最新硬件测试标准最全可靠性测试Word文档下载推荐.docx

1、判断测试结果是否可接受；跟进问题的解决情况；改善检测方法。4. 抽样方案4.1 以具体的实验项目要求为准。5. 检验内容5.1 环境可靠性试验5.1.1 高温运行试验试验目的：验证手机在高温环境的适应性 。试验样品：2sets 试验内容：55，手机配齐SIM卡/T卡，装电池开机，进行12小时测试，运行时间从到达55温度始算起.试验后在箱内检查，要求产品的功能、外观正常.受测前样机胶塞必须安装归位.射频指标符合国家标准.对于翻/滑盖手机，1台开盖，1台合盖.（若屏/主板不同供应商，则样机各选2pcs，共4pcs）。判定标准: 1、壳体外观检查，缝隙，镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。 2

2、、功能检查（注意屏的显示是否有黑影，坏点等异常）。 3、触摸屏划写，点压准确性（如有触摸不准偏位等现象，进行屏幕校准看是否 可恢复） 。 4、MP3，FM，耳机，充电，滚轮。 5、实网通话一次，看送话和受话是否正常。5.1.2 低温运行试验试验目的:验证手机在低温环境下的适应性。试验样品: 2 sets 试验内容: -20，手机配齐SIM卡/T卡，装电池开机并运行老化软件，进行12小时测试，运行时间从到达-20温度始算起.试验后在箱内检查，要求产品的功能、外观正常.受测前样机胶塞必须安装归位.射频指标符合国家标准.对于翻/滑盖手机，2台开盖，1台合盖.（若屏/主板不同供应商，则样机各选2pcs

3、，共4pcs）。特别注意：俄罗斯项目需要测试低温下的充电功能（电池电压是否会升高）。1、壳体外观检查，缝隙，镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。 3、触摸屏划写，点压准确性（如有触摸不准偏位等现象，进行屏幕校准看是否可恢复）。5.1.3 高温贮存试验 应力释放和加速材料的老化。2 sets 80，手机配电池关机，存储时间24小时，贮存时间从温度到达80开始算起.在进行存储到24小时后，直接进行外观检查.受测前样机胶塞必须安装归位.再进行2小时回温后，开机进行电性能检查.对于翻/滑盖手机，2台开盖，1台合盖.（若屏/主板不同供应商，则样机各选2pcs，共4pcs）。1、壳体外观检查，缝隙，

4、LENS以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。5.1.4 低温贮存试验 试验目的：加速材料的脆化。 试验样品：-40，手机配电池关机，存储时间24小时，贮存时间从温度到达-40开始算起.在进行存储到16小时后，直接进行外观检查.受测前样机胶塞必须安装归位.再进行2小时回温后，开机进行功能、外观检查.对于翻/滑盖手机，2台开盖，1台合盖.（若屏/主板不同供应商，则样机各选2pcs，共4pcs）。判定标准：5.1.5 高温高湿试验验证手机在高温高湿环境下的适应性，诱发临界状态的问题暴露出来。60，95H%，配齐SIM卡/T卡.手机电池开机并运行老化软件，进行12小时测试，运行时间从到达45，95H

5、% 温度开始算起.受测前样机胶塞必须安装归位.试验后在箱内检查，要求产品的功能、外观正常，射频指标符合国家标准.对于翻/滑盖手机，2台开盖，1台合盖.（若屏/主板不同供应商，则样机各选2pcs，共4pcs）。 3、触摸屏划写，点压准确性（如有触摸不准偏位等现象，进行屏幕校准看是否可恢复） 。5.1.6 灰尘试验验证手机结构密闭性 。将试验样机不包装，装上所配电池，正常位置安装在适合的灰尘砂粒（灰尘量2千克每立方米）试验箱中.其体积综合不得超过试验箱的有效空间的1/3，底部面积不超过有效水平面积的1/2，试验样机之间及与试验箱内壁距离应不小于100mm.试验时，试验箱内温度为（15-35），相对

6、湿度45%-75%，试验箱内的气流速度应保持试验用灰尘均匀缓慢沉降在试验样机上，使最大风速不得超过2m/s，试验样机在该试验条件下保持8小时.停止吹风后，待粉尘完全沉降，才能取出试验样品.备注：测试时视整机出货状况决定是否需要封堵接口。 6.检查LCD窗口和CAM窗口是否进灰。 7.检查按键手感，按键是否由于进灰产生不灵敏或者失效。 8.检查所有I/O口的功能，尤其是没有保护的孔灵敏或者失效。5.1.7 盐雾试验 验证手机结构密闭性和抗腐蚀性能。 2 sets将试验样机装上所配电池，不包装状态下放入盐雾箱内，在35下，用PH值为6.57.2（酸性），浓度为（51）的氯化钠（NaCl）盐溶液连续

7、对试验样机喷雾2小时，喷雾结束后将试验样品转移到湿热箱中储存22小时，储存条件为温度（402），相对湿度为 9095.按上述规定喷雾并储存，构成一个循环，进行三个循环试验。备注：5.1.8 随机振动试验 试验样机抗振动性能 将试验样机装上所配电池，不包装.牢固地水平固定在振动台上；在对试验样机进行振动测试时，采用以下频率/幅度：频率520Hz时，随机振动ASD（加速度谱密度）为0.96m2/S3；频率20500Hz时，随机振动ASD（加速度谱密度）为0.96m2/S3（20Hz），其它-3dB/倍频程.将试验样机分别在X、Y、Z轴上振动，每个轴振动10分钟.在振动过程中，试验样机连接综测设备，

8、对试验样机进行射频性能测试。5.1.9 温度冲击测试验证手机结构、装饰件、焊接等在快速温变下的寿命。2sets将试验样机不包装，装上所配套电池，关机状态下，低温-402/1H，高温802/1H，转换时间5min，循环12次,共计24小时。5.2 机械可靠性试验5.2.1 自由跌落试验验证手机的结构以及主板器件的可靠性，整机抗多次跌落的能力。4sets 注意点：A.普通屏，研发阶段1.2米，大理石地面。 ，大理石地面。 ，研发阶段0.8米，大理石地面。 ,跌落高度为0.6米标准，大理石地面。 ,跌落高度为0.5米标准，大理石地面。 1、进行测试前，先检查手机功能正常；确认结构方面的初始状态（便于

9、跌落后进行比对）。2、将试验样品装上配套的电池/SIM卡/T卡，6面/4角，每个部位连续跌2次，总计20次，跌落顺序：上顶面下底面左侧面右侧面左上角右上角左下角右下角B面A面（屏面）。3、对于折叠、滑盖以及旋转结构试验样机，先跌开盖状态，每个面跌落1次，再在合盖状态下每个面跌1次，四个角每个角各2次。1.手机是否壳体开裂，键盘/侧键等弹出，螺丝松动，镜片脱落等现象。 2.手机是否在轻微扭曲/弯折后，正常开机。 3.功能是否正常。 4.跌落完毕，检查关机漏电流/待机的电流（漏电流1mA，待机的电流3mA）。 5.拍照后，照片的保存以及删除。 6.FM收台/使用；MP3耳机/外放效果。 7.充电/

10、耳机/USB功能识别/开启蓝牙，是否可以收到蓝牙耳机。 8.触摸屏校准2次；手写输入写短信后发出，发出2条。 9.测试完成后，无机械损伤和功能失效。试验样机内部屏蔽罩及其它元器件不能存在松脱或损坏现象，摇动试验样机应不出现任何异响。跌落过程中，允许有3次以下掉电及重启5.2.2 微跌落试验验证手机在正常使用中轻微撞击的适应性。 试验样品:将试验样机不包装，装上所配套电池，插入T卡及SIM卡。开机播放T卡MP3状态下，跌落高度为10cm，跌落面为PVC垫面，试验样机跌落方位顺序为：A面B面左面右面上顶面下底面，进行连续跌落每个面跌1000次总次数为6000次，且完成6000次测试时记录测试结果。跌落后检查试验样机的外观结构及各项功能，并进行电性能测试。 判定标准： 4.跌落完毕，检查关机漏电流/待机的电流（漏电流1mA，待机底电流3mA）。 8.