光缆测试报告.docx
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光缆测试报告
MLC项目通信传输系统
光缆测试报告
北京建谊建筑工程有限公司
2010年7月21日
一、光缆测试说明
1、通信系统说明
MLC项目配套工程包括通信传输系统，由MLC在TCC通信机房、小营/西直门MLC机房分别新设一套2.5G传输设备，三套传输设备通过光缆组成4芯复用段保护环网，通过TCC既有配线架与各线OCC在TCC设置的传输设备业务层互联。
MLC新设的传输设备通过TCC既有ODF与MLC机房新设ODF通过光缆连接，实现各线LC业务接入MLC。
2、光纤使用说明
1）西直门8层MLC机房（灾备中心）至京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心），占用南环4芯光纤；
2）西直门8层MLC机房（灾备中心）至京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备，占用北环4芯光纤；
3）京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心）至京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备，新敷设1根24芯光纤；
4）西直门8层MLC机房（灾备中心）至西直门7层通信机房（南环、北环均在此处上光纤配线架），新敷设1根24芯光纤；
5）京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心）至京投大厦西辅楼B1层通信配线间（南环在此处上光纤配线架），新敷设1根24芯光纤；
6）京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心）至京投大厦西辅楼7层配线间，新敷设2根4芯多模光缆。
（此处的2根4芯多模光缆不属于通信传输系统，是连接服务器与工作站交换机之间的多模光缆）；
此次测试针对以上6部分进行。
3、测试仪器
采用信维牌OTDR（光时域反射仪），具体型号为S20。
4、相关图纸
《MLC项目通信系统光纤传输路由图》
二、
光缆测试内容
光缆测试包括以下内容：
✧光缆熔接损耗（MLC项目中的光缆熔接点）；
✧3处MLC通信设备之间光纤传输链路的光衰减；
具体说明如下：
光缆熔接损耗：
西直门本项目敷设的1根24芯光缆；京投大厦本项目敷设的2根24芯光缆；京投大厦本项目敷设的2根4芯多模光缆；
3处MLC通信设备之间光纤传输链路的光衰减：
西直门8层MLC通信设备与京投大厦西辅楼一层MLC通信设备之间的链路衰减；西直门8层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减；京投大厦西辅楼一层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减；
三、测试目的
序号
测试内容
测试目的
合格标准
备注
1
光缆熔接损耗
检查光纤熔接质量
每个熔接点损耗＜0.08dB
光纤熔接规范
2
西直门8层MLC通信设备与京投大厦西辅楼一层MLC通信设备之间的链路衰减
检查光纤链路质量
＜25dB
通信设备对光衰减的要求
3
西直门8层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减
检查光纤链路质量
＜25dB
通信设备对光衰减的要求
4
京投大厦西辅楼一层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减
检查光纤链路质量
＜15dB
通信设备对光衰减的要求
四、光缆测试记录
1、西直门新敷设1根24芯光纤熔接质量测试记录
在西直门8层MLC机房，对本项目敷设的24芯光纤进行测试；然后在西直门7层通信配线间，对本项目敷设的24芯光纤进行反向测试；测试结果如下：
光纤芯数
合格标准
（双向测试平均值）
测试地点：
8层MLC机房
测试地点：
7层通信配线间
双向测试取平均值
是否合格
8层熔接点损耗
7层熔接点损耗
8层熔接点损耗
7层熔接点损耗
8层熔接点损耗
7层熔接点损耗
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
测试结论：
通过□不通过□
施工单位（签字）：
监理单位（签字）：
日期：
日期：
2、
京投大厦新敷设2根24芯光纤熔接质量测试记录
在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目敷设的24芯光纤进行测试；然后在京投大厦西辅楼B1层通信配线间，对本项目敷设的24芯光纤进行反向测试；测试结果如下：
光纤芯数
合格标准
（双向测试平均值）
测试地点：
1层MLC机房
测试地点：
B1层通信配线间
双向测试取平均值
是否合格
1层熔接点损耗
B1层熔接点损耗
1层熔接点损耗
B1层熔接点损耗
1层熔接点损耗
B1层熔接点损耗
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
测试结论：
通过□不通过□
施工单位（签字）：
监理单位（签字）：
日期：
日期：
在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目敷设的24芯光纤进行测试；然后在京投大厦东辅楼3层通信配线间，对本项目敷设的24芯光纤进行反向测试；测试结果如下：
光纤芯数
合格标准
（双向测试平均值）
测试地点：
1层MLC机房
测试地点：
3层通信配线间
双向测试取平均值
是否合格
1层熔接点损耗
3层熔接点损耗
1层熔接点损耗
3层熔接点损耗
1层熔接点损耗
3层熔接点损耗
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.08dB
是□否□
测试结论：
通过□不通过□
施工单位（签字）：
监理单位（签字）：
日期：
日期：
3、京投大厦新敷设2根4芯多模光纤熔接质量测试记录
在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目敷设的2根4芯多模光纤进行测试；然后在京投大厦西辅楼7层通信配线间，对本项目敷设的4芯多模光纤进行反向测试；多模光缆1测试结果如下：
光纤芯数
合格标准
（双向测试平均值）
测试地点：
1层MLC机房
测试地点：
7层通信配线间
双向测试取平均值
是否合格
1层熔接点损耗
7层熔接点损耗
1层熔接点损耗
7层熔接点损耗
1层熔接点损耗
7层熔接点损耗
每个熔接点损耗＜0.3dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.3dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.3dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.3dB
是□否□
测试结论：
通过□不通过□
施工单位（签字）：
监理单位（签字）：
日期：
日期：
多模光缆2测试结果如下：
光纤芯数
合格标准
（双向测试平均值）
测试地点：
1层MLC机房
测试地点：
7层通信配线间
双向测试取平均值
是否合格
1层熔接点损耗
7层熔接点损耗
1层熔接点损耗
7层熔接点损耗
1层熔接点损耗
7层熔接点损耗
每个熔接点损耗＜0.3dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.3dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.3dB
是□否□
每个熔接点损耗＜0.3dB
是□否□
测试结论：
通过□不通过□
施工单位（签字）：
监理单位（签字）：
日期：
日期：
4、西直门8层MLC通信设备与京投大厦西辅楼一层MLC通信设备之间的链路衰减
在西直门8层MLC机房，对本项目南环的4根光纤进行测试；然后在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目的南环光纤进行反向测试；测试结果如下：
光纤芯数
合格标准
（双向测试平均值）
测试地点：
西直门8层MLC机房
测试地点：
京投大厦西辅楼1层
双向测试取平均值
是否合格
链路损耗
链路损耗
链路损耗
链路损耗＜25dB
是□否□
链路损耗＜25dB
是□否□
链路损耗＜25dB
是□否□
链路损耗＜25dB
是□否□
测试结论：
通过□不通过□
施工单位（签字）：
监理单位（签字）：
日期：
日期：
5、西直门8层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减
在西直门8层MLC机房，对本项目北环的4根光纤进行测试；然后在京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备，对本项目的北环光纤进行反向测试；测试结果如下：
光纤芯数
合格标准
（双向测试平均值）
测试地点：
西直门8层MLC机房
测试地点：
京投大厦东辅楼3层
双向测试取平均值
是否合格
链路损耗
链路损耗
链路损耗
链路损耗＜25dB
是□否□
链路损耗＜25dB
是□否□
链路损耗＜25dB
是□否□
链路损耗＜25dB
是□否□
测试结论：
通过□不通过□
施工单位（签字）：
监理单位（签字）：
日期：
日期：
6、京投大厦西辅楼一层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减
在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目新增的1根24芯光纤进行测试；然后在京投大厦东辅楼三层TCC机房的MLC通信设备，对本项目的24芯光纤进行反向测试；测试结果如下：
光纤芯数
合格标准
（双向测试平均值）
测试地点：
京投大厦西辅楼1层MLC机房
测试地点：
京投大厦东辅楼3层
双向测试取平均值
是否合格
链路损耗
链路损耗
链路损耗
链路损耗＜15dB
是□否□
链路损耗＜15dB
是□否□
链路损耗＜15dB
是□否□
链路损耗＜15dB
是□否□
测试结论：
通过□不通过□
施工单位（签字）：
监理单位（签字）：
日期：
日期：
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