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一TTL逻辑门电路的参数测试

数字电子技术实验

一、数字电子技术实验简介

1.实验任务

2.实验设备

3.实验要求

4.实验中应注意的问题

二、数字电子技术实验目录

实验一

TTL逻辑门电路的参数测试

实验二

组合逻辑电路的分析和设计

实验三

触发器及其应用

实验四

计数器及其应用

实验五

综合设计性实验

数字电子技术实验简介

(一)实验任务

1.巩固、加深理解所学的基础知识。

2.训练实验技能,学会独立进行实验,提高动手操作能力。

3.通过实验树立工程实际观点和严谨的科学作风。

(二)实验设备

1.数字电子技术实验箱、双踪示波器、数字万用表。

2.各个单独实验所需的电阻、集成芯片。

3.专用电缆线和一些普通导线。

(三)实验要求

1.掌握数字电子技术实验箱等常用仪器的基本原理、功能及其使用方法。

2.掌握常用数字集成电路的主要参数及逻辑功能的基本测试方法、器件优劣的判断。

3.具有使用仪器查找和排除电路故障的能力,能根据电路原理对故障现象进行分析,借助相关仪器,逐步缩小故障范围,排除故障。

4.通过实验,进一步掌握数字电子电路的综合分析与设计方法。

(四)实验中应注意的问题

1.电路设计问题

在数字逻辑电路设计时,应根据要求进行设计。

2.布线问题

做到认真、合理地布线:

(1)设计电路,画出逻辑电路图,并标出各管脚号,将所用芯片所有端(数据输入,使能、清零、置位等端子)预先标记:

接电源、地或外部输入信号等,为实验布线打好基础。

(2)布线时,先将电源和地线接好(包括使能端、清零端等),再按信号的输入输出关系连好电路,需要经常变换的信号线最后接。

(3)接好后,对照电路图仔细核对后,再打开电源,开始实验测试。

3.故障的检测与排除

用设计好的数字电路进行实验,电路达不到预期的逻辑功能时,如果是组合电路,说明电路没能按真值表工作;如是时序电路,说明电路没能按状态表工作,均表明电路存在故障。

发现和排除故障主要掌握数字电路是一个二元系统(只用“0”和“1”两种状态)的特点,利用“逻辑判断”方法:

(1)完成布线后应检查一遍,以查出漏接和错接的导线。

(2)检查电源是否正常,芯片是否发烫,如是,则立即断电。

(3)用万用表查出断线、引线虚接等。

按照电路的逻辑功能,分别检查各级电路的输入输出是否正常。

(4)对于有故障的多级电路,为减少调测工作量,可将可疑范围分成两个区,分别检测。

(5)如果怀疑芯片坏了,对于SSI或简单功能的MSI,可以通过测试它的逻辑功能,迅速判断芯片的好坏。

实验一TTL逻辑门电路的参数测试

、实验目的

1.学习TTL集成与非门逻辑功能和主要参数的测量方法。

2.通过测试TTL与非门的电压传输特性,进一步理解门电路的重要参数及其意义。

3.了解一般的集成门电路器件的常用封装形式和引脚排列规律,掌握使用方法。

4.熟悉数字电子技术实验箱的结构和使用方法。

:

■、实验原理

实验中使用74LS00四-2输入“与非”门和

74LS20二-4输入“与非”门。

其引脚排列

如图1—1和图1—2所示。

1AWIV2A2B2¥GND

1.与非门的逻辑功能

与非门的逻辑功能是:

当输入端中有一个或一个以上是低电平时,输出端为高电

平;只有当输入端全部为高电平时,输出端才是低电平(即有“0得“1,全“1得“0”)

2.四-2与非门74LS20的主要参数

1)低电平输入电流IiL:

是指被测输入端接地,其余输入端悬空,输出端空载时,

由被测输入端流出的电流值。

在多级门电路中,|iL相当于前级门输出低电平时,后级向

前级门灌入的电流,因此它关系到前级门的灌电流负载能力,即直接影响前级门电路带

负载的个数,因此希望|iL小些。

2)高电平输入电流IiH:

是指被测输入端接高电平,其余输入端接地,输出端空载时,流入被测输入端的电流值。

在多级门电路中,它相当于前级门输出高电平时,前级

门的拉电流负载,其大小关系到前级门的拉电流负载能力,希望|iH小些。

由于IiH较小,

难以测量,一般免于测试。

3)扇出系数N。

扇出系数No是指门电路能驱动同类门的个数,它是衡量门电路负

载能力的一个参数,TTL与非门有两种不同性质的负载,即灌电流负载和拉电流负载,因此有两种扇出系数,即低电平扇出系数N°l和高电平扇出系数N°h。

通常liHVIiL,

则Noh>NoL,故常以N°l作为门的扇出系数。

4)电压传输特性:

TTL门的输出电压V。

随输入电压Vi而变化的曲线Vo=f(Vj)称

为门的电压传输特性(如图1-3所示),通过它可读得门电路的一些重要参数,如输出高

电平VoH、输出电平VoL、关门电平Voff、开门电平VoN、阈值电平VT及抗干扰容限VNL、

Vnh等值。

5)空载导通功耗P0N

TTL与非门的

电压传输特性

指输入全部为高电平、输出为低电平且不带负载时的功率损耗。

6)空载截止功耗Poff:

指输入有低电平、输出为高电平且不带负载时的功率损耗。

7)噪声容限:

电路能够保持正确的逻辑关系所允许的最大抗干扰值,称为噪声电压

容限。

输入低电平时的噪声容限为Voff~V|L,输入高电平时的噪声容限为Vih~V°N。

通常TTL门电路的VIH取其最小值2.0V,VIL取其最大值0.8V。

8)平均传输延迟时间Tpd:

它是与非门的输出波形相对与输入波形的时间延迟,

是衡量开关电路速度的重要指标。

一般情况下,低速组件的Tpd约为40~60ns,中速组

件的Tpd约为15~40ns,高速组件的Tpd为8~15ns,超高速组件的Tpd小于8ns。

一个与

非门的平均传输延迟时间可以通过下式近似计算:

Tpd=T/6,T为用三个门电路组成振

荡器的周期。

注:

一般集成电路有74LS系列的低功耗肖特基TTL电路和74HC系列的高速CMOS电路。

它们在逻辑上兼容,但具体物理参数不同。

CMOS电路输出高电平~Vcc,输出低电平~0V(规定输入高电平电压》0.7VCC,输入低电平电压w0.3Vcc),在我们的实验中Vcc=+5V。

TTL电路的输出高电平为2.4〜3.6V,输入开门电平1.4〜1.8V,输出低电平为0〜

0.5V,输入关门电平0.8〜1V。

在实验中采用同一电源,经实际测定可以直接联接,但有些条件下须要通过接口转

接,用74LS门电路驱动74HC门电路时,输出高电平电压应大于3.5V。

而74HC门电

路驱动74LS门电路时要加下拉电阻,扇出系数应小于10。

三、实验设备及器件

数字电子技术实验箱、万用表、集成芯片74LS00、74LS20、导线等。

四、实验内容

1、“与非”门逻辑功能测试

选用双4输入与非门74LS20或74LS00集成块各一片,按图1—4电路图和所标

引脚接线,输入端A、B、C、D按表中给出逻辑电平组合,观测出对应的逻辑电平,

并填入表1-1中。

(74LS00的接线原理与上相同)

表1—174LS204输入“与非”门测试

输入端

输出端Y

输入端

输出端Y

ABCD

逻辑状态

ABCD

逻辑状态

0000

1000

0001

1001

0010

1010

0011

1011

0100

1100

0101

1101

0110

1110

0111

1111

2、74LS20主要参数的测试

(1)分别按图1-5的(a)、(b)、(c)、(d)、(e)接线并进行测试,将测试结果记入表1

Vet

Y*5V

-2中。

在图(e)中,调节可调电位器使得电压

图1-5(e)

图1-6

表1-2

lccL(mA)

lccH(mA)

IiL(mA)

liH(AA)

IoL(mA)

UoL

(2)按图1-6接线,调节电位器Rw,使W从O向高电平变化,逐点测量Vi和Vo的对应

值,记入表1-3中。

表1-3

Vi(V)

0

0.2

0.4

0.6

0.8

1.0

1.5

2.0

2.5

3.0

3.5

4.0

Vo(V)

五、实验报告

1•实验目的;2•实验原理;

3.实验仪器;4.实验电路;

5•实验内容及实验步骤、实验数据;

6•记录、整理实验结果,并对结果进行分析。

7、画出实测的电压传输特性曲线,并从中读出各有关参数值。

附1集成电路芯片简介

数字电子技术实验中所用到的集成芯片都是双列直插式的,其引脚排列规则如图1-1、

1-2所示。

识别方法是:

正对集成电路型号(如74LS20)或看标记(左边的缺口或小圆点标

记),从左下角开始按逆时针方向以1,2,3,…依次排列到最后一脚(在左上角)。

在标准

形TTL集成电路中,电源端VCC一般排在左上端,接地端GND—般排在右下端。

如74LS20为14脚芯片,14脚为Vcc,7脚为GND。

若集成芯片引脚上的功能标号为NC,则表示该

引脚为空脚,与内部电路不连接。

附2:

TTL集成电路使用规则

1、接插集成块时,要认清定位标记,不得插反。

2、电源电压使用范围为+4.5V〜+5.5V之间,实验中要求使用=+5V。

电源极性绝对不允许接错。

3、闲置输入端处理方法

(1)悬空,相当于正逻辑“1”。

对于一般小规模集成电路的数据输入端,实验时允许

悬空处理。

但易受外界干扰,导致电路的逻辑功能不正常。

因此,对于接有长线的输入端,

中规模以上的集成电路和使用集成电路较多的复杂电路,所有控制输入端必须按逻辑要求接入电路,不允许悬空。

(2)直接接电源电压Vcc(也可以串入一只1〜10KQ的固定电阻)或接至某一固定电压(+2.4WV<4.5V)的电源上,或与输入端为接地的多余与非门的输出端相接。

(3)若前级驱动能力允许,可以与使用的输入端并联。

4、输入端通过电阻接地,电阻值的大小将直接影响电路所处的状态。

当R<680Q时,输入端相当于逻辑“0”当R>4.7KQ时,输入端相当于逻辑“1”对于不同系列的器件,要求的阻值不同。

5、输出端不允许并联使用,否则不仅会使电路逻辑功能混乱,并会导致器件损坏。

6、输出端不允许直接接地或直接接+5V电源,否则将损坏器件,有时为了使后级电路

获得较高的输出电平,允许输出端通过电阻R接至Vcc,一般取R=3〜5.1KQo

实验二组合逻辑电路的分析和设计

一、实验目的

1.熟练掌握组合逻辑电路的分析、设计与测试的基本方法。

2.学习用小规模集成电路设计组合逻辑电路的方法。

3.学习用中规模集成电路实现组合逻辑函数的方法。

二、实验原理

1.组合电路是最常见的逻辑电路,可以用一些常用的门电路来组合成具有其它功能的

门电路。

2.组合逻辑电路的分析是根据所给的逻辑电路,写出其输入与输出之间的逻辑函数表

达式或真值表,从而确定该电路的逻辑功能。

3.组合逻辑电路的设计过程是在理想情况下进行的,即假设一切器件均没有延迟效

应。

设计组合电路的一般步骤为:

(1)根据设计任务的要求确定输入、输出变量,并列出

真值表;

(2)用逻辑代数或卡诺图化简法求出简化的逻辑表达式,并按实际选用逻辑门的

类型修改逻辑表达式;(3)根据简化后的逻辑表达式,画出逻辑图,用标准器件构成逻辑

电路;(4)用实验来验证设计的正确性。

三、实验设备及器件

数字电子技术实验箱、万用表、集成芯片74LS00、74LS86、74HC20、74HC138、74HC151

导线等。

四、实验内容

1、分析、测试用与非门74LS00组成半加器的逻辑功能

(1)写出图2-1所示电路的逻辑函数表达式;

图2-1

(2)根据逻辑函数表达式列出真值表,并填入表2-1中;

表2-1

输入变量

输出变量

A

B

S

C

0

0

0

1

1

0

1

1

(3)根据图2-1在数字电子技术实验箱上连线,输入信号接至数据开关上,输出信号

接逻辑电平显示。

按表2-1进行逻辑状态测试,检验理论分析和实际验证是否一致。

2、用与非门74LS00和异或门74LS86设计全加器

(1)写出全加器的逻辑函数表达式;

(2)根据逻辑函数表达式列出真值表,并填入表2-2中;

表2-2

输入变量

输出变量

Ai

Bi

G」

Si

Ci

0

0

0

0

0

1

0

1

0

0

1

1

1

0

0

1

0

1

1

1

0

1

1

1

(3)根据设计的电路图,在数字电子技术实验箱上连线,输入信号接至数据开关上,

输出信号接逻辑电平显示。

按表2-2进行逻辑状态测试,检验理论分析和实际验证是否一致。

3、用3-8译码器74HC138、四输入与非门74LS20或二输入与非门74LS00设计全加

根据所设计的电路接线,按照表2-2的全加器真值表检验设计电路的正确性,并将测试

结果列在自拟的表格中。

4、用8选1的数据选择器74LS151设计全加器

根据所设计的电路接线,按照表2-2的全加器真值表检验设计电路的正确性,并将测试

结果列在自拟的表格中。

五、实验报告

1•实验目的;2•实验原理;

3.实验仪器;4.实验电路;

5•实验内容及实验步骤、实验数据以及设计的电路图;

6•记录、整理实验结果,并对结果进行分析。

附:

所用集成芯片的引脚排列

1.74LS138引脚排列及功能表

A

T*5V)6

1

输入

0

AA.

Vet

Ye

Si

S2+Ss

^2

Y;

Yi

y3

Y;

Y-:

2

A.

13

1

0

u

0

0

0

1

1

1

1

1

1

L

3

Yi

1

c

0

1

I

0

1

1

1

1

J

I

¥1

12

1

0

0

1

0

1

1

0

1

1

1

1

1

Va

1

0

0

1

1

1

i

1

0

1

1

i

1

Yi

1

0

1

0

0

1

1

1

1

0

1

1

1

¥5

1

0

1

0

1

1

1

1

1

1

0

1

L

$

1

0

1

1

0

1

1

1

1

1

1

0

L

6

s

Y?

7

1

0

1

1

1

L

1

1

1

1

1

1

0

pi

GND

0

X

X

X

X

1

1

1

1

1

1

1

L

X

1

X

X

X

1

i

1

1

1

1

1

1

tnm-iI匕饷*工•J】”urc.•ji口

2.74HC138引脚排列及功能表

参见教材P145-P146页。

3.

74HC151引脚排列

VccD4D5D607AOA1A2

74LS151

LUL2JL2JLUIUL6JLLH«J

D3D2D1DflYY"S

4.74LS86引脚排列

^cc(|A4B413A3B3T

U4nUllUJIllJJ10IJ9lie1

J

[

-lr

□1

1

1

LUL2JL

31L4JIS1I6II7I

IAIEIT2血2B2YGND

74LS86

实验三触发器及其应用

一、实验目的

1掌握基本RS锁存器,JK、D和T触发器的逻辑功能;

2.掌握集成触发器的逻辑功能及使用方法;

3.熟悉触发器之间相互转换的方法;

4.掌握触发器的应用。

二、实验原理

触发器具有两个稳定状态,用以表示逻辑状态“1和“0,”在一定的外界信号作用下,可

以从一个稳定状态翻转到另一个稳定状态,它是一个具有记忆功能的二进制信息存贮器件,

是构成各种时序电路的最基本逻辑单元。

1、基本RS锁存器

图3-1为由两个与非门交叉耦合构成的基本

RS锁存器,它具有置“0”置“1和保持

三种功能。

3-1为基本RS锁存器的功能表。

Q1

说明

0

0

宿

愷发書伏态干定.干北怖

Q

0

1

X

0

1

0

D

0

1

L

0

1

0

0

1

i

0

L

1

1

1

0

0

1

1

1

1

耳非门组说的墓本席吊绘发聆的祥卄袤

表3-1

图3-1

2、JK触发器

常用作缓冲存储器、移位寄存器和计数器。

在输入信号为双端的情况下,JK触发器是功能完善、使用灵活和通用性较强的一种触

发器。

本实验采用74LS112双JK触发器,是下降边沿触发的边沿触发器。

其触发方程是

16

15

14|

13

12l

11|

1o|

9

1

Vcc1RD2RD

2CP2K

2J

2SD

2Q

74LS112

1CP1K1J

1SD1Q

1Q

2Q

GND

1|

2

4

表:

8

Rd

Qn1二JQnKQn,引脚功能及逻辑符号如图3-2所示

Q

1JC11K

J

QjT

CPK

,逻辑功能见表3-2。

1—0

SD

图3-2

CT"4LSU2的功能农

输入

功能说明

J

KCP

0

1

X

X

X

0

1

1

Q

X

X

X

1

Q

1

1

0

0

1

<2*

1

1

0

1

1

0

1

1

1

1

0

[

1

0

K1

1

1

1

1

1

fi7

e*

计魏

1

1

X

X

1

fit持

0

0

X

XX

1

1

不允许

3、D触发器

可用作数字信号的寄存、移位寄存、分频和波形发生等。

其触发方程是Q「1=D,

引脚功能及逻辑符号如图3-3所示,逻辑功能见表3-3。

Q

lQ

C11D

yx.

CP

r-C

Rd

14|13|12|1l|109|8I

Vcc2Rd2DCPSd2Q2Q

)74LS74

1Rd1D1gp1尹1Q1QG”D

Sd

i|7T

图3-3

表3-3

CT'4LS^4的功能表

出|

功能说明

D

CP

—fl*t

Q

0

1

X

X

0

1

异涉置0

1

0

X

X

1

0

异BI

1

L

0

1

0

1

■4

1

1

1

t

I

0

H1

1

1

X

0

en

e7

保持

0

0

X

X

1

i

4、触发器之间的相互转换

(1)将JK触发器的J、k两端连在一起,并认它为T端,就得到所需的T触发器。

其触发方程是Qn1=T-Qn,电路如图3-4(a)所示。

(2)将JK触发器的J、k两端连在一起,并令其为1,就得到了T'触发器。

其触发方

程为Qn"=Qn,电路如图3-4(b)所示。

图3-4(a)

(3)D触发器可以转换成T'触发器,电路如图3-5(a)所示。

 

图3-5(a)(b)

(4)JK触发器转换成D触发器,电路如图3-5(b)所示。

(5)D触发器转换成JK触发器,电路自行设计。

5、触发器的应用

触发器是构成各种时序电路最基本的逻辑单元,可构成各种类型的计数器和寄存器之

类的控制电路。

三、实验设备及器件

数字电子技术实验箱、万用表、集成芯片74LS00、74LS74、74LS112、导线等。

四、实验内容

1、测试基本RS锁存器的逻辑功能

按图3-1接线,R、S端接数据开关,Q端和Q接至逻辑电平显示,改变R、S,

观察Q和Q端的状态,记录在表3-4中。

表3-5

R

S

Q

Q

0

0

0

1

1

0

1

1

2.、测试双JK触发器74LS112逻辑功能

(1)测试JK触发器的复位、置位功能

任取一只JK触发器,Rd、Sd、J、K端接数据开关,CP端接单次脉冲源,Q和Q端接至逻辑电平显示。

要求改变RD、SD(J、K、CP处于任意状态),观察Q和Q端的状态,记录在表3-5中。

表3-5

RD

Sd

Q

Q

0

0

0

1

1

0

1

1

(2)测试JK触发器的逻辑功能

按表3-6的要求改变J、K、CP端状态,观察Q和Q端状态变化,观察触发器状态更新是否发生在CP脉冲的下降沿。

表3-6

测试要求及记录结果

J

K

CP

Qn41

Qn=0

Qn=1

0

0

0t1

1t0

0

1

0t1

1t0

1

0

0T1

1T0

1

1

0T1

1T0

(3)将JK触发器接成T触发器,改变T端的状态,观察Q端状态变化,并将结果记

入表3-7中。

表3-7

测试要求及记录结果

T

CP

Qn=0

Qn=1

0

0t1

1t0

1

0t1

1t0

(4)将JK触发器接成T'触发器,改变T'端的状态,观察Q端状态变化,并将结果记

入表3-8中。

表3-8

测试要求及记录结果

T

CP

Q*

Qn=0

Qn=1

0

0t1

1t0

1

0T1

1T0

3.、测试双D触发器74L

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