最新硬件测试标准最全可靠性测试Word文档下载推荐.docx

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判断测试结果是否可接受；

跟进问题的解决情况；

改善检测方法。

4.抽样方案

4.1以具体的实验项目要求为准。

5.检验内容

5.1环境可靠性试验

5.1.1高温运行试验

试验目的：

验证手机在高温环境的适应性。

试验样品：

2sets

试验内容：

55℃，手机配齐SIM卡/T卡，装电池开机，进行12小时测试，运行时间从到达55℃温度始算起.试验后在箱内检查，要求产品的功能、外观正常.受测前样机胶塞必须安装归位.射频指标符合国家标准.对于翻/滑盖手机，1台开盖，1台合盖.（若屏/主板不同供应商，则样机各选2pcs，共4pcs）。

判定标准:

1、壳体外观检查，缝隙，镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。

2、功能检查（注意屏的显示是否有黑影，坏点等异常）。

3、触摸屏划写，点压准确性（如有触摸不准偏位等现象，进行屏幕校准看是否可恢复）。

4、MP3，FM，耳机，充电，滚轮…。

5、实网通话一次，看送话和受话是否正常。

5.1.2低温运行试验

试验目的:

验证手机在低温环境下的适应性。

试验样品:

2sets

试验内容:

-20℃，手机配齐SIM卡/T卡，装电池开机并运行老化软件，进行12小时测试，运行时间从到达-20℃温度始算起.试验后在箱内检查，要求产品的功能、外观正常.受测前样机胶塞必须安装归位.射频指标符合国家标准.对于翻/滑盖手机，2台开盖，1台合盖.（若屏/主板不同供应商，则样机各选2pcs，共4pcs）。

特别注意：

俄罗斯项目需要测试低温下的充电功能（电池电压是否会升高）。

1、壳体外观检查，缝隙，镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。

3、触摸屏划写，点压准确性（如有触摸不准偏位等现象，进行屏幕校准看是否可恢复）。

5.1.3高温贮存试验

应力释放和加速材料的老化。

2sets

80℃，手机配电池关机，存储时间24小时，贮存时间从温度到达80℃开始算起.在进行存储到24小时后，直接进行外观检查.受测前样机胶塞必须安装归位.再进行2小时回温后，开机进行电性能检查.对于翻/滑盖手机，2台开盖，1台合盖.（若屏/主板不同供应商，则样机各选2pcs，共4pcs）。

1、壳体外观检查，缝隙，LENS以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。

5.1.4低温贮存试验

试验目的：

加速材料的脆化。

试验样品：

-40℃，手机配电池关机，存储时间24小时，贮存时间从温度到达-40℃开始算起.在进行存储到16小时后，直接进行外观检查.受测前样机胶塞必须安装归位.再进行2小时回温后，开机进行功能、外观检查.对于翻/滑盖手机，2台开盖，1台合盖.（若屏/主板不同供应商，则样机各选2pcs，共4pcs）。

判定标准：

5.1.5高温高湿试验

验证手机在高温高湿环境下的适应性，诱发临界状态的问题暴露出来。

60℃，95H%，配齐SIM卡/T卡.手机电池开机并运行老化软件，进行12小时测试，运行时间从到达45℃，95H%温度开始算起.受测前样机胶塞必须安装归位.试验后在箱内检查，要求产品的功能、外观正常，射频指标符合国家标准.对于翻/滑盖手机，2台开盖，1台合盖.（若屏/主板不同供应商，则样机各选2pcs，共4pcs）。

3、触摸屏划写，点压准确性（如有触摸不准偏位等现象，进行屏幕校准看是否可恢复）。

5.1.6灰尘试验

验证手机结构密闭性。

将试验样机不包装，装上所配电池，正常位置安装在适合的灰尘砂粒（灰尘量2千克每立方米）试验箱中.其体积综合不得超过试验箱的有效空间的1/3，底部面积不超过有效水平面积的1/2，试验样机之间及与试验箱内壁距离应不小于100mm.试验时，试验箱内温度为（15-35℃），相对湿度45%-75%，试验箱内的气流速度应保持试验用灰尘均匀缓慢沉降在试验样机上，使最大风速不得超过2m/s，试验样机在该试验条件下保持8小时.停止吹风后，待粉尘完全沉降，才能取出试验样品.备注：

测试时视整机出货状况决定是否需要封堵接口。

6.检查LCD窗口和CAM窗口是否进灰。

7.检查按键手感，按键是否由于进灰产生不灵敏或者失效。

8.检查所有I/O口的功能，尤其是没有保护的孔灵敏或者失效。

5.1.7盐雾试验

验证手机结构密闭性和抗腐蚀性能。

2sets

将试验样机装上所配电池，不包装状态下放入盐雾箱内，在35℃下，用PH值为6.5～7.2（酸性），浓度为（5±

1）％的氯化钠（NaCl）盐溶液连续对试验样机喷雾2小时，喷雾结束后将试验样品转移到湿热箱中储存22小时，储存条件为温度（40±

2）℃，相对湿度为90％～95％.按上述规定喷雾并储存，构成一个循环，进行三个循环试验。

备注：

5.1.8随机振动试验

试验样机抗振动性能

将试验样机装上所配电池，不包装.牢固地水平固定在振动台上；

在对试验样机进行振动测试时，采用以下频率/幅度：

频率5～20Hz时，随机振动ASD（加速度谱密度）为0.96m2/S3；

频率20～500Hz时，随机振动ASD（加速度谱密度）为0.96m2/S3（20Hz），其它-3dB/倍频程.将试验样机分别在X、Y、Z轴上振动，每个轴振动10分钟.在振动过程中，试验样机连接综测设备，对试验样机进行射频性能测试。

5.1.9温度冲击测试

验证手机结构、装饰件、焊接等在快速温变下的寿命。

2sets

将试验样机不包装，装上所配套电池，关机状态下，低温-40℃±

2℃/1H，高温80℃±

2℃/1H，转换时间≤5min，循环12次,共计24小时。

5.2机械可靠性试验

5.2.1自由跌落试验

验证手机的结构以及主板器件的可靠性，整机抗多次跌落的能力。

4sets

注意点：

A.普通屏，研发阶段1.2米，大理石地面。

，大理石地面。

，研发阶段0.8米，大理石地面。

跌落高度为0.6米标准，大理石地面。

跌落高度为0.5米标准，大理石地面。

1、进行测试前，先检查手机功能正常；

确认结构方面的初始状态（便于跌落后进行比对）。

2、将试验样品装上配套的电池/SIM卡/T卡，6面/4角，每个部位连续跌2次，总计20次，跌落顺序：

上顶面→下底面→左侧面→右侧面→左上角→右上角→左下角→右下角→B面→A面（屏面）。

3、对于折叠、滑盖以及旋转结构试验样机，先跌开盖状态，每个面跌落1次，再在合盖状态下每个面跌1次，四个角每个角各2次。

1.手机是否壳体开裂，键盘/侧键等弹出，螺丝松动，镜片脱落等现象。

2.手机是否在轻微扭曲/弯折后，正常开机。

3.功能是否正常。

4.跌落完毕，检查关机漏电流/待机的电流（漏电流≤1mA，待机的电流≤3mA）。

5.拍照后，照片的保存以及删除。

6.FM收台/使用；

MP3耳机/外放效果。

7.充电/耳机/USB功能识别/开启蓝牙，是否可以收到蓝牙耳机。

8.触摸屏校准2次；

手写输入写短信后发出，发出2条。

9.测试完成后，无机械损伤和功能失效。

试验样机内部屏蔽罩及其它元器件不能存在松脱或损坏现象，摇动试验样机应不出现任何异响。

跌落过程中，允许有3次以下掉电及重启

5.2.2微跌落试验

验证手机在正常使用中轻微撞击的适应性。

试验样品:

将试验样机不包装，装上所配套电池，插入T卡及SIM卡。

开机播放T卡MP3状态下，跌落高度为10cm，跌落面为PVC垫面，试验样机跌落方位顺序为：

A面—B面—左面—右面—上顶面—下底面，进行连续跌落每个面跌1000次总次数为6000次，且完成6000次测试时记录测试结果。

跌落后检查试验样机的外观结构及各项功能，并进行电性能测试。

判定标准：

4.跌落完毕，检查关机漏电流/待机的电流（漏电流≤1mA，待机底电流≤3mA）。

8.