电脑机箱检验标准.docx
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电脑机箱检验标准
电脑机箱检验标准
新中力电子科技有限公司
文件编号
STW-WI-PZ-009
版本
A.0
制作部门
品质部
生效日期
2017-1-7
机箱检验规范
编制
审核
审批
是否需要会签：
□需会签□不需会签
会签部门
会签人
文件发放范围
分发部门
品质部
分发份数
文件变更记录
版本
主要变更内容
编写人/修订人
修订日期
1、目的：
为订定本公司机箱质量检验之判定，以提供检验时之依据，特订本规范。
2、适用范围：
此规范适用于本公司供应厂商所提供之机箱原物料、制程到成品出货检验，若客户有另外提供检验标准，则以客户标准为准。
3、权责单位：
3.1.研发部
研发部负责机构部件之承认及相关规格文件发行。
3.2.品保部
3.2.1.品保部门负责此标准之维护及执行。
3.2.2.品检员依据研发所发行之承认书及本检验标准进行检验。
3.3.采购部
采购部门依据合格供货商向供货商采购合乎要求之原物料。
4、缺点定义：
1.严重缺点（Criticaldefect）:
简写CR。
凡有危害零/组件的用户或携带者之生命或安全之缺点谓之；产品与订单规格不符。
2.主要缺点（Majordefect）:
简写MA。
零/组件的使用性能不能达到所期望之目的，或显著的减低其实用性质的缺点谓之。
3.次要缺点（Minordefect）:
简写MI。
实际上不影响零/组件之使用目的之缺点谓之。
5、区域定义：
位置
定义
说明
A面
产品面向用户的部位
产品前面板、顶部及指定面
B面
产品面向用户的两旁
产品两侧面及指定面
C面
产品面向用户不易看到的下方部位
产品后背板、底部及指定面
D面
产品用户无法看到的部位
产品内部及指定面
6、检验条件：
6.1.目视：
6.1.1.检验环境亮度需求:
500~600LUX烛光的冷白荧白光灯。
6.1.2.检验距离:
40±5cm。
6.1.3.检验人员视力要求;0.8。
（裸视或经矫正后的视力）
6.1.4.内/外观检验时间:
8-10秒。
6.1.5.检验角度:
45-60度角。
6.2.量测工具：
6.2.1.卡尺。
6.2.2.高度规。
6.2.3.厚薄规。
6.2.4.牙规。
6.2.5.色差机。
6.2.6.杂质判定表。
6.2.7.样品。
6.2.8.百格刀。
6.2.9.3M胶带。
7、抽样计划：
依据MIL-STD-105E单次抽样计划LEVELⅡ检验标准进行各项检验，允收标准MIL-STD-105ELEVELⅡAQL：
MA=0.65MI=2.5。
8、检验标准：
8.1.金属部分检验标准：
项次
检验项目
检验规格及允收水平
检测工具
判定
区域
允许范围
CR
MA
MI
1
刮伤W≦0.1mm
A面
不可有
杂质判定表、卡尺
*
B面
L≦5mm，≦1个，但不可漏底材
杂质判定表、卡尺
*
C面
L≦10mm，S≧150mm，≦2个，但不可漏底材
杂质判定表、卡尺
*
2
刮痕W≦0.1mm
A面
L≦2mm，S≧150mm，≦2个
杂质判定表、卡尺
*
B面
L≦10mm，S≧150mm，≦3个
杂质判定表、卡尺
*
C面
L≦15mm，S≧100mm，≦3个
杂质判定表、卡尺
*
3
磨伤/擦伤
W≦2mm
A面
不可有
杂质判定表、卡尺
*
B面
L≦5mm，S≧150mm，≦2个
杂质判定表、卡尺
*
C面
L≦10mm，S≧100mm，≦2个
杂质判定表、卡尺
*
4
异物
A面
A≦0.3mm2，S≧40mm，≦2个
杂质判定表、卡尺
*
B面
A≦0.5mm2，S≧40mm，≦5个
A≦0.15mm2，S≦20mm，≦2个不列入不良点数，但同一面不良点数＞4个列入计算
杂质判定表、卡尺
*
C面
A≦0.5mm2，S≧40mm，≦5个
A≦0.2mm2，S≦20mm，≦2个不列入不良点数，但同一面不良点数＞10个列入计算
杂质判定表、卡尺
*
5
凹陷脏污原材污点
A面
不可有
杂质判定表、卡尺
*
B、C、D面
A≦0.5mm2，D≦0.50mm，S≧100mm，不超过3个
杂质判定表、卡尺
*
6
咬花
与样品或标准色板对比无明显差别。
样品色板
*
7
色差
与色版或样品颜色差异＜1.0度；特殊颜色依据承认之色版数据为主
色版、色差机
*
8
溢漆
仅允许喷点状溢出于D面内部溢漆不可超过边缘≦50mm。
防烤直线不倾斜≦2mm
目视、卡尺
*
9
变形
机箱表面变形直径小于1.0mm，机型正面放置时承受50kg压力不变形；
目视
*
8.2.铁件烤漆部分检验标准：
项次
检验项目
检验规格及允收水平
检测工具
判定
区域
允许范围
CR
MA
MI
1
刮伤W≦0.1mm
A面
不可有
杂质判定表、卡尺
*
B面
L≦5mm，≦1个，但不可漏底材
杂质判定表、卡尺
*
C面
L≦10mm，S≧150mm，≦2个，但不可漏底材
杂质判定表、卡尺
*
2
刮痕W≦0.1mm
A面
L≦2mm，S≧150mm，≦2个
杂质判定表、卡尺
*
B面
L≦10mm，S≧150mm，≦3个
杂质判定表、卡尺
*
C面
L≦15mm，S≧100mm，≦3个
杂质判定表、卡尺
*
3
磨伤/擦伤
W≦2mm
A面
不可有
杂质判定表、卡尺
*
B面
L≦5mm，S≧150mm，≦2个
杂质判定表、卡尺
*
C面
L≦10mm，S≧100mm，≦2个
杂质判定表、卡尺
*
4
异物
A面
A≦0.3mm2，S≧40mm，≦2个
杂质判定表、卡尺
*
B面
A≦0.5mm2，S≧40mm，≦5个
A≦0.15mm2，S≦20mm，≦2个不列入不良点数，但同一面不良点数＞4个列入计算
杂质判定表、卡尺
*
C面
A≦0.5mm2，S≧40mm，≦5个
A≦0.2mm2，S≦20mm，≦2个不列入不良点数，但同一面不良点数＞10个列入计算
杂质判定表、卡尺
*
5
凹陷脏污原材污点
A面
不可有
杂质判定表、卡尺
*
B、C、D面
A≦0.5mm2，D≦0.50mm，S≧100mm，不超过3个
杂质判定表、卡尺
*
6
咬花
与样品或标准色板对比无明显差别。
样品色板
*
7
色差
与色版或样品颜色差异＜1.0度；特殊颜色依据承认之色版数据为主
色版、色差机
*
8
溢漆
仅允许喷点状溢出于D面内部溢漆不可超过边缘≦50mm。
防烤直线不倾斜≦2mm
目视、卡尺
*
8.3.铭版部分检验标准：
项次
检验项目
检验规格及允收水平
检测工具
判定
CR
MA
MI
1
刮伤
W≦0.1mm
L≦2mm，S≧100mm，每平面不超过2个。
杂质判定表、卡尺
*
2
刮痕
W≦0.2mm
L≦3mm，S≧100mm，每平面不超过2个。
杂质判定表、卡尺
*
3
烧焦
不允许。
目视
*
4
毛边
不允许修平不刮手。
目视
*
5
脏污
L≦0.5mm、A≦0.20mm2，每平面≦2个。
杂质判定表、卡尺
*
6
料花模伤
依据正常检验条件下目视不明显，不影响产品结构。
目视
*
7
黑点
A≦0.20mm2，每平面≦2个。
杂质判定表、卡尺
*
8
模口
修平不刮手。
目视
*
9
流痕
在规定检验时间（6秒）和距离（40cm）下，目视不明显。
目视
*
10
破裂
不允许。
目视
*
11
汽泡
正常情况下看不见且不影响功能的可限度接收。
目视
*
12
面变形
不可影响到装配。
目视
*
13
线变形
不可影响到装配。
目视
*
14
咬花
与样品或标准色板对比无明显差别。
样品色板
*
9.4.组装部分检验标准
项次
检验项目
检验规格及允收水平
检测方式
判定
CR
MA
MI
1
灯号
LED灯位置是否偏移、灯色是否正确。
目视
*
2
孔位间隙
所有孔位内间隙单边≦0.3mm（LAN、USB、console）。
厚薄规
*
3
整机间隙
所有外壳间隙≦0.6mm，断差≦0.5mm。
厚薄规
*
4
组装位置
部件组装未到位、松动。
目视、手
*
5
螺丝
螺丝未锁紧、漏锁、有滑牙现象。
螺丝起子
*
6
整体组装
实配测试，无偏孔，无过紧，装不上，接触不到之现象。
标准配件、厚薄规
*
7
清洁
机箱中无残留物，如毛屑、铁屑、贴纸、螺丝等。
目视
*
8
标签贴纸
产品Label不能浮翘、破裂，倾斜不能超过5度，偏移不得超过2mm。
卡尺
*
9
外插模块
外插模块外观清洁；与机箱单边间隙＜0.5mm。
卡尺、厚薄规
*
10
底材外露
W≦单边0.2mm。
（VGAPort除外）
卡尺
*
8.5.塑料部分检验标准：
参照《塑胶检验标准》执行
8.6.印刷部分检验标准：
项次
检验项目
检验规格及允收水平
检测
工具
判定
CR
MA
MI
1
黑点
A≦0.20mm2。
杂质判定表、卡尺
*
2
白点杂质
A≦0.20mm2。
杂质判定表、卡尺
*
3
色差
不允许
目视
*
4
刮伤
W≦0.5mm
A面不允许；B，C面允许L≦30mm。
目视
*
5
刮痕
W≦1mm
A面不允许；B，C面允许L≦30mm。
目视
*
6
色斑
不允许
目视
*
7
印刷偏移
偏位距离≦0.5mm或依承认书。
卡尺、底片
*
8
油墨脏污
A≦0.20mm2目视不可明显。
杂质判定表、卡尺
*
9
字体不符
不允许。
目视样品
*
10
印刷毛边
不允许。
目视样品
*
11
附着力
将3M胶带贴贴于印刷位置，用手指来回压紧，静止3-5秒后，抓住胶带一头，呈45度角迅速掀起，重复此动作3次，印刷字体不可脱落。
3M#600
*
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