电子材料来料检验标准.docx

1、电子材料来料检验标准目 录1、 电阻器检验第3-4页2、 电解电容检验第5-6页3、 薄膜.贴片电容检 第7-8页4、 三极管MOS管检验第9页5、 二极管检验第10页6、 线路板检验第11页7、 电感，变压器检验第12页8、跳线检验 第13页9、导线检验 第14页10、接线端子检验第15页11、塑料外壳检验第16页12、助焊剂检验第17页13、焊锡检验第18页14、灯珠检验第19页一、电阻器检验电阻通用检验方法1检验项目：型号规格、外观、尺寸、电阻值、可焊性、耐温性、耐压性、真伪性、耐冲击性2检验设备：游标卡尺、锡炉、LCR数字电桥、高温箱3抽样标准：GB/T2828.1-2003 AQL-

2、 MI=2.5 MA=0.4 CR=04检验步骤：4.1型号规格、外观检验：a）检验方法：目测法b）要求：型号正确，色环、标志正确，且要清晰、可识别；电阻油漆不起皮，无机械损伤；引脚无氧化，无断裂，无涂漆。贴片电阻外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确。4.2尺寸检验：a）检验方法：用游标卡尺测量b）要求：尺寸应与样品一致。4.3电阻值检验：a）检验方法：LCR数字电桥测量（测试方式为串联1KHZ）b）要求：电阻值在标称值的允许范围内。4.4可焊性检验：a）检验方法：待测电阻先浸助焊剂，然后浸入适度温度的锡炉中（以插件组调试的温度为准），浸锡时间3秒，浸锡深度距离电阻体根部2mm。b）要

3、求：浸锡部分上锡良好，光亮、无针孔现象。 4.5耐温性检验： a）检验方法：把电阻放入高温箱测试 把电阻放进高温箱，温度100，1小时后取出电阻待其冷却后用LCR数字电桥测其阻值。 b) 要求：电阻值应保持在标称值的允许范围内。电阻特殊检验方法 4.6 耐压测试（只针对碳膜电阻470K 1/2W、560K 1/2W、680K 1/2W）: a) 测试仪器：耐压测试仪 b) 测试条件：漏电流0.5mA，根据公式U P*R 设置测试电压（U为直流） c) 测试方法：在上述条件下，连续通电1分钟不击穿。 d) 冲击试验：连续冲击被测电阻10次，电阻不能有击穿现象。 e）要求：经过上述试验，被测电阻阻

4、值应保持在标称5%范围内。 4.7 保险用电阻检验（只针对脉冲电阻、线绕电阻）: a) 真伪检验：用介刀刮开电阻漆层 b) 要求（脉冲电阻）：电阻体为黑色无刻槽 c) 要求（线绕电阻）：电阻体有银色线缠绕在上面 e) 冲击试验：各电阻接上相应的负载作连续冲击试验（开1秒关10秒）10次 脉冲电阻10R 1/4W 接200W/220V白炽灯泡负载 脉冲电阻3.6R 1/2W 接500W/220V白炽灯泡负载 线绕电阻3.9R 1/2W 接800W/220V白炽灯泡负载 线绕电阻2.2R 1WS 接1500W/220V纯阻负载 f) 要求：经过上述试验，被测电阻不能烧断5、缺陷部分：检验项目缺陷内

5、容缺陷判定CRMAMI规格、外观1.型号错识或无标志，色环错误或色环无法辨认。2.主体破裂，引脚断裂，严重氧化。3.引脚根部涂漆超过2mm。1.标志不清晰，但能辨认。2.引脚轻微氧化，但可上锡。3.引脚有轻微涂漆，但不影响上锡。尺寸1.尺寸严重偏大或偏小，严重影响使用。1.尺寸有偏差，但不影响使用。电阻值1.实际阻值超出误差范围5%可焊性1.上锡不良，不良总面积超过10%。1.可上锡，但浸润不充分，有针孔。耐温性1.电阻值超出标称5%范围。耐压性1. 碳膜电阻470K 1/2W、560K 1/2W、680K 1/2W不能通过耐压测试2. 碳膜电阻470K 1/2W、560K 1/2W、680K

6、 1/2W不能通过冲击测试真伪性1. 保险用电阻没有上述的特征耐冲击性2. 保险用电阻不能通过冲击试验二、电解电容检验1.检验项目：型号规格、外观、尺寸、容量、损耗角、可焊性、耐压、漏电流、耐温性2.检验设备：游标卡尺、锡炉、LCR数字电桥、高温箱、漏电流测试仪3.抽样标准：GB/T2828.1-2003 AQL- MI=2.5 MA=0.4 CR=04.检验步骤：4.1型号规格、外观检验：a）检验方法：目测法b）要求：型号正确、标志（极性，容量，耐压等）清晰可识别，电解电容的极性正确，短脚端为负极。主体及绝缘皮无破裂，引脚油漆不超过1.0mm，引脚无氧化，无机械损伤（即明显变形），无电解液流

7、出现象。4.2尺寸检验：a）检验方法：用游标卡尺测量b）要求：尺寸应与样品一致。4.3容量检验：a） 检验方法：LCR数字电桥测量，测试方式为串联，频率为100Hz。b）要求：实际容量在标称容量误差范围内（+20%、-10%），损耗角D值0.08。4.4可焊性检验：a）检验方法：待测电解电容先浸助焊剂，然后浸入适度温度的锡炉中（以插件组调试的温度为准），浸锡时间3秒，浸锡深度距离电容体根部2mm。b）要求：浸锡部分上锡良好，光亮、无针孔现象。4.5漏电流和耐压检验：a）检验方法：用漏电流测试仪。b）要求：测试电压为标称值的1倍电压。漏电流计算公式I0.03VC+20A。 4.6耐温性测试：a）

8、检验方法：把电解电容放入高温箱测试。b）检验条件：温度设为105，电压设为标称1.05倍的直流电压，在此条件下放置8小时后取出电容，待其完全冷却后重新检测其容量、损耗角、漏电流。c）要求：所测容量应在允许误差范围内（+20%、-10%）。 漏电流和损耗角D值应符合要求。不能有严重冒顶或爆裂现象。5.缺陷分类检验项目缺陷内容缺陷判定CRMAMI外观1.型号错，无极性标志，极性标志错误。2.电容体破裂，引脚断，氧化，涂漆超过1.0mm。3.主体有严重机械损伤。4.电解液漏出。5.有冒顶现象。6.体积大小不一致。 1.标志不清晰，但能辨认。2.引脚轻微氧化，但可上锡。3.主体有轻微机械损伤。尺寸1.

9、尺寸严重偏大或偏小，严重影响使用。1.尺寸有偏差，但不影响使用。电容量1.在标称容量误差范围之外。可焊性1.上锡不良，不良总面积超过10%。1.可上锡，但浸润不充分，有针孔。耐压1.耐压值不符合技术参数要求。漏电流1.漏电流超出技术参数要求。耐高温性1.高温测试后容量、损耗角、漏电流均不符合要求。1.高温测试后有冒顶或爆裂现象。三、薄膜电容，贴片电容检验1.检验项目：型号规格、外观、尺寸、容量、损耗角、可焊性、耐压2.检验设备：游标卡尺、锡炉、LCR数字电桥、高压测试仪3.抽样标准：GB/T2828.1-2003 AQL- MI=2.5 MA=0.4 CR=0 4.检验步骤：4.1型号规格、外

10、观检验：a）检验方法：目测法a. b）要求：型号正确、标志（容量、耐压）清晰可识别，主体及绝缘皮无破裂，引脚b. 油漆不超过1.0mm，引脚无氧化，无机械损伤（即明显变形）。贴片电容外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确.无破损。4.2尺寸检验：a）检验方法：用游标卡尺测量b）要求：尺寸应与样品一致。4.3容量、损耗角D值：a）检验方法：用LCR数字电桥测量，测试方式为串联，频率为1KHzb）要求：实际容量在标称容量误差范围内：J:5%；K:10%；M:20%c）损耗角D值：CL11、CL21：0.005；CBB13、CBB18、CBB21、CBB28、CBB411、CBB81：0.00

11、1。4.4可焊性检验：a）检验方法：待测薄膜电容先浸助焊剂，然后浸入适度温度的锡炉中（以插件组调试 的温度为准），浸锡时间3秒，浸锡深度距离电容体根部2mm。贴片电容两端沾锡膏过回流焊。b）要求：浸锡部分上锡良好，光亮、无针孔现象。 4.5 耐压检验： a）检验方法：用高压测试仪检测 b）测试条件： X2安规电容：测试电压为2KV直流电压，漏电流设为2mA，时间为1分钟； CL11电容：测试电压为标称耐压2倍直流电压，漏电流设为2mA，时间为1分钟； CL21电容：测试电压为标称耐压2倍直流电压，漏电流设为2mA，时间为1分钟； CBB电容：测试电压为标称耐压3倍直流电压，漏电流设为2mA，时

12、间为1分钟；c）要求：电容不能有击穿现象，测试后须重新测量容量和损耗角，容量应在允许误差范围内，损耗角D值应符合要求。4.6耐温性测试：a）检验方法：把薄膜电容，贴片电容放入高温箱测试。b）检验条件：温度设为100，在此条件下放置12小时后取出电容，待其完全冷却后重新检测其容量、损耗角、耐压值。c）要求：所测容量应在允许误差范围内 J:5%；K:10%；M:20%。 损耗角D值和耐压值应符合要求。 5.缺陷分类检验项目缺陷内容缺陷判定CRMAMI外观1.型号错。2.电容体破裂，引脚断，氧化，涂漆超过1.0mm。3.主体有严重机械损伤。4.有膨胀现象。5体积大小不一致。 1.标志不清晰，但能辨认

13、。2.引脚轻微氧化，但可上锡。3.主体有轻微机械损伤。尺寸1.尺寸严重偏大或偏小，严重影响使用。1.尺寸有偏差，但不影响使用。电容量1.在标称容量误差范围之外。可焊性1.上锡不良，不良总面积超过10%。1.可上锡，但浸润不充分，有针孔。耐压1.耐压值不符合技术参数要求。耐高温性1.高温测试后容量、损耗角均不符合要求。2.高温测试后有爆裂现象。四、三极管MOS管检验1.检验项目：型号规格、外观、尺寸、可焊性、耐压、开关时间、放大倍数2.检验设备：游标卡尺、锡炉、UI9600A型晶体管多功能筛选仪、机械万用表3.抽样标准：GB/T2828.1-2003 AQL- MI=2.5 MA=0.4 CR=04.检验步骤：4.1型号规格、外观检验：a）检验方法：目测法b）要求：型号规格正确，标志清晰可识