1、规范的目的是保证三极管类元器件质量符合要求二:适用范围:本检验规范适用于无特殊要求的三极管检验。三、检测依据1:合同书检验项目2:样品对照3:客户重点质量要求四、检验要求1.抽样方法:按GB/T2828.12003执行逐批检查一次正常抽样方案,一般检查水平级。2.合格质量水平电性能 致命缺陷AQL : 0外观 重缺陷 AQL :0.15%轻缺陷 AQL:0.55%五、检查内容1.质量标准要求有质量体系认证证书;供货方出厂检验报告、合格证。2、外观检验2.1 规格型号、外形尺寸符合设计文件设计所要求有其产品手册。2.2 标识应正确、清晰、一致性应符合规范。2.3 外表应清洁、无缺角、破裂等不良现
2、象。2.4 引脚长短一致,封装无松动。2.5 可焊性良好。3、性能检验放大倍数,反向击穿电压应符合供方产品手册。4、引出端强度引脚弯曲、扭转、拉力应无松动,无可见损伤,测试性能仍符合允许值范围。六、检验方法1、所用仪器、仪表、工具:YB4810A 半导器管特性图示仪、万用表、卡尺、稳压源一台、电烙铁等。2、以设计文件提供的型号、规格或样品件为准,参照产品手册逐项检验。3、 外观质量以目测为主。4、 外形尺寸用卡尺测量。5、 引脚用手轻扳两下,目测松动与否。6、 可焊性采用手工烙铁焊法则。7、性能测试7.1 用半导体管特性图示仪测试发射板正向电流传输电的静态值,符号HFE。电流放大系数用表示:=
3、IC/IB7.2 集电极发射极反向击穿电压 VCEO。8、引出端强度:取10 样品,在引脚的一半处向每个方向连续两次弯曲,扭转180 度,依据国标用20H 的拉力对引脚进行两次承受作用,上述试验后目测无可见损伤,引脚无松动,性能测试仍应符合要求。七、缺陷分类判定1、重缺陷1.1 型号规格和外形尺寸不符合设计文件。1.2 表面标志不符合规范。1.3 外观出现裂痕、破裂等。1.4 引脚端强度不符合要求。1.5 过波峰焊后,其外观和性能发生变化。1.6 性能指标超标。2、轻缺陷2.1 外观不清洁、不光滑等。2.2 标志不清晰。2.3 可焊性不良。二极管来料检验作业指导二极管IN4148规范的目的是保
4、证二极管类元器件质量符合要求本检验规范适用于无特殊要求的二极管检验。1、抽样方法:2、合格质量水平1、质量标准2.5 可焊性良好二极管的正向电流、反向电压、稳压值符合供方产品手册。YB4810A 半导器管特性图示仪、万用表、卡尺、稳压源一台、电烙铁等。3、外观质量以目测为主。4、外形尺寸用卡尺测量。5、引脚用手轻扳两下,目测松动与否。6、可焊性7.1 反向电压用VR 表示,参数见供方产品手册。7.2 正向电流用IF 表示,参数见供方产品手册。7.3 稳压值测试范围见供方产品手册。2、重缺陷芯片来料检验作业指导芯片规范的目的是保证芯片类元器件质量符合要求二、适用范围:本检验规范适用于无特殊要求的
5、芯片检验。8、所用仪器、仪表、工具:9、以设计文件提供的型号、规格或样品件为准,参照产品手册逐项检验。10、 外观质量以目测为主。11、 外形尺寸用卡尺测量。12、 引脚用手轻扳两下,目测松动与否。13、 可焊性14、 性能测试电容来料检验作业指导电容瓷片电容、电解电容、双联电容规范的目的是保证电容类元器件质量符合要求本检验规范适用于无特殊要求的电容检验。按GB/T2828.12003执行逐批检查一次正常抽样方案,一般检查水平级。2功能检验:1.检验电容的容值.贴片电容用万用表可检验.电解电容可以直接在电容上面读出来,当然最好使用万用表查一下.2.爆接性能检验,贴片电容检验两端的爆点的可焊性的
6、好坏,电解电容检验其两个脚的可焊性.3.尺寸检验:贴片电容检查其长.宽.高.必须符合其设计时的尺寸公差,否则在SMT贴片时会出现偏移等缺陷.电解电容的尺寸主要是检查高度和两个脚之间的距离,不要在插件时无法使用.4.外观检验:1.贴片电容检查电容有无破损.2.电解电容主要检查有无爆皮,脱皮.5.包装检验:主要看包装上有无生厂厂家,出厂日期,生产日期,S/N,Lot/N.等信息.万用表力对引脚进行两次承受作用,上述试验后目测无可见损伤,引脚无松动,性能测试仍应符合要求。电阻来料检验作业指导电阻色环电阻规范的目的是保证电阻类元器件质量符合要求本检验规范适用于无特殊要求的电阻检验。标称电阻值和允许偏差应符合供方产品手册。万用表 , 电烙铁等
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