个柱面超过多少个坏道就封闭:

|-------------------------------------------------------------------------------------------------|

2、Surfacetest表面测试(物理测试)

2.1|------------------------------------------------------------------------------------------------|

|teststartingcylinder:

xxxxxxxxxx

|测试开始的柱面:

xxxxxxxxxx

|testendingcylinder:

xxxxxxxx

|测试结束的柱面:

xxxxxxxx

|numberofpasses:

3

|通过的次数:

3(可在1-x之间选择,默认是3)

|numberofretryofadefect:

3

|一个坏道重复测试的次数:

3(可在1-x之间选择,默认是3)

|criticaltimetest(ms):

300

|测试的临界时间(毫秒):

300(意思是停顿多少毫秒就视为坏道)

|performwritingtest:

NO

|执行写测试:

NO/YES(N)不是(y)是默认是(N)

|useallheadswhiletesting:

yes

|当测试的时候使用全部的磁头:

yes(y)是(n)是默认是(yes)

|limitfogroupingintocylinders:

xxxxxxx

|一个柱面超过多少个坏道就封闭:

|------------------------------------------------------------------------------------------------|

3、Discfirmwarezone碟片的固件区

3.1Workwiththerom对ROM工作

3.1.1ReviewofthediscfirmwarezoneintheROM检看碟片固件地区的ROM版本信息

3.1.2ReadROMtofile读ROM文件

3.1.3WriteROMfromfile写ROM文件

3.1.4SupportedtedROMS支持的ROM的所有型号

3.2workwithdiscfirmwarezone对碟片固件地区工作

3.2.1Checkingofdiscfirmwarestructure检查碟片固件结构

3.2.2discfirmwaredatawriting/reading碟片固件数据写/读

3.2.2.1ExrtactMPfromBASE<-|从基地提取MP

3.2.2.1.1writingtodiscdrive<-写硬盘

3.2.2.1.1writingofmodules写模块

3.2.2.1.2configurationpageswriting写结构页

3.2.2.1.2writingtofolder写文件夹

3.2.2.2AddMPtoBASE添加MP数据库

3.2.2.3DeleteMPfromBASE从数据库册除MP

3.3.3Readingofthemodules读模块

3.3.4Writingofthemodules写模块

3.3.5Regentranslator再生变换器

3.3.6Securitysubsystem安全子系统

3.3.8.1showsecurityinformation显示安全信息

3.3.8.2Clearpasswords清除密码

3.2softwarehesdsswitchingoff用软件关闭磁头

3.3spindlestop主轴停转

3.4workwithadaptives

4、DiscID硬盘的身份(变硬盘的型号和容量)

5、Formatting低级格式化

6、Logicalscanning逻辑扫描

6.1|--------------------------------------------------------------------------------------------|

|initialLBAposition:

x

|初始LBA位置:

X

|finalLBAposition:

xxxxxxxxxxxx

|结束的LBA位置:

xxxxxxxxxxxx

|reversivescanning:

NO

|从后面向前面扫描:

NO(键入(Y)就从后面向前面扫描)

|numberofpasses:

3

|通过的次数:

3(可在1-x之间选择,默认是3)

|numberofretryofadefect:

3

|一个坏道重复测试的次数:

3(可在1-x之间选择,默认是3)

|criticaltimetest(ms):

300

|测试的临界时间(毫秒):

300(意思是停顿多少毫秒就视为坏道)

|performwritingtest:

NO

|执行写测试:

NO/YES(N)不是(y)是默认是(N)

|verifyinsteadofreading:

yes

|校验代替读:

yes

|--------------------------------------------------------------------------------------------|

7、S.M.A.R.T.tableS.M.A.R.T表

7.1toreviewS.M.A.R.T.table观察S.M.A.R.T表

7.2S.M.A.R.T.parametersreset复位S.M.A.R.T.参数

7.3toloadS.M.A.R.T.(externalmodule)加载S.M.A.R.T.(外部模块)

8、Defectstable坏道表

8.1toreviewdefectsteble观察坏道表

8.2AddLBAdefects按LBA添加坏道表

8.3AddLCHSderects按柱面/磁头/扇区/长度添加坏道

8.4Addphysicalsector按物理扇区添加

8.5Addphysicaltracks添加物理磁道

8.6Groupintotracks封闭磁道

8.7importoflogicaldefectstable逻辑坏道表的输入

8.8Erasedefectstable删除坏道表

9、Automaticmode自动化模式

10、EXIT退出

二、昆腾与迈拓(LEVQ系列)Ver2.32(中文说明)

1、Servotest伺服测试

1.1|-------------------------------------------------------------------------------------------------|

|Thetestimgprocedurewilldestroyalluserdatadrive

|这个测试程序将破坏驱动器的全部使用数据

|teststartingcylinder:

xxxxxxxx

|测试开始的柱面:

xxxxxxxx

|testendingcylinder:

xxxxxxxx

|测试结束的柱面:

xxxxxxxx

|placedefecfsto:

P-List

|放置坏道到:

P-List空格健变换P-List和Glist

|limitfogroupingintocylinders:

64

|一个柱面超过多少个坏道就封闭:

64(可以是2-63)

|--------------------------------------------------------|

2、Surfacetest表面测试(物理测试)

2.1|-------------------------------------------------------------------------------------------------|

|teststartingcylinder:

xxxxxxxxxx

|测试开始的柱面:

xxxxxxxxxx

|testendingcylinder:

xxxxxxxx

|测试结束的柱面:

xxxxxxxx

|numberofpasses:

3

|通过的次数:

3(可在1-x之间选择,默认是3)

|numberofretryofadefect:

3

|一个坏道重复测试的次数:

3(可在1-x之间选择,默认是3)

|criticaltimetest(ms):

300

|测试的临界时间(毫秒):

300(意思是停顿多少毫秒就视为坏道)

|performwritingtest:

NO

|执行写测试:

NO/YES(N)不是(y)是默认是(N)

|useallheadswhiletesting:

yes

|当测试的时候使用全部的磁头:

yes(y)是(n)是默认是(yes)

|placedefectsto:

P-List

|放置坏道到:

P-List空格健变换P-List和Glist

|limitfogroupingintocylinders:

64

|一个柱面超过多少个坏道就封闭:

64(可以是2-63)

|---------------------------------------------------------------------------------------------------------|

3、Discfirmwarezone碟片的固件地区

3.1Workwiththerom对ROM工作

3.2workwithdiscfirmwarezone对碟片固件地区工作

3.2.1Checkingofdiscfirmwarestructure检查碟片固件结构

3.2.2discfirmwaredatawriting/reading碟片固件数据写/读

3.2.2.1ExrtactMPfromBASE<-|从数据库提取MP

3.2.2.1.1writingtodiscdrive<-写硬盘

3.2.2.1.1writingofmodules写模块

3.2.2.1.2configurationpageswriting写结构页

3.2.2.1.2writingtofolder写文件夹

3.2.2.2AddMPtoBASE添加MP到数据库

3.2.2.3DeleteMPfromBASE从数据库删除MP

3.2.3Configurationpagesreading构造页读

3.2.4Configurationpageswriting构造页写

3.2.5Readingofthemodules读模块

3.2.6Writingofthemodules写模块

3.2.7DetailedCOMlog详细COMlog

3.2.8Securitysubsystem安全子系统

3.2.8.1showsecurityinformation显示安全信息

3.2.8.2Clearpasswords清除密码

3.3Configurationchanging改变内部构造

3.4LoadLDR-filetodiscRAM加载LDR文件到碟片的RAM

3.5spindlestop主轴停转

4、DiscID硬盘的身份(硬盘的型号和容量)

5、Logicalscanning逻辑扫描

5.1|---------------------------------------------------------------------------------------------|

|initialLBAposition:

x

|初始LBA位置:

X

|finalLBAposition:

xxxxxxxxxxxx

|结束的LBA位置:

xxxxxxxxxxxx

|reversivescanning:

NO

|从后面向前面扫描:

NO键入(Y)就从后面向前面扫描

|numberofpasses:

3

|通过的次数:

3(可在1-x之间选择,默认是3)

|numberofretryofadefect:

3

|一个坏道重复测试的次数:

3(可在1-x之间选择,默认是3)

|criticaltimetest(ms):

300

|测试的临界时间(毫秒):

300(意思是停顿多少毫秒就视为坏道)

|performwritingtest:

NO

|执行写测试:

NO/YES(N)不是(y)是默认是(N)

|verifyinsteadofreading:

yes

|校验代替读:

yes

|placedefecfsto:

P-List

|放置坏道到:

P-List空格健变换P-List和Glist

|----------------------------------------------------------------------------------------------|

6、S.M.A.R.T.tableS.M.A.R.T表

6.1toreviewS.M.A.R.T.table观察S.M.A.R.T表

6.2toloadS.M.A.R.T.(externalmodule)加载S.M.A.R.T.(外部模块)

6.3S.M.A.R.T.parametersreset复位S.M.A.R.T.参数

7、Defectstable坏道表

7.1toreviewdefectsteble观察坏道表

7.2AddLBAdefects按LBA添加坏道表

7.3Addphysicalsector按物理扇区添加

7.4Addphysicaltrack按物理磁轨添加

7.5Groupingdefectsintotracks封闭坏道到磁轨里

7.6importoflogicaldefectstable逻辑坏道表的输入

7.7Erasedefectstable删除坏道表

7.8Defectstableexport坏道表输出

7.9Defectstableimport坏道表输入

7.10Workwithmodule06

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