电子元器件进厂检验规范汇编.docx

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电子元器件进厂检验规范汇编

为能源开釆提供安全保障

电子元器件

进厂检验规程汇编

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审核:

批准:

持有部门:

受控状况:

2014年03月03日发布2014年04月10日实施

XXX有限公司

一、电阻类元器件第3-6页

二、电感类元器件第7-8页

三、电容类元器件第9页

四、二（三）极管类元器件第10-12页

五、集成电子类元器件第13-17页

六、开关类元器件第18页

七、继电器类元器件第19页

八、频率元器件第20页

九、应刷线路板第21页

十、显示器件第22-23页

十一、连接器和插座第24-27页

十二、其他元器件第28-29页

电阻类元器件代替：

共4页|第1页

1范围

本规范规泄了电阻类元器件的技术要求、检验方法、检验手段、设备、工具及抽样方法。

本规范适用于电阻类元器件的入厂检验。

电阻类元器件包括：

电阻、功率电阻、热敏电阻、可调电阻、压敏电阻、精密电阻、排阻、电位器。

2技术要求、检验方法、检验手段、设备、工具及抽样方法

电阻类元器件的技术要求.检验方法.检验手段、设备、工具及抽样方法见表1〜表8。

表1电阻

序号

检验项目

技术要求和检验方法

检验于•段.设备及匸具

抽样方法

1

外观.规格

表面光亮.无秀斑、标识清楚、尺寸大小。

目测

GB2828.1-2003正常一次抽样水平：

IL=1

AQL=4.0

2

电阻值

用数字式万用表测虽电阻的电阻值，其值应在规定范困内，若无允许误差标总:

的，则允许误差控制在±5%范用内。

MY-6型数字式万用表

3

可焊性

用电烙诜对电阻上锡.锡应能牢固地粘附在引脚上不会脱落。

电烙铁（20W）

每批抽査三只

表2功率电阻

检验项目

技术要求和检验方法

检验于•段.设备及匸具

抽样方法

1

外观

表面光亮、无锈斑、标识清楚。

目测

GB2828.1-2003正常一次抽样水平：

IL=1

AQL=4.0

2

电阻值

用数字式万用表测量功率电阻的电阻值，其值应在规定范鬧内.即阻值误差不超过色环所标示的允许误差。

MY-6型数字式万用表

3

功率值

将功率电阻两端接在直流源回路中.慢慢调大电压，使功率电阻两端的功率正好符合规定值.通电1-2小时.然后断电取下电阻，再测虽其电阴值，此时的电阻值应仍在误差范鬧之内。

直流源

4

可焊性

用电烙铁在功率电阻引脚上上锡.所上的锡应能牢固粘附到引脚上不会脱落。

电烙铁（20W）

每批抽査三只

入厂检验规范

会签

标准化

编制

审定.

标记

处数

更改文件号

签字

日期

校对

找准

电阻类元器件入厂检验规范

表3热敏电阻

序号

检验项目

技术要求和检验方法

检验手段、设备及丄具

抽样方法

1

热敏电

阻值

在常温（25C）下.用万用表测址热敏电阻阻值，其值应在规定范用内•即阻值误差不超过±10%»

MY-6型数字式万用表

GB2828.1-2003正常一次抽样水平：

IL=丨

AQL=4.0

2

电阻值随温度变化情况

将万用表打到电阻档.两表笔接在热敏电阻两端。

用热风枪慢慢的给热敏电阻木体加热.则电阻值应该随温度升岛而变大.温度下降而变小。

.

热风枪

MY-6型数字式万用表

3

可焊性

用电烙恢在热敬电阻引脚上上锡.所上的锡应能牢固粘附到引脚上不会脫落。

电烙铁（2OW）

每批抽査三只

表4可调电阻

检验项目

技术要求和检验方法

检验于段、设备及匸具

抽样方法

1

电阻值

用万用表测虽可调电阻的两只固定引脚.

所测阻值的误差应不超过±5%c

MF30型抬针式万用表

GB2828.1-2003正常一次抽样水平：

IL=I

AQL=1.0

2

电阻值的

可调性

将可调电阻的任一固定引脚和中间的引脚接在指针式万用表两端,用螺丝刀慢慢涮节可调电阻上的螺丝.观察万用表指针，这时万用表抬针应随螺丝刀的转动而慢慢连续摆动.不能间断。

MF30型扌旨针式万用表

3

可焊性

用电烙诜在可调电阻引脚上上锡，所上的

锡应能牢固粘附到引脚上不易脫落C

电烙铁（20W）

每批抽査三貝

电阻类元器件入厂检验规范

表5压敏电阻

r-'■；

检验项目

技术要求和检验方法

检验于•段.设备及工具

抽样方法

1

动作阀值

此测试项只适用于压敏电压小于500V的圧敏电阻（因没有升压仪，故：

超过500V的压墩电阻此项无法测试）。

将压敏电阻接在兆欧表两端，一只万用表并联在压緻电阻两端（用直流档1000V）,另一只万用表串联在压墩电阻回路中（用直流档200mA）•

摇动兆欧表，观察电斥到阀值电压后.再看兆欧表的指针，要求指针打到0Q（接近干0Q就可以），同时看电流表是否有凸变，如出现电流凸变表示此压敏电阻合格，反之不合格.

ZC25B-3兆欧表.两个万

用表

GB2S28.1-2003正常一次抽样水平：

IL=1

AQL=4.0

2

耐压试验

将压敬电阻接在耐压测试仪器的输出端之间，将耐圧测试仪的漏电流设宜在10mA或汁算出來的漏电流上.然后慢慢加大电压,当所加电压超过压敏电阻所规定的电圧值时，耐压测试仪器应报警。

CS2670A耐压测试仪

3

可焊性

用电烙铁在压敏电阻引脚上上锡.锡应能

牢固粘附到引脚表面，不会脱落。

电烙铁（20W）

每批抽査三只

表6精密电阻

序号

检验项目

技术要求和检验方法

检验于•段.设备及匸具

抽样方法

1

外观

表而光亮•无锈斑.标色清楚

目测

GB2S28.1-2003正常一次抽样水平：

IL=II

AQL=4.0

2

电阻值

用数字万用表測量精密电阻的阻值,其误

差应在规定的范困之内•误差小于±临。

MY-6型数字式万用表

3

可焊性

用电烙铁对电阻引脚上锡，锡应能牢固粘附到引脚表面，不会脱落。

电烙铁（20W）

每批捕査三只

r-'■；

检验项目

技术要求和检验方法

检验于•段.设备及工具

抽样方法

1

外观

表而光亮.无锈斑.标色淸楚

目测

GB2828.1-2003正常一次抽样水平：

IL=II

AQL=4.0

2

电阻值

用数字万用表依次对排阻的阻值进行测虽，排阻的第一只引脚与其它各引脚之间的电阻值应相等，该值应在允许的规定范用内。

（允许误差不超过5弔）。

MY-6空数字式万用表

3

可焊性

用电烙诜对排阻引脚上锡，锡应能牢固粘附到引脚表面.不会脱落。

电烙铁（20W）

每批抽査三只

表8电位器

序号

检验项目

技术要求和检验方法

检验于•段.设备及工具

抽样方法

1

外观

用肉眼观察待检电位器，表而应完好无损。

目测

2

电阻值

用数字式万用表测址电位器的二个固定臂之间的电阻，其电阻值应在技术要求的阻值范围内,用万用表一根表笔接电位器活动臂,另一根接任意固定臂，同时用螺丝刀转动电位器旋转柄，这时万用表显示的阻值应随转动而由大变小或由小变大，此变化而且是连续的。

MY-6型数字式万用表

GB2S28.1-2003正常一次抽样水平：

IL=1I

AQL=2.5

3

可焊性

用电烙铁在电位器焊点上上锡，锡应能牢固粘贴.不会脱落。

电烙铁（20叨

每批抽査三只

HXFB.935.032

电感类元器件庶福

|共2页|第1页

1范围

本规范规左了电感类元器件的技术要求、检验方法、检验手段、设备、工具及抽样方法。

本规范适用于电感类元器件的入厂检验。

电感类元器件包括：

贴片电感、插件电感、色环电感、磁珠/磁环、共模扼流圈、电压互感器（变

压器）、电流互感器（变换器）

2技术要求、检验方法、检验手段、设备、工具及抽样方法

电感类元器件的技术要求、检验方法、检验手段、设备、工具及抽样方法见表lo

表1贴片电感、插件电感和色环电感

序号

检验项目

技术要求和检验方法

检验于•段、设备及工具

抽样方法

1

外观

用肉眼观察电感外形，表而应该完好无损、

磁芯上的线圈的饶制应排列整齐。

目测

GB2828.1-2003正常一次抽样水平：

IL=I

AQL=4.0

2

电感虽

用LCR数字电桥测虽电感的电感虽.其电感址应在规定的范用内，电感虽的误差不超过±20%。

LCR数字电桥

3

可焊性

用烙铁对电容的引脚上锡.锡应能牢固地粘附在引脚上不会脱落。

电烙铁（20W）

每批抽査三只

表2磁珠/磁环

序号

检验项目

技术要求和检验方法

检验于•段.设备及工具

抽样方法

1

外观

用肉眼观察磁珠/磁环.表面应该完好无损。

目测

GB2828.1-2003正常一次抽样水平：

IL=1I

AQL=2.5

2

可焊性

用烙铁对电容的引脚上锡，锡应能牢固地粘附在引脚上不会脫落。

电烙铁（20W）

每批抽査三只

表3共模扼流圈

序号

检验项目

技术要求和检验方法

检验于•段、设备及匸具

抽样方法

1

外观

用肉眼观察扼流圈.表面应该完好无损。

目测

GB2828.1-2003正常一次抽样水平：

IL=II

AQL=2.5

2

电感虽

用LCR数字电桥（lOKHz档）测量共模扼流圈的电感fit,其电感量应在规定的范围内,电感量的误差不超过±30%。

LCR数字电桥

3

可焊性

用烙铁对电容的引脚上锡.锡应能牢固地粘附在引脚上不会脱落。

电烙铁（20W）

每批抽査三只

表4电压互感器（变压器）、电流互感器（变换器）

序号

检验项目

技术要求和检验方法

检验于•段.设备及工具

抽样方法

1

外观

标识清晰正确、插针表面无锈浊、断裂、歪曲现象等。

目测

GB2828.1-2003正常一次抽样水平：

IL=II

AQL=2・5

2

电性测试

根据检验器件上的规格型号确定输入与输出值。

将交（直）流源设習到要求的电压或电流值•并接在被测器件上，启动交（直）流源，然后测址器件输出电压或电流（备注：

测试输出电流时应串联一个功率电阻）

交（直）流源、MY-6数字式万用表

3

绝缘阻抗

输入端对地、输入端对输出端.地端对输出端之间的绝缘电阴大干500兆欧

兆欧表

每批检三件

1

耐压测试

输入端对地、输入端对输出端、地端对输出端之间打交流3KA/5mA/lmin无击穿无闪烁现象。

工频耐压机

每批检三件

本规范规立了电容类元器件的技术要求、检验方法.检验手段、设备、工具及抽样方法。

本规范适用于电容类元器件的入厂检验。

电容类元器件包括：

铝电解电容、钮电容、独石电容、贴片电容、安规电容、瓷片电容流

2技术要求、检验方法、检验手段、设备、工具及抽样方法

电容类元器件的技术要求、检验方法、检验手段、设备、工具及抽样方法见表1°

序号

检验项目

技术要求和检验方法

检验于•段.设备及工具

抽样方法

1

外观

表面光亮、无锈斑、标示淸楚。

目测

GB2828.1-2003正常

一次抽样水平：

IL=I

AQL=4.0

2

电容虽

用数字电桥测虽电容的电容虽.其电容虽值应在规定的范围内,即电容址误差不超过电容器上所标示的允许误差。

未注明允许误差按±20%误差控制，其它电容均按±10%误差控制。

数字电桥

3

漏电流（只用于铝电解电容）

电解电容漏电的计算公式:

Iu=C*V*K,Iu是漏电流,单位:

uA，K=0.02-0.035.列如IOOuFIOOV的铝电解电容是

IU=0.0001（F）*100（V）*0.035=0.0014（A）,测试要求充电时间80S放电时间9S电压设宜不超过耐压值的1・5倍，将帯测电解电容固定在测试板上，注意极性不要接反，启动测虽按钮.若显示PASS,则合格.若报警则不合格。

电解电容漏电流测试仪

•1

耐斥测试

耐压值参照被测电容的耐压值，（瓷片电容、安规电容都可用交流档）测试要求：

漏电流5mA、60S无击穿无打火。

耐乐测试仪

每批抽査三只

5

高温老化

将待检电容放入烘箱老化，温度559.老化16h后.元件在恢复标准大气压下至少

lh.方可取出进行测试.应合格。

烘箱

全检

6

可焊性

用烙铁对电容的引脚上锡，锡应能牢固地粘附在引脚上不会脱落。

电烙铁（2（W）

每批抽査三只

入厂检验规范

会签

标准化

编制

审定

标记

处数

更改文件号

签字

日期

校对

批准

1范围

本规范规左了二（三）极管类元器件的技术要求、检验方法.检验手段、设备、工具及抽样方法。

本规范适用于二（三）极管类元器件的入厂检验。

二（三）极管类元器件包括：

稳压管；三极管、达林顿管；整流二极管；发光二极管：

TVS、TVP-极管。

2技术要求、检验方法、检验手段、设备、工具及抽样方法

二（三）极管类元器件的技术要求、检验方法、检验手段、设备、工具及抽样方法见下表。

号

检验项目

验收标准及操作步骤

检验方法、设备及工具

抽样方法

1

包装

包装良好,随附出厂时间及检验合格证

目测

全检

2

标识

标识完整、准确、无错误

目测

每批抽查三只

3

标识附着力

标识淸晰，用浸酒祷的棉球擦拭三次后无变化

酒精棉球

4

外观检查

无变形、无破损、无污迹，引线无氧化现象

目测

5

尺寸及封装

符合设计要求

游标卡尺

6

引出端强度

水平拉力10N,时间5S,无可见损伤.（备注：

贴片元件除外）

测力计

每批抽查•只

7

可焊性

温度260±10aC，时间2S,渗锡衣而光滑，无起珠和波纹状

电烙铁（20W）,焊锡丝

每批抽查三只

8

耐焊接热

温度260±10°C,浸锡时间5S后，外观、电气与机械性能良好

电烙铁（20W）,焊锡丝

9

寿命

对发光亮度•致均匀的发光二极管进行二小时的寿命检验，在这二小时内可观察正在进行检验的发光二极管，对亮度有没有变化，淘汰发光变暗的或不发光的，时间到，关闭电源，取下发光二极管，这些发光二极管可视为合格。

（备注：

只适用于发光二极管）

发光二极管测试治具,3V的稳压源

GB2828.1-2003正常•次抽样水平：

il=hAQL=2.5

10

高温老化

将待检二，三极管放入烘箱老化，温度55°C,老化16h后，元件在恢复标准大气条件下，至少保持1小时，方可取出进行测试，应合格.

烘箱

全检

ZD9U0

二（三）极管类元器件

HXFB.935.034

代替：

共3页第2页

序

检验项目

验收标准及操作步骤

检验方法、设备及工具

抽样方法

11

稳压管电

性能

操作步骤：

1.CA4810A半导体管特性图示仪，对应元件参数将各个开关设置在X轴0.05V/DIV—50V/DIV,Y轴设置20UA./DIV—1A/DIV,功耗电阻设置50Q—1KQ.

2.将半导体特性图示仪显示屏上的光点调至座标的0点，稳压管的正极插入C孔，稳压管的负极插入E孔。

3.调节峰值电压调节器，读取座标曲线在X轴上的转折点电压，电压值必须否合对应元件参数.

4810晶体管特性图示仪

GB2828.1-2003正常•次抽样水平:

il=hAQL=4.0

12

整流二极管、TVS

二极管电性能

操作步骤：

1.CA4810A半导体管特性图示仪，对应元件参数将各个开关设置在X轴0.05V/DIV—50V/DIV,Y轴设置20UA/DIV—1A/DIV,功耗电阻设置50Q—1KQ.

2.将半导体特性图示仪显示屏上的光点调至座标的0点，整流二极管的正极插入E孔，整流二极管的负极插入C孔（反向特性曲线）.

3.将半导体特性图示仪显示屏上的光点调至座标的0点，整流二极管的正极插入C孔，整流二极管的负极插入E孔（正向特性曲线）。

4.调节峰值电压调节器，读取座标曲线在X轴上的转折点电压，电压值必须否合对应元件参数.

4810晶体管特性图示仪

GB2828.1-2003正常i次抽样水平：

il=hAQL=4.0

13

发光二极管电性能

操作步骤：

1.将3V的稳压源接在发光二极管的测试治具上（注意：

正负极不要接反）.

2.将待检测的发光二极管装在测试治具上（注盘:

正负极不要接反）.

3.观察发光二极管是否亮了，同时观察它的亮度是否符合我司要求.

发光二极管测试治具,3V的稳压源

GB2828.1-2003正常…次抽样水平：

il=iiAQL=2.5

15

三极管、达林顿管电性能

操作步骤：

1.CA4810A半导体管特性图示仪，各个开关设置

峰值电压范围：

0-5V极性：

正（+）

功耗限制电阻:

250QX轴:

0.5V/度

Y轴：

1mA/度阶梯信号：

重复

极性:

正（+〉阶梯选择：

10UA/级

阶梯调零：

零电平阶梯级数：

10级

2.将半导体特性图示仪显示屏上的光点调至座标的0点，三极管基极插入B,集电极插入C,发射极插入E.

3.调节峰值电压调节器.

电流放人倍数：

旺严第n根水平线y轴显示格数*电流/度开关/n*阶梯开关

4810晶体管特性图示仪

GB2828.1-2003正常•次抽样水平:

il=hAQL=4.0

入厂检验规范

会签

标准化

编制

审宼

标记

处数

更改文件号

签字

日

校对

批准

ZD9110|二（三）极管类元器件入厂检验规范HXFB.935.034

二（三）极管类参数，如下表:

TVS二极管

型号规格

反向电压

（VR）

反向漏电流（IR）

X轴

Y轴

功耗电阻

SMBJ5.O（C）A

5V

800UA

lV/div

0.ImA/div

lkQ

SMBJ8.O（C）A

SV

50UA

2V/div

0.02mA/div

lkQ

SMBJ9.O（C）A

9V

5uA

2V/div

1UA/div

lkQ

SMBJ15（C）A

15V

5uA

2V/div

1UA/div

lkQ

SMBJ24（C）A

24V

5uA

5V/div

1UA/div

lkQ

SMBJ30（C）A

30V

5uA

5V/div

1UA/div

lkQ

SMBJ6.5（C）A

6.5V

500uA

lV/div

0.ImA/div

lkQ

SMBJ7.5（C）A

7.5V

100UA

lV/div

0.ImA/div

lkQ

SMCJ18（C）A

18V

5uA

2V/div

1UA/div

lkQ

P6KE68（C）A

58.10V

5uA

lOV/div

1UA/div

lkQ

P6KE200（C）A

171V

5uA

50V/div

1UA/div

100kQ

整流二极管

型号规格

反向电压

（VR）

反向漏电流（IR）

X轴

Y轴

功耗电阻

IN5819

40V

1mA

lOV/div

0.ImA/div

100kQ

IN1007

1000V

5uA

50V/div

1UA/div

100kQ

IN4148

100V

5uA

20V/div

1UA/div

100kQ

IN4001

50V

5uA

lOV/div

1UA/div

100kQ

型号规格

正向电压

（VF）

正向电流（IF）

X轴

Y轴

功耗电阻

IN5819

0.6V

1A

0.lV/div

50mA/div

250Q

IN4007

1.IV

1A

0.lV/div

50mA/div

250Q

IN4148

IV

10mA

0.lV/div

1mA/div

250Q

IN4001

1.IV

1A

0.lV/div

50mA/div

250Q

稳丿耒二极管

型号规格

正向电压（VF）

正向电流（IF）

X轴

Y轴

功耗电阻

IN4731

4.3V

1mA

lV/div

0.5mA/div

lkQ

IN4743

13V

0.25mA

2V/div

0.ImA/div

lkQ

标记处数更改文件号签字日期

ZD9110

集成电子类元器件

HXFB.935.035

1范围

本规范规泄了集成电子类元器件的技术要求、检验方法、检验手段、设备、工具及抽样方法。

本规范适用于集成电子类元器件的入厂检验。

集成电子类元器件包括：

集成芯片包括（逻辑IC、时钟IC、比较器IC、放大器IC、Flash闪存、单机片、数字信号处理器、微处理器、存储器）、三端稳压器、光耦、AC-DC电源模块、DC-DC电源模块

2技术要求、检验方法、检验手段、设备、工具及抽样方法

集成电子类元器件的技术要求、检验方法、检验手段、设备、工具及抽样方法见表1〜表10。

序号

检验项目

技术要求和检验方法

检验手段.设备及工具

抽样方法

1

外观

用肉眼观察集成芯片，表面有无损伤、管脚无弯曲、锈斑、氧化.芯片木体丝印与元件清乐相对应。

目测、元件淸乐

GB2828.1-2003正常一次抽样水平：

IL=H

AQL=2.5

2

高温老化

将待检集成芯片放入烘箱老化，温度55C,老化16h后，元件在恢复标准大气条件下，至少保持1小时.方可取出进行测试.应合格。

烘箱

全检

3

功能测试

（此项只适用于

NZK329S上的集成芯片）

请参照N2K329S集成芯片测试操作规

程，文件图号:

HXFB.980.058

NZK329S集成芯片测