元器件检验通用标准.docx
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元器件检验通用标准
来料检验标准
版本:
第三版
文件编号:
WI/HV-12-001
受控状态:
碳膜电阻
修改页:
第1页共53页
抽样检验标准:
依据MIL-STD-105D-Ⅱ;MI:
AQL=1.5;MA:
AQL=1.0;CR:
AQL=0.65
MI:
次要缺陷MA:
主要缺陷CR:
致命缺陷
序号
检验
项目
检验标准及要求
AQL
检验方法
1
外观
色环标识
色环标识与电阻标称值精度等级是否一一致.
用毛刷沾洗板水轻擦色环,不能出现脱色现象。
MI
目测
元件体
电阻有无破损,引脚是否氧化。
MI
目测
2
尺寸
符合产品工程图;符合实际装配。
MA
钢尺或游标卡尺
3
电性
1.用LCR电桥测量电阻值是否在偏差允许范围内,电阻值小于10K的用串联方式,频率选用100Hz.电阻值大于等于10K的用并联方式,频率选用100Hz。
2.分别在高温85℃、低温-20℃、温度93%±3%、100CM高度自由跌落3次,对应R值均符合标称值以及偏差允许范围。
3.碳膜电阻误差值:
±5%
MA
LCR电桥
4
可焊性
用40W烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在230±5℃锡炉中一次上锡面积大于85%。
表面色环的
颜色不发生变化。
MA
烙铁
小锡炉
5
材料
1.所用材料与样品相符。
2.与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。
3.外壳用刀片刮取,壳体坚韧度需符合。
MA
目测、对比样品
刀片
6
包装标识
1、包装材料用料正确。
2、小包装方式、数量无误。
3、装箱方式、数量无误。
4、(内包装、外箱)标识单内容正确。
MA
目测
拟制:
审核:
批准:
日期
日期
日期
来料检验标准
版本:
第三版
文件编号:
WI/HV-12-002
受控状态:
金属膜电阻类
修改页:
第2页共53页
抽样检验标准:
依据MIL-STD-105D-Ⅱ;MI:
AQL=1.5;MA:
AQL=1.0;CR:
AQL=0.65
MI:
次要缺陷MA:
主要缺陷CR:
致命缺陷
序号
检验
项目
检验标准及要求
AQL
检验方法
1
外观
色环标识
色环标识与电阻标称值精度等级是否一致。
MI
目测
元件体
电阻有无破损,引脚是否氧化。
MI
目测
2
尺寸
符合产品工程图。
MA
钢尺或游标卡尺
3
电性
1.室温下用LCR电桥测量电阻值是否在偏差允许范围内,电阻值小于10K的用串联方式,频率选用100Hz;电阻值大于等于10K的用并联方式,频率选用100Hz。
2.分别在75℃、-5℃以下、湿度93%±3%、100CM高度自由跌落3次,对应R值均符合标称值及偏差允许范围。
MA
LCR电桥
4
3.金属膜、精密电阻阻值偏差不得超出标称值的上下限。
4.金属膜电阻误差值±1%
CR
5
可焊性
用40W烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在230±5℃锡炉中,一次上锡面积大于85%。
MA
烙铁
小锡炉
6
材料
1、所用材料与样品相符。
2、与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。
MA
目测、对比样品
7
包装标识
1、包装材料用料正确。
2、小包装方式、数量无误。
3、装箱方式、数量无误。
4、(内包装、外箱)标识单内容正确。
MI
目测
拟制:
审核:
批准:
日期
日期
日期
来料检验标准
版本:
第三版
文件编号:
WI/HV-12-003
受控状态:
氧化膜电阻
修改页:
第3页共53页
抽样来料检验标准:
依据MIL-STD-105D-Ⅱ;MI:
AQL=1.0;MA:
AQL=0.65;CR:
AQL=0
MI:
次要缺陷MA:
主要缺陷CR:
致命缺陷
序号
检验
项目
检验标准及要求
AQL
检验方法
1
外观
丝印
色环标识与电阻标称值精度等级是否一致。
MI
目测
元件体
电阻有无破损,引脚是否氧化。
MI
目测
2
尺寸
外形尺寸是否符合产品工程图。
MA
钢尺或游标卡尺
3
电性
1.用LCR电桥测量电阻值是否在偏差允许范围内,电阻值小于10K的用串联方式,频率选用100Hz;
2.分别在75℃、-5℃、湿度93%±3%、100CM
高度自由跌落3次,对应R值均符合标称值及偏差允许范围
CR
LCR电桥
4
材料
所用材料与样品相符
MA
目测、对比样品
5
包装标识
1.包装材料用料正确。
2.小包装方式、数量无误。
3.装箱方式、数量无误。
4.(内包装、外箱)标识单内容正确。
MI
目测
拟制:
审核:
批准:
日期
日期
日期
来料检验通用标准
版本:
第三版
文件编号:
WI/HV-12-004
受控状态:
AI机用的电阻、二极管引脚标准要求
修改页:
第4页共53页
抽样检验标准:
依据MIL-STD-105D-Ⅱ;MI:
AQL=1.5;MA:
AQL=1.0;CR:
AQL=0.65
MI:
次要缺陷MA:
主要缺陷CR:
致命缺陷
碳膜电阻、金膜电阻、二极管1N4148、二极管1N4007引脚直径
序号
检验
项目
检验标准及要求
AQL
检验方法
1
电阻
引脚
1.1/4W碳膜、金膜电阻引脚直径要求必需达0.43-0.5mm
2.1/4W电阻要求带编带(26mm),编带中间电阻引脚的两端
尺寸为26mm,也有52mm。
3.电阻引脚与编带不允许有歪斜、弯曲、变形等现象。
CR
数字卡尺
目测
2
二极管
1N4148
引脚
1、二极管1N4148引脚直径为0.45-0.5mm。
2.二极管1N4148要求带编带(26mm),编带中间二极管1N4148引脚的两端尺寸为26mm。
3.二极管1N4148引脚与编带不允许有歪斜、弯曲、变形等现象
CR
数字卡尺
目测
3
二极管
1N4007
引脚
1.二极管1N4007引脚直径为0.68-0.73mm。
2.二极管1N4007要求带编带(58mm),编带中间二极管1N4007引脚的两端尺寸为58mm。
3.二极管1N4007引脚与编带不允许有歪斜、弯曲、变形等现象
CR
数字卡尺
目测
4
可焊性
用40W烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在230±5℃锡炉中,一次上锡面积大于85%。
MI
烙铁
小锡炉
5
材料
1.所用材料与样品相符。
2.与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。
MA
目测、对比样品
6
包装
标识
1.包装材料用料正确。
3.装箱方式、数量无误。
2.小包装方式、数量无误。
4.内包装、外箱标识单内容正确。
MI
目测
拟制:
审核:
批准:
日期
日期
日期
、
来料检验标准
版本:
第三版
文件编号:
WI/HV-12-005
受控状态:
瓷片电容
修改页:
第5页共53页
抽样检验标准:
依据MIL-STD-105D-Ⅱ;MI:
AQL=1.5;MA:
AQL=1.0;CR:
AQL=0.65
MI:
次要缺陷MA:
主要缺陷CR:
致命缺陷
电容:
104P/50V+80%-20%102P/50V+80%-20%(直径φ5脚距5mm)
序号
检验
项目
检验标准及要求
AQL
检验方法
1
外观
丝印
丝印是否清晰可辩,标识是否与来料相符。
MI
目测
元件体
引脚是否氧化,元件体是否有毛刺和破损、划伤、裂痕等。
MI
目测
2
尺寸
符合产品工程图。
脚距5mm,φ6mm,符合实际装配。
MA
钢尺或游标卡尺
3
电性
1.使用数字电容测试仪检测其容量是否在允许范围内,漏电流检测仪检测其额定耐压与漏电流的大小。
2.常温下用数字电容测试仪检测电容值为0.1UF+80%-20%(0.001mF+80%-20%),损耗角≤0.05。
3.常温下,用绝缘电阻测试仪测其绝缘阻≥10000MΩ
4.常温下,用耐压测试仪测端子间耐压值75V;端子与外壳间耐压值为100V,应元击穿或飞弧现象(高温区95℃-105℃检测方法相同)。
5.将其放于95℃~105℃及低温-18℃以下,使用数字电容测试仪检测测其电容值为0.1UF+80%-20%(0.001mF+80%-20%).
6.手工浸水湿度93%±3%用数字电容测试仪测其电容0.1UF+80%-20%(0.001mF+80%-20%).
CR
数字电容测试仪
漏电流测试仪
耐压测试仪
绝缘电阻测试仪
4
可焊性
用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在230±5℃锡炉中,一次上锡面积大于85%。
MI
烙铁
小锡炉
5
材料
1、所用材料与样品相符。
2、与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。
MA
目测、对比样品
6
包装标识
1.包装材料用料正确。
2.小包装方式、数量无误。
3.装箱方式、数量无误。
4.内包装、外箱标识单内容正确。
MI
目测
拟制:
审核:
批准:
日期
日期
日期
来料检验标准
版本:
第三版
文件编号:
WI/HV-12-006
受控状态:
高压瓷片电容
修改页:
第6页共53页
抽样检验标准:
依据MIL-STD-105D-Ⅱ;MI:
AQL=1.5;MA:
AQL=1.0;CR:
AQL=0.65
MI:
次要缺陷MA:
主要缺陷CR:
致命缺陷
电容:
101P/1KV(直径φ5脚距5mm)102P/1KV(直径φ6.5脚距5mm)103P/1KV(直径φ8.5脚距5mm)
序号
检验
项目
检验标准及要求
AQL
检验方法
1
外观
丝印
丝印是否清晰可辩,标识是否与来料相符。
MI
目测
元件体
引脚是否氧化,元件体是否有毛刺和破损、划伤、裂痕等。
MI
目测
2
尺寸
符合产品工程图。
MA
钢尺或游标卡尺
3
电性
1.用数字电容测试仪检测其容量是否在允许范围内,漏电流检测仪检测其额定耐压与漏电流的大小。
2.常温下用数字电容测试仪检测电容值为0.1UF+80%-20%(0.001mF+80%-20%),损耗角≤0.05。
3.常温下,用绝缘电阻测试仪测其绝缘阻≥10000MΩ
4.常温下,用耐压测试仪测试端子间耐压值1.6Ur(5s);端子与外壳间耐压值为1250V,应元击穿或飞弧现象(高温区95℃-105℃检测方法相同)。
5.将其放于95℃~105℃及低温-18℃以下,使用数字电容测试仪检测测其电容值为0.1UF+80%-20%(0.001mF+80%-20%).
6.手工浸水湿度93%±3%用数字电容测试仪测其电容0.1UF+80%-20%(0.001mF+80%-20%).
CR
数字电容测试仪
漏电流测试仪
耐压测试仪
绝缘电阻测试仪
4
可焊性
用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在230±5℃锡炉中,一次上锡面积大于85%。
MI
烙铁
小锡炉
5
材料
1、所用材料与样品相符。
2、与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。
MA
目测、对比样品
6
包装标识
1包装材料用料正确。
2.小包装方式、数量无误。
3.装箱方式、数量无误。
4.内包装、外箱标识单内容正确。
MI
目测
拟制:
审核:
批准:
日期
日期
日期
来料检验标准
版本:
第三版
文件编号:
WI/HV-12-007
受控状态:
高压金属膜电容
修改页:
第7页共53页
抽样来料检验标准:
依据MIL-STD-105D-Ⅱ;MI:
AQL=1.5;MA:
AQL=1.0;CR:
AQL=0.4
MI:
次要缺陷MA:
主要缺陷CR:
致命缺陷
高压电容(CBB金属膜电容)CBB21-473J400V(脚距10mm)
序号
检验
项目
检验标准及要求
AQL
检验方法
1
外观
丝印
丝印是否清晰可辩,有明确认证标志,是否标明3C、UL、TüV或VDE等认证标志。
MI
目测
元件体
引脚是否氧化,元件体是否有毛刺和破损、划伤,封胶是否有气孔等。
MI
目测
2
尺寸
符合产品工程图
MA
游标卡尺
3
电性
1.根据所测试安规电容的容量在电容测试仪设置标准容量,根据电容正负偏差设置上下偏差,然后依据电容的标称电压值,设定其损耗角正切值,最后夹上待测电容,“PASS”灯亮表示合格。
2.用电容测试仪测其电容0.047μF±5%,损耗角≤1.0%(20℃1KHZ).
3.用绝缘电阻测试仪测其R≥30000MΩ(20℃1min)
4.常温下100CM高度自由跌落3次,再测其电容值应为0.047μF±5%.
5.用耐压测试仪测其极与极的抗电强度2Ur(2S).
6.高温80℃及低温-20℃时,测其电容值为0.047μF±5%。
CR
耐压测试仪
电容测试仪
漏电流
测试仪
绝缘电阻测试仪
4
可焊性
使用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在230±5℃锡炉中,一次上锡面积大于85%。
MI
烙铁
小锡炉
5
材料
1.所用材料与样品相符。
2.与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。
MA
目测、对比样品
6
包装标识
1.材料用料正确
2.装箱方式、数量无误
3.(内包装、外箱)标识单内容正确
MI
目测
拟制:
审核:
批准:
日期
日期
日期
来料检验标准
版本:
第三版
文件编号:
WI/HV-12-008
受控状态:
聚酯膜(绦纶)电容
修改页:
第8页共53页
抽样来料检验标准:
依据MIL-STD-105D-Ⅱ;MI:
AQL=1.5;MA:
AQL=0.65;CR:
AQL=0.4
MI:
次要缺陷MA:
主要缺陷CR:
致命缺陷
聚脂膜电容(绦纶):
2J103J(630V)(脚距4mm)2J152J(630V)(脚距4mm)
序号
检验
项目
检验标准及要求
AQL
检验方法
1
外观
丝印
丝印是否清晰可辩,负极标志、丝印标识是否与来料相符。
MI
目测
元件体
引脚是否氧化,元件体是否有毛刺和破损、划伤。
MI
目测
2
尺寸
符合产品工程图
MA
钢尺
游标卡尺
3
电性
1.根据所测电容器容量在电容测试仪设置标准容量,根据电容正负偏差设置上下偏差,然后根据电容的标称耐压来设定损耗角,最后夹上待测电容,“PASS”灯亮表示为合格。
2.用电容测试仪或LCR电桥测其电容0.0001μF±5%(0.00152μF±5%),损耗角正切值≤0.01(20℃1KHZ)。
3.用耐压测试仪测其极与极间的抗电强度2Ur(Ur=630VDC)时间5S
4.用绝缘电阻测试仪测其R≥30000MΩ(20℃1min)。
5.工作温度范围-40℃~+85℃
CR
电容
测试仪
万用表
稳压电源
漏电流
测试仪
绝缘电阻测试仪
4
可焊性
用烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在230±5℃锡炉中,一次上锡面积大于85%。
MI
烙铁
小锡炉
5
材料
1、所用材料与样品相符。
2、与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。
MA
目测、
对比样品
6
包装标识
1、材料用料正确。
2、小包装方式、数量无误。
3、装箱方式、数量无误。
4、(内包装、外箱)小标签内容正确。
MI
目测
拟制:
审核:
批准:
日期
日期
日期
来料检验标准
版本:
第三版
文件编号:
WI/HV-12-009
受控状态:
二极管IN4007
修改页:
第9页共53页
抽样来料检验标准:
依据MIL-STD-105D-Ⅱ;MI:
AQL=1.5;MA:
AQL=0.65;CR:
AQL=0.4
MI:
次要缺陷MA:
主要缺陷CR:
致命缺陷
二极管:
D1-D5IN4007
序号
检验
项目
检验标准及要求
AQL
检验方法
1
外观
丝印
负极标志及字符丝印是否清晰可辩。
MI
目测
元件体
元件体引脚是否氧化,是否有毛刺和破损。
MI
目测
2
尺寸
符合产品工程图;符合实际装配。
MA
钢尺或游标卡尺
3
电性
1.
用晶体管测试仪先后测试二极管正向压降:
0.6~1.1V和反向耐压:
IN4007>1000V、
2.IN4007在最大反向电压下其最大反向电流值为5.0μA(+25℃),平均输出电流值为1A(+75℃)
3.工作温度范围为-65℃to+125℃
CR
晶体管测试仪
稳压电源
万用表
4
可焊性
用40W烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在230±5℃锡炉中,一次上锡面积大于85%。
MA
烙铁
小锡炉
5
材料
1.所用材料与样品相符。
2.与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。
MA
目测、对比样品
6
包装标识
1、包装材料用料正确。
2、小包装方式、数量无误。
3.装箱方式、数量无误。
4.(内包装、外箱)标识单内容正确。
MI
目测
拟制:
审核:
批准:
日期
日期
日期
来料检验标准
版本:
第三版
文件编号:
WI/HV-12-009A
受控状态:
二极管IN4007
修改页:
第9A页共53页
抽样来料检验标准:
依据MIL-STD-105D-Ⅱ;MI:
AQL=1.5;MA:
AQL=0.65;CR:
AQL=0.4
MI:
次要缺陷MA:
主要缺陷CR:
致命缺陷
型号
稳压值及精度
测试电流
正向电压(VF)
IN4723
3.3V±5%
76mA
当IF=200mA时,VF≤1.2V
IN4732
4.3V±5%
53mA
当IF=200mA时,VF≤1.2V
IN4733
5.1V±5%
49mA
当IF=200mA时,VF≤1.2V
IN4734
5.6V±5%
45mA
当IF=200mA时,VF≤1.2V
IN4723
12V±5%
21mA
当IF=200mA时,VF≤1.2V
IN4723
27V±5%
9.5mA
当IF=200mA时,VF≤1.2V
稳压二极管参数:
二极管参数:
型号
最大反向电压(VR)
正向电压(VF)
正向电流(IF)
最大正向输出电流IAF
IN4001
≥50V
≤0.7V
5.0μA
1A
IN4002
≥100V
≤0.7V
5.0μA
1A
IN4007
≥1000V
≤0.7V
5.0μA
1A
IN4148
≥100V
≤0.7V
5.0μA
150mA
BAV99
≥75V
≤0.7V
1.0μA
215mA
拟制:
审核:
批准:
日期
日期
日期
来料检验标准
版本:
第三版
文件编号:
WI/HV-12-010
受控状态:
二极管IN4148
修改页:
第10页共53页
抽样来料检验标准:
依据MIL-STD-105D-Ⅱ;MI:
AQL=1.5;MA:
AQL=0.65;CR:
AQL=0.4
MI:
次要缺陷MA:
主要缺陷CR:
致命缺陷
二极管:
D6-D7IN4148
序号
检验
项目
检验标准及要求
AQL
检验方法
1
外观
丝印
负极标志及字符丝印是否清晰可辩。
MI
目测
元件体
元件体引脚是否氧化,是否有毛刺和破损。
MI
目测
2
尺寸
符合产品工程图;符合实际装配。
MA
钢尺或游标卡尺
3
电性
1、
用晶体管测试仪先后测试二极管正向压降:
0.6~1.0V和反向耐压:
IN4148>100V、
2、最大反向电流(+25℃)值为0.025μA,平均输出电流(+75℃)值为150mA
3、工作温度范围为-65℃to+125℃
CR
晶体管测试仪
稳压电源
万用表
4
可焊性
用40W烙铁快速一次上锡,要求焊点饱满,引脚放在230±5℃锡炉中,一次上锡面积大于85%。
MA
烙铁
小锡炉
5
材料
1、所用材料与样品相符。
2、与配料表中型号规格相符、与工程图相吻合。
MA
目测、对比
样品
6
包装标识
1、包装材料用料正确。
2、小包装方式、数量无误。
3、装箱方式、数量无误。
4、(内包装、外箱)标识单内容正确。
MI
目测
拟制:
审核:
批准:
日期
日期
日期
来料检验标准
版本:
第三版
文件编号:
WI/HV-12-011
受控状态:
二极管(6A10)
修改页:
第11页共53页
抽样来料检验标准:
依据MIL-STD-105D-Ⅱ;MI:
AQL=1.5;MA:
AQL=0.65;CR:
AQL=0.4
MI:
次要缺陷MA:
主要缺陷CR:
致命缺陷
二极管:
:
6A10
序号
检验
项目
检验标准及要求
AQL
检验方法
1
外观
丝印
负极标志及字符丝印是否清晰可辩。
MI
目测
元件体
元件体引脚是否氧化,是否有毛刺和破损。
MI
目测
2
尺寸
符合产品工程图;符合实际装配。
MA
钢尺或