超声波探伤测定作业指导书.docx

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超声波探伤测定作业指导书

超声波探伤测定作业指导书

一、利用设备

PXUT-350型全数字探伤仪

二、测试原理及目的

超声波探伤法是通过有压电晶体的探头，将电振荡转变成超声波，入射到工程材料或设备构件后，如遇缺点那么超声波被反射、散射或衰减，再经探头接收后变成电信号，进而放大显示在超声波探伤仪的屏幕上，并依照相应的原那么由荧光屏上显示出的信息判定缺点的部位、大小和性质。

超声波探伤法不仅可检测被测物体表面的缺点，重要的是能够探测到内部的缺点。

三、测试方式及步骤

一、测零点（声速或K值）

依照测试的物体的不同，可分为利用直探头和利用斜探头测试。

）测试前，第一依照物体的不同相应的选择所利用的探头，一样情形下，利用直探头、双晶探头的物体在屏幕“声波类型”中一样为“纵波”，斜探头一样为“横波”。

若是“声波类型”为“深度”则“声波类型”不阻碍测试，但需在测试前输入工件声速。

1.声波类型：

（纵波或横波）

2.一次声程：

mm

3.两次声程：

mm

4.声程类型：

（距离/深度/曲面）

开始测试

若是“声程类型”选为“距离”时（默以为“距离”），此测试进程在测零点的同时可测出工件中声速，例如用CSK-1A试块测横波探头的零点与声速；如选取“深度”时那么用两个不同深度的反射体可同时测出探头的零点和K值（现在需事前输入工件中声速），例如用CSK-ⅢA试块测横波探头的零点K值。

依照所用试块声程值，若是输入的试块声程值过小，那么不能测试，仪器会提示“输入数值不妥”，现在可从头输入一个适当的数值。

当选〈2〉键输入“一次声程”后，“两次声程”所显示的数值将会是“一次声程”的两倍。

也能够按〈3〉键在“两次声程”处直接输入数值，但必需保证“两次声程”大于“一次声程”。

仪器将依照输入值自动设置进波门（一样是门位在第三格，门宽三格）、声程（声程单位）、增益、声速等参量，一样不需用户再调剂，但有一些探头如双晶探头由于零点较长，可能需要移动进波门位（屏幕左上角提示：

门位-A）或其它参量（如声程）使所需回波处于进波门内，调剂参量后应按〈返回〉键退出参量更改状态，使屏幕左上角提示为：

测零点。

在确认一次声程值时需用直尺量出探头至反射体的水平距离，并在确认测试值后输入。

）注意事项

（1）测零点时不可调延时和更改补偿增益，不可改换通道，也不可嵌套其它测试；

（2）确认回波时应注意在屏幕左上角有“测零点”三字提示时才可按〈确认〉键；

（3）当“声程类型”为“距离”时，在两次确认回波之间应维持探头稳固不动；

（4）确认进波门内回波时,可移动“门位-A”使回波处于进波门内。

（5）当“声程类型”为“深度”时，假设所找反射体最高波位置稍有误差即可能使测试结果显现较大误差，因此非必要状况或不够熟练者请不要利用此方式。

（6）在例如中所输入数值仅为举例，应依照试块的实际情形进行输入。

2、测K值

按〈调零/测试〉键再按〈确认/2ndf〉话把显现测试菜单后，按〈2〉选中测K值后，屏幕左上角显现提示：

“先测声速零点？

+/-”，如用户按〈+〉键那么先测零点声速（参见5-1，默许利用CSK-ⅠA试块，因此“声波类型”会自动预置为横波，试块“一次声程”预置为50mm，“两次声程”为100mm，“声程类型”为距离），再测K值；如按〈-〉键那么直接测K值，屏幕上显现对话框：

1.反射体深度：

mm

2.反射体直径：

mm

3.探头K值：

按确认

依照所用探头和试块输入数据，仪器依照输入预置增益、声程、门等参量，若是输入值与实际值误差较大，将可能会致使错误结果，需从头输入正确数据并测试，开始测试后要参照提示在试块上移动探头或调剂参量使反射体最高回波出此刻进波门内时确认即可。

注意事项

（1）若是声速零点未校准，那么所测K值可能会有错误，应先测准声速和零点；

（2）反射体深度是指探测面到反射体中心的距离，而不是反射面；

（3）仅在屏幕左上角有“测K值”三字提示且波高约为60%时才可确认回波；

（4）测K值时不可调延时和更改补偿增益，不可改换通道，也不可嵌套其它测试；

（5）若是由于实际K值与标称K值误差较大，致使最高回波不在进波门内，用户可调剂进波门参数或声程，使所需最高波处于进波门内。

3、DVC/AVG的测试

按〈调零/测试〉键再按〈确认/2ndf〉键显现测试菜单后，按〈3〉选中DAC（制作DAC曲线），屏幕左上角显现提示：

“先测零点K值？

+/-”，如用户按〈+〉键那么先测声速（零点）、K值（参见5-一、5-2），再制作DAC；如按〈-〉那么直接制作DAC，屏幕上显现对话框：

1.最大探测深度：

mm

2.反射体直径：

mm

3.反射体长度：

mm

开始测试

输入数据并确认后即可开始制作DAC曲线。

屏幕左上角参数区有DAC三字，且波形区右上端显现提示框：

+

选波-移点

存储•退出

在制作DAC进程中可调剂门、增益、声程、位移、零点、抑制各项参量，但探头类型、探头K值、工件声速等其它参量只能是测试之前在参数菜单中输入。

在试块上移动探头，当反射体最高波显现时稳住探头，调剂参量后使所需回波的波高为40-80%（在此高度范围内最好）时按〈返回〉键退出参量调剂，在DAC状态下（即参数区有DAC三字）按〈-〉键，那么屏幕冻结，且在一个波峰上显现一个光标，按〈-〉键可移动此光标至下一个波峰，同时参数区会同步显示该波峰的位置、波高等参数，用户可按〈+〉键选中光标所在的回波，在仪器画好DAC曲线上的一点后，回波将被解冻，现在可在试块上移动探头，寻觅来自另一深度的缺点波。

若是发觉因未找到最高回波而使某一点偏低，使得DAC线不够美观，可从头寻觅该点的最高回波，按〈-〉键从头将光标移到该点的最高回波上再按〈+〉键选中该点，该点将被补高。

所有点测试完毕后，若认可已制作完成的DAC母线，按〈〉键存储，仪器依照测试数据自动生成DAC曲线

）注意事项

（1）若是零点K值未校准，那么所制作DAC/AVG曲线可能错误，需先测零点（声速）、K值；

（2）当进波门宽小于两格时，仪器可自动调剂增益，使进波门内回波幅度约为60%；

（3）测试时能够调剂增益、声程和门参数，但不可调剂补偿和延时。

（4）仅在参数区有“DAC”或“DAG”三字且进波门内有回波高于10%时按〈-〉键，屏幕才会冻结，才能进行移点选波，因此要对此专门注意。

4、测厚度

按〈调零/测试〉键再按〈确认/2ndf〉键，或按〈K值/通道〉键再按〈确认/2ndf〉，会显现测试菜单，选中“测厚度”，那么显现测厚对话框：

1.测量厚度

2.数据处理

开始测试

其中默许选项标号1高亮显示，若是用户按〈2〉那么标号2将高亮显示，标号1恢复正常显示。

测量厚度：

在测厚对话框显现后按〈1〉使标号1高亮显示时按〈确认〉键，屏幕左上角显现提示：

“先测声速零点？

+/-”，按〈+〉键那么先测声速零点（见5-1，声波类型预值为纵波），再测厚；按〈-〉键那么直接测厚。

测厚开始后，屏幕左上角自动显示年月日“XXXX-XX-XX”，在其下端显示：

“第XX页编号：

”，用户在光标处输入测厚组标号，编号长1-8位，如需输入英文字母或其它一些特殊字符，按〈返回〉键可显现ASCⅡ码表（参见9-3），编号输完后参数区提示“测厚度”，波形区上方显示：

XXXX-XX-XX测厚进行中，转下页

XXXXXXX

+存储-回上一厚度·退出测厚

在这两行提示（其中XXXX-XX-XX为年月日，下行的XXXXXX为输入的编号）的下方会显现“T1=XXXXmm”的字样，XXXX表示进波门内最高波的厚度值且会不断闪烁（此数值在参数区深度一栏也有显示），用户按〈+〉键确认该厚度值且厚度值停止闪烁，屏幕上会显现“T2=XXXXmm”的字样，用户将探头移至工件另一个厚度处可再测出新的厚度；若是用户以为确认存储的厚度值不够准确，可按〈-〉键返回，使需重测厚度处从头开始闪烁，再次测试其厚度。

测厚时，屏幕上最多可显示18个厚度值，既为一组，一组测完（不满18个也可）按〈确认〉键进入下一组，用户输入组编号后可再次开始测厚，仪器共可存储20组厚度值（如已有20组，那么会提示：

“内存容量已满”且退出测厚，需将已存数据部份或全数清除后方可继续测厚且存储）；若是一组数据多于18个时会自动进入下一组，需再次输入编号，测厚完成后按〈返回〉键退出测厚状态。

数据处置：

在测厚对话框显现后按〈2〉并确认后进入“数据处置”项，可进行测厚数据的查询、删除。

屏幕右端显示如右图所示的菜单，屏幕左上端显示年月日“XXXX-XX-XX”，在年月日下方显示“第X页编号“XXXXXXX”，在其下方显示厚度，每行显示两个厚度，每页最多18个厚度。

按〈1〉键那么菜单消失并打印该页内容，按〈2〉键那么提示清除当前数据“？

+/-”按〈+〉键当前页被删除，后续页前移。

按〈返回〉或〈确认〉键即可退出。

注意事项

（1）若是声速零点未校准，那么所测厚度可能错误，需先测声速和零点。

（2）本仪器所测厚度值，相对精度一样在1%之内；若是测试误差过大，可能是由于声速、零点未校准，或是所用试块与待测工件的厚度相差过大，可选用专用测厚仪；

（3）测厚进程中可调剂参量，但调剂完毕后应按〈返回〉键使屏幕左上角有“测厚度”三字提示。

5测仪器

在测试菜单中按〈6〉选中测仪器，屏幕上显现提示：

将直探头放在25mm厚试块上并稳住确认处理前次测试报告

按〈确认〉键开始进行仪器探头组合性能测试，按〈-〉那么屏幕上显现上一次进行该项测试的结果。

水平线性测试

1）测声速零点（参见5-1，默许声波类型为纵波，试块声程为50mm）

2）声速零点测准后，屏幕左上方提示“水平线性测试”，而且声程改成12.5mm/D，使25mm厚试块的一至五次回波依次出此刻第二、四、六、八和十格上，仪器提示：

系统正在测试

请稳住探头

现在仅需维持探头不动，仪器会自动调整增益、进波门位，使进波门内回波高位50%，最后计算出水平线性值。

分辨力测试

1）屏幕左上方提示“分辨力测试”，而且在波形区提示：

CSKIA试块85mm和91mm处回波等高为50%时确认

2）在CSK-IA试块上移动直探头，当85mm和91mm两处的回波等高且为50%时按〈确认〉键，仪器提示：

系统正在测试

请稳住探头

稳住探头并等待片刻，仪器自动增加增益使两波的波谷上升为50%,仪器记下增益差,即为直探头分辨力

垂直线性及动态范围测试

1）屏幕左上方提示“垂直线性测试”，而且在波形区提示：

200mm深φ2平底孔最高回波为50%时确认

2）在CS-1-5试块上移动直探头，当200mm深φ2平底孔处的回波高为50%时按〈确认〉键，屏幕上显现提示：

系统正在测试请稳住探头

仪器自动调剂增益使波高上升为100%，然后以2dB的步长使增益下降，这时仪器自动记下每次的波高，算出垂直线性和动态范围

灵敏度余量测试

1）屏幕左上方提示“灵敏度余量测试”，而且在波性区提示：

200mm深φ2平底孔最高回波为50%时确认

2）用户稳住探头，当200mm深φ2平底处的回波为50%时按〈确认〉键，屏幕上显现提示：

除去探头厚按

3）这时需除去探头，确认厚，仪器自动提高增益，使干扰波达10%，记下增益差即为灵敏度余量。

显示测试结果

上述四项测试完成厚，仪器会自动算出结果，并将其显示在屏幕上，可将其打印输出。

仪器探头性能测试报告

测试日期

XXXX-XX-XX

仪器编号

XXXXX

水平线性

%

垂直线性

%

动态范围

dB

分辨力

dB

灵敏度余量

dB

按打印

注意事项：

1）若是要打印测试结果，需在测试前在关机状态下将打印机与仪器接好；

2）按标准测试仪器性能所用探头应为φ2直探头；

3）由于测仪器是测试仪器和探头的组合性能，因此强烈建议利用质量较好的探头。

6测高

在测试菜单中按〈7〉选中测高，“裂纹测高”功能的作用是测缺点的高度，选中此功能后确信是不是测零点、K值，然后开始测高，测高时要依照提示，使缺点的上下端的最高波别离处于进波门内，确认后仪器由两次回波的深度差得出缺点高度，而且会提示是不是存储缺点上下端的回波,若是选择存储,那么所存储参数中“”代表缺点高度、“→”代表缺点上端深度、“↓”代表缺点下端深度。

注意事项：

（1）测高一样利用斜探头，探头特性会对测高的准确性造成阻碍；

（2）确认缺点端角位置不妥也会对测高的准确性造成阻碍。