共模电压
<50mVPeak
回波损耗
Atleast15dBoverthefrequencyrangeof5.0to10MHz
100Base-TX测试项目
眼图/模板测试
信号宿端
调用LeCroy示波器中的“100BaseT”眼图模板，记录正、负脉冲的眼高/眼宽测量值
抖动测试
<1.4ns
差分输出电压幅度测试
+Vout：
950mVto1050mV
-Vout：
-950mVto-1050mV
差分输出电压对称度测试
0.98to1.02
差分输出过冲测试
正向：
<5%
负向：
<5%
信号上升时间测试
正向：
3.0nsto5.0ns
负向：
3.0nsto5.0ns
信号下降时间测试
正向：
3.0nsto5.0ns
负向：
3.0nsto5.0ns
上升/下降时间对称度
正向：
<500ps
负向：
<500ps
占空比失真
<500ps（+/-250ps）
回波损耗
>16dBfrom2MHzto30MHz
>（16-20log（f/30MHz））dBfrom30MHzto60MHz
>10dBfrom60MHzto80MHz
公司现在无发码工具及分析软件，暂不作测试
1000Base-T测试项目
模板测试
信号宿端
符合模板（见附件）
公司现在无发码工具及分析软件，暂不作测试
峰值电压测试
A、B点：
670mVto820mV
C、D点：
335mVto410mV
信号对称性
A、B点：
（1-|PointA|/|PointB|）*100<1%；
C点：
（1-（0.5*（|PointA|+|PointB|）/2）/|PointC|）*100%<2%；
D点：
（1-（0.5*（|PointA|+|PointB|）/2）/|PointD|）*100%<2%。
衰落测试
G、J点：
（PointG/PointF）*100%>73.1%
主模式抖动
MasterFiltered：
MasterFilteredPk-PkJitter+Jtxout<0.3ns；
MasterUnfiltered：
MasterUnfilteredPk-PkJitter<1.4ns。
从模式抖动
SlaveFiltered：
SlaveFilteredPk-PkJitter+Jtxout<0.4ns+MasterFilteredPk-PkJitter；
SlaveUnfiltered：
SlaveUnfilteredPk-PkJitter<1.4ns。
波形失真测试
<10mV
共模输出电压
<50mVPk-Pk
回波损耗
Atleast16dBoverthefrequencyrangeof1.0MHzto40MHzandatleast10-20log10（f/80）dBoverthefrequencyrange40MHzto100MHz（finMHz）
7.操作步骤
7.1操作前准备
7.1.1搭建测试环境，确认各个设备正常运行。
7.1.2准备测试仪器，使用示波器测量之前确保示波器至少预热30分钟，并且示波器所有探头的
校正或DSKEW（多通道）均为PASS。
7.2测试流程
7.2.1按下示波器电源开关，开始进入操作接口
对于示波器操作接口和基本操作，参考《示波器操作手册》。
7.2.2当完全进入操作接口时，按照测试用例，选择不同的测试探头，将被测信号接到相应的探头上。
7.2.3让被测试系统进入测试模式,进行信号测试,测试完成后关机退出.
7.3测试系统连接示意图（100Base-TX）
图2连接示意图
此处采用100Base-TX举例说明，具体测试时依据对应以太网规格参数测量。
此处只对发送端测度方法描述，若需对单板内接收端进行测度，只需把夹具更换为差分探头即可，测试方法与本测试方法一样，判定结果参考接收芯片规格书。
7.4信号分类测量
7.4.1眼图/模板、抖动测试
7.4.1.1概述
本条是对发送端RX+、RX-的眼图/模板、抖动测试。
7.4.1.2测试方法
测试方法按如下几步进行：
a）示波器的设置：
CH1为触发源，上升沿触发。
时基设置到以完整观察1~2个周期波形为宜，CH1、CH2幅值设置到能较满屏的观察信号的最大、最小幅值。
AUTO狀态下尽量向上（下）调整触发电平，使之刚好能触发稳定的波形。
b）调用示波器的“Math”中的“f（x）MathSetup”选项，对CH1、CH2作差分运算，得到波形F1。
F1的幅值设置到能较满屏的观察信号的最大、最小幅值。
c）调用示波器的“Analysis”中的“Pass/FailSetup”选项，选择“Masktest”,以F1作为源，调用“100BaseT”眼图测试模板。
按下余辉功能键，通过旋钮（水平、垂直、Delay）调节波形对模板的最佳的上下左右位置，如图3所示。
d）采集（1000）个波形后，观察余辉形成的眼图是否通过模板。
e）使用光标对波形进行眼高、眼宽、抖动等进行测量（如图4~7所示），检查是否符合芯片规格，并做好数据记录及波形保存。
图3100BaseT眼图模板
图4正脉冲眼高
图5负脉冲眼高
图6眼宽
图7抖动测量
7.4.2幅度域测试
7.4.2.1概述
本条是对发送端TX+、TX-的幅度域测试，包括差分输出电压幅度、差分输出电压对称度、差分输出过冲测量。
在《IEEEStd802.3-2000》标准中要求使用的测试波形是14位（112ns）的非跳变波形，然而在实际测试中很难获得这种112ns宽度的脉冲信号。
通常在Idle状态下，96ns宽度的脉冲信号非常容易获得，因此采用96ns替代112ns脉冲信号作为测试信号。
故本条测试中将抓取宽度为96ns的信号。
7.4.2.2测试方法
测试方法按如下几步进行：
a）示波器的设置：
CH1为触发源，脉宽（Width）触发,设置脉宽范围为95ns到97ns。
b）触发方式为Positive,触发电平设为+300mV，抓取正向脉冲。
时基设置到完整显示96ns脉宽波形。
c）调用示波器的“Math”中的“f（x）MathSetup”选项，对CH1、CH2作差分运算，得到波形F1。
F1的幅值设置到能较满屏的观察信号的最大幅值（能完整地显示整个正向脉冲）。
d）调用示波器的“Measure”中的“Top”、“Overshoot+”测量选项，并打开统计（Statistics）功能，按下余辉功能，约抓取1000个点，得到波形如图8所示。
e）触发方式为Negative,触发电平设为-300mV，抓取负向脉冲。
时基设置到完整显示96ns脉宽波形。
f）调用示波器的“Math”中的“f（x）MathSetup”选项，对CH1、CH2作差分运算，得到波形F1。
F1的幅值设置到能较满屏的观察信号的最大幅值（能完整地显示整个负向脉冲）。
g）调用示波器的“Measure”中的“Base”、“Overshoot-”测量选项，并打开统计（Statistics）功能，按下余辉功能，约抓取1000个点，得到波形如图9所示。
h）记录好各项数据，差分输出电压对称度=|Top/Base|,检查是否符合芯片规格。
图896ns正向脉冲
图996ns负向脉冲
7.4.3时域测试
7.4.3.1概述
本条是对发送端RX+、RX-的时域测试，包括上升/下降时间、上升/下降时间对称度测量。
在本条测量中，将抓取80ns宽度脉冲用于上升/下降时间测试。
7.4.3.2测试方法
测试方法按如下几步进行：
a）示波器的设置：
CH1为触发源，脉宽（Width）触发,设置脉宽范围为78ns到82ns。
b）触发方式为Positive,触发电平设为+300mV，抓取正向脉冲。
时基设置到完整显示80ns脉宽波形。
c）调用示波器的“Math”中的“f（x）MathSetup”选项，对CH1、CH2作差分运算，得到波形F1。
F1的幅值设置到能较满屏的观察信号的最大幅值（能完整得显示整个正向脉冲）。
d）调用示波器的“Measure”中的“Rise@level”、“Fall@level”测量选项；采用“Absolute”方式，其中“Highabsolute”设为900mV,“Lowabsolute”设为100 mV；并打开统计（Statistics）功能，按下余辉功能，约抓取1000个点，得到波形如图10所示。
e）触发方式为Negative,触发电平设为-300mV，抓取负向脉冲。
时基设置到完整显示80ns脉宽波形。
f）调用示波器的“Math”中的“f（x）MathSetup”选项，对CH1、CH2作差分运算，得到波形F1。
F1的幅值设置到能较满屏的观察信号的最大幅值（能完整得显示整个负向脉冲）。
g）调用示波器的“Measure”中的“Rise@level”、“Fall@level”测量选项；采用“Absolute”方式，其中“Highabsolute”设为-900mV,“Lowabsolute”设为-100 mV；并打开统计（Statistics）功能，按下余辉功能，约抓取1000个点，得到波形如图11所示。
h）记录好数据及保存波形，检查是否符合芯片规范。
其中，上升/下降时间对称度是所有的上升/下降时间相互的差别；在负向脉冲时，由0电平向-Vout跳变时是上升时间，反之是下降时间。
图1080ns正向脉冲
图1180ns负向脉冲
7.4.4占空比失真测试
7.4.3.1概述
本条是对发送端TX+、TX-的占空比失真测试。
本条测试中，本应强制待测设备发出0X55码型进行测试，但公司现在暂无发码工具，故只能手工抓取符合要求的脉冲。
7.4.3.2测试方法
测试方法按如下几步进行：
a）示波器的设置：
CH1为触发源，脉宽（Width）触发,设置脉宽范围为15到17ns。
b）触发方式为Positive,触发电平设为+300mV，抓取脉冲。
时基设置到完整显示10个脉宽波形。
c）调用示波器的“Math”中的“f（x）MathSetup”选项，对CH1、CH2作差分运算，得到波形F1。
F1的幅值设置到能较满屏的观察信号的最大幅值、最小幅值。
（能完整得显示整个脉冲）。
d）调用示波器的“Measure”中的“Top”、“Base”测量选项；反复按下“Single”键，直到抓到一串01010101或11010101脉冲为止，如图13所示。
e）参照图所12示，分别测量出W1、W2、W3的宽度，如图13~15所示。
f）做好数据的记录及波形的保存，检查是否符合芯片规范。
一般判断的依据是：
15.5ns图12占空比测试示意图
图13W1宽度
图14W2宽度
图15W3宽度
8.参照标准
8.110Base-T电压模板
8.2空闲信号模板
8.3连接脉冲模板
8.31000Base-T各测式模式的寄存器设置
8.41000Base-T测试模式1波形
8.51000Base-T测试主、从模式下的抖动波形
8.61000Base-T失真测试波形
注意：
①在测试过程中使用尽量短的转接线和地线，并且示波器探头接地点要尽量地靠近被测点；示波器光标标示到位,做好示波器各通道信号的标识。
②保存测量数据与图片，填入相应测试用例表格中,判断结果是否正确。
③关闭系统,收拾整理实验室。
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