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数字逻辑实验指导书1

实验一实验箱及小规模集成电路的使用

一实验目的

1掌握实验箱的功能及使用方法

2学会测试芯片的逻辑功能二实验仪器及芯片1实验箱

2芯片:

74LS00二输入端四与非门1片

74LS86二输入端四异或门1片

74LS04六非门1片

三实验容

1测试芯片74LS00和74LS86的逻辑功能并完成下列表格。

(1)74LS00的14脚接+5V电源,7脚接地;1、2、4、5、9、10、12、13脚接逻辑开关,3、6、&11接发光二极管。

(可以将1、4、9、12接到一个逻辑开关上,2、5、10、13接到一个逻辑开关上。

)改变输入的状态,观察发光二极管。

74LS86的接法74LS00基本

一样。

(2)分析74LS00和74LS86的四个门是否都是完好的。

2用74LS00和74LS04组成异或门,要求画出逻辑图,列出异或关系的真值表。

表1.174LS00的功能测试

输入

输入

输出

1、4、9、12

2、5、10、13

3

6

8

11

0

0

0

1

1

0

1

1

 

表1.274LS86的功能测试

输入

输入

输出

1、4、9、12

2、5、10、13

3

6

8

11

0

0

0

1

1

0

1

1

 

(3)利用74LS00和74LS04设计一个异或门。

画出设计电路图。

实验二译码器和数据选择器

实验目的

1继续熟悉实验箱的功能及使用方法

2掌握译码器和数据选择器的逻辑功能

二实验仪器及芯片

1实验箱

2芯片:

74LS1383线—8线译码器1片

74LS151八选一数据选择器1片

74LS20四输入与非门1片

三实验容

1译码器功能测试(74LS138)

脚接地,1〜6脚都接逻辑开关,7、9、10、11、12、13、14、15接发光二极管。

表2.1

输入

输出

使能端

选择端

丫0

¥

丫2

丫3

丫4

丫5

丫6

丫7

S1

S2

S3

A2

A1

A0

X

1

1

X

X

X

1

1

1

1

1

1

1

1

0

X

X

X

X

X

1

1

1

1

1

1

1

1

1

0

0

0

0

0

1

0

0

0

0

1

1

0

0

0

1

0

1

0

0

0

1

1

1

0

0

1

0

0

1

0

0

1

0

1

1

0

0

1

1

0

1

0

0

1

1

1

 

2数据选择器的测试(

74LS151)

按照表2.2连接电路,并完成表格。

其中16脚接+5V,8脚接地;9、10、11,为地址

输入端,接逻辑开关;4、3、2、1、12、13、14、15为8个数据输入端,接逻辑开关;G为

选通输入端,Y为输出端,接发光二极管。

表22

选通端

地址输入端

数据输入端

输出

G

A2

A1

A0

Do

D1

D2

D3

D4

D5

D6

D7

Y

i

X

X

X

X

X

X

X

X

X

X

X

0

0

0

0

0

0

0

1

1

1

1

1

0

0

0

1

1

1

1

0

0

0

0

0

0

0

1

0

1

1

1

1

0

0

0

0

0

0

1

1

1

0

1

0

1

1

1

1

0

1

0

0

0

1

0

1

0

0

0

0

0

1

0

1

1

1

0

0

1

1

0

0

0

1

1

0

1

1

0

0

1

1

1

0

0

1

1

1

1

1

1

1

0

0

0

0

3分别用74LS138(配合74LS20)和74LS151实现逻辑函数F(m^,m2,m4,m7),要求

画出逻辑图。

实验三加法器和中规模集成电路的改造

实验目的

1掌握半加器和全加器的功能测试2掌握中规模集成电路的功能改造。

二实验仪器及芯片

1实验箱2芯片:

74LS00二输入端四与非门1片

74LS151八选一的数据选择器1片

74LS86二输入端四异或门1片

74LS54四组输入与或非门1片

三实验容

1测试用异或门(74LS86)和与非门(74LS00)组成的半加器的逻辑功能

(1)按照图3.1进行连线,其中A、B接电平开关,Y、Z接发光二极管。

(2)按表的要求改变A、B状态,填表。

图3.1

表3.1

输入端

A

0

0

1

1

B

0

1

0

1

n端

Y

Z

2测试全加器的逻辑功能

(1)用异或门74LS86、与或非门74LS54、与非门74LS00组成全加器,按图3.2接线,其中A、B、CI接电平开关,S、CO接发光二极管,74LS54的3、4、5、9、10、11均接地。

S

CO

图3.2

表3.2

A

B

CI

CO

S

0

0

0

0

0

1

0

1

0

0

1

1

1

0

0

1

0

1

1

1

0

1

1

1

3测试以下电路的逻辑功能,要求写出真值表,得出逻辑表达式并化为最简与或式。

 

 

Vcc

J

IH

G

F

74LS54

A

B

CD

E

YGND

14

3I4|

5'67

1'2'

131211|1098|

16|

151

14|

13I

12|

111

10|

91

Vcc

D4

D5

D6

D7

A0

A1

A2

z

74LS151

D3

D2

D2

Do

Y

Y

G

GND

11

21

31

41

5|

61

7|

8|

实验四中规模集成电路的改造

实验目的

掌握中规模集成电路的功能改造。

实验仪器及芯片

1实验箱

2芯片:

74LS151八选一的数据选择器1片

74LS04六非门1片

实验容

(m,m,m,m),并画出逻辑图

1用74LS151和74LS04实现逻辑函数F(A,B,C,D)

 

16|

151

141

13I

12|11|

10|

91

Vcc

D4

D5

D6

D7Ao

A1

A2

74LS151

D3

D2

D2

Do

YY

G

GND

11

21

31

41

516[

71

8|

 

实验五触发器及示波器的使用

实验目的

1熟悉并掌握D,J-K触发器的构成工作原理和功能测试方法。

2学会正确使用触发器集成芯片。

二实验仪器及芯片

1双踪示波器

2器件:

74LS74双D触发器一片

74LS76双JK触发器一片

三实验容

边沿触发器的测试

1在实验箱上将D触发器连接成T触发器

2用示波器CH1通道显示时钟CP信号;用CH1通道显示触发器输出信号Q,观察Q的变化发生在CP的什么状态?

3把D触发器换成JK触发器,并连接成T'触发器,利用示波器观察Q与CP的关系

4绘制时序图

5要求画出D和JK触发器改造成T'触发器的连接图。

14I

13I

12|11|

10I

91

8

16|

15[14|13|12|

11|

10I

9|

Vcc

2Rd

2D2CP

2Sd

2Q

2Q

1K

1Q1QGND2K

2Q

2Q

2J

74LS74

74LS76

1Rd

1D

1CP1Sd

1Q

1Q

GND

1CP1SD1Rd1JVcc

2CP2Sd

2Rd

11

21

314|

51

61

7l

11

2|3[4|51

61

7|

81

JRdQ

CP、

—KSdQ

实验六集成移位寄存器

一实验目的

掌握集成双向移位寄存器74LS194的逻辑功能。

二实验仪器及芯片

1实验箱

2芯片:

74LS194双向移位寄存器1片

三实验容

1并行输入-并行输出寄存器逻辑功能的测试。

Do~D3接逻辑电平开关,Qo~Q3接发光二极管,CP接按键脉冲。

74LS194的状态功能如

表6.1。

按照表6.2的要求进行输入,观察输出Qo~Q3,并在表中记录结果。

表6.1

CR

S1

So

工作状态

0

X

X

置零

1

0

0

r保持

1

0

1

右移

1

1

0

左移

1

1

1

并行输入

161514|13I1211109

Vcc

Qo

Q1

Q2

Q3

CP

S1

So

74LS194

CR

Sr

Do

D1

D2

D3

Sl

gnd

1I

2I

3|

4I

5I

6[

71

8|

图6.174LS194的管脚图

 

2右移逻辑功能的测试

按照表6.2的要求进行输入,观察输出Qo~Q3,并在表中记录结果。

3左移逻辑功能的测试

按照表6.3的要求进行输入,观察输出Qo~Q3,并在表中记录结果。

表6.2并行输入—输出功能测试

CP

S1

So

Do

D1

D2

D3

Qo

Q1

Q2

Q3

d~L

1

1

1

1

1

1

n

1

1

0

0

0

0

1

1

0

0

1

1

n

1

1

1

1

0

0

表6.3右移功能测试

输入

输出

CP

S1

S0

Sr

Do

D1

D2

D3

Q0

Q1

Q2

Q3

R

0

1

1

1

1

1

1

0

1

1

0

0

0

0

J~L

0

1

0

0

0

1

1

0

1

0

1

1

0

0

表6.4左移功能测试

CP

S1

S0

D0

D1

D2

D3

Sl

Q0

Q1

Q2

Q3

n

0

1

1

1

1

1

1

n

0

1

0

0

0

0

1

n

0

1

0

0

1

1

0

FL

0

1

1

1

0

0

0

4用74LS194和74LS04实现扭环形计数器,画出逻辑图和状态转换图。

实验七集成计数器

实验目的

1掌握集成计数器74LS161的逻辑功能。

2熟悉74LS161的管脚排列。

二实验仪器及芯片

1实验箱

2芯片:

74LS161四位二进制计数器一片

三实验容

1并行预置输入

芯片管脚如图7.1所示。

Do~D3接逻辑电平开关,Qo~Q3接发光二极管,CP接按键脉冲,

5V)。

按照表7.2的要求进行输

LD接地,CR接高电平(+5V),P和T一起接高电平(+

入,观察输出Qo~Q3,并在表中记录结果。

表7.2计数器预置输入逻辑功能测试

输入

输出

CP

ld

D3

D2

D1

Do

Q3

Q2

Q1

Qo

0

1

1

1

1

L

0

0

0

0

0

rL

0

0

0

1

1

n

0

1

1

0

0

2计数功能的测试

Do~D3接逻辑电平开关,Qo~Q3接发光二极管,CP接按键脉冲。

要求计数器从1000

开始计数,一直到1111。

按照表的要求进行输入,观察输出Q0~Q3,并在表7.3中记录结

果。

表7.3计数器计数逻辑功能测试

输入

输出

CP

LD

D3

D2

D1

Do

Q3

Q2

Q1

Qo

——

n

0

1

0

0

0

1

X

X

X

X

1

X

X

X

X

——

1

X

X

X

X

n

1

X

X

X

X

n

1

X

X

X

X

1

X

X

X

X

3用预置法实现七进制计数器,要求分别用发光二极管和七段数码管显示。

使用74LS00和74LS161各一片,画出连线图。

只需要画出原理图即可。

实验八用555定时器构成多谐振荡器

一实验目的

1掌握555定时器的逻辑功能。

2.熟悉555定时器的管脚排列。

二实验仪器及芯片

1.实验箱

2.芯片:

555定时器一片

三实验容

1.用555定时器构成如图多谐振荡器电路(所标出的电容、电阻为参考值)。

调整R2的阻

值,用实验箱的频率计测量频率f,再用示波器测量T、twi、tw2.,用万用表测量Ri、R2的电阻值,计算占空比q,填入表中:

f

T

twi

tW2.

Ri

R2

C

q

2.根据Ri、R2、C的值,用理论公式计算以下表中各项,并求与理论值的相对误差:

参数

T

twi

tW2.

相对误差

计算公式

计算值

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