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品质可靠性测试标准
文件编号:
ZQ-011-001
版本/状态:
A/01
制定:
SPC办事处
审核:
批准:
发行日期:
会审部门
签字
会审部门
签字
□spc工程部
□spc总部
第18页共19页
SPC品质可靠性测试标准
目录
1目的…………………………………………………...……………………………………………..2
2执行原则…………………………………………...……………………………………………......3
3适用范围…………………………………………...……………………………………..................3
4主要职责………………………………………...…………………………………………………..3
5可靠性测试程序………………………………...……………………………..…………………....3
5.1环境测试………………………………...……………………………..………………….….3
5.2静电测试…………………...………………………………………………………….……..3
5.3结构耐久测试………………………...……………………………..………………………..3
5.4表面装饰涂层测试………………………...………………………..………………………..3
5.5元器件可靠性测试…………………...……………………………..…………….…………..3
5.6安全器件测试…………………...……………………………..……………………………...3
1目的
1.1在特定的可接受的环境下不断的催化产品的寿命和疲劳度,评估产品的质量和可靠性;
1.2规范可靠性试验作业方法。
1.3作为spc品质对spc产品放行的指导标准
2执行原则
Spc产品可靠性试验程序及判断标准,严格遵守此程序。
3适用范围
适用于品质对spc产品的出货标准。
5可靠性测试程序
5.1环境测试
样机标准数量:
16台
试验周期:
10天
测试目的:
通过连续的施加各种测试条件,加速产品的失效,提前暴露潜在问题。
试验流程:
见下图,其中完成环测后和跌落测试的时间间隔应不超过4小时。
B环境测试
A产品平均失效寿命测试组合
功能外观检查
25℃
跌落试验
25℃
温度冲击-40℃/80℃
高温高湿测试
60℃93%RH
跌落试验
射频测量
射频测量
25℃
功能外观检查
灰尘试验
盐雾试验
淋雨试验
低温参数试验-20℃
低温存储-30℃
高温存储
80℃
高温高湿测试
60℃93%RH
湿热循环测试
-10℃/93%RH
A:
产品平均失效寿命测试组合:
样机数量:
16台
5.1.1功能外观检查
测试目的:
测试预检查
测试方法:
OQC功能外观检验标准进行检查
测试标准:
符合《成品检验指导书》中所有的指标。
5.1.2射频测量
测试目的:
测试预检查
测试方法:
使用8960/CMU200测试仪,参照《射频测试记录表》中项目列表,对所有样品进行参数指标预测试并保存测试结果
测试标准:
《射频指标记录表》中所有参数指标正常。
5.1.3跌落试验
测试条件:
6cm厚水泥地板,2.4寸及以下LCD跌落高度为1.2m;2.6-2.8寸LCD为1m;3.0-3.4寸LCD跌落高度为0.8m.3.5寸及以上LCD跌0.5m。
测试目的:
跌落冲击试验
样机数量:
16台
试验方法:
将手机处于开机状态进行跌落。
进行6个面的自由跌落实验,每个面的跌落次数为1次,每个面跌落之后进行外观、结构和功能检查。
对于翻盖手机,其中一半样品打开翻盖跌正面和背面(即跌8个面);对于滑盖手机,应将一半样品滑开到上限位置,跌正面和背面(即跌8个面)。
跌落结束后对外观、结构和功能进行检查。
检验标准:
手机外观,结构和功能符合要求。
每跌完一个面进行拔号,应无掉网、关机等不良现象;拨打测试完成后,对每个手机进行快速检测包括活动部件,按键功能,显示功能,触摸屏功能及灵敏度,拍照功能,SPK听筒声音应无异常。
间隙张开,其它部件松脱后不借用其它工具用手可以复原的可接受,受力点有水泥沙大小的凹陷、掉涂层、划伤可接受。
但涂层不允许有片状脱落、龟裂,掉电及掉SIM卡以微跌为准。
掉电池盖不作为不合格项,以手感拆装为准。
5.1.4温度冲击测试
测试环境:
低温箱:
-40℃;高温箱:
+80℃
样机数量:
16台
测试目的:
通过高低温冲击进行样品应力筛选
试验方法:
使用高低温冲击箱,手机带电池,设置成关机状态先放置于高温箱内持续
30分钟后,在15秒内迅速移入低温箱并持续30分钟后,再15秒内迅速回到高温箱为一个循环,共循环24次。
实验结束后将样机从温度冲击箱(高温箱)中取出,恢复2小时后进行外观、机械和电性能检查。
对于翻盖手机,应将一半样品打开翻盖;对于滑盖手机,应将一半样品滑开到上限位置。
试验标准:
手机电性能指标满足要求,活动部件正常,壳件无形变,无龟裂,变色,无氧化,麻点,脱层,缝隙断差变大(断差和间隙在0.1mm以下可接受),装饰片及镜片起翘不均匀。
IML材料高温存储温度为60℃作为允收标准。
5.1.5高温高湿参数测试
测试环境:
+60℃,93%RH
测试目的:
高温高湿应用性能测试
试验方法:
将手机电池充满电,手机处于开机状态,放入温度实验箱内的架子上。
持续48H,在此环境下进行电性能检查。
对于翻盖手机,应将一半样品合上翻盖,一半样品打开翻盖;对于滑盖手机,应将一半样品滑开到上限位置。
检验标准:
手机电性能参数指标满足要求,时钟精准,存储信息无丢失,拨打过程中有无掉网、关机等不良现象;拨打测试完成后,对每个手机进行快速检测包括活动部件,按键功能,显示功能,触摸屏功能及灵敏度,拍照功能,SPK听筒声音,镜片和LCD内部、TouchLens内部无水印,水珠,功能正常,外壳无变形。
B:
环境测试
样机数量:
10台
5.1.6低温参数测试
测试环境:
-20℃
测试目的:
高温/低温应用性能测试
试验方法:
将手机电池充满电,手机处于开机状态,放入温度实验箱内的架子上,调节温度控制器到-20℃持续4个小时,在此环境下进行电性能参数和功能检查。
对于翻盖手机,应将一半样品合上翻盖,一半样品打开翻盖;对于滑盖手机,应将一半样品滑开到上限位置。
检验标准:
手机电性能参数指标满足要求,时钟精准,存储信息无丢失,拨打过程中有无掉网、关机等不良现象;拨打测试完成后,对每个手机进行快速检测包括活动部件,按键功能,显示功能,触摸屏功能及灵敏度,拍照功能,SPK听筒声音变小,功能正常,外壳无变形。
5.1.7高温/低温存储
测试环境:
-40℃/+80℃
测试目的:
高温/低温应用性功能测试
试验方法:
将手机处于关机状态,放入温度实验箱内的架子上。
持续48个小时之后,恢复至常温,然后进行结构,功能和电性能检查。
对于翻盖手机,应将一半样品合上翻盖,一半样品打开翻盖;对于滑盖手机,应将一半样品滑开到上限位置。
检验标准:
手机电性能指标满足要求,活动部件正常,壳件无形变,无龟裂,变色,无氧化,麻点,脱层,缝隙断差变大(间隙断差<0.1mm可接受),装饰片及镜片无起翘不均匀。
IML材料高温存储温度为60℃作为允收标准。
5.1.8湿热循环测试
测试环境:
+40℃,93%RH;-10℃
测试目的:
高湿低温循环应用性能测试
试验方法:
温度控制器设到+40℃,93%RH持续1个小时之后,以1小时的速率变化到-10℃持续1小时后,以1小时的速度变化到+40℃,93%RH。
循环13次。
在此环境下进行电性能参数和功能检查。
对于翻盖手机,应将一半样品合上翻盖,一半样品打开翻盖;对于滑盖手机,应将一半样品滑开到上限位置。
检验标准:
手机电性能参数指标满足要求,时钟精准,存储信息无丢失,拨打过程中有无掉网、关机等不良现象;拨打测试完成后,对每个手机进行快速检测包括活动部件,按键功能,显示功能,触摸屏功能及灵敏度,拍照功能,SPK听筒声音,镜片和LCD内部、TouchLens内部无水印,水珠,功能正常,外壳无变形。
5.1.9灰尘测试
测试环境:
室温
测试目的:
测试样机结构密闭性
样机数量:
2台
试验方法:
将手机关机后放入灰尘实验箱内。
其体积综合不得超过试验箱的有效空间的1/3,底面积不超过有效水平面积的1/2,试验样品与试验箱内壁距离应不小于100mm。
试验箱内的气流速度应能保证试验用灰尘均匀缓慢降在试验样品上,风速最大不超过2m/s。
持续8个小时之后,将手机从实验箱中取出,用布和离子风枪清洁后进行检查。
对于翻盖手机,应将一半样品合上翻盖,一半样品打开翻盖;对于滑盖手机,应将一半样品滑开到限位置。
试验标准:
手机各项功能正常,所有活动元器件运转自如,每个按键按10次不能有INT,声音正常,显示区域没有明显灰尘(距离≥2.5cm,点≤0.15mm,数量≤3个的灰尘数可接)。
5.1.10盐雾测试
测试环境:
35℃5%NaCL
测试目的:
测试样机抗盐雾腐蚀能力
样机数量:
2台
试验方法:
用氯化钠含量为5±1%的盐溶液,PH值为6.5~7.2。
允许用稀释后的化学纯盐酸或氢氧化钠调整PH值。
试验有效空间温度为35°C;连续喷雾的试验时间为24H;持续期满后在箱内恢复到正常大气条件,稳定后保持2H,检查。
检验标准:
外壳表面及装饰件无明显腐蚀,(脱层,氧化<5%可接受,麻点≥2.5cm,点≤0.15mm,数量≤3个可接受)等异常现象。
5.1.11淋雨测试(无仪器暂时可不作要求)
测试环境:
室温(20~25℃);
样机数量:
2台
测试目的:
整机抗雨淋能力
试验方法:
手机关机状态下,正面朝上平放在转动平台上,以1分/转的速度通过25mm喷雨矩阵,持续10分钟。
检验标准:
用干抹布将雨水擦拭干净后开机,检查手机所有功能应正常。
7.2静电测试
7.2.1静电测试
测试条件:
+/-6kV;+/-10kV
测试目的:
测试样机抗静电干扰性能
样机数量:
8台
试验方法:
将样机设置为开机状态,检查样机内存和功能(内存10条短信息和10个电话号码;使用功能正常)。
将样机放于静电测试台的绝缘垫上,分两种状态:
加充电器和不加充电器(样机与绝缘垫边缘距离至少2英寸)。
打开静电模拟器,调节放电方式,分别选择+/-6kV(接触放电),+/-10kV(空气放电),对手机指定部位连续放电10次,并对地放电。
每做完一个部位的测试,检查手机功能,并观察手机在测试过程中有无死机,通信链路中断,LCD显示异常,自动关机及其他异常现象。
样机需在与8960/CMU200测试仪起或10086建立呼叫连接的状态与及其它信号联接(电视,收音),MP3播放状态下进行各个放电方式、级别和极性的测试。
检验标准:
不作任何操作可自己恢复的软故障为可接受,不可恢复故障与及用户极容易查觉到的现象不可接受,详见《可靠性测试操作细则》。
备注:
静电释放位置的确定要依据中试及PQE发布的测试点。
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