无损检测习题集含答案射线检测.docx

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无损检测习题集含答案射线检测

射线检测习题集

共：

803题

其中：

是非题301题

选择题284题

问答题118题

计算题100题

一、是非题

1.1原子序数Z等于原子核中的质子数量。

（）

1.2为了使原子呈中性，原子核中的质子数必须等于核外的电子数。

（）

1.3当原子核内的中子数改变时，它就会变为另一种元素。

（）

1.4当一个原子增加一个质子时，仍可保持元素的种类不变。

（）

1.5原子序数相同而原子量不同的元素，我们称它为同位素。

（）

1.6不稳定同位素在衰变过程中，始终要辐射γ射线。

（）

1.7原于是元素的具体存在，是体现元素性质的最小微粒。

（）

1.8放射性同位素的半衰期是指放射性元素的能量变为原来一半所需要的时间。

（）

1.9各种γ射线源产生的射线均是单能辐射。

（）

1.10在化学反应中，原子的种类和性质都会发生变化。

（）

1.11以中子作为炮弹轰击原子核，可以使稳定的同位素变为不稳定的同位素。

（）

1.12不稳定的核素会白发蜕变，这种现象称为放射性衰变。

（）

1.13与Ir192相比，Se75放射性同位素的半衰期更短，因此其衰变常数λ也更小一些。

（）

1.14射线能量越高，传播速度越快，例如了射线比X射线传播快。

（）

1.15X射线或γ射线强度越高，其能量就越大。

（）

1.16X射线或γ射线是以光速传播的微小的物质粒子。

（）

1.17当X射线经过2个半价层后，其能量仅仅剩下最初的1/4。

（）

1.187射线是原子核由低能级跃迁到高能级而产生的。

（）

1.19标识X射线具有高能量，那是由于高速电子同靶原子核相碰撞的结果。

（）

1.20连续X射线是高速电子同靶原子的轨道电子相碰撞而产生的。

（）

1.21连续X射线的波长与管电压有关。

（）

1.22X射线的产生效率与管电压利靶材料原子序数成正比。

（）

1.23一种同位素相当于多少千伏或兆伏能力的X射线机来做相同的工作，这种关系叫做同位素的当量能。

（）

1.24同能量的γ射线和X射线具有完全相同的性质。

（）

1.25X射线的强度不仅取决于X射线机的管电流而且还取决于X射线机的管电压。

（）

1.26与C○60相比，CS137发出的γ射线能量较低，半衰期较短。

（）

1.27光电效应中光子被完全吸收，而康普顿效应中光子未被完全吸收。

（）

1.28光电效应的发生儿率随光子能量增大而减小。

（）

1.29光电效应的发生几率随原子序数的增大而增加。

（）

1.30光电子又称为反冲电子。

（）

1.31光子能量必须大于电子的结合能是发生光电效应的前提条件。

（）

1.32当射线能量在1.02MeV至10MeV区间，与物质相互作用的主要形式是电子对效应。

（）

1.33连续X射线穿透物质斤，强度减弱，线质不变。

（）

1.34射线通过材料后，其强度的9/10被吸收，该厚度即称作1/10价层。

（）

1.35当射线穿过三个半价层后，其强度仅剩下最初的1/8。

（）

1.36所有γ射线的能量都是相同的。

（）

1.37放射性同位素的衰变常数λ值越大，说明该物质越稳定。

（）

1.38X射线和γ射线都是电磁辐射，而中子射线不是电磁辐射。

（）

1.39放射性同位素的当量能总是高于其平均能。

（）

1.40X射线与可见光的区别是波长和产生方法不同。

（）

1.41高速电子与靶原子的轨道电子相撞发出X射线，这一过程称作韧致辐射。

（）

1.42连续X射线的能量与管电压有关，与管电流无关。

（）

1.43连续X射线的强度与管电流有关，与管电压无关。

（）

1.44标识X射线的能量与管电压、管电流均无关，仅取决于靶材料。

（）

1.45X射线与了射线的基本区别是后者具有高能量，可以穿透较厚物质。

（）

1.46采取一定措施可以使射线照射范围限制在一个小区域，这样的射线称为窄束射线。

（）

1.47对钢、铝、铜等金属材料来说，射线的质量吸收系数值总是小于线吸收系数值。

（）

1.48原子核的稳定性与核内中子数有关，核内中子数越小，核就越稳定。

（）

1.49经过一次β衰变，元素的原子序数Z增加1，而经过一次α衰变，元素的原子序数Z将减少2。

（）

1.50放射性同位素衰变常数越小，意味着该同位素半衰期越长。

（）

1.51在管电压、管电流不变的前提下，将X射线管的靶材料由钼改为钨，所发生的射线强度会增大。

（）

1.52在X射线工业探伤中，使胶片感光的主要是连续谱X射线，标识谱X射线不起什么作用。

（）

1.53Ir192γ射线与物质相互作用时，肯定不会发生电子对效应。

（）

1.54高能X射线与物质相互作用的主要形式之一是瑞利散射。

（）

1.55连续X射线穿透物质后，强度减弱，平均波长变短。

（）

1.56不包括散射成分的射线束称为窄束射线。

（）

1.57单一波长电磁波组成的射线称为“单色”射线，又称为“单能辐射”。

（）

1.58α射线和β射线一般不用于工业无损检测，是因为这两种射线对人体辐射伤害太大。

（）

1.59原子由一个原子核和若干个核外电子组成。

（）

1.60原子核的核外电子带正电荷，在原子核周围高速运动。

（）

1.61原子序数=核外电子数=质子数=核电荷数。

（）

1.62原子量=质子数+中子数。

（）

1.63中子数=原子量－质子数=原子量+原子序数。

（）

1.64不稳定的同位素又称放射性同位素。

（）

1.65目前射线检测所用的同位素均为人工放射性同位素。

（）

1.66X射线谱中波长连续变化的部分，称为‘连续’谱。

（）

1.67康普顿效应的发生儿率人致与光子能量成正比，与物质原子序数成反比。

（）

1.68瑞利散射是相干散射的一种。

（）

1.69只有入射光子能量>1.02MeV时，才能发生电子对效应。

（）

1.70光电效应和电子对效应引起的吸收有利于提高照相对比度。

（）

1.71康普顿效应产生的散射线会降低照相对比度。

（）

1.72射线照相法适宜各种熔化焊接方法的对接接头利钢板、钢管的检测。

（）

2.1X光管的有效焦点总是小于实际焦点。

（）

2.2X射线机中的焦点尺寸，应尽可能大，这样发射的X射线能量大，同时也可防止靶过份受热。

（）

2.3X射线管中电子的速度越小，则所发生的射线能量也就越小。

（）

2.4由于X射线机的电压峰值（KVP）容易使人误解，所以X射线机所发出的射线能量用电压的平均值表示。

（）

2.5全波整流X射线机所产生射线的平均能比半波整流X射线机所产生射线的平均能高。

（）

2.6移动式X射线机只能室内小范围移动，不能到野外作业。

（）

2.7移动式X射线机有油冷和气冷两种绝缘介质冷却方式。

（）

2.8相同千伏值的金属陶瓷管和玻璃管，前者体积利尺寸小于后者。

（）

2.9“变频”是减小X射线机重量的有效措施之一。

（）

2.10放射性同位素的比活度越大，其辐射强度也就越大。

（）

2.11适宜探测厚度100mm以上钢试件γ源的是CO60，透宜探测厚度20～100mm钢试件的γ源是Ir192。

（）

2.12黑度定义为阻光率的常用对数值。

（）

2.13底片黑度D＝1，即意味着透射光强为入射光强的十分之一。

（）

2.14ISO感光度100的胶片，达到净黑度2.0所需的曝光量为100戈瑞。

（）

2.15低能量射线更容易被胶片吸收，引起感光，因此，射线透照时防止散射线十分重要。

（）

2.16用来说明管电压、管电流和穿透厚度关系的曲线称为胶片特性曲线。

（）

2.17胶片达到一定黑度所需的照射量（即伦琴数）与射线质无关。

（）

2.18同一胶片对不同能量的射线具有不同的感光度。

（）

2.19比活度越小，即意味着该放射性同位素源的尺寸可以做得更小。

（）

2.20胶片灰雾度包括片基固有密度利化学灰雾密度两部分。

（）

2.21在胶片特性曲线上的曝光止常区，非增感型胶片反差系数随黑度的增加而增大，而增感型胶片反差系数随黑度增加的增大而减小。

（）

2.22在常用的100KV～400KVX射线能量范围内，铅箔增感屏的增感系数随其厚度的增大而减小。

（）

2.23对X射线，增感系数随射线能量的增高而增大。

但对γ射线来说则不是这样，例如，Co60的增感系数比Ir192低。

（）

2.24对X射线机进行“训练”的目的是为了排出绝缘油中的气泡。

（）

2.25X和了射线的本质是相同的，但γ射线来自同位素，而X射线来自于一个以高压加速电子的装置。

（）

2.26在任何情况下，同位素放射源装置都优于X射线设备，这是由于使用它能得到更高的对比度和清晰度。

（）

2.27对于某一同位素放射源，其活度越大，则所发山的射线强度也越大。

（）

2.28周向X射线机产生的X射线束向270°方向辐射。

（）

2.29相同标称千伏值和毫安值的X射线机所产生的射线强度和能量必定相同。

（）

2.30所谓“管电流”就是流过X射线管灯丝的电流。

（）

2.31放射源的比活度越大，其半衰期就越短。

（）

2.32胶片对比度与射线能量有关，射线能量越高，胶片梯度越小。

（）

2.33胶片特性曲线的斜率用来度量胶片的梯度。

（）

2.34从实际应用的角度来说，射线的能量对胶片特性曲线形状基本上不产生影响。

（）

2.35宽容度大的胶片其梯度必然低。

（）

2.36显影时间延长，将会使特性曲线变陡，且在座标上的位置向左移。

（）

2.37胶片特性曲线在座标上的位置向左移，意味着胶片感光速度减小。

（）

2.38与一般胶片不同，X射线胶片双面涂布感光乳剂层，其目的是为了增加感光速度和黑度。

（）

2.39“潜影”是指在没有强光灯的条件下不能看到的影像。

（）

2.40铅增感屏除有增感作用外，还有减少散射线的作用，因此在射线能穿透的前提下，应尽量选用较厚的铅屏。

（）

2.41透照不锈钢焊缝，可以使用碳素钢丝像质计。

（）

2.42透照钛焊缝，必须使用钛金属丝像质计。

（）

2.43透照镍基合金焊缝时使用碳素钢丝像质计，如果底片上显示的线径编号刚刚达到标准规定值，则该底片的实际灵敏度肯定达不到标准规定的要求。

（）

2.44因为铅箔增感屏的增感系数高于荧光增感屏，所以得到广泛使用。

（）

2.45胶片中卤化银粒度与胶片的感光速度无关。

（）

2.46梯噪比高的胶片成像质量好。

（）

2.47胶片系统分类的主要依据是胶片感光速度和梯噪比。

（）

2.48直通道型γ射线机比“s”通道型γ射线机的机体轻，体积也小。

（）

2.49铺设γ射线机输源管时应注意弯曲半径不得过小，否则会导致其变形或折断。

（）

2.50像质计一般摆放在射线透照区内显示灵敏度较低部位。

（）

2.51管道爬行器是一种装在爬行装置上的X射线机。

（）

2.52X射线机在同样电流、电压条件下，恒频机的穿透能力最弱。

（）

2.53X射线管的阴极是产生X射线的部分。

（）

2.54X射线管的阳极是由阳极靶、阳极体、阳极罩三部分构成。

（）

2.55一般阳极体采用导热率大的无氧铜制成。

（）

2.56携带式X射线机的散热形式多采用辐射散热式。

（）

2.57X射线管的阳极特性就是X射线管的管电压与管电流的关系。

（）

2.58X射线机采用阳极接地方式的自整流电路，对高压变压器的绝缘性能要求较低。

（）

2.59X射线机的灯丝变压器是一个升压变压器。

（）

2.60γ射线机的屏蔽容器一般用贫化铀材料制成，其体积、重量比铅屏蔽体要大许多。

（）

2.61在换了射线源的操作过程中，必须使用γ射线剂量仪表及音响报警仪进行监测。

（）

2.62射线胶片由片基、结合层、感光乳剂层和保护层组成。

（）

2.63胶片感光后，产生眼睛看不见的影像叫‘潜影’。

（）

2.64射线胶片的感光特性可在曝光曲线上定量表示。

（）

2.65射线底片上产生一定黑度所用曝光量的倒数定义为感光度。

（）

2.66未经曝光的胶片，经暗室处理后产生的一定黑度称为本底灰雾度。

（）

2.67胶片对不同曝光量在底片上显示不同黑度差的固有能力称为梯度。

（）

2.68胶片有效黑度范围相对应的曝光范围称为宽容度。

（）

2.69胶片的特性指标只与胶片有关，与增感屏和冲洗条件无关。

（）

2.70黑度计和光学密度计是两种不同类型的测量仪器。

（）

2.71使用金属增感屏所得底片像质最佳，其增感系数也最大。

（）

2.72增感系数Q是指不用增感屏的曝光量EO与使用增感屏时的曝光量E之间的比值，即：

Q=EO/E（）

2.73金属增感屏具有增感效应和吸收效应两个基本效应。

（）

2.74由于增感系数高，荧光增感屏多用于承压设备的焊缝射线照相。

（）

2.75像质计是用来检查和定量评价射线底片影像质量的工具。

（）

2.76像质计通常用与被检工件材质相同或对射线吸收性能相似的材料制作。

（）

3.1影像颗粒度完全取决于胶片乳剂层中卤化银微粒尺寸的大小。

（）

3.2一般来说，射线照相像质计灵敏度等于自然缺陷灵敏度。

（）

3.3使用较低能量的射线可得到较高的主因对比度。

（）

3.4射线照相时，若干伏值提高，将会使胶片对比度降低。

（）

3.5一般来说，对厚度差较大的工件，应使用较高能量射线透照，其目的是降低对比度，增大宽容度。

（）

3.6增大曝光量可提高主因对比度。

（）

3.7当射线的有效能量增加到大约250KV以上时，就会对底片颗粒度产生明显影响。

（）

3.8射线照相对比度AD只与主因对比度有关，与胶片对比度无关。

（）

3.9射线照相主因对比度与入射线的能谱有关，与强度无关。

（）

3.10用增入射源到胶片距离的办法可降低射线照相固有不清晰度。

（）

3.11减小几何不清晰度的途径之一，就是使胶片尽可能地靠近工件。

（）

3.12利用刚极侧射线照相所得到的底片的几何不清晰度比阴极侧好。

（）

3.13胶片的颗粒越粗，则引起的几何不清晰度就越大。

（）

3.14使用γ射线源可以消除几何不清晰度。

（）

3.15增加源到胶片的距离可以减小儿何清晰度，但同时会引起固有不清晰度增大。

（）

3.16胶片成象的颗粒性会随着射线能量的提高而变差。

（）

3.17对比度、清晰度、颗粒度是决定射线照相灵敏度的三个主要因素。

（）

3.18胶片对比度和主因对比度均与工件厚度变化引起的黑度差有关。

（）

3.19使用较低能量的射线可提高主因对比度，但同时会降低胶片对比度。

（）

3.20胶片的粒度越大，固有不清晰度也就越大。

（）

3.21显影不足或过度，会影响底片对比度，但不会影响颗粒度。

（）

3.22实际上由射线能量引起的不清晰度和颗粒度是同一效应的不同名称。

（）

3.23当缺陷尺寸大大小于几何不清晰度尺寸时，影像对比度会受照相几何条件的影响。

（）

3.24可以采取增大焦距的办法使尺寸较大的源的照相几何不清晰度与尺寸较小的源完全一样。

（）

3.25胶片对比度与胶片类型或梯度G有关。

（）

3.26散射线只影响主因对比度，不影响胶片对比度。

（）

3.27底片黑度只影响胶片对比度，与主因对比度无关。

（）

3.28射线的能量同时影响照相的对比度、清晰度和颗粒度。

（）

3.29透照有余高的焊缝时，应保证焊缝部位和母材部位得到相同像质计灵敏度显示的黑度值范围。

（）

3.30射线照相对比度就是缺陷影像与其周围背景的黑度差。

（）

3.31底片黑度只影响对比度，不影响清晰度。

（）

3.32底片的最佳黑度值与观片灯亮度有关，观片灯亮度改变，最佳黑度值也将改变。

（）

3.33固有不清晰度是由于使溴化银感光的电子在乳剂层中有一定穿越行程而造成的。

（）

3.34底片能够记录的影像细节的最小尺寸取决于颗粒度。

（）

3.35对有余高的焊缝照相，应尽量选择较低能量的射线，以保证焊缝区域有较高的对比度。

（）

3.36射线照相不清晰度就是影像轮廓边缘黑度过渡区的宽度。

（）

3.37射线照相颗粒度表示影像黑度的不均匀程度。

（）

3.38射线照相不清晰度包含几何不清晰度和固有不清晰度两部分。

（）

3.39射线照相固有不清晰度与增感屏种类无关。

（）

3.40焦点至工作距离是影响几何不清晰度的原因之一。

（）

3.41胶片对比度与显影条件有关。

（）

3.42一般情况是，胶片感光速度越高，射线照相影像的颗粒性就越不明显。

（）

3.43焦点尺寸的大小与儿何不清晰度没有关系。

（）

3.44增感屏与胶片未贴紧会增大固有不清晰度。

（）

3.45衰减系数μ只与射线能量有关，与试件材质无关。

（）

3.46几何不清晰度与焦点尺寸和工件厚度成正比，与焦点至工件表面距离成反比。

（）

3.47射线照相固有不清晰度可采用铂-钨双丝像质计测定。

（）

3.48颗粒性是指均匀曝光的射线底片上影像黑度分布不均匀的视觉印象。

（）

4.1按照“高灵敏度法”的要求，300KVX射线可透照钢的最大厚度大约是40mm。

（）

4.2γ射线照相的优点是射源尺寸小，且对大厚度工件照相曝光时间短。

（）

4.3选择较小的射源尺寸df，或者增大焦距值F，都可以使照相Ug值减小。

（）

4.4欲提高球罐内壁表面的小裂纹检出率，采用源在外的透照方式比源在内的透照方式好。

（）

4.5环焊缝的各种透照方式中，以源在内中心透照周向曝光法为最佳方式。

（）

4.6无论采用哪一种透照方式，一次透照K度都随着焦距的增大而增大。

（）

4.7所谓“最佳焦距”是指照相几何不清晰度Ug与固有不清晰度Ui相等时的焦距值。

（）

4.8就小缺陷检山灵敏度来比较γ射线与X射线，两者差距不大。

（）

4.9对有余高的焊缝进行透照，热影响区部位的散射比要比焊缝中心部位大得多。

（）

4.10源在内透照时，搭接标记必须放在射源侧。

（）

4.11背散射线的存在，会影响底片的对比度。

通常可在工件和胶片之间放置一个铅字B米验证背散射线是否存在。

（）

4.12不论采用何种透照布置，为防止漏检，搭接标记均应放在射源侧。

（）

4.13由于“互易定律失效”，采用荧光增感时，根据曝光因子公式选择透照参数可能会产生较大误差。

（）

4.14当被透工件厚度差较人时，就会有“边蚀散射”发生。

（）

4.15在源和工件之间放置滤板来减小散射线的措施对γ射线并不适用。

（）

4.16使用“滤板”可增大照相宽容度，但滤板最好是放在工件和胶片之间。

（）

4.17在源和工件之间放置滤板减小散射线的措施对于平板工件照相并不适用。

（）

4.18在实际工作中正常使用的焦距范围内，可以认为焦距对散射比没有影响。

（）

4.19采用平靶周向X射线机对环缝作内透中心法周向曝光时，有利于检出横向裂纹，但不利于检出纵向裂纹。

（）

4.20采用源在外单壁透照方式，如K值不变，则焦距越大，一次透照长度L3就越大。

（）

4.21采用双壁单影法透照时，如保持K值不变，则焦距越大，一次透照长度L3就越小。

（）

4.22用单壁法透照环焊缝时，所用搭接标记均应放在射源侧工件表面，以免端部缺陷漏检。

（）

4.23对某一曝光曲线，应使用同一类型的胶片，但可更换不同的X射线机。

（）

4.24使用γ射线曝光曲线时，首先应知道射线源在给定时间的活度。

（）

4.25随着管电压的升高，X射线的平均波长变短，线质变软。

（）

4.26小径管射线照相采用垂直透照法比倾斜透照法更有利于检出根部未熔合。

（）

4.27增大透照厚度宽容度最常用的办法是适当提高射线能量。

（）

4.28对尺寸很小的缺陷，其影像的对比度不仅与射线能量有关，而且与焦距有关。

（）

4.29材料的种类影响散射比，例如给定能量的射线在钢中的散射比要比在铝中大得多。

（）

4.30在常规射线照相检验中，散射线是无法避免的。

（）

4.31环缝双壁单影照相，搭接标记应放胶片侧，底片的有效评定长度是底片上两搭接标记之间的长度。

（）

4.32纵焊缝双壁单影照相，搭接标记应放胶片侧，底片的有效评定长度就是两搭接标记之间的长。

（）

4.33小径管双壁透照的要点是选用较高管电压，较低曝光量，其目的是减小底片对比度，扩人检出区域。

（）

4.34射线照相实际透照时很少采用标准允许的最小焦距值。

（）

4.35双片叠加观察是双胶片技术中的同速双片法经常采用的一种底片观察方法。

（）

4.36选择射线源的首要因素是其对被检工件应具有足够的穿透力。

（）

4.37球罐γ射线全景曝光时，其曝光时间通过生产厂家提供的“专用计算尺”可以精确计算出来。

（）

4.38在满足几何不清晰度的前提下，为提高工效和影像质量，环形焊缝应尽量选用圆锥靶周向X射线机作内透中心法周向曝光。

（）

4.39从射线照像灵敏度角度考虑：

在保证穿透力的前提下，应尽量选择能量较低的X射线。

（）

4.40选择能量较低的X射线可以获得较高的对比度和宽容度。

（）

4.41提高管电压是提高工效和灵敏度的有效方法之一。

（）

4.42底片黑度可以通过改变曝光量来控制。

（）

4.43平方反比定律表示辐射强度与距离平方成反比。

（）

4.44对于散射源来说，往往最大的散射源来自于试件本身。

（）

4.45对厚度差较大的工件，散射比随射线能量的增大而增大。

（）

4.46使用铅箔增感屏对减少散射线几乎不起作用。

（）

4.47钳箔增感屏的铅箔厚度越人，其增感效率越大。

（）

4.48在小径管透照中，影像各处的几何不清晰度都是一致的。

（）

5.1显影时胶片上的AgBr被还原成金属银，从而使胶片变黑。

（）

5.2对曝光不足的底片，可采用增加显影时间或提高显影温度的方法来增加底片黑度，从而获得符合要求的底片。

（）

5.3胶片在显影液中显影时，如果不进行任何搅动，则使反应产生的溴化物无法扩散。

（）

5.4定影液有两个作用，溶解米曝光的AgBr和坚膜作用。

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5.5所谓“通透时间”就是指胶片从放入定影液到乳剂层变为透明的这段时间。

（）

5.6减少底片上水迹的方法是使胶片快速干燥。

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5.7胶片表面药膜脱落可能是胶片处理温度过高而引起的。

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5.8冲洗胶片时，只要使用安全灯，胶片上就不会出现灰雾。

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5.9显影液中如果过量增加碳酸钠，在底片上会产生灰雾增大的不良后果。

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5.10使用被划伤的铅箔增感屏照相，底片上会出现与划伤相应的清晰的黑线。

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5.11胶片上静电花纹的产生