在每一个选定的磁场值下,使其方向发生两次变化（即H1→-H1→H1,…Hm→-Hm→Hm等,则可得到一组逐渐增大的磁滞回线（图2。
我们把原点o和各个磁滞回线的顶点a1、a2、…、a所连成的曲线,称为铁磁材料的基本磁化曲线。
可以看出,铁磁材料的B和H不是直线,即铁磁材料的磁导率H
B=μ不是常数。
由于铁磁材料磁化过程的不可逆性及具有剩磁的特点,在测定磁化曲线和磁滞回线时,首先必须将铁磁材料预先退磁,以保证外加磁场H=0时,B=0;其次,磁化电流在实验过程中只允许单调增加或减少,不可时增时减。
在理论上,要消除剩磁rB,只需通一反方向磁化电流,使外加磁场正好等于铁磁材料的矫顽磁力就行。
实际上,矫顽磁力的大小通常并不知道,因而无法确定退磁电流的大小。
我们从磁滞回线得到启示:
如果使铁磁材料磁化达到饱和,然后不断改变磁化电流的方向,与此同时逐渐减小磁化电流,以至于零,那么该材料得磁化过程就是一连串逐渐缩小而最终趋于原点的环状曲线,如图3所示。
当H减小到零时,B亦同时降为零,达到完全退磁。
（二示波器显示样品磁滞回线的实验原理及电路
只要设法使示波器X轴输入正比于被测样品中的H,使Y轴输出正比于样品的B,保持H和B为样品中的原有关系就可在示波器荧光屏上如实地显示样品的磁滞回线。
怎样才能使示波器的X轴输入正比于H,Y轴输入正比于B呢?
图4为测试磁滞回线的图2基本磁化曲线图3退磁过程:
由Br到a,然后经一系列不闭合的回线收缩至原点
a
原理图。
L为被测样品的平均长度（虚线框,N1、N2分别为原、副边匝数,R1、R2为电阻,C为电容。
当原边输入交流电压λU时就产生交变的磁化电流i1,由安培环路定律可算得磁场强度H为l
iNH11=（2又因1
11Rui=（3所以111111（
ulRNRulNH⋅=⋅=（4由上式可知H∝u1,加到示波器X轴的电压u1确能反映H。
交变的H样品中产生交变的磁感应强度B。
假设被测样品的截面积S,穿过该截面的磁通φ=B•S,由法拉第电磁感应定律可知,在副线圈中将产生感应电动势
dt
dBSNdtdNs22−=−=φε（5由图4副边的回路方程式csuRi+=22ε（6
式中i2为副边电流,cu为电容C两端的电压。
设i2向电容器C充电,在Δt时间内充电量为Q,则此时电容两端的电压cu表示如下:
C
Quc=（7当我们选取足够的R2、C时,使cu小到与2Ric相比可以略去不计时,（6式简化为22Ris=ε（8
又因dtduCdtdQic==
2（9所以（8式变为dt
duCRcs2=ε（10图4
接示波器X轴输入接示波器Y轴输入
根据电磁感应定律dt
dBSNs2−=εdtdBSNdt
duCRc22−=（11将（11式两边积分,经整理后可得到B的数值为
cuS
NCRB22=（12（12式表明电容器上的电压cu∝B,cu的确能反映B。
故只要将u1、uc分别接到示波器的X轴与Y轴输入,则在荧光屏上扫描出来的图形就能如实反映被测样品的磁滞回线。
依次改变u1（从零递增值,便可得到一组磁滞回线,各条磁滞回线顶点的连线便是基本磁化曲线。
由此可近似确定其磁导率H
B=
μ,因B与H是非线性的,故铁磁材料的磁导率μ不是常数而是随磁场强度H而变化。
铁磁材料的相对磁导率可高达数千乃至数万,这一特点是它用途广泛的主要原因之一。
铁磁材料分为硬磁和软磁B—H曲线如图5所示。
三实验装置
图5不同铁磁材料的磁滞回线图6
观察和测量磁性材料的磁滞回线和基本磁化曲线的线路如图6所示
图中变压器、电阻R1、被测样品、电容器C2等均已安装在实验仪中。
实验时,只需连接好相应的导线,X（H接至示波器X轴输入,Y（B接至示波器Y轴输入,“⊥”接至示波器地即可。
四实验内容
1.电路连接:
选样品1按实验仪上所给的电路图连接线路,并令R1=4.0Ω,“U选择”
开关K1置于0.5V。
HU和BU（即1U和2U分别接示波器的“X输入”和“Y输入”,插孔“⊥”为公共端。
2.样品退磁:
开启实验仪电源,对试样1进行退磁,即顺时针方向转动“电压选择”旋
钮K1,令U从0.5V增至5V,然后逆时针方向转动旋钮,将U从最大值降为0.5V,其目的是消除剩磁,确保样品处于磁中性状态,即B=H=0。
3.观察磁滞回线:
开启示波器电源,令光点位于坐标网格中心,令U=4.0V,并分别调节示波器X和Y轴的灵敏度,使显示屏上出现图形大小合适的磁滞回线（若图形顶部出现编织状的小环,如图7所示,这时可降低励磁电压U予以消除。
4.观察基本磁化曲线:
按步骤2对样品进行退磁,从U=0.5V开始,逐档提高励磁电压,将显示屏上得到面积由小到大一个套一个的一簇磁滞回线。
这些磁滞回线顶点的连线就是样品的基本磁化曲线。
5.观察、比较样品1和样品2的磁化性能。
6.测绘μ-H曲线:
仔细阅读测试仪的使用说明,接通实验仪之间的连线。
开启电源,对样品进行退磁后,依次测定U=0.5,1.0……5.0V时的十组mH和mB值,作μ-H曲线。
7.令U=4.5V,R1=4.0Ω测定样品1的mB、rB、mH、cH和[BH]等参数。
8.取步骤7中的H和其相应的B值,用坐标纸绘制B-H曲线（如何取数?
取多少组数?
自行考虑,并估算曲线所围面积。
五实验记录
表一基本磁化曲线与
-H曲线。
图7U2和B的相位差等因素引起的歧变B
H
2.53.03.54.04.55.0表二NO.123456789101112131415161718192021222324252627282930313233B－H曲线B（TNO.3435363738394041424344454647484950515253545556575859606162636465666H（A/MH（A/MB（TNO.676869707172737475767778798081828384858687888990919293949596979899H（A/MB（T
附录：
磁滞回线测试仪使用说明一、磁滞回线测试仪的面板布置如图8所示：
图8Xin：
磁场强度H输入端，接实验仪。
GND：
接地端，接实验仪。
Yin：
磁感应强度B输入端，接实验仪。
Xout：
磁场强度H输出端，接示波器X轴输入端。
GND：
接地端，接示波器接地端。
Yout：
磁感应强度B输出端，接示波器Y轴输入端。
F：
功能选择键，用于选取不同的功能，每按一次键，将在数码显示器上显示相应的功能。
↑：
增加键，用于选择下一个功能或增加数值。
↓：
减小键，用于选择上一个功能或减少数值。
←：
确认键，当功能选定和数据设定后，按下确认键后便可使当前的设定有效。
H：
磁场强度显示窗，A/m。
当设定时显示功能号。
B：
磁感应强度显示窗，T。
当设定时显示数值。
二、测试仪器操作说明：
开启电源后，H显示窗即显示Xin端的输入电压，B显示窗即显示Yin端的输入电压。
功能设定，按F，则H窗显示“F**”，其中“**”为功能序号，闪烁，若此功能有参数设定，则在B窗显示参数，这时，可按↑或↓来选择功能序号，选定后按←。
H窗停止闪烁，B窗闪烁，此时可按↑或↓来修改参数，确定后按←，B窗停止闪烁。
H窗功能序号又继续闪烁，可进行下一功能的设定。
（1）F00：
输入电压显示。
按F键和↑，↓键，使H窗显示“F00”，B窗示“U1U2”,接着按←键，则在H窗显示Xin端输入电压，在B窗显示Yin端电压，所显示的电压单位为伏。
（2）F01：
电阻R1数值设定。
在H窗显示功能号“F01”，在H窗显示功能号“F01”，在B窗显示电阻R1的数值，可通过↑和↓键进行修改，修改完毕后按←键确定。
此R1的数值必须与实验仪上R1所设定的电阻数值相同，电阻的单位为欧姆。
（3）F02：
磁滞曲线采样。
本测试仪共可存储10条磁滞回线。
H窗显示“F02”，闪烁，按←，H窗显示稳定，B窗显示所要测试的磁滞回线的序号“n=*”“*”的，序号为0－9，通过↑和↓键选定序号后按←键，将对磁滞回线进行采样，并存储在测试仪中。
此时，可在XOUT和YOUT端用示波器观察到采样后的磁滞回线波形，若观察到波形不合适，可按←键重新采样。
用↑或↓键改变序号后，可以对其余的磁滞回线进行采样。
（4）F03：
磁滞回线清除。
H窗显示“F03”，闪烁，B窗显示“n=*”，按←键后，H窗显示稳定，B窗中序号“*”闪烁，可用↑和↓键选定所要清除的磁滞回7
线的序号，按←键进行清除。
（5）F04：
磁滞回线全体清除。
H窗显示“F04”，闪烁，B窗显示“ALL”，按←键将对存储在测试仪中的所有磁滞回线进行清除。
按F键后退出清除功能。
（6）F05：
磁滞回线显示。
H窗显示“F05”，闪烁，在B窗显示“n=*”，按←键后H窗显示稳定，B窗中序号“*”闪烁，通过↑或↓键改变所要输出的磁滞回线的序号，按F键，在XOUT和YOUT端输出H与B的波形，可以在示波器上进行显示。
改变序号可以观察其余的磁滞回线。
（7）F06：
磁滞回线全体显示。
H窗显示“F06”，闪烁，B窗显示“ALL”，按←键后将存储在测试仪中的所有磁滞回线通过XOUT和YOUT输出，可以在示波器上观察到一簇磁滞回线。
（8）F07：
基本磁化曲线显示。
H窗显示“F07”，闪烁，B窗显示“B－H”，按←键后将多余磁滞回线的顶点经过拟合后，通过XOUT和YOUT端输出，在示波器上显示。
（9）F08：
磁导率μ曲线显示。
H窗显示“F08”，闪烁，B窗显示“μ－H”，按←键后对基本磁化曲线的磁导率μ＝B/H通过YOUT输出，H通过XOUT输出，在示波器上显示μ随H的变化曲线。
（10）F09：
显示矫顽力HC。
H窗显示“F09”，闪烁，B窗显示“HC=*”，按←键后H窗显示稳定，B窗中序号“*”闪烁，通过↑或↓键改变所要测量的磁滞回线的序号，按F键，H窗显示所要测定矫顽力HC的值，B窗显示保持不变。
（11）F10：
显示剩磁Br。
在H窗显示“F10”，闪烁，在B窗显示“Br=*”，按←键后H窗显示稳定，B窗中序号“*”闪烁，通过↑或↓键改变所要测量的磁滞回线的序号，按F键，H窗显示“F10*”,B窗显示所要测定的剩磁Br的值。
（12）F11：
显示Hm。
在H窗显示“F11”，闪烁，在B窗显示“H.=*”，按←键后H窗显示稳定，B窗中序号“*”闪烁，通过↑或↓键改变所要测量的磁滞回线的序号，按F键，H窗显示所测定Hm的值。
B窗显示保持不变。
（13）F12：
显示Bm。
在H窗显示“F12”，闪烁，在B窗显示“B.＝*”，按←键后H窗显示稳定，B窗中序号“*”闪烁，通过↑或↓键改变所要测量的磁滞回线的序号，按F键，H窗显示“F12*”窗显示所要测定的Bm的值。
，B（14）F13：
显示磁滞损耗[BH]。
在H窗显示“F13”，闪烁，B窗显示“n=*”，按←键后H窗显示稳定，B窗中序号“闪烁”，通过↑或↓键改变所要测量的磁滞回线的序号，按F键，H窗显示“F13*”窗显示所要测定的磁滞回线的，B磁滞损耗W的值，磁滞损耗的计算公式为：
W=∫HdbS（HB×10⋅3焦耳/米3）（15）F14：
逐点读出磁滞回线的数值。
在H窗显示“F14”，闪烁，B窗显示“n=*”，按←键后H窗显示稳定，B窗中序号“*”闪烁，通过↑或↓键改变所要测量的磁滞回线的序号，按F键，H窗显示“F14*”窗显示“001”，B，按↑或↓可逐点读取H与B的数值。
每按二次按键，将显示曲线上一点的H与B的数值，（第一次显示采样点的序号，第二次显示该点的H和B）。
同时，在Xout和Yout上输出此磁滞回线并在磁滞回线上用一亮点表示所读取的点在曲线上的位置。
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