自动控制原理现象分析概述.docx

1、自动控制原理现象分析概述第一章 线性系统的时域分析1.1典型环节的时域响应比例R0=100K,R1=200K积分R0=200K,C=1uf比例积分（R0=100K,R1=100K,C1=1uf）一阶惯性R0=R1=200K,C=1uf比例微分R0=R1=R2=100K,R3=10K,C=1uf比例积分微分R0=R1=100K,R2=R3=10K,C1=C2=1uf1.2 典型系统的时域响应和稳定性分析阻尼比小于1的二阶系统（R=10K）阻尼比小于1的二阶系统（R=50K）阻尼比等于1的二阶系统（R=160K）阻尼比大于1的二阶系统（R=200K）趋于稳定的三阶系统（R=100K）临界稳定的三阶

2、系统（R=40.8K）发散不稳定的三阶系统（R=30K）1.3 线性系统的校正系统校正前的时域响应系统校正后的时域响应第二章 线性系统的根轨迹分析2.1 线性系统的根轨迹分析根轨迹进入S左半平面，系统趋于稳定，此时R=218K根轨迹位于虚轴上，系统处于临界稳定，此时R=164K根轨迹进入S右半平面，系统发散不稳定，此时R=100K第三章 线性系统的频率响应分析3.1 线性系统的频率响应分析采用直接测量法测得二阶闭环系统的波特图采用间接测量法测得二阶开环系统的波特图采用直接测量法测得二阶闭环系统的极坐标图采用间接测量法测得二阶开环系统的极坐标图第四章 非线性系统的相平面分析4.1 典型非线性环节

3、继电特性饱和特性死区特性间隙特性4.2 二阶非线性系统继电型二阶非线性系统加速度继电型二阶非线性系统饱和型二阶非线性系统注：以上3个图为了清晰的观测到系统暂态过程，X_Y置于2V档，要想观察整个全过程，请置于5V档4.3 三阶非线性系统继电型三阶非线性系统饱和型三阶非线性系统第五章 采样系统的稳定性分析与校正5.1 采样系统的稳定性分析采样周期20ms时信号未失真采样周期200ms时信号失真采样周期20ms时，二阶系统处于稳定状态，超调53采样周期60ms时，二阶系统处于稳定状态，超调67采样周期120ms时，二阶系统处于临界稳定状态5.2 采样控制系统的校正系统校正前处于等幅振荡状态校正后系统稳定第六章 线性系统的状态空间分析系统在极点配置前的响应曲线系统在极点配置后的响应曲线第七章 模拟PID闭环温度控制的设计与实现温度单元的控制效果