产 品 试 验 大 纲.docx
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产品试验大纲
大纲草案编号：
密级：
J6125-F项目
产品试验大纲
发展有限公司
2015年*月
概述2
概述：
本大纲主要用来衡量我公司生产的高精密电路保护元件产品的各项性能，并以此标准里面的试验项目、试验方法为依据，通过电性能测量仪器等，以报表的记录形式，向用户提供产品的出厂测试报告。
引用标准：
IEC60127-1/GB9364.1小型熔断器第1部分：
小型熔断器定义和小型熔断体通用要求；
IEC60127-4/GB9364.4小型熔断器第4部分：
通用模件熔断器；
UL248-14低压熔断器第14部分：
辅助熔断器
MIL-STD-202标准电子和电气元器件测试方法
IEC60068电工电子产品环境试验
GJB9001B-2009质量管理体系要求
1.产品的主要参数：
1）尺寸规格：
6125尺寸
2）电流开发规格：
0.5A/1.0A/1.25A/1.6A/2A/2.5A/3.0A/3.15A/3.5A/4A/5A/6.3A/7A/8A/10A/12A/15A/20A
3）阻抗：
满足GB9364.4压降要求；
4）分断能力：
0.5A~10A：
50A/125VAC50A/160VDC100A/100VAC
12A~20A:
50A/65VAC、VDC
5）2In<60s
6）10In>1ms
7）温升寿命：
1.0In>4hr75℃
8）高、低温耐久：
1.0In，-55℃~+125℃/4hr无熔断
9）高频振动：
10~55Hz（X/Y/Z）、持续时间：
120min频率：
1循环/min，无破损、︱△R︱＜10%
10）抗冲击：
20G（X/Y/Z）、高度：
450mm、冲击次数：
3次/轴，无破损、︱△R︱＜10%
11）其他性能参照S6125-FSeries技术控制文件
2.试验仪器设备和试验项目：
表2.1主要试验仪器、设备名称：
序号
仪器、设备名称
型号、规格
测量范围
1
熔断测试仪
BXC-80A
DC:
0-80A
2
电源
EAPS-9080-200
DC:
0-80V/0-200A
3
直流可编程电子负载
IT8516E
0-120V/0-240A
4
绝缘电阻表
1508
0.01MΩ-10GΩ
5
直流低电阻测试仪
TH2512
1uΩ-20kΩ
6
示波器
DS5062M
5ns-400s
7
分断测试仪
75KW
DC:
0-160V/300A
AC:
0-250V/300A
8
数显电热鼓风干燥箱
101A-U
室温-300℃
9
温度冲击试验箱
ZTS010U
-75℃-190℃
10
X-Ray
View-X2000
/
11
金相显微镜
/
/
表2.2主要试验项目：
序号
试验项目名称
常规试验
周期试验
1
电压降
√
2
耐久性（温升）
√
3
时间-电流特性
√
4
分断能力
√
5
可焊性
√
6
耐焊接热
√
7
弯曲
√
8
高温寿命
√
9
稳态湿热
√
10
低温存储
√
11
高温存储
√
12
温度冲击
√
13
盐雾试验
√
14
高低温耐久
√
15
高频振动
√
16
抗冲击
√
3.试验准则：
产品电性能测试符合国家标准GB9364.4，及行业标准IEC60127-4和UL248-14；
产品可靠性测试符合标准MIL-STD-202和IEC60068；
4.试验方法：
4.1外观、尺寸、阻值检验：
4.1.1检验要求：
产品外观不允许出现瓷管碎裂、破损、缺角、铜帽歪斜、撑裂、漏锡、印字偏、歪、不完整等现象；产品尺寸要符合规格书外形尺寸要求；阻值应符合产品参数中间值公差︱△R︱＜5%；
4.1.2检验设备：
目检，游标卡尺或千分尺，直流低电阻测试仪；
4.2内部结构检验：
4.2.1检验要求：
对产品或DPA磨片进行内部结构分析，观察产品内部熔丝、焊锡等结构；
不允许出现炸锡、漏锡、熔体全贴壁等现象；
4.2.2检验设备：
X-Ray或金相显微镜；
4.3电压降测试：
4.3.1测试要求：
额定电流条件下，持续时间为足以使熔断体温度达到稳定测量熔断体两端的电压降，并将电压降的值由大到小排列。
同一个生产批的情况下，每一个电压降与测得的平均值偏差符合产品标准，电压降值符合产品标准。
4.3.2测试设备：
保险丝测试仪（BXC-80A）；
数字万用表（FLUKE15B）；
4.4耐久性试验（温升）测试：
4.4.1测试要求：
首先测试产品直流电阻值；
正常环境温度条件下，1.0In额定电流通电1小时，切断15min，循环100次；
按产品规格书要求进行1.25In额定电流I/T特性试验1小时，不发生熔断；
试验的最后5min内，按产品规格书要求，在1.25In或1.0In额定电流下测温升，温升△T大小符合产品标准；
测试试验前后的直流电阻值并计算变化率，︱△R︱＜10%；
试验后，标记仍应清晰可辨，如端帽上的焊点不应出现任何劣变。
4.4.2测试设备：
直流低电阻测试仪（TH2513）
数字万用表（FLUKE15B）
温度巡检仪（TMP-2）
直流稳压电源（TPR-3020D）
4.5时间/电流特性测试：
4.5.1测试要求：
首先测试产品直流电阻值；
用保险丝测试仪进行产品熔断特性测试，产品2In和10In下的熔断时间符合产品规格书标准；
试验后，标记应清晰可辨，如端帽上的焊点不应出现任何劣变。
4.5.2测试设备：
直流低电阻测试仪（TH2513A/B/AX-1152D）
数字万用表（FLUKE15B）
保险丝测试仪（BXC-80A）
示波器（DS5062M）
4.6分断能力测试：
4.6.1测试要求：
首先测试产品直流电阻值；
按照产品额定的分断电压与电流设定分断测试仪，并进行产品在指定分断电压和电流下的分断测试；
分断测试后的产品外观标记清晰，无破裂，无持续飞弧引燃等现象。
4.6.2测试设备：
直流低电阻测试仪（TH2513A/B/AX-1152D）
分断测试仪（Self-made）
绝缘电阻表（1508）
4.7可焊性测试：
4.7.1测试要求：
首先测试产品直流电阻值；
浸渍条件：
240℃±5℃,3s±0.5s；
浸渍深度：
金属表面全部被锡液持续覆盖；
熔断体两端金属表面被锡覆盖，上锡面积≥95%。
4.7.2测试设备：
直流低电阻测试仪（TH2513A/B/AX-1152D）
锡炉（POT-300）
4.8耐焊接热测试：
4.8.1测试要求：
首先测试产品直流电阻值；
浸渍条件：
260℃±5℃，10s±0.5s，浸渍深度：
10mm；
测试试验前后的直流电阻值并计算变化率，︱△R︱＜10%；
熔断体不应破裂，标志应清晰可辨，不变色。
4.8.2测试设备：
直流低电阻测试仪（TH2513A/B/AX-1152D）
锡炉（POT-300）
4.9弯曲测试：
4.9.1测试要求：
首先测试产品直流电阻值；
以1mm/s速率弯曲到1mm，保持10s；
测试试验前后的直流电阻值并计算变化率，︱△R︱＜10%；
外观：
无机械损伤。
4.9.2测试设备：
直流低电阻测试仪（TH2513A/B/AX-1152D）
弯曲治具（Self-made）
4.10高温寿命测试：
4.10.1测试要求：
首先测试产品直流电阻值；
试验条件：
温度70℃±2℃，时间96小时；试验过程中通以0.6In额定电流，在干燥箱内进行高温寿命试验；
测试试验前后的直流电阻值并计算变化率，︱△R︱＜10%；
外观：
无机械损伤。
4.10.2测试设备：
直流低电阻测试仪（TH2513A/B/AX-1152D）
数显电热鼓风干燥箱（101A-U）
直流稳压电源（TPR-3020D）
4.11稳态湿热测试：
4.11.1测试要求：
首先测试产品直流电阻值；
试验条件：
T=40℃±2℃，90%～95%RH，运行1000小时；
测试试验前后的直流电阻值并计算变化率，︱△R︱＜10％；
外观：
无机械损伤。
4.11.2测试设备：
直流低电阻测试仪（TH2513A/B/AX-1152D）
湿热试验箱（ZTH010L）
4.12低温存储测试：
4.12.1测试要求：
首先测试产品直流电阻值；
试验条件：
在-55℃±3℃环境中运行96小时；
测试试验前后的直流电阻值并计算变化率，︱△R︱＜10％；
外观：
无机械损伤。
4.12.2测试设备：
直流低电阻测试仪（TH2513A/B/AX-1152D）
温度冲击试验箱（ZTS010U）
4.13高温存储测试：
4.13.1测试要求：
首先测试产品直流电阻值；
试验条件：
在125℃±2℃环境中运行96小时；
测试试验前后的直流电阻值并计算变化率，︱△R︱＜10％；
外观：
无机械损伤。
4.13.2测试设备：
直流低电阻测试仪（TH2513A/B/AX-1152D）
温度冲击试验箱（ZTS010U）
4.14温度冲击测试：
4.14.1测试要求：
首先测试产品直流电阻值；
试验条件：
先在125℃环境中运行30min，再转为在-65℃环境中运行30min，共进行100个循环；
测试试验前后的直流电阻值并计算变化率，︱△R︱＜10％；
标记应清晰、端帽焊点无劣变，无机械损伤。
4.14.2测试设备：
直流低电阻测试仪（TH2513A/B/AX-1152D）
温度冲击试验箱（ZTS010U）
4.15盐雾试验测试：
4.15.1测试要求：
首先测试产品直流电阻值；
试验条件：
5%±1%NaCl溶液在35℃±2℃，95%-98%湿度环境中连续喷雾48小时；
测试试验前后的直流电阻值并计算变化率，︱△R︱＜10％；
试验后标记仍应清晰可辨，端帽上的焊点不应出现任何劣变。
4.15.2测试设备：
直流低电阻测试仪（TH2513A/B/AX-1152D）
盐雾试验箱（DS060-S）
4.16高、低温耐久测试：
4.16.1测试要求：
首先测试产品直流电阻值；
试验条件：
在-55℃和125℃环境中，分别通1.0In额定电流4小时；
测试试验前后的直流电阻值并计算变化率，︱△R︱＜10％；
标记应清晰、端帽焊点无劣变，无机械损伤。
4.16.2测试设备：
直流低电阻测试仪（TH2513A/B/AX-1152D）
温度冲击试验箱（ZTS010U）
4.17高频振动测试：
4.17.1测试要求：
首先测试产品直流电阻值；
试验条件：
频率：
10~55Hz（X/Y/Z）、持续时间：
120min频率：
1循环/min；测试试验前后的直流电阻值并计算变化率，︱△R︱＜10％；
标记应清晰、端帽焊点无劣变，无机械损伤。
4.17.2测试设备：
直流低电阻测试仪（TH2513A/B/AX-1152D）
高频振动试验机
4.18抗冲击测试：
4.18.1测试要求：
首先测试产品直流电阻值；
试验条件：
20G（X/Y/Z）、高度：
450mm、冲击次数：
3次/轴；
测试试验前后的直流电阻值并计算变化率，︱△R︱＜10％；
标记应清晰、端帽焊点无劣变，无机械损伤。
4.18.2测试设备：
直流低电阻测试仪（TH2513A/B/AX-1152D）
冲击试验机
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