RCCM 3卷 中文版部分.docx

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RCCM3卷中文版部分

RCCM3卷中文版-部分）

MC2100总则

MC2110适用范畴

本章阐述的一样要求适用于本规则规定的超声波检验。

这些要求适用于单探头（具有一个或两个压电晶片）反射法。

超声波检验涉及到的参照技术，除非另有规定，均以手工来完成。

在实施之前，也可向承包商提出给出的总结结果至少是等效的其它技术。

提交的技术应附有符合MC2170的支持性讲明。

MC2120一样要求

MC2121检验人员资格

超声波检验应由按MC8000规定取得资格证书的人员来实施。

MC2122超声波检验文件

超声波检验必须按照一系列适当确认的文件（操作规程、工序卡、细则卡）所规定的要求进行。

这些文件应符合适用章节的要求，并至少包括以下内容：

——被检验物项的类型、尺寸、范畴和所用材料的类型；

——本规则和其它适用文件的有关章节的编号；

——检验设备：

脉冲发生器、探头、耦合介质、自动检验仪器（如使用）、标定试块和对比试块。

——检验实施条件：

试验区域和表面条件；

——检验规程：

波的传播角度和传播方式（接触法或浸液法）、扫查条件（表面、方位和检验方向）；

——记录水平；

——验收准则。

MC2130超声波检验设备

MC2131超声波检验仪器

脉冲反射型发生器：

可配用标称频率为1～6MHZ的探头，此频率适应有关技术规范的要求。

在示波幅度于示波屏全高的至少80%内，垂直线性误差不超过示波幅度的5%。

在整个示波屏有效宽度内的水平线性误差不超过时刻基准的2%，测量应该按照NFA09-320标准中的规定进行。

每台设备在下列情形下均应该进行校验：

——设备验收时；

——修理后；

——至少每年一次。

MC2132探头

探头的标称频率和压电晶片的尺寸，应按照被检验的材料的类型和尺寸选定，并应符合有关章节的要求。

纵向波和横向波的频率一样在1～6MHz之间。

    频率和折射角应在采购技术规范中逐一加以规定。

必要时，也可使用其它参数值。

    压电晶片能够是圆形或矩形（手工检测探头矩形晶片的长和宽之比应≤1.5）。

    压电晶片的最大承诺尺寸在10～30mm之间。

    在一般探头不适用的专门情形下，可采纳专门探头（双晶体探头、折射纵波探头、可变角探头、小型探头等）。

MC2133耦合介质

    可使用的耦合介质有：

 ——掺润湿剂或不掺润湿剂的水；

 ——糊剂；

 ——油；

 ——油脂；

 ——掺水的纤维素胶等。

    耦合介质的性能，在整个试验中应保持稳固。

    试验终止后，如果耦合介质有碍后续的加工或检验工作，则应予以清除。

关于完工的奥氏体钢或镍基合金零件，应将表面上的耦合介质清除掉。

MC2134标定试块和对比试块

MC2134.1  标定试块

采纳的标定试块应按AFNOR标准NF A09—310的规定。

MC2134.2对比试块

对比试块可用来自下列各项的材料制造：

    ——被检验件的延长部分；

    ——材料和热处理状态均与被检验件相同的边角料；

    ——声学特性接近于被检验材料的产品。

    对比试块的扫查面应通过机加工，表面粗糙度Ra不超过6.3μm。

对比试块的几何形状、反射体的尺寸和位置（需要时）均在本规则的有关章节中予以规定。

需要时，反射体的位置和数量。

应使被检零件的整个厚度都能受到检查。

    采纳底面回波法的对比试块，其厚度应与被检验件厚度相等，其承诺误差：

    ——厚度≤50mm的，为±20％；

    ——厚度>50mm的，为±10mm。

MC2140检验实施要求

MC2141  表面预备

    扫查面应无油漆、无疏松氧化皮、无干耦合介质、以及无所有其它可能阻碍超声波在被检测件中传播、或有碍探头自由移动、或引起判定误差（由于声波转换造成的干扰波）的表面杂质和不平坦。

    除非另有规定外，表面粗糙度Ra按MC7200要求测定，不得超过12.5μm。

MC2142探头的校正与时基校准

    斜探头波束入射点的测定，采纳MC2134.1规定的标定试块。

    时刻基准的校准和专门是斜探头折射角的测定（测得角度与检验文件规定值间的偏差不得超过2°）按下述规定进行：

——铁素体钢零件，采纳MC2134.1规定的标定试块；

——奥氏体钢和高镍合金：

采纳装于试验件上的人工反射体；试验件材料的声学特性接近于被检验的材料。

采纳这种方法达到的精度，应与铁素体钢采纳标定试块时所达到的精度为同样范畴。

用直探头检测时，可在被检验件上具有两个平行表面的一段上进行时刻基准校准。

    每次检验之前都应进行上述操作。

MC2143灵敏度调剂

应利用响应脉冲来调剂灵敏度，该响应脉冲来自远离探头的那一面（底面回波），或来自人工反射体（圆柱形孔的侧面、圆形平底孔和槽）。

    这些调剂应通过将放大器阈值调到零时同时进行。

在调剂时，应选取增益和功率（当可调时），以获得最佳信号—噪声比。

    在每次检测开始之前，应调剂灵敏度，并在检测一小时后和此后每两小时进行校验。

当操作人员认为有漂移时，以及每轮检测终止时，也应进行校验。

这些调剂不需写专门报告。

如果校验时测得的漂移值不大于土2dB，则可认为该次校验结果正常。

如超过士2dB，则前次校验后所检测的零件须重新检测。

注：

因为首次调整是使用对比试块，随后的调整或校正能够使用对比试块的转移试块。

那个转移试块应能记录时刻—波幅曲线，或能记录初始得到放大值的证明。

MC2143.1  用底面回波进行调剂

探头应置于零件的完好区上，将参考底面回波幅度调剂到屏幕高度的75％左右。

以此作为记录缺陷信号的基准高度。

 MC2143.2用对比试块中人工反射体的响应进行调剂

 可采纳下列两种方法：

    a）  距离一波幅校正曲线

    选择合适的探头位置，使能得到响应最强的反射体最大回波，同时将波幅调到屏幕高度的75％左右。

    然后，测出从其它反射体获得的最大回波幅度。

将测点连接，做出的曲线便是距离一波幅校正曲线。

除被检测件的厚度专门薄情形外，该曲线至少要由三点连成。

    如果从一个反射体获得的回波幅度小于屏幕高度的25％，则可按MC2143.2a图所示，绘制分段的距离一波幅校正曲线。

然后，应进一步调剂，直到这一回波幅度约为屏幕高度的75％。

    b）  如果仪器性能承诺，距离一波幅校正曲线可代之以测得每一反射体回波幅度调至同一高度（大约为屏幕高度的75％）时所需的增益值。

图MC2143.2a分段距离—波幅校正曲线

MC2144扫查方式

被检验部位的扫查应按本规则有关章节的要求进行。

原则上，在扫查缺陷时，考虑本底噪声后，尽量将灵敏度调到最高。

如果本底噪声干扰缺陷探测，和（或）如果在这一灵敏度下，不能从最接近对比试块扫查面的反射体得到清晰的回波时，应将灵敏度调到较低进行探测，但不能调到比被检验区参考点灵敏度还低。

按上述方法，应能在单向或多向扫查时不同的信号显示中得出一致的缺陷显示。

    当需要时，记下被检验材料厚度范畴内的盲区深度（以mm表示）。

该深度通常用如图M2144所示的在标准调剂状态下相应于反射体距扫查表面的最远距离L来表示。

图MC2144

MC2150缺陷显示表征

MC2151  以底面回波为基准的标定法

MC2151.1  波幅标定

任何缺陷显示均以比值K表示其特点

K=10Dn/F0n

    式中：

    Dn——第n次缺陷回波幅度；

    F0n——MC2143.1中规定的第n次参考回波幅度。

    除在有关章节中另有规定外，一样取n=1。

MC2151.2尺寸标定

应将探头置于能获得信号显示的最大回波处，然后绕那个位置进行移动，直至所得到的回波衰减到50％（一6dB）。

    探头每移动得到一个新的位置，都要记下波束轴线的位置。

    将这些波束轴线位置点连接起来，用其所围的面积来定义缺陷区。

以这一区域的最大K值表示该区域缺陷的严峻程度。

MC2151.3成组缺陷显示

    当一组缺陷显示按单一缺陷显示处理时，应按本规则有关章节的规定进行。

MC2152以底面回波衰减为基准的标定法

MC2152.1波幅标定

所有能观看到底面回波衰减的区域，均以比值R表示其特点

R=F0n/Fn；n=1

式中：

    F01——MC2143.1规定的“一次反射”参考底面回波幅度；

    F1——所考虑区域的“一次反射”参考底面回波幅度。

需进行核对以确保底面回波的衰减不受被检验件几何形状的阻碍。

MC2152.2尺寸标定

将探头放置在能获得R最大值（相应底面回波的最小幅度）的地点。

然后围绕这一位置移动探头，直到所得的底面回波幅度达到要求的R值，即按照采购技术规范要求，回波幅度增加50％（+6dB）。

探头每找到一个新位置，记下波束轴线位置。

将波束轴线位置的各点连接起来，所围面积即为缺陷区。

MC2153以人工反射体为基准的标定法

MC2153.1幅度标定

a）  如果按MC2143.2a的规定，采纳距离一波幅校正（DAC）曲线，利用绘制如此的DAC曲线所用的同样（灵敏度）调剂，将缺陷区测得的最大幅度与同样声程的曲线的纵坐标进行比较。

以距离一波幅参考曲线的百分数表示缺陷的严峻程度。

    b）  如果按MC2143.2b的规定进行调剂，一旦确定缺陷深度，就将调剂返回到用最类似的人工反射体验证的水平，也调回到参考幅度。

应以参考幅度的百分数表示缺陷的严峻程度。

MC2153.2  尺寸标定

先将探头放在缺陷显示的最大回波处，然后按照估量的缺陷取向，使探头平行于那个方一直回移动。

当探头达到回波衰减的50％（一6dB）时，用探头的初始位置到移动位置之间的最大距离表示缺陷区的面积。

    显示缺陷区的面积，按上述测定的两个相互垂直尺寸的积确定。

MC2153.3成组缺陷显示

当将一组缺陷显示按单一的缺陷显示处理日寸。

按本规则有关章节的规定进行。

MC2160检验报告

除了本规则其它处另有规定外，检验报告应包括下列内容：

——制造商、订货单和设备的名称和识不号码；

——焊缝、隔离焊层、堆焊层或者被检验件标志，包括被检验件材料类不（铁素体、奥氏体钢等）及采纳的加工方法（锻造、轧制、铸造）；

——所用检验文件的名称；

——检验时刻；

一一表面预备（方法、清洗）；

——使用设备的类型、标记及名称；

    ·试验装置

    ·探头（尺寸、频率）；

——标定和调剂条件（使用的标定试块和对比试块）；

——测出的盲区长度（在适用情形下，否则注明“不适用”）；

——检验规程：

    ·被检验件所采纳的超声波束角度和采纳的波型；

    ·扫查方向；

——等于或高于记录水平的显示特点；

——评定结果；

——由另外单位分包时的负责公司标志；

——检验员姓名和资格；

——检验日期和检验员签名。

自动检验时，检查员是无损检验的检查代理人，他批准装置调整和检验结果。

为了幸免不必要的重复，上述一些内容在经适当确认的制造商文件中给出，可将其附在检验报告中。

MC2170  自动捡验方法的专门要求

要提交承包商预先批准的文件应包括下列内容：

——对检验方法的鉴定大纲，和证明自动检验方法在探测、评判与验收方面等效于基准检验方法的试验结果；

——操纵程序。

应专门讲明为防止会使检查的有效性失效的软件和操纵顺序两者的偏差所用的规则。

MC2200铸件超声波检验

MC2210适用范畴

本章阐述了本规则第Ⅱ卷中要求的铁素体钢铸件采纳单探头纵波反射法的超声波检验。

MC2220一样要求

在MC2100中关于此种检验方法规定的一样要求在此均适用。

此外，补充以下要求。

MC2230检验条件

MC2231检验时刻

被检验件在加工过程中哪个时期进行超声波检验详见本规则第Ⅱ卷的有关规定。

MC2232检验区域

检验区域和检验范畴在本规则第Ⅱ卷中作了规定。

MC2233扫查方式

选择能扫查到整个被检区的扫查方式。

除非采纳的技术（扫查方式、浅盲区探头等）能幸免盲区，否则应按MC2144规定注明盲区长度。

MC2234  对比试块

应按MC2134.2的要求制作对比试块。

反射体应是直径为6mm的垂直于扫描面的平底圆孔。

反射体的数量和位置，应能使被检验件的整个厚度得到检验。

第一个反射体距扫查面最大距离为25mm。

最后一个反射体距扫查面的距离等于最大的被检厚度，其偏差为土20％。

MC2235距离一波幅校正曲线

按照MC2143.2的要求，绘制距离一波幅校正曲线。

厚度大于40mm时，至少使用3个在MC2234规定的反射体。

厚度≤40mm时，只需2个反射体。

MC2236缺陷显示表征

MC2236.1幅度

应按MC2153.1表征缺陷显示幅度。

MC2236.2尺寸

应按MC2153.2表征缺陷显示尺寸。

探头要设置在能观看到的信号回波幅度衰减为6dB的位置。

MC2300锻件超声波检验

MC2310总则

MC2311一样要求

应采纳AFNOR标准NF A04-308所规定的一样要求。

就直探头纵波检验法而论，显示的幅度应用等效直径法表征。

对这些技术要求补充如下。

MC2312检验条件

检验时刻

锻件在加工期间的哪个时期进行超声波检验，按本规则第Ⅱ卷中的有关规定。

检验时，1、2和3型锻件的外形应能使扫查面与其背面平行。

如果热处理质量要求，使得锻件的外形或锻件的被检验区域不能遵照上述要求，则应在进行如此的热处理前，作一次完整的初步检验。

此项初步检验应在锻件上述两表面保待平行的那个加工时期进行。

热处理后的检验应尽可能全面进行。

被检区域

被检区域和检验程度按本规则第Ⅱ卷的有关规定。

MC2313  扫查方式

l型锻件

除在第Ⅲ卷零件采购技术规范中另有规定外，只对最小尺寸≥50mm的锻件进行检验。

在完工状态下需打孔的零件，应在打孔前进行检验。

只应在波束衰减和（或）可能的波型转换不阻碍缺陷的判定条件下进行圆柱形锻件从两端开始的轴向扫查，和平行六面体锻件的纵向扫查。

3型锻件

在沿轴向检验此类锻件时，应考虑被检件的几何形状，通过合理选择探头和扫查面，将诸如边缘效应或壁面效应如此的寄生现象减至最小。

这种检验应在波束衰减和（或）可能的波型转换不阻碍缺陷的判定的条件下进行。

4型锻件

按照锻件的几何形状、被检验区和扫查面的可探测性，应在打孔前或打孔后，采纳直射纵波法进行检验。

只要可能，这种检验应在彼此垂直的方向上进行。

注：

当由于材料中声波束的衰减而得不到底面回波时，则从两个表面进行检验到各超过长度的一半加10％。

MC2314超声波检验文件

按本规则第Ⅲ卷MC2122节的规定。

MC2315检验报告

以本规则MC2160节代替AFNOR标准第Ⅱ章的规定 。

MC2316检验人员的资格（代替AFNOR标准10.1节）

从事超声波检验的人员应按MC8000要求取得资格证书。

MC2320横波法检验和（或）斜射纵波法检验

当第Ⅱ卷零件采购技术规范差不多明确指示采纳横波法检验或斜射纵波检验时，下述关于对比试块和标定方法的描述完全适用同时代替AFNOR标准NF A04—308的相应条款。

MC232l  对比试块

对比试块规定如下：

a）  几何形状

 一样来讲．对比试块应是一直角平行六面体。

检验直径≤250mm圆柱形锻件用的对比试块是例外。

在后者情形下，它应具有与被检验件相同的曲线半径（偏差士25％）。

试块的宽度应约为60mm。

当厚度≤100mm时；试块长度可小于60mm，但应能调剂增益而无边缘效应。

其长度能制作成待探测的基准反射体。

其厚度应为：

——1次反射法检验时：

等于锻件厚度±5mm；

——直截了当扫查时：

锻件厚度。

b）  人工反射体

 人工反射体应由机加工出的槽或圆柱形孔所组成，其横向平行于对比试块扫查面。

厚度e≤100的锻件，在扫查面的背面设置表MC2321.b）规定的纵向矩形槽。

表MC2321.b）

厚度，mm

e≤20

20

50

长度，mm

≥50

≥50

≥50

宽度，mm

≤1

≤1

≤1

深度，mm

“e”的5%，最小0.1mm

1

1．5

厚度e≤100的锻件，至少钻三个直径为2mm的横向贯穿试块的孔。

这些孔在厚度方向上的分布，应能在试验下绘制出1覆盖整个检验厚度的基准曲线。

MC2322调剂和信号显示的表征

本规则MC2143.2和MC2153.1在此适用。

MC2400厚度≥6mm的奥氏体钢和合金钢钢板的超声波检验

MC2410总则

NFA04-305标准的要求在那个地点是适用的，除此之外，补充下列要求。

MC2411耦合介质

对奥氏体钢或镍基合金被检件的最终表面检验终止后，应清除其耦合介质。

MC2412阶梯形试块的钢种

阶梯形试块应该使用具有相近超声波穿透性的高合金钢制作。

MC2413衰减测量

MC2413.1原理

衰减测量的目的是在不干扰正常的检验操作情形下，探测回波衰减大于—18dB的区域。

MC2413.2方法

按照探头、质量分级要求、钢板厚度和牌号，一次底面回波有关于基准波幅和屏幕总高度应具有不同的幅度。

MC2413.2.1

如果在检测状态下，一次底面回波通过—18dB衰减后，在屏幕仍旧可见回波顶端，应记下相应的波幅，并以此顶端作为标出吸取区域的阀值（见图1）。

图1

在吸取区域，任何显示均应在考虑吸取（灵敏度漂移的重新调整）的条件下评判。

零件采购技术规范或订货单能够要求附加检验（衰减起点的探测）。

MC2413.2.2

如果一次底面回波通过—18dB衰减后，其顶端不显现在屏幕上，则应观看第二回波（二次扫查），并记下此波幅，并以此作为吸取区域的阀值（见图2）。

该吸取区域应按MC2413.2.1处理。

图2

MC2500管件超声波检验

MC2510适用范畴

本节适用于无缝钢管或无填充材料的卷焊管采纳斜射横波接触法或浸液法的超声波检验，钢种包括：

——碳钢；

——奥氏体不锈钢；

——本规则第Ⅱ卷中规定需作这种检验的高镍合金。

不适用于下列情形：

——直截了当用棒材锻造和镗孔所成的管件；

——直截了当借助芯棒锻造所成的管件；

——直截了当借助芯棒拉拔或挤压成形所成的厚壁管（壁厚≥50mm）；

——铸造管件。

这些管件检验包括在本规则其它章节中。

注：

超薄壁管件可采纳兰姆波（Lamb wave）检验。

MC2520一样要求

MC2100的一样要求在此是适用的。

此外，补充下列要求。

MC2530检验条件

MC2531检验时刻

管件加工至哪一时期进行检验，详见本规则第Ⅱ卷的有关规定。

MC2532检验区域

被检区域和检验范畴按本规则第Ⅱ卷规定。

当使用自动检验装置时，应确定出经自动和手动（在两端）检验的管的长度。

MC2533扫查方式 

    a）  沿两相对的方向进行扫查：

从圆柱外表面沿圆周和（或）纵向开始扫查。

这些要求在本规则第Ⅱ卷有规定。

    b）  按照被检件厚度，折射角应在35°～70°之间。

MC2534对比管

对比管应具有与被检验管相同的标称尺寸和相同的表面状况。

合金成份超过6％的钢种，对比管应为与被检验管钢种相同、热处理相同。

合金成份低于6％的钢种，对比管能够选用任意的钢种，条件是：

——其合金成份含量低于6%；

——对比管与该批被检验管的超声波衰减是可比的。

反射体为矩形或V型槽，其数量、尺寸及位置如下列规定。

对比管应有两个纵向槽，一个在管的外表面，另一个在管的内表面。

这两个槽必须彼此错开，以使其回波能清晰地分开。

在纵向扫查时，对比管应有两个圆周槽，一个在管的外表面上，另一个在管的内表面上，这两个槽必须彼此错开，以使其回波能清晰地分开。

标称厚度≤25mm的管件的矩形槽的最大宽度为1mm；更厚的管件的矩形槽的最大宽度为1.5mm。

V型槽的开口为60°。

纵向槽的最大长度为50mm。

圆周槽的最大长度为25mm。

槽垂直于管壁。

用合适的方法（如塞规）校核其形状尺寸。

MC2534.1  无缝钢管

碳钢无缝管开槽的深度是管壁厚的5％，最小为0.2mm、最大为1mm。

热精整的钢管之最小槽深可增至0.3mm。

奥氏体不锈钢和高镍合金无缝管的槽的深度应为：

——1级管和任何级不的热交换器管：

管壁厚的3％，最小值为0.1mm；最大值为1mm。

——不用于热交换器的2级和3级管：

管壁厚的5％，最小值为0.2mm，最大值为1mm。

槽的深度>0.2mm时，深度应精确到±0.5％之内。

允差为±0.05mm。

槽的深度≤0.2mm时，其深度允差为±0.03mm。

蒸汽发生器换热管，为矩形槽，其最大宽度为0.1mm。

MC2534.2无填充材料的卷焊管

槽设置在焊道上。

槽深为管壁厚的5％，最小值为0.2mm，深度应精确到±15％以内．允差为±0.05mm。

MC2540检验设备

可采纳手工方法或自动装置检验。

MC254 l手工检验设备

MC2100中提及的有关检验设备及其校验规定在此均适用。

MC2542自动检验设备

使用的装置能容许探头沿管子作螺旋运动。

这种运动能够是管子移动而探头夹持器转动，或是管子转动而探头夹持器移动。

螺旋运动应确保检测区的重叠面积至少20％。

探头与管件间的相对位置应精确确定，并不得有漂移。

装置应订自动选择系统和（或）一台自动记录仪。

当采纳自动记录仪时，应能随时将缺陷显示和其在被检管件上的位置联系起来。

MC2550功率和增益调剂

功率和增益调剂采纳对比管，调剂增益使得反射体的回波幅度达到屏幕上的同一高度 （大约75％）。

自动检验时，应在装置实际运行状态进行调剂；在某些情形下（大尺寸钢管），可在单独的检验台上按代表性条件进行调剂（使用的探头组和电子装置应即为系列检测所用的。

且管与探头的相对速度也相同）。

如果检验装置设有一个能从两个槽上获得相同的幅度的系统，则该幅度作为基准幅度。

在有多道选择器的情形下，应分不调剂每个槽的自动触发幅度水平。

当不具备上述条件时，应用产生回波最弱的那个槽猎取基准幅度。

MC2560自动装置调剂校验

应在每班次检测的开始和末尾校验功率和增益调定值。

使用过程中最少每两小时校验一次。

这些调剂不需要写成专门的书面报告。

如果探测到的漂移不大于±2dB，则应认为校验合格。

如果校验期间发觉调定值不稳固，上次校验后所检测的管件，应在仪器正确调定后再作检验。

MC2570缺陷显示表征

信号显示表征如下：

——如果第Ⅱ卷要求，在建立缺陷一览表时，则以MC2550规定的基准幅度的百分率表示的幅度表征

——在生产检查期间，以其有关于拒收阈值的显示幅度表征。

如果在第Ⅱ卷中有要求．缺陷信号显示的长度可可按MC2153.2来表征。

MC2580检验报告

检验报告应包含下列内容：

——制造商和订货单的名称及标识号码；

——钢的牌号；

——标准、技术规范和程序的名称及标识号码；

一一制品的处理状态；

——表面预备方法；

——所用设备的型号、牌号和名称；

——对比管的标识号码；

——波束角，波型和扫查方向；

——检验结果；

——负责检验的分包商的名称或代号（由分包商承担检验时）；

——检验员姓名及资格