LED芯片进料检验标准详Word文件下载.docx

1、人力资源行政事业部品保工程设备处OJT运营中心照明 （SMD）灯丝插件COB工程 设备IE本资料为源磊科技有限公司之所有财产 ，未经书面许可 不准透露或使用本资料 ， 亦不准复印 、复制或转变成其它word 可编辑 .形式使用1.目的规范公司内 LED 正装芯片检验判定标准 。 避免不合格原材料流入产线 ， 提高生产良率 。2.范围适用于公司 LED 正装芯片类产品3.定义CR： 功能不正常严重影响信赖性或严重影响成品规格或严重影响客户作业等 。MA ： 成品质量有明显性或潜在性的影响而不能正常使用 。MI： 使用上有一定的影响 ，但不是功能上的影响 。4.权责品保部 ： 品质标准的建立 、修

2、改 、执行及相关品质记录 。5.内容5.1 抽样依据 ： 依照 MIL-STD-105E 并结合实际情况 。5.2 必须是合格供应商 ，承认书和环保资料齐全 ， 才可进行下一步 ，否则拒绝检验 。5.3 检验标准 :检验项目检验内容及标准不良图示及说明抽样水准检验方法 、 工具缺陷资料检查1.型号 、数量 、参数与送货单据一致无全检目视送货单CR包装标识1.包装完好 ， 纸盒整齐 、 芯片静电袋 、 蓝膜完好 无破损 ， 无受潮现象 2.可使用期限必须在保质 期内一半及以上包装全检 ，蓝膜抽 10张检查电极外 变色色差探针痕迹切割不良芯片正负极氧化变色 允收标准 ： 不可有同一片中不同芯片间和

3、 一颗芯片正负电极间颜 色差异大 允收标准 ：电极上探针痕迹不得超 过电极面积的 1/3 ， 不可 露底材 ， 不可偏移超过 电极范围芯片破损 、 增生 、 形状大小不规则 、裂纹 ， 允收标准 ：芯片破损 （增生）面积 10 张蓝膜 /批显微镜 *20MA外观检测1/5 芯片面积裂纹不可有刮花芯片表面的电极区域有 刮伤的痕迹 允收标准 ： 电极区 ： 芯片任一电极 刮伤面积 该电极面积芯片表面脏污掉电极排列方向错误的 1/5非电极区 ： 非电极区刮伤面积 该芯片面积的1/4 且不可损伤到 PN 结。芯片表面有污染痕迹 允收标准 ： 污染面积 该 电极面积的 1/5 非电极区 ：该芯片面积的

4、1/41.电极脱落 ， 有缺口允收标准 ：不可有2.金手指脱落 距离电极 1/2以内脱落不可接受芯片中有一排 （ 列）或 几排 （列 ）与其他多数 材料排列方向相反 ， 排 列不整齐芯片表面任何地方有多表面多金出的残金外表漏洞尺寸 芯片检 尺寸芯片任何部位有漏洞 烧黑或其他疑似击穿现 象 不可有 每批抽 10PCS 检验芯片 的长 、宽 ，及电极正负 极尺寸是否在规格范围 内显微镜 *45DVF10PCS二次元校正过的厂商芯片每批抽 0.5K 测试 DVF ，VFM11 和 VFM12 设置性能1uA ， DVF1 设置为规格 电流 ， 时间设置为 5ms ， 未校正的厂商芯 片暂无法测试 。

5、 允收标准 ： -0.1VDVF0.1V0.5K裸晶测试仪闸流体进料抽 0.5K 测试 VFD2 ，未校正的厂商芯片暂无法测试 电流 5mA 时3V 档芯片 VFD20.05V9V 档芯片 VFD218V 档芯片 VFD20.15V正向电压校正过的厂商芯片每批 进料抽 0.5K 测试 ； 未校 正的厂商芯片每批进料 抽 10PCS 测试 。允收标 准 ： 标签 电压 0.1V ， 且平均值在标签 范围内 ；0.5K/10PCS裸晶测试仪 /积分球 /IS 机反向电流 未校 正的厂商芯片每批进料 抽 10PCS 测试 ， 测试条 件和判定按规格书标 准。波长 标签波长1nm ， 且平均值在标签范

6、围内亮度检测正装双电极芯片每批进 料抽 0.5K 测试 PO 值 （ mw ）， 其它类型的芯 片暂无法测试 允收标准 ： 实测平均值 在标签范围内 ， 最小值 不低于芯片标签下限的 5% ，且低于标签下限的 数量占测试数量比例不 得超过 10% ，不管控上 限。静电每批进料抽 10PCS 用反 向 2000V 击打 ， 然后测 试 IR 按承认书标 准判定 IR2， 通过率不低 于 80%静电测试仪/启动静电检测后的芯片用小 电流再测试启动电压 ； 其中 3V 档 、6V 档和 9V 档芯片用 1uA 测试VF5 ，18V 档和 24V 档芯片用 10uA 测试 VF4 允收标准 ：3V 档芯片 ： VF5 ：2-2.8V6V 档芯片 ：4-5.5V9V 档芯片 ：6-8V18V 档芯片 ：VF4 ：12-16V24V 档芯片 ：16-21V6、 参考文件产品检验控制程序 YL-QA-003 、MIL-STD-105E 、不合格品控制程序 YL-QA-0017、附件 ：相关表单正装芯片进料检验报告 RF-QA-013 、原材料 MRB 评审单 FR-QIP-1558、流程word 可编辑