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1、 设置工作坐标系号 电极直径./加工直径. u,t 测量坐标号 电极补正 电极直径/加工直径 u,t -999999999999999 050 099999999 54961 53961 11100X, Y, 边界面进给输入从当前位置到接触面的足够值以便主轴球可以能接触到面。输入值不足会使主轴球不能接触到面，引起警报。接触检测的方向在每个轴的方向，超过两根轴连动时候不执行接触检测。如果三个轴连动，工件的轮廓测量如下显示。这个例子中，每个轴很快地移动到测量点。因此，在主轴不与工件干扰的位置按下START键工件I, J, 快速移动指定从接触检测起始位置的快速横断量。可以缩短每根轴的进给时间。主轴球

2、（接触检测起始位置）F 测量速度指定触摸测量的进给速度，如果忽略的话，设置50mm /分钟。如果电极硬度非常小，设置5-10mm /分钟。（例如一个半径小于0.2的精加工电极）A 旋转角度测量方向可以在X-Y平面上。这样，X轴和Y轴也不能同步输入。主轴球U 缩进值接触检测后，指定测量点的缩进量。缺省设置为1mm。W 工作坐标代号设置。R 电极直径/测量球体直径指定一个测量点作为“设置工作坐标代号”确定的工作坐标系统的O点。另外，可以根据“电极直径/测量直径”确定的半径数转换对应于测量点的O点。仅可以对测量轴设置O点。工作坐标的详细内容请参考 2.4节 工作坐标系统O 测量坐标系统 N 电极补正

3、量P 电极直径/测量直径“测量坐标系统代号”指定的工作坐标系中的测量坐标值 可以存储在“电极补正”指定的电极（基准）补正区里。此外，测量点可以根据“电极直径/测量直径”的一半转换。但是，测量过的轴坐标值存储在电极补正区。1.4.2 凹槽/孔（G121）HQM 平面 （1:X-Y,2:Z-X,3:Y-Z） 轴进给 X 轴 u,t 快速进给 X轴（I） u,t （INC） Y轴（J） u,t Z轴（K） u,t 下降值 u,t 工作坐标设置 测量坐标系号 测量电极补正 主轴球直径 u,t 13H 平面如下所示，确定执行测量的平面。2 : （Z - X）X, Y, 轴进给 在“平面”指定的平面里的轴

4、上为孔测量指定进给量。 在“平面”指定的平面轴上进行接触检测。 为从当前位置到接触检测面的测量输入足够的值。I, J, 快速进给 （ 边界面菜单中的I, J, K）主轴球 （接触检测起点）F 测量速度 （ 边界面菜单中的F）测量方向可以在平面指定的测量平面上旋转。A : 旋转角度 （ex.40.0）Q 下降值如果在凹槽或孔中测量一个障碍物，测量能避免“平面”指定的平面上轴的障碍物。这个例子中，设置“快速行进”以便测量球可以避免障碍物（不正确的设置可以引起一个测量球与障碍物碰撞）如果为“平面”指定的平面的轴指定“轴进给”，在孔定位后仅在该轴上进行接触检测。这样，从测量点缩进量能通过这一项设定。缺

5、省设置1MM。W 设置工作坐标系号在指定工作坐标系统设置一个测量点为O点。改变坐标系统为指定代号。然而，零点仅仅能被设定为测量轴。工作坐标系的详细内容参照 第 2.4节工作坐标系O 测量坐标系统号N 电极补正（ 边界面菜单中的O, N）M 测量电极补正R 主轴球直径孔的测量直径可以被存在“测量电极偏移量”指定的电极偏移量中，或电极基准偏移量区中。此外，校正的直径由指定“轴心球”来存储。1.4.3 平板/圆柱 （G122）V （INC） Y 轴 u,t 设置工作坐标测量坐标系号 轴转换 X AXIS u,t （INC） Y AXIS u,t如下所示：指定进行测量的平面X +在“平面”指定的平面的

6、轴上指定平板测量的进给量。为从当前位置到接触检测面的测量输入足够的值，同时要考虑主轴球的直径测量方向能在“平面”指定的测量平面上旋转。K 缩进值如果指定这个项，板面定中心后仅在“平面”指定的平面上的轴上进行接触检测。在这个例子中，从测量点的参考量能通过这个项来设定。W 设置工作坐标系代号在确定的工作坐标系统里设定测量点作为零点，改变工作坐标系为指定号。然而，零点仅仅可以对测量的轴进行设置。 工作坐标系的详细内容请参照 2.4节 工作坐标系O 测量坐标系代号（ 边界面菜单中的O, N ）R 主轴球补正（ 凹槽/孔菜单中的M, R）U, V 轴转换在测量Z轴时，轴X和轴Y可以被转移。它对于工件中心

7、的测量来说很方便的。然而，这仅仅当平面忽略或为1的时候有效。1.4.4 中心孔 （G124）B* 测量孔直径 u,t 辅助轴 （INC） u,t 1号孔（ABS） I轴 u,t II轴 u,t 2号孔（ABS） I轴 u,t 3号孔（ABS） I轴 u,t 4号孔（ABS） I轴 u,t 设置工作坐标代号 测量工作坐标系统号如下所示，指定进行测量的平面。R 测量孔直径指定测量孔的直径。Z 辅助轴指定孔中从当前位置到测量点的轴进给值。电极以很快的速度进给进入孔（300mm/min）。如果在横断进给期间碰撞到工件，会出现一个会导致主轴球的破损的警报， X, Y, 无孔指定从1号孔到4号孔的孔位置。

8、如果主轴球在进入孔的过程中不与工件接触，就不需要精确定位数据。 在每个指定孔里为接触检测指定进给率。缺省设置50MM/MIN。如果电极硬度很小设置5到10MM/MIN。（例如一个直径低于0.2的精加工电极）W 工作坐标代号设置在指定工作坐标系上设置一个测量点作为零点，改变工作坐标系为指定代号。然而，零点仅仅可以对测量过的轴设置。 工作坐标系的详细内容请参照 2.4 节 工作坐标系O 测量坐标系统代号1.4.5 测量/球体（G125）LE 主轴球直径. u,t 工作台球直径 u,t 设置G54 （1:YES） 测量极坐标重定位 （1:ON） 中转极坐标 X 轴 u,t （ABS）绝对坐标 Y 轴

9、 u,t 旋转轴中心补偿 （1: 分度法 （1:C AX.,2:IDX,3:DH） 测量错误限制（CENT. DIA.） u,t 1 1500P 平台球直径在“主轴球直径”和“桌面球直径”中输入值 自动设置测量需要的必要数据。指定Z轴上从测量点的缩进量值。W 设置G54（工作补正设置）设置测量点作为工作坐标系的零点 G54L 测量点重定位X, Y 转换点坐标在通过用这个菜单设置G54的零点后，当进行带有相同主轴球和桌面球的测量时用这个功能。而且，设置中转点能避免障碍物。如果忽略“测量极坐标重定位”和“传播极坐标”，自动设置X0，Y0，Z0作为中转点。B 旋转轴中心补偿A 索引设备当前位置的测量

10、（工作坐标系G54的零点），转180度后再测量。然后把这些测量点的中心坐标输入到电极补正32号作为旋转中心坐标。在定位模型中当指定“电极旋转补正”时候用这些数据。用“索引设备”指定旋转轴的可选单位。可选单位和设置可选单位 “INDEX DEV.”设置MA head1 : C 轴 I轴（EDNC106,156 only）MR headRotary headDH head3 : DH此外，在下列情况下不设置索引轴。上面没有任何索引轴。在“NC设置NC功能”屏幕上的“C轴作用”没有打开。在“加工控制-”屏幕上的“旋转模式”开启。E 测量错误限制检查反复的测量错误。当测量的值没有满足这项指定的允许值（

11、反复5次或更少），显示一个警告并且停止加工。这个例子中，按下START键，又反复进行测量。1.4.6 电极/球体 （G126）CDT 平台球直径 u,t 电极测量部件. XAXISu,t YAXISu,t ZAXISu,t X 中心定位补正 X 轴 u,t Y 中心定位补正 X 轴 u,t Z 中心定位 X 轴 u,t 局部坐标系设置 （1:XYZ,2:Z） 测量极坐标补正 （1: 中转极坐标 XAXISu,t （ABS） YAXISu,t 平行调整 （1:X,2:Y,3:XY） 测量间隔 mm 测量错误限制 u,t 099999 12 09999U, V, 电极测量部件尺寸。输入值到“平板球

12、直径”和“电极部件测量”。自动设置测量的必须数据。Z 轴测量部件尺寸 对X和Y轴输入测量部件的直径。 如果忽略X和Y轴，仅在Z轴上进行测量。A, B,Q, WI, J, X，Y，Z中心定位补正每个轴测量前，由于电极形状的限制而改变位置的时候使用这个功能。通常，电极应该设计为参考部件在电极上，以便不用这个功能也能进行测量。用 Z轴的 定中心补正例子9.0F 测量速度 （ 边界面菜单中的F ）K 缩近值 （ 测量/球体菜单中的K ）D 局部坐标系设置为该项输入1来设置主轴球和电极之间的补正值作为一个局部坐标系。另外，测量补正存储在电极补正31号中。如果在这项中输入2，仅设置Z轴作为局部坐标系。补正

13、存储在电极补正号（1一30）或该项指定的电极基补正（1001一1100）中。坐标错误写功能这个功能在不是自动中心定位的手工中心定位后存储电极补正量通过仅设置该项来执行这个功能。自动存储目前针对G54零点显示的坐标系零点补正量。X, Y, 中继点坐标当用这个菜单测量后再进行测量用这个功能。另外，为了避免障碍可以设置中继点。H, T 平行调整，测量间隔电极的平行通过C轴来调整。通过“平行调整”来指定平行测量的轴。也通过“测量斜度”来设置测量宽度。T : 测量斜度 检查反复性的测量错误以及直径的测量错误。当测量值不满足这个项指定的允许值时（重复5次或少于），出现一个警告并停止加工。这样，按下START键，重复进行测量。电极测量直径存储在电极补正号30中。这些数据用来做参考。如果把着重点放在反复测量错误上而不是在测量直径的测量错误上，为“电极测量部件测量”指定一个为0.1mm的大的值。