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电子材料来料检验标准.docx

电子材料来料检验标准

 

 

目录

1、电阻器检验……………………………………………………………第3-4页

2、电解电容检验…………………………………………………………第5-6页

3、薄膜.贴片电容检……………………………………………………第7-8页

4、三极管MOS管检验………………………………………………………第9页

5、二极管检验……………………………………………………………第10页

6、线路板检验……………………………………………………………第11页

7、电感,变压器检验……………………………………………………第12页

8、跳线检验………………………………………………………………第13页

9、导线检验………………………………………………………………第14页

10、接线端子检验…………………………………………………………第15页

11、塑料外壳检验…………………………………………………………第16页

12、助焊剂检验…………………………………………………………第17页

13、焊锡检验……………………………………………………………第18页

14、灯珠检验……………………………………………………………第19页

 

一、电阻器检验

电阻通用检验方法

1.检验项目:

型号规格、外观、尺寸、电阻值、可焊性、耐温性、耐压性、真伪性、耐冲击性

2.检验设备:

游标卡尺、锡炉、LCR数字电桥、高温箱

3.抽样标准:

GB/T2828.1-2003AQL-ⅡMI=2.5MA=0.4CR=0

4.检验步骤:

4.1型号规格、外观检验:

a)检验方法:

目测法

b)要求:

型号正确,色环、标志正确,且要清晰、可识别;电阻油漆不起皮,无机械损伤;引脚无氧化,无断裂,无涂漆。

贴片电阻外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确。

4.2尺寸检验:

a)检验方法:

用游标卡尺测量

b)要求:

尺寸应与样品一致。

4.3电阻值检验:

a)检验方法:

LCR数字电桥测量(测试方式为串联1KHZ)

b)要求:

电阻值在标称值的允许范围内。

4.4可焊性检验:

a)检验方法:

待测电阻先浸助焊剂,然后浸入适度温度的锡炉中(以插件组调试的温度为准),浸锡时间3秒,浸锡深度距离电阻体根部2mm。

b)要求:

浸锡部分上锡良好,光亮、无针孔现象。

4.5耐温性检验:

a)检验方法:

把电阻放入高温箱测试

把电阻放进高温箱,温度100℃,1小时后取出电阻待其冷却后用LCR数字电桥测其阻值。

b)要求:

电阻值应保持在标称值的允许范围内。

电阻特殊检验方法

4.6耐压测试(只针对碳膜电阻470K1/2W、560K1/2W、680K1/2W):

a)测试仪器:

耐压测试仪

b)测试条件:

漏电流0.5mA,根据公式U=P*R设置测试电压(U为直流)

c)测试方法:

在上述条件下,连续通电1分钟不击穿。

d)冲击试验:

连续冲击被测电阻10次,电阻不能有击穿现象。

e)要求:

经过上述试验,被测电阻阻值应保持在标称±5%范围内。

4.7保险用电阻检验(只针对脉冲电阻、线绕电阻):

a)真伪检验:

用介刀刮开电阻漆层

b)要求(脉冲电阻):

电阻体为黑色无刻槽

c)要求(线绕电阻):

电阻体有银色线缠绕在上面

e)冲击试验:

各电阻接上相应的负载作连续冲击试验(开1秒关10秒)10次

脉冲电阻10R1/4W接200W/220V白炽灯泡负载

脉冲电阻3.6R1/2W接500W/220V白炽灯泡负载

线绕电阻3.9R1/2W接800W/220V白炽灯泡负载

线绕电阻2.2R1WS接1500W/220V纯阻负载

f)要求:

经过上述试验,被测电阻不能烧断

 

5、缺陷部分:

检验项目

缺陷内容

缺陷判定

CR

MA

MI

规格、外观

1.型号错识或无标志,色环错误或色环无法辨认。

2.主体破裂,引脚断裂,严重氧化。

3.引脚根部涂漆超过2mm。

1.标志不清晰,但能辨认。

2.引脚轻微氧化,但可上锡。

3.引脚有轻微涂漆,但不影响上锡。

尺寸

1.尺寸严重偏大或偏小,严重影响使用。

1.尺寸有偏差,但不影响使用。

电阻值

1.实际阻值超出误差范围±5%

可焊性

1.上锡不良,不良总面积超过10%。

1.可上锡,但浸润不充分,有针孔。

耐温性

1.电阻值超出标称±5%范围。

耐压性

1.碳膜电阻470K1/2W、560K1/2W、680K1/2W不能通过耐压测试

2.碳膜电阻470K1/2W、560K1/2W、680K1/2W不能通过冲击测试

真伪性

1.保险用电阻没有上述的特征

耐冲击性

2.保险用电阻不能通过冲击试验

 

二、电解电容检验

1.检验项目:

型号规格、外观、尺寸、容量、损耗角、可焊性、耐压、漏电流、耐温性

2.检验设备:

游标卡尺、锡炉、LCR数字电桥、高温箱、漏电流测试仪

3.抽样标准:

GB/T2828.1-2003AQL-ⅡMI=2.5MA=0.4CR=0

4.检验步骤:

4.1型号规格、外观检验:

a)检验方法:

目测法

b)要求:

型号正确、标志(极性,容量,耐压等)清晰可识别,电解电容的极性正确,

短脚端为负极。

主体及绝缘皮无破裂,引脚油漆不超过1.0mm,引脚无氧化,无机械损伤(即明显变形),无电解液流出现象。

4.2尺寸检验:

a)检验方法:

用游标卡尺测量

b)要求:

尺寸应与样品一致。

4.3容量检验:

a)检验方法:

LCR数字电桥测量,测试方式为串联,频率为100Hz。

b)要求:

实际容量在标称容量误差范围内(+20%、-10%),损耗角D值<0.08。

4.4可焊性检验:

a)检验方法:

待测电解电容先浸助焊剂,然后浸入适度温度的锡炉中(以插件组调试的温度为准),浸锡时间3秒,浸锡深度距离电容体根部2mm。

b)要求:

浸锡部分上锡良好,光亮、无针孔现象。

4.5漏电流和耐压检验:

a)检验方法:

用漏电流测试仪。

b)要求:

测试电压为标称值的1倍电压。

漏电流计算公式I≤0.03VC+20μA。

4.6耐温性测试:

a)检验方法:

把电解电容放入高温箱测试。

b)检验条件:

温度设为105℃,电压设为标称1.05倍的直流电压,在此条件下放置8小时后取出电容,待其完全冷却后重新检测其容量、损耗角、漏电流。

c)要求:

所测容量应在允许误差范围内(+20%、-10%)。

漏电流和损耗角D值应符合要求。

不能有严重冒顶或爆裂现象。

 

5.缺陷分类

检验项目

缺陷内容

缺陷判定

CR

MA

MI

外观

1.型号错,无极性标志,极性标志错误。

2.电容体破裂,引脚断,氧化,涂漆超过1.0mm。

3.主体有严重机械损伤。

4.电解液漏出。

5.有冒顶现象。

6.体积大小不一致。

1.标志不清晰,但能辨认。

2.引脚轻微氧化,但可上锡。

3.主体有轻微机械损伤。

尺寸

1.尺寸严重偏大或偏小,严重影响使用。

1.尺寸有偏差,但不影响使用。

电容量

1.在标称容量误差范围之外。

可焊性

1.上锡不良,不良总面积超过10%。

1.可上锡,但浸润不充分,有针孔。

耐压

1.耐压值不符合技术参数要求。

漏电流

1.漏电流超出技术参数要求。

耐高温性

1.高温测试后容量、损耗角、漏电流均不符合要求。

1.高温测试后有冒顶或爆裂现象。

 

三、薄膜电容,贴片电容检验

1.检验项目:

型号规格、外观、尺寸、容量、损耗角、可焊性、耐压

2.检验设备:

游标卡尺、锡炉、LCR数字电桥、高压测试仪

3.抽样标准:

GB/T2828.1-2003AQL-ⅡMI=2.5MA=0.4CR=0

4.检验步骤:

4.1型号规格、外观检验:

a)检验方法:

目测法

a.b)要求:

型号正确、标志(容量、耐压)清晰可识别,主体及绝缘皮无破裂,引脚

b.油漆不超过1.0mm,引脚无氧化,无机械损伤(即明显变形)。

贴片电容外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确.无破损。

4.2尺寸检验:

a)检验方法:

用游标卡尺测量

b)要求:

尺寸应与样品一致。

4.3容量、损耗角D值:

a)检验方法:

用LCR数字电桥测量,测试方式为串联,频率为1KHz

b)要求:

实际容量在标称容量误差范围内:

J:

±5%;K:

±10%;M:

±20%

c)损耗角D值:

CL11、CL21:

<0.005;

CBB13、CBB18、CBB21、CBB28、CBB411、CBB81:

<0.001。

4.4可焊性检验:

a)检验方法:

待测薄膜电容先浸助焊剂,然后浸入适度温度的锡炉中(以插件组调试的温度为准),浸锡时间3秒,浸锡深度距离电容体根部2mm。

贴片电容两端沾锡膏过回流焊。

b)要求:

浸锡部分上锡良好,光亮、无针孔现象。

4.5耐压检验:

a)检验方法:

用高压测试仪检测

b)测试条件:

X2安规电容:

测试电压为2KV直流电压,漏电流设为2mA,时间为1分钟;

CL11电容:

测试电压为标称耐压2倍直流电压,漏电流设为2mA,时间为1分钟;

CL21电容:

测试电压为标称耐压2倍直流电压,漏电流设为2mA,时间为1分钟;

CBB电容:

测试电压为标称耐压3倍直流电压,漏电流设为2mA,时间为1分钟;

c)要求:

电容不能有击穿现象,测试后须重新测量容量和损耗角,容量应在允许误差范围内,损耗角D值应符合要求。

4.6耐温性测试:

a)检验方法:

把薄膜电容,贴片电容放入高温箱测试。

b)检验条件:

温度设为100℃,在此条件下放置12小时后取出电容,待其完全冷却后重新检测其容量、损耗角、耐压值。

c)要求:

所测容量应在允许误差范围内J:

±5%;K:

±10%;M:

±20%。

损耗角D值和耐压值应符合要求。

 

5.缺陷分类

检验项目

缺陷内容

缺陷判定

CR

MA

MI

外观

1.型号错。

2.电容体破裂,引脚断,氧化,涂漆超过1.0mm。

3.主体有严重机械损伤。

4.有膨胀现象。

5.体积大小不一致。

1.标志不清晰,但能辨认。

2.引脚轻微氧化,但可上锡。

3.主体有轻微机械损伤。

尺寸

1.尺寸严重偏大或偏小,严重影响使用。

1.尺寸有偏差,但不影响使用。

电容量

1.在标称容量误差范围之外。

可焊性

1.上锡不良,不良总面积超过10%。

1.可上锡,但浸润不充分,有针孔。

耐压

1.耐压值不符合技术参数要求。

耐高温性

1.高温测试后容量、损耗角均不符合要求。

2.高温测试后有爆裂现象。

四、三极管MOS管检验

1.检验项目:

型号规格、外观、尺寸、可焊性、耐压、开关时间、放大倍数

2.检验设备:

游标卡尺、锡炉、UI9600A型晶体管多功能筛选仪、机械万用表

3.抽样标准:

GB/T2828.1-2003AQL-ⅡMI=2.5MA=0.4CR=0

4.检验步骤:

4.1型号规格、外观检验:

a)检验方法:

目测法

b)要求:

型号规格正确,标志清晰可识

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