1、共有N个,不合格品M个,抽n个,恰有m个不合格品的概率Am。 ()()P(Am)= ,m=0,1,r()10、放回抽样P(Bm):P(Bm)=()()m(1-)n-m,m=0,1,n11、概率性质:11.1非负性:0P(A)111.2 :P(A)+ P()=111.3若AB:P(A-B)= P(A)-P(B)11.4 P(AB)= P(A)+P(B)-P(AB);若A与B互不相容,P(AB)=011.5对于多个互不相容事件:P(A1A2A3)=P(A1)+P(A2)+P(A3)12、条件概率:P(A|B)P(A|B)=,(P(B)0)13、随机变量分布的均值E(X)、方差Var(X)与标准差(
2、X)xipi,X是离散分布13.1 E(X)= ,X是连续分布xi-E(X)2pi,X是离散分布13.2 Var(X)= ,X是连续分布13.3=(X)=14、常用分布14.1二项分布:P(X=x)=()Px(1-P)n-x,x=0,1,nE(X)=np;Var(X)=np(1-p)14.2泊松分布:P(X=x)=e,x=0,1,2, E(X)=;Var(X)=14.3超几何分布: ()()P(X=x)= ,x=0,1,r ()E(X)=;Var(X)=(1-)14.4正态分布:P(x)=e,-xa)=1-(a);(-a)=1-(a);P(aub)=(b)-(a)XN(,2),则U=N(0,1
3、)14.6均匀分布:,abp(x)=0,其他E(X)=(a+b)/2;Var(X)=14.7对数正态分布:x=E(X)=expy+2y/22x=Var(X)=2xexp(2y)-114.8指数分布:e, x00,x0u1-u u1-/2 t检验t=tt1-(n-1)tt1-/2(n-1) 检验u未知=(n-1)3、一元线性回归方程: b=,a=4、回归方程的显著性检验(方差分析):总离差平方和ST、回归平方和SR、残差平方和SE及其自由度ST=Lyy,SR=bLxy,SE=ST-SR fT=n-1,fR=1,fE=fT-fR=n-2,F=5、利用回归方程进行预测:可以给出1-的y的预测区间(,
4、)6、一般的正交表为Ln(qp) n=qk,k=2,3,4,p=(n-1)/(q-1)第三章1、接收概率1.1超几何分布计算法:此公式用于有限总体计件抽检时。L(p)=1.2二项分布计算法:此公式用于无限总体计件抽检时。1.3泊松分布计算法:此公式用于计点抽检时。2、计数挑选型抽样平均检验总数(ATI),记作=nL(p)+N1-L(p)3、计数挑选型抽样平均检出质量(AOQ)AOQ第四章1、双侧公差过程能力指数:2、单侧公差过程能力指数:3、有偏移情况的过程能力指数:其中K=第五章1、可靠度函数、累积故障(失效)分布函数R(t)+F(t)=12、故障密度函数:f(t)=3、可靠度:R(t)=4
5、、故障(失效)率:5、平均失效(故障)前时间(MTTF):MTTF=当产品的寿命服从指数分布时,MTTF=6、平均故障间隔时间(MTBF)可修复产品,MTBF=完全修复的产品,MTBF= MTTF=7、平均修复时间(MTTR)MTTR=第六章1、西格码水平Z:Z=2、百万机会缺陷数DPMO:DPMO=有几张图是必须要看清楚并牢记的1维恩图;(用于计算概率、条件概率,互不相容等问题) 2正态曲线;(正态分布的计算、概念;合格品率/不合格品率的计算;帮助理解控制图原理和记忆常规控制图的控制限;过程能力指数的计算;西格玛水平的计算) 3OC曲线;(第三章的核心,需要深刻理解) 4F(t)、R(t)、f(t)的关系图; 5网络图;(节点时间、作业时间的计算;关键线路、关键工序的确定)
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