现代岩矿测试技术doc.docx

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现代岩矿测试技术doc

课题名称：

岩矿测试和分析技术发展

课题摘要：

了解现代岩矿测试基本技术

关键字：

荧光（XRF）技术中子活化分析核磁共振离子探针辐射探针

结果综述：

随着原子吸收光谱、等离子体发射光谱、X射线荧光光谱、仪器和放射化学分离中子活化分析等技术的广泛应用，电感耦合等离子体质谱技术的出现，形成了快速简便、低成本、高灵敏度、宽动态范围和多元素同时测定的技术组合。

屯子探针、激光探针、质子探针、同步辐射探针和离子探针技术的开发和应用，使微区多元素分析获得了飞速发展。

1、整体和微量分析技术

1.1X线荧光（XRF）技术

x射线荧光（XRF）技术是一种应用较早（20世纪40年代），且至今仍在广泛应用的多元素分析技术。

XRF解决了矿物中化学性质极为相似的Nb和Ta、Zr和HF及稀土分量的测定问题，在20世纪70-80年代提供了岩矿分析中工作量最大、最繁重、最耗时的主、次量组分的快速全分析，并在20世纪80〜90年代大规模地球化学勘探和国际地球化学填图的多元素分析中成为最快速、最经济的主导方法,为高精度、海量地球化学数据的获取作出贡献。

现在，XRF之所以仍被推崇不仅因为它仍是主、次量元素分析精度、准确度和自动化程度最高的多元素分析方法，还由于它是一种环境友好的“洁净”分析技术。

全反射XRF（TP,XP,V）是近年来发展起来的一种仅需极微量（UL级）样品的超痕量分析技术（10-10〜10-15g）,同步辐射TRXRF的检出限可达pg（10-12g）水平，而便携式TRXRF谱仪（低功率M0管和Si—PIN探测器他可达pg（10-12g）范围的检出限。

TRXRF在环境、生物、材料、考古、刑侦和地学等稀少、罕见样品分析中有重要应用价值，在海底矿物、海洋沉积物间隙水及海水痕量示踪元素分析中也具有广阔应用前景。

1.2ICPAES技术

电感耦合等离子体发射光谱（1CPAES）技术的引入使多元素分析技术成为地质分析方法体系的主体，是当今地质分析中分析元素范围最广、含量跨度最大的多元素同时分析方法。

ICPAES的最大贡献是最早解决了单个痕量稀土元素的测定问题。

ICPAES在主元素测定精度方面还稍逊于XRF,但在痕量元素（特别是稀土元素）测定和对不同类型样品的适应性方面是XRF所远不及的。

1.3高分辨和多道收集ICP—MS技术

电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）被称为20世纪元素分析技术最重要的进展。

由于其高灵敏度和谱线相对简单，已经成为地质分析中痕量及超痕量元素（包括稀土和伯族元素）分析最强有力的工具。

传统的地质年代学技术主要是以K—Ar,U—Pb,Th—Pb,Pb—Pb,Rb—Sr,Sm—Nd,Re-OS为主的热电离质谱（TIMS）和负离子质谱（NIMS）方法，虽然在许多方面仍具有优势，但其分析过程过于耗时费力。

高分辨率和多收集器ICPMS（HR—ICPMS和MC一ICP—MS）是稳定同位素分析中最热门的仪器类型和技术方法之一，在地质年代学和环境地球化学研究中起着重要作用。

激光（LA）熔样的LA-ICP-MS是一种高灵敏度的激光及低能离子微束分析技术，也是针对单颗粒错石的一种重要微区地质年代学分析方法。

与SNM、SRXRM和离子探针相比，LA—ICP

—MS造价低，是典型的实验室型仪器，具有广泛的应用前景。

1.4中子活化分析（NAA）

中子活化分析（NAA）曾是地质分析中最重要的痕量（特别是REE）元素分析手段。

ICPAES和ICPMS的出现取代了它的地位，但仍在许多特殊样品、特定元素分析、标样定值和取样误差研究中发挥着重要作用。

1.5热电离质谱（TIMS）

热电离质谱法（TIMS）是基于经分离纯化的试样在Re、Ta和Pt等高熔点的金属表面上通过高温加热产生热致电离的一门质谱技术，主要应用于地球与宇宙化学及地质年代学等领域的高精度同位素比值测定，也可用于原子量测定及高精度的同位素稀释分析。

TIMS仪器主要经历了由单接收器到多接收器的发展过程。

多接收器的问世，使得高精度、高准确度、快速的同位素比值测定成为可能。

目前，地球科学领域TIMS方法应用的进展有Sr-Nd同位素稀释分析的分馅校正，Re-Os负离子质谱法测年，IDTIMS错石U—Pb定年，TIMS铀系定年的进展，B、CI稳定同位素测定和La-Ce法测年的进展等多个方面。

1.6加速器质谱计（AMS）

加速器质谱计（AMS）是20世纪70年代后期发展起来的一种分析微量核素和探测稀有粒子的新方法。

与其它分析技术不同的是，AMS是一种直接记录原子个数的方法，可以测量非常低浓度的核素样品，而其它分析方法只能依靠一些特定的信息来获得被分析的核素。

AMS的工作原理是把粒子加速到高能状态（n+MeV）,打碎各类分子，采用粒子识别技术去除同质异位素，因此不需要等待被测定核素的蜕变，就可以直接计数其中存在的放射性原子数，如10Be,14C,26AL,36cl,

1291等。

AMS具有灵敏度高、消耗样品量少和可提高测试效率等3个突出的优点，是近年来活跃的宇宙成因核素定年技术的基础。

AMS对宇宙成因核素的精确测定,为定量研究古气候、古海洋、风化侵蚀速率、沉积速率、地下水循环、炷类运移速率、地质构造活动等领域，提供了新的手段。

1939年，Alvarez提出了AMS工作原理，但只限于进行H同位素分析。

1977年，Miller提出用回旋加速器分析地质样品中的lOBe和14C；同年，美国Rochester和加拿大McMaster大学相继发表了用串联加速器分析lOBe和14C的工作。

1980年以来，AMS技术在全球得到广泛应用，成功地测量了加lOBe,14C,26AL,36cl,1291等宇宙成因核素，给利用这些核素作为示踪剂和测年带来新的活力，取得了更深层时间信息，开拓了一系列具有深远意义的研究领域。

目前，AMS本身也有了很大的发展，不久的将来将能够精确测量32si、39Ar和41Ca等核素，并应用于地质科学研究。

AMS核素的地质学应用包括：

①地表暴露年龄，应用于冰川年代学、过去几个百万年的构造年代学（36CL、26AKlOBe）、火山喷发定年（36CL）、河流湖泊和海相阶地的定年、剥蚀速率；②沉积物的埋藏定年；③气候和磁场变化历史；④放射性碳定年；⑤俯冲带沉积物定年；⑥水文学。

Muzikar等（2003）专文介绍了AMS的工作原理，大气圈、水圈和岩石圈中宇宙核素的产生和迁移以及应用AMS解决地质问题的途径，特别说明了AMS在地貌学、构造地质学、气候学、水文学和地质年代学等领域的应用。

在国家自然科学基金的资助下，中国原子能科学研究院、北京大学相继建立了加速器质谱计实验室。

1990年以来，中国地质大学（武汉）、中国原子能科学研究院、中国科学院盐湖研究所、北京大学先后开展了AMS研究。

为配合全球变化的研究，了解我国第四纪以来气候变化的趋势，需要掌握不同地区过去气候变化的高分辨率记录。

北京大学与中国科学院合作，利用岩溶沉积物作为获取古气候变化信息的载体，对桂林盘龙洞采集的石笋做了微层理分层取样AMSI4C测年，对过去3x104a来的气候变化做了精细研究。

2、微区成分和结构分析技术

微区分析技术是物质微观研究必不可少的手段。

除通常使用的电子探针外，扫描质了探针（SPM）或称扫描核探针（SNM）、同步辐射x射线探针（SPXRM）和激光熔蚀（LA）的ICP-MS,是当今最先进的微区分析技术。

与电子探针主要用于分析微区中的主、次量元素不同，这些新技术都是微区痕量元素分析手段，具有微米级的空间分辨率和ug/g级检出限水平，不仅可用来进行结核、结壳微米级层带生长速率及海底环境变迁的研究,而且在利用具有时钟结构的海洋微体生物进行古海洋、古环境再造研究中具有广阔应用前景。

2.1电子探针（EPMA）和扫描电镜（SEM）微区分析

以电子探针分析（EMPA）为主的电子微束技术是最早发展的微区分析手段，具有纳米级的空间分辨率和完善的扫描功能，能获得元素含量、分布和结构等多方而信息。

EMPA和SEM是地质分析中应用最普遍的显微分析和观察技术。

2.2透射电子显微镜（TEM）

透射电子显微镜（TEM）己经成为物质成分和结构分析中一种常规的手段。

能量过滤透射电镜（EFTEM）成像在常规透射电镜（CTEM）下就可以完成，一般需要1到儿十分钟，可以形成具有纳米级分辨率的二维（平面）成分分布图.EFTEM成像，结合电子能量损失谱（EELS）、亮场和暗场成像、高分辨透射电镜（HRTEM）、X光能谱（EDS）和电子衍射，可以给出在电子束照射下稳定的任何样品的化学成分和结构特征。

Moore等（2001）利用配有场发射枪（FEG）电了源的常规透射电镜（CTEM）中的能量过滤（EFTEM）成像技术，研究了出溶辉石局部化学分布特征。

高分辨透射电子显微镜（HRTFM）的出现是透射电镜技术的发展，常用于矿物和材料微结构的研究。

基于透射电子显微镜的电子衍射是一种独立的结构分析方法，提供了非常基本的矿物结构原始数据。

2.3非破坏性X射线及高能粒子微束分析技术

非破坏性x射线及高能粒子微束分析技术,包括同步辐射X射线探针（SRXRM）和扫描核探针（SNM）或扫描质子探针（SPM）等，虽然其空间分辨率远不如电子微束（差12个量级）,但检出限较低（可至ug/g级），弥补了电子微束技术检出限的不足，是一种先进的微区主、次、痕量元素分析技术，甚至可分析活体中的痕量元素。

SNM还可与核反应分析（NRA）及卢瑟福背散射（RBS）结合分析低至H的所有元素。

SNM的高频随机扫描功能大大增强了其微区元素分布分析的能力，可快速获取精美的元

素微区分布图。

由于x射线聚焦的困难，SRXRM的空间分辨率还较差，但可与X射线吸收光谱（XAS）技术相结合进行元素价态和形态研究。

20世纪90年代初，我国SNM和SRXRM己先后投入运行。

2.4中子活化分析（SHRIMPII或SIMS）

国际上的离子探针质谱有澳大利亚的SHRIMP（高灵敏度高分辨率离子微探针,1980年研制成功，专为错石定年设计）、英国的ISOLAIO一54和法国的IMS3f一6f系列（目前为Came・cal270）等，应用的范围除了错石U—Ph、Sm—Nd和Rb—sr年龄测定外，还进行sr、Pb、Nd、Os、OS、C、Si、B、Ca、Ti和Ni等同位素研究，成为同位素领域研究的重要工具。

SHRIMP在性能上具有优势，因此，其它型号的离子探针计常被称为“常规离子探针质谱计”。

高灵敏度、高分辨率的二次离子探针（SHRIMPII或SIMS）,是一种低能离子微束（元素及同位素）分析技术，目前主要用于针对单颗粒钻石的微区定年。

离子探针的空间分辨率只有几到几十um水平，但检出限非常低，是最典型的微区痕量分析技术。

离子探针（shrimill）在包括全部稀土元素在内的痕量元素分析方面远胜于SNM和SRXRM,并可进行同位素测量，可进行元素或同位素的深度分布分析。

2.5红外光谱和拉曼光谱

近年来，仪器联用等新技术的不断发展，使傅立叶变换红外光谱法（FTIR）的应用范围口益扩大，成为鉴别未知污染物和环境监测的重要工具，在水环境、大气环境（无机物、有机物）、固体和土壤环境的环境化学、环境监测、环境毒理学、突发性环境污染事故应急处理、“防化学战争”和“反恐怖活动”应急监测等领域中得到广泛的应用。

FFIR法具有测量精度高、杂散光低、分辨率高、光通量大、信号多路传输、测定速度快和测量波段宽等特点，所有对红外产生吸收的无机和有机化合物都可用FTIR进行分析鉴定。

傅里叶变换衰减全反射红外光谱法（ATR-FHR）是分析物质表层成分结构信息的一种技术。

随着FTIR仪的应用及化学计量学的发展，ATR-FIIR成为用传统透过法制样效果不理想（或制样复杂）的样品及表层结构分析的有利工具和手段。

显微激光拉曼光谱可以反映被分析对象表面及其以下约50mm范围内的信息，既具备分析炭结构的能力，X能够进行微区（小于lum）分析，很好地满足了对复合材料中不同组元炭结构分析的要求。

显微共焦拉曼光谱仪在宝石鉴定领域内已经成为强有力、甚至是最终的鉴别手段。

拉曼光谱与传统鉴定手段相比，更可靠、快速，可以做原位、无损、无需制样的测量。

它尤其适用于宝石中细小包裹体的测量，准确了解包裹体的成分、结构和对称性。

目前，世界著名宝石协会的研究实验室，如英国FGA、美国GIA等，均用其作为权威性的分析工具。

红外光谱和拉曼光谱学的结合是研究和探讨水热流体结构的最佳选择。

2.6核磁共振

NMR是低频电磁波（无线电波）与物质共振相互作用的一种基本物理现象。

所有已发现的共振现象中，NMR信号具有最高的频率分辨率，并且直接与宏观物质中原子核所处位置的化学环境和运动状态密切相关。

1945年Bloch和Purcell教授观察到宏观物质NMR信号，此后NMR迅速在化学中得到广泛应用（1952年Bloch和Purcell教授获诺贝尔物理奖），极大地推动了化学学科的发展。

60、70年代傅里叶变换技术的引人和二维波谱学的创立（1991年Ernst因此获诺贝尔化学奖）使NMR研究领域进一步扩展到分子生物学.这一时期发展起来的固体高分辨NMR技术和NMR成像，为材料科学的发展开辟了一条新的途径。

3、表面形貌和结构分析技术

表面形貌和结构分析技术表面观察与分析是进行表面科学研究的基础。

表面分析技术，除了电子探针（EPMA）和离子探针（IMMA,SIMS或SHRIMPII）外，还有一系列谱学手段，主要有光电子能谱（ESCA）、X射线光电子光谱（XPS）、x射线吸收光谱（XAS）、低能电子衍射（LEED）、俄歇电子谱（AES）、电子能量损失谱（EELS）、低能电子能量损失谱（LEELS）、电离损失谱（ILS）和出现电势谱（APS）,扩展x射线吸收精细结构（EXAFS）和X射线吸收近限结构（XANES）-依同步辐射技术而建立起来的元素价态分析方法，场离子显微镜旧M）,以及原子级（纳米）分辨率的显微察与原子操纵技术如扫描隧道显微镜（SWM）和原了力显微镜（删）等。

STM和AFM是纳米科技的技术基础。

通过这些手段可以了解表面儿十个原子范围和微区（1Um或更小）的成分和化学态。

3.1描探针显微镜（SPM）

1933年德国Ruska和Knoll研制了第一台电了显微镜。

继后，许多用于表面结构分析的现代仪器问世，如透射电子显微镜（TEM）、扫描电子显微镜（SEM）、场离子显微镜旧M）、俄歇电子能谱仪（AES）、光电子能谱（ESCA）等。

1982年，Binni9和Rohrer成功研制了扫描隧道显微镜⑸M）,使人们第一次观察到单个原子在物质表面的排列方式和与表面屯子行为有关的物理、化学性质。

从此，STM成为观察物质表面微观结构和形貌的重要工具。

STM是继高分辨透射屯子显微镜、场离子显微镜之后第三种以原子尺度观察物质表面结构的显微镜，其分辨率水平方向可达0.lnm,垂直方向可达0.OlnmoSTM不受其他表面结构分析仪器的真空测试环境的限制，可在大气、液体环境下，直接观察到物质的表面特征。

STM要求样品表面能够导电，可以直接观察导体和半导体的表面结构。

应用STM研究化学反应己经成为一个很新、很重要的方向，如针尖引起的化学反应问题。

针尖具有极性，会引起化学反应，并影响化学键。

、这可以看作是针尖对化学反应的催化作用。

利用STM控制反应的气氛和参加反应物质的量，就可以在单个原子水平上研究化学反应。

这种研究同时也将更深入地解释纳米加工技术。

金属在其表面的生长过程及生长机理的研究，是STM研究的新趋势。

应用STM可以观察化学反应中金属表面质量的迁移，另一种物质在金属表面形成不同结构时所引起的不同反应机理。

STM可以观察表面润滑润湿过程，即一种物质在另一

表面形成的结构。

1986年，Binnig与Quate和Gerber等合作发明了原子力显微镜（AFM）。

AFM通过检测原子间的作用力而获得样品（绝缘物质）表面的微观形貌。

1988年，国外开始对AFM进行改进，研制出激光检测原子力显微镜（laser—AFM）。

AFM的横向分辨率可达2nm,纵向分辨率可达0.Olnm。

AFM对工作环境和样品制备的要求比电镜的低得多，对样品表面的导电性没有要求。

AFM的工作环境越来越多样化，包括真空和大气，并可进行湿度控制。

可以加热或冷却样品，或对样品进行气体喷雾，甚至可以在溶液中观察样品。

AFM可以进行原子和分子的操纵、修饰和加工，设计和创造新的结构和物质。

中国科学院化学所白春礼等人在1988年初成功研制了国内第一台集计算机控制、数据分析和图像处理系统于一体的扫描隧道显微镜。

1988年底又研制出我国第一台原子力显微镜。

继后又成功研制出国内首台全自动Laser-AFMo浙江大学现代光学仪器国家重点实验室研制了新型的卧式原子力显微镜，具有一定的应用前景。

以STM和AFM为基础，乂衍生出一系列新型的显微镜，如摩擦力显微镜（LFM）、扫描电容显微镜（XFM）、磁力显微镜（MFM）、扫描电化学显微镜（SECM）、扫描近场光学显微镜（SNOM）、弹道电子发射显微镜（BEEM）、扫描离子电导显微镜（SICM）等。

它们都是用一个对物理量（如力场、电场和磁场）极其敏感的探针作为信号传感器，统称为扫描探针显微镜（SPM）或扫描力显微镜（SFM）o以STM与AFIVI为代表的SPM技术，是纳米技术发展的重要基础。

而在SPM家族中，乂以AFM的应用领域更为广泛。

LFM可以分析研究材料的摩擦力。

MFM已成为分析研究磁性材料尤其是磁记录介质的强有力工具。

EFM可以分析研究样品表面电势、薄膜的介电常数和沉积电荷，在观察形貌的同时进行电流成像等。

采用特殊的针尖可以测量材料的微硬度和纳米/微米刻痕。

对SPM的针尖作化学修饰（如自组装单分子膜修饰、生物分子修饰、电化学方法修饰和纳米碳管材料修饰等），进行分子功能的设计，则成为一种新的显微镜——化学力显微镜。

化学力显微镜加入了“化学场”，可以大大提高和改善SPM的空间分辨率和物质识别能力。

纳米技术是20世纪80年代发展起来的高新科技。

各发达国家如美国、口本和西欧等都将纳米技术作为21世纪新的产业革命的核心，我国也在科技发展战略中将纳米技术列为优先发展的领域。

原子力显微镜（AFM）及其SPM家族的发展,为纳米尺度地质过程的直观研究提供了可能，在地质科学研究领域的应用有待进一步拓展。

AFM能够在溶液等环境下工作，提供了一个原子、分子级观测研究晶体生长界而过程的全新有效的工具。

近几年国外学者已经开始利用AFM进行晶体生长机理的研究，特别是研究生长界面的动态过程，己经对传统的晶体生长理论与模型带来了冲击与挑战。

通过在分子水平上控制结晶的过程，可以合成更为复杂的微结构。

研究粘土矿物表面组成与结构的手段和方法很多，但都有一定的局限性。

AFM能够分辨粘土矿物硅氧四面体片上的六方环结构及八面体片的羟基团，是研究粘土矿物表面反应、改性及溶蚀作用的重要手段。

在矿物加工领域，AFM用于矿物表面原子级的显微在线分析，可测量浮选体系中矿物的范氏力、水化力和疏水力，将在浮选溶液化学、浮选电化学、凝聚与

分散等研究中得到广泛应用。

3.2全自动控制显微镜技术

显微镜是一种应用非常广泛的光学仪器。

随着现代地质科学研究和应用的需要，传统的手工控制显微镜不能满足需求，迫切需要由计算机来精确控制其动作的全自动控制显微镜。

全自动控制显微镜技术包括硬件和软件两部分。

硬件部分是在普通显微镜基础上加上XYZ轴三向自动控制平台（实现载物台两轴、聚焦第三轴自动控制），较多控制功能的显微镜还可对视场光阑、物镜、聚光镜、光圈等进行自动控制、调节。

软件部分包括显微镜自动控制、显微图像采集、处理以及分析模块。

地质与材料科学的发展要求显微镜不仅有更高的分辨率，而且要能对样本进行无损层析，进而能完整精确地重现显微样本的三维结构，因此有必要获取物体表面的深度信息；显微图像多层叠合技术将满足这一要求。

4、有机与形态分析技术

随着能源矿产、环境地学和生态地学发展的需求，与有机地球化学、环境地球化学和生物地球化学相关的有机与形态分析技术得到迅速发展。

生命和环境科学的发展表明，有机、生物材料是一个更为复杂的物质体系，一个更为广阔的研究领域，所用的技术方法也更为多样，如气相色谱（GC）、气质联用技术（GC/MS）、高效液相色谱（HCLC）、毛细管电泳（CE）、红外光谱（FIRS）、激光拉曼光谱（1LS）、超临界萃取（SPE）和化学传感器等。

气相色谱一同位素质谱、气相色谱一质谱一质谱、高效液相色谱一质谱和高效液相色谱一ICPMS等仪器的联用是当今有机分析技术发展的一个特点。

5、野外或现场分析技术

随着人类活动和研究范围的扩大及科学技术条件的进步，现场分析或流动实验室技术得到迅速发展。

在地外星体地球化学探测方面，早在60年代末、70年代初，前苏联和美国就巳利用XRF测定月球表面的化学组成；20世纪90年代以来又将质子X射线光谱仪（APXS）送上火星，用于火星土壤和岩石化学成分的测定；为了探测P/Wirtanen彗星核的组成，欧洲航天局2003年发射的Rosetta把气相色谱送上太空；人们还计划用基于CCD的XRF谱仪测定月壳主要元素的分布。

在深海矿产资源调查方面，船载现场分析技术已有许多成功应用的实例，水下直接探测技术也一直在研究中。

在高山大漠的地质勘探中，野外现场分析（包括金属矿普查勘探中的现场分析、矿山现场分析、钻探现场的岩心分析、测井技术等）也已相当普遍。

快速、准确分析是当今现场分析追求的重要目标。

6、岩矿分析技术的发展趋势

20世纪60年代前，岩矿分析主要以传统化学方法为主。

70〜80年代，随着地质学家对岩矿中痕量元素研究兴趣的增长和分析技术的进步，多种仪器分析技术得到迅速发展。

90年代以来，电子计算机的普遍应用使岩矿分析进入自动化、智能化和信息化时代。

x射线荧光（XRF）技术的智能化、电感耦合等离子体发射光谱（ICPAES）的进一步完善与电感耦合等离子体质谱（ICPMS）的发展，使岩矿分析格局发生重大变化；现代化的多元素仪器分析技术已成为主、次和包括全部稀土元素在内的许多痕量元素日常分析的主角，地质整体分析技术己相当成熟。

随着地学研究领域的深入与扩展，岩矿分析的对象已不仅仅是传统的无机固态岩石及矿物，气、液、流体包体、软物质、冰心、生物体及化石等都成为地质分析的对象，元素组成、结构测定、形貌观察、形态、价态、同位素、有机成分等都成了岩矿分析的内容，微区原位分析及元素微区分布特征、同位素比值和年代学测定等都成了现代岩矿分析的重要组成部分，“地质分析”（Geo—analysis）成为岩矿分析的现代用语。

微区原位分析已成为地质分析的重要发展方向；同位素分析己成为地质与环境分析的新热点；自动化、智能化的多元素同时分析技术将成为整体分析（主、次、痕量元素）日常应用的主要手段；无污染的“绿色”分析技术将成为未来测试技术发展的重要前提。

参考文献：

1王毅民:

岩石矿物元素的整体分析、显微分析与分布分析［J］；分析化学；1992年07期

2王毅民，王晓红;我国地质分析中X射线光谱技术的回顾与展望［J］;岩矿测试;2000年04期

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4孙延绵；岩矿测试技术现代化标志［J］;地质与勘探；1981年03期

5段忆翔；金巨广；黄本立；TCP原子荧光