ImageVerifierCode 换一换
格式:DOCX , 页数:37 ,大小:3.33MB ,
资源ID:1938425      下载积分:3 金币
快捷下载
登录下载
邮箱/手机:
温馨提示:
快捷下载时,用户名和密码都是您填写的邮箱或者手机号,方便查询和重复下载(系统自动生成)。 如填写123,账号就是123,密码也是123。
特别说明:
请自助下载,系统不会自动发送文件的哦; 如果您已付费,想二次下载,请登录后访问:我的下载记录
支付方式: 支付宝    微信支付   
验证码:   换一换

加入VIP,免费下载
 

温馨提示:由于个人手机设置不同,如果发现不能下载,请复制以下地址【https://www.bdocx.com/down/1938425.html】到电脑端继续下载(重复下载不扣费)。

已注册用户请登录:
账号:
密码:
验证码:   换一换
  忘记密码?
三方登录: 微信登录   QQ登录  

下载须知

1: 本站所有资源如无特殊说明,都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。
2: 试题试卷类文档,如果标题没有明确说明有答案则都视为没有答案,请知晓。
3: 文件的所有权益归上传用户所有。
4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
5. 本站仅提供交流平台,并不能对任何下载内容负责。
6. 下载文件中如有侵权或不适当内容,请与我们联系,我们立即纠正。
7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

版权提示 | 免责声明

本文(Fortix硅片分选机生产操作规范.docx)为本站会员(b****2)主动上传,冰豆网仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对上载内容本身不做任何修改或编辑。 若此文所含内容侵犯了您的版权或隐私,请立即通知冰豆网(发送邮件至service@bdocx.com或直接QQ联系客服),我们立即给予删除!

Fortix硅片分选机生产操作规范.docx

1、Fortix硅片分选机生产操作规范硅片检测机生产操作规范一.目的为规范员工操作,提高设备管理水平,降低设备故障率,更好的促进人机磨合,使设备更好的服务于生产,特编制此规范 。二.范围本规范适用于国电光伏(江苏)有限公司硅片检测工序生产操作人员。三.参考FORTIX设备手册四.职责4.1 熟练掌握硅片检测间的日常生产操作、设备及工夹具的掌控。4.2 懂得生产过程中的正确防护五.定义该设备主要用来对来料硅片的尺寸、厚度、表面粘污、TTV、少子寿命等参数进行检测设备名称:Fortix硅片检测机设备型号:FWIS-300电源:380ACV+-10%、50HZ、3相压空:5bar-6bar 流量:300

2、L/min控制单元:PC控制六.Operation1开机:首先将总电源打开:然后将Fortix机台电源(Main power)打开:将Semilab主机和Fortix主机的UPS电源分别打开,如图待UPS处于On Line状态时,方将Fortix和Semilab开机!Semilab键盘上Ctrl两次是切换键,可以进行少子寿命模组和厚度电阻率TTV模组之间的切换。将Inteckplus开机:(红色圆圈处钥匙旋转打开盖子后按下里面黑色电源开关) Intek:点击桌面上Isolar和Host 快捷方式进入Vision1(尺寸,油污,崩边)。两下CTRL键,就切换到Vision2(微裂纹)以及Visi

3、on3。3台电脑全部软件开启后。首先要 Handler Initialize ,然后点击右上角处vision 2、3使其显示绿色,如不能正常显示绿色 表示vision2、3未开机或者软件未打开,最后host数据保存操作步骤:FORTIX主机:1) 开机后打开FXA软件,进入MMI界面;2) 点击SORTING DATA,进入界面后进行硅片分类的设定,设定完成后依次点击SAVE TO FILE-APPLY-CLOSE;3) 点击LOT ID,输入硅片的批次或单号。1. 少子寿命模组:1) 开机后打开uPCD软件,点击STOP进入静态测试模式;2) 放入硅片,点击进入Record界面,点击Auto

4、setting按钮进行参数自动设置,设置完成后需要将Average改成16以下;3)完成后点击START进入连续测试模式;4)自动测试一片,点击Linescan观察曲线情况,在曲线上点击右键选择Skip Edge可进行边缘剔除,会先后弹出两个对话框,第一个是前部剔除,第二个是后部剔除。边缘调整好之后可以正常测试。4) 数据保存:点击Clear Statistics输入硅片批次或单号进行数据保存,然后点击New Batch。2. 厚度电阻率TTV模组:1)开机后打开cap软件,点击STOP进入静态测试模式,将Average改成16以下;2)对模组进行校准,步骤如下: a) 校准片放入探头下,点击

5、 Calibrate Thickness,输入校准片的实际厚度值,点击确定; b)取出校准片,点击compensate Resistivity; c)放入校准片,点击new ,所有参数有值后,点击Calibrate resistivity,输入校准片的电阻值,点击确定; d)取出校准片,点击START进入连续测试模式; e)观察Linescan中的曲线,可进行边缘剔除Skip Edge; f)在Options中点击Save Measurement Options,保存校准文档。校准结束。3)数据保存:点击Clear Statistics输入硅片批次或单号进行数据保存,然后点击New Batch

6、。建议:每四个小时校准一次。4) Troubleshooting有时皮带正常运行,模组却没有进行测试可能是以下几个原因: a)Start按钮没有点击-点击Start按钮 b)Average的数值太高-调低Average的值,可以调整到16或8 c)边缘剔除Skip Edge值太多,导致测试时间过短-将Skip Edge的值适当减小 d)调整过皮带传输速度而没有更改Average及Skip Edge等参数-进行适当的修改2AUTO RUN前机台准备工作: 所有马达复位(TEN-KEY数字键按99#):确保安全门是关闭的:确保没有ERROR报警(FORTIX操作界面里的ERROR栏):注意:当出现

7、报警时,先检查Error,确保没有Error之后,即Error清除之后,再按Reset,之后按Start。3生产过程中或下料:A:Sorting部分分类片盒满100片之后会报警,请及时将硅片取出后放回片盒;B:上料端两边最多各可放3个满的卡盒,放置空卡盒的的区域两边也最多只能放3个,3个满了时或未满3个时都请务必及时将空卡盒取出。4关机:SEMILAB:将运行界面关闭之后关机,切换到另外一个界面,关闭后关机即可。FORTIX:将运行界面关闭,输入密码,退出后关机。将两个UPS电源关闭。将主电源main power关闭。关闭总电源七、修订八、附录1.INTEK 软件操作说明Vision 1 主界

8、面包括2个软件 ,分别是 host 和 isolar 如下图所示:其中HOST软件是人机对话界面,ISOLAR是工艺参数设定软件。1)host 软件操作说明选择Motor View后进入界面首先选择马达,更改到认为合适的位置后,按TEACH后 再SAVE 马达参数调整结束选择MANUAL INSP 后 进入以下界面将片子放在测试皮带上,并且将所需要测试的软件ISOLAR 1,2,3打开并start 后。 点击START后,可到Isolar软件界面下检查硅片的检测结果并分析如图所示可在setting 选项下,Inline Image save 中选择是否需要保存不合格硅片的检测图片,如选择 Re

9、ject Only ,务必定期清理图片,图片保存路径为:C:/intekplus/ isolar/vision/image .2) ISOLAR 软件说明检测项目:VISION 1 :正面油污,尺寸,崩边,缺口,线痕VSION 2:隐裂VISION3:背面油污,崩边,缺口,线痕1 Vision 1 软件介绍其中CALIB 是模组光学校准工具TEACH 是更改软件工艺参数工具STOP 是软件开关TEST 是手动测试工具检测项目包括: chiping 崩边 Broken 缺口 Length 边长 Edge width 倒角长 Edge angle 倒角角度 Stain 油污 Diameter 对角

10、线长 Orthogonality 垂直度 Sawmark 线痕1) 如何更改尺寸参数设定。 首先点击所需要更改的参数项,以尺寸为例, 首先鼠标点击尺寸项Length-TEACH 后进入如下界面1.点击 TEACH -然后点击上方第6项Criteria -TEACH-点击property -后可更改工艺参数 ,选项中当前设定尺寸标准为155.5-156.6 mm 。2.点击Numerica -TEACH-Property 后 ,如下图所示:在补偿参数设置选项中可以更改offset , 例如硅片的实际尺寸为156.1 mm ,但机器测试尺寸为156mm 与实际尺寸相差了0.1 mm 。当这种情况发

11、生时就需要更改补偿参数,可以加大补偿参数设置。 3 参数设置保存 参数更改完成后点击QUITE退出参数设定界面回到ISOLAR的主界面点击FILE-SAVE JOB-Transfer Job to host 完成。2) 如何更改油污参数设定。选择STAIN 选项后-点击TEACH 进入如上界面-TEACH -点击第4项Blobcriteria -TEACH -Property 可以根据硅片参数要求以及实际生产情况调整工艺参数, 包括单个油污面积大小以及总面积大小 和数量 。 更改完成后保存步骤同上。选择第3项Blob -TEACH-Property 后可以更改油污的最小检测单位面积,此数值关系

12、到检测的精度,设置的越小检测的精度越高,但同时也会由于硅片表面其他的影响造成误判。 客户可根据自己硅片的实际情况设置该参数。 设置完成后保存同上选择第2项,可以调整LED光的强弱,可根据硅片生产情况作相应调整选择第1项,可以调整硅片表面油污检测的范围,如此范围超出硅片以外,会造成误判3) 如何更改崩边缺口参数设定选择CHIPPING 选项后-点击TEACH 进入如上界面-TEACH -点击第6项Blobcriteria -TEACH -Property 可以根据硅片参数要求以及实际生产情况调整工艺参数, 包括单个崩边尺寸大小以及面积大小 和数量 。 更改完成后保存步骤同上。选择第5项Blob

13、-TEACH-Property选择第5项Blob -TEACH-Property 后该工艺参数为最小检测单位面积,此数值关系到检测的精度,设置的越小检测的精度越高,但同时也会由于硅片表面其他的影响造成误判。 客户可根据自己硅片的实际情况设置该参数。选择第4项colorthreshold -TEACH -Property 后进入如下界面根据生产情况可调整LED光源参数,例如当出现误判时。参数更改完成后,数据保存同上。 4) 如何更改SAMARK线痕参数选择sawmark 选项-TEACH-后进入如下界面该工艺参数为线痕的判断标准,数值越小,则检测越严格。根据实际生产情况作相应调整。 2 VISI

14、ON 2 软件说明点击选项1 microcrak -TEACH-进入以上界面-选择第9项blobcriteria -TEACH -Property-进入如下界面更改参数后保存同上。选择第8项BLOB后-TEACH-property -进入如下界面,选择检测最小面积单位。选择第7项-TEACH-PROPERTY-进入如下界面可调整LED光的大小强弱选择第6项-TEACH-PROPERTY 进入如下界面可调整硅片检测范围3 如何备份还原软件当软件出现故障问题,可选择打开在C盘目录文件下的 isolar update 程序,更新完成后将之前备份的数据,如图所示:复制到C盘目录文件下的INTEK :/ isolar/ vision 以及 INTEK/ isolar/host 文件中。 编制: 签名: 时间审核: 签名: 时间审批:签名: 时间

copyright@ 2008-2022 冰豆网网站版权所有

经营许可证编号:鄂ICP备2022015515号-1