电子元器件检验规范标准书.docx
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电子元器件检验规范标准书
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批准
2011/03/30
/
系统文件新制定
4
A/0
/
/
/
批准：
审核：
编制：
部分电子元器件检验规范标准书
IC类检验规范（包括BGA）
1.目的
作为IQC人员检验IC类物料之依据。
2.适用范围
适用于本公司所有IC（包括BGA）之检验。
3.抽样计划
依MIL-STD-105E，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
4.允收水准（AQL）
严重缺点（CR）:
0;
主要缺点（MA）:
;
次要缺点（MI）:
.
5.参考文件
无
检验项目
缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
MA
a.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否
都正确,任何有误,均不可接受。
b.包装必须采用防静电包装，否则不可接受。
目检
数量检验
MA
a.实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；
b.实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接
受。
目检
点数
外观检验
MA
a.Marking错或模糊不清难以辨认不可接受；
b.来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；
c.本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；
d.元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超
过,且未露出基质,可接受；否则不可接受；
e.Pin氧化生锈，或上锡不良，均不可接受；
f.元件脚弯曲，偏位,缺损或少脚，均不可接受；
目检或
10倍以上的放大镜
检验时，必须佩带静电带。
备注：
凡用于真空完全密闭方式包装的IC，由于管理与防护的特殊要求不能现场打开封装的，IQC仅进行包装检验，并加盖免检印章；该IC在SMT上拉前IQC须进行拆封检验。
拆封后首先确认包装袋内的湿度显示卡20%RH对应的位置有没有变成粉红色，若已变为粉红色则使用前必须按供应商的要求进行烘烤。
（三）贴片元件检验规范（电容,电阻,电感…）
1.目的
便于IQC人员检验贴片元件类物料。
2.适用范围
适用于本公司所有贴片元件（电容,电阻,电感…）之检验。
3.抽样计划
依MIL-STD-105E，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
4.允收水准（AQL）
严重缺点（CR）:
0;
主要缺点（MA）:
;
次要缺点（MI）:
.
5.参考文件
《LCR数字电桥操作指引》
《数字万用表操作指引》
检验项目
缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
MA
a.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。
b.包装必须采用防静电包装，否则不可接受。
目检
数量检验
MA
a.实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；
实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。
目检
点数
外观检验
MA
a.Marking错或模糊不清难以辨认不可接受；
b.来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；
c.本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；
d.元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超过,且未露出基质,可接受；否则不可接受；
e.Pin氧化生锈，或上锡不良，均不可接受；
目检
10倍以上的放大镜
检验时，必须佩带静电带。
电性检验
MA
元件实际测量值超出偏差范围内.
LCR测试仪
数字万用表
检验时，必须佩带静电带。
二极管类型
检测方法
LED
选择数字万用表的二极管档，正向测量，LED需发出与要求相符的颜色的光，而反向测量不发光；否则该二极
管不合格。
注：
有标记的一端为负极。
其它二极管
选择数字万用表的二极管档，正向测量，读数需小于1，而反向测量读数需无穷大；否则该二极管不合格。
注：
有颜色标记的一端为负极。
备注
抽样计划说明：
对于CHIP二极管，执行抽样计划时来料数量以盘为单位，样本数也以盘为单位；从抽检的每
盘中取3~5pcs元件进行检测；AQL不变。
检验方法见＂LCR数字电桥测试仪操作指引＂和＂
数字万用表操作指引＂。
（四）插件用电解电容.
1.目的
作为IQC人员检验插件用电解电容类物料之依据。
2.适用范围
适用于本公司所有插件用电解电容之检验。
3.抽样计划
依MIL-STD-105E，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
4.允收水准（AQL）
严重缺点（CR）:
0;
主要缺点（MA）:
;
次要缺点（MI）:
.
5.参考文件
《LCR数字电桥操作指引》、
《数字电容表操作指引》。
检验项目
缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
MA
a.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否
都正确,任何有误,均不可接受。
目检
数量检验
MA
a.实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；
b.实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接
受。
目检
点数
外观检验
MA
a.极性等标记符号印刷不清，难以辨认不可接受；
b.电解电容之热缩套管破损、脱落，不可接受；
c.本体变形，破损等不可接受；
生锈氧化，均不可接受。
目检
可焊性检验
MA
上锡不良，或完全不上锡不可接受。
（将PIN沾上现使用之合格的松香水，再插入小锡炉5秒钟左右后拿起观看PIN是否100%良好上锡；如果不是则拒收）
实际操作
每LOT取5~10PCS在小锡炉上验证上锡性
尺寸规格检验
MA
a.外形尺寸不符合规格要求不可接受。
卡尺
若用于新的Model，需在PCB上对应的位置进行试插
电性检验
MA
a.电容值超出规格要求则不可接受。
用数字电容表或LCR数字电桥测试仪量测
（五）晶体类检验规范
1.目的
作为IQC人员检验晶体类物料之依据。
2.适用范围
适用于本公司所用晶体之检验。
3.抽样计划
依MIL-STD-105E，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
4.允收水准（AQL）
严重缺点（CR）:
0;
主要缺点（MA）:
;
次要缺点（MI）:
.
5.参考文件
《数字频率计操作指引》
检验项目
缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
MA
a.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都
正确,任何有误,均不可接受。
目检
数量检验
MA
a.实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；
b.实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接
受。
目检
点数
外观检验
MA
a.字体模糊不清，难以辨认不可接受；
b.有不同规格的晶体混装在一起，不可接受；
c.元件变形，或受损露出本体等不可接受；
d.Pin生锈氧化、上锡不良，或断Pin，均不可接受。
目检
每LOT取5~10PCS在小锡炉上验证上锡性
电性检验
MA
a.晶体不能起振不可接受；
b.测量值超出晶体的频率范围则不可接受。
测试工位
和数字频率计
电性检测方法
晶体
检测方法
在好的样板的相应位置插上待测晶体,再接通电源开机;在正常开机后，用调试好的数字频率计测量晶体，看
测量的频率是否在规格范围内，若不能开机或测量值不在规格范围内，则该晶体不合格。
在好的样板的相应位置插上待测晶体、CPU、内存条等，再接通电源开机，看能否正常开机显示；在正常开机
显示后，用调试好的数字频率计测量晶体，看测量的频率是否在规格范围内，若不能开机显示或测量值不在规
格范围内，则该晶体不合格。
（六）三极管检验规范
1.目的
作为IQC人员检验三极管类物料之依据。
2.适用范围
适用于本公司所有三极管之检验。
3.抽样计划
依MIL-STD-105E，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
4.允收水准（AQL）
严重缺点（CR）:
0;
主要缺点（MA）:
;
次要缺点（MI）:
.
5.参考文件
无
检验项目
缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
MA
a.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否
都正确,任何有误,均不可接受。
b.包装必须采用防静电包装，否则不可接受。
目检
数量检验
MA
a.实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；
b.实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接
受。
目检
点数
外观检验
MA
a.Marking错或模糊不清难以辨认不可接受；
b.来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；
c.本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；
d.元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超
过,且未露出基质,可接受；否则不可接受；
e.Pin氧化生锈，或上锡不良，均不可接受。
目检
10倍以上的放大镜
检验时，必须佩带静电带。
电性检验
无
（七）排针&插槽（座）类检验规范
1.目的
作为IQC人员检验排针&插槽（座）类物料之依据。
2.适用范围
适用于本公司所有排针&插槽（座）之检验。
3.抽样计划
依MIL-STD-105E，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
4.允收水准（AQL）
严重缺点（CR）:
0;
主要缺点（MA）:
;
次要缺点（MI）:
.
5.参考文件
无
检验项目
缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
MA
根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。
目检
数量检验
MA
a.实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；
实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。
目检
点数
外观检验
MA
a.Marking错或模糊不能辩认；
b.塑料与针脚不能紧固连接；
c.塑料体破损，体脏，变形，明显色差，划伤，缩水；
d.过锡炉后塑料体外观变色，变形，脱皮;
e.针脚拧结，弯曲，偏位,缺损，断针或缺少；
f.针脚高低不平、歪针、针氧化、生锈;
g.针脚端部成蘑菇状影响安装.
目检
焊锡性检验
MA
a.PIN上锡不良，或完全不上锡,均不可接受；（将零件脚插入
现使用之合格松香水内，全部浸润，再插入小锡炉5秒钟
左右后拿起观看PIN是否100%良好上锡；如果不是则拒收）
实际操作
每LOT取5~10PCS在小锡炉上验证上锡性
安装检验
MA
a.针脚不能与标准PCB顺利安装;
b.针脚露出机板长度小于或大于;
卡尺
针脚露出机板长度的标准为~范围内。
八CABLE类检验规范
1.目的
作为C人员检验CABLE类物料之依据。
2.适用范围
适用于本公司所有CABLE类之检验。
3.抽样计划
依MIL-STD-105E，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
4.允收水准（AQL）
严重缺点（CR）:
0;
主要缺点（MA）:
;
次要缺点（MI）:
.
5参考文件
无
检验项目
缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
MA
a.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否
都正确,任何有误,均不可接受。
目检
数量检验
MA
a.数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；
b.料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。
目检
点数
外观检验
MA
a.五金件变形、划伤、生锈、起泡、发黄或其它电镀不良；
b.塑料体变形、划伤、毛边、破（断）裂、异色等不良；
c.排线破损、断裂、变形、异色、露铜丝、切口不齐等均不
可接受；
d.排线与支架等组装不牢，易松脱；
e.标识CABLE接插方向的颜色不能明确分辩；
c.排线接头的颜色不符合规格要求;
g.排线表面的丝印错.
1.目检
2.按前后左右上下各轻摇3次排线接头处，看有无松脱现象
参考MechanicalDrawingofCable
尺寸检验
MA
a.长度不符合规格要求不可接受.
卷尺
尺寸参考MechanicalDrawingofCable
电性测试检验
MA
a.排线的接线方式错不可接受;
b.排线接触不良或不能运行不可接受;
c.IDE排线的传输速率不符合要求不可接受.
每批取10pcs送QA,请QA的同事帮助测试
拉力测试检验
MA
a.与公端对插,插拔力不符合规格要求的不可接受.（拉力测
试:
用标准BoxHeader与排线对插好，用拉力计测出其
CABLE完全被拉出后的最大拔出力。
）
实际操作
备注
1.要求如下（低于20PIN的不作要求）：
80PIN:
~;40PIN:
~:
34PIN:
~;26PIN:
~;20PIN:
~
2.接插CABLE要轻插，不可插坏主板之插座；
3.测拉力时，必需沿水平方向拔出，如果拉拔力均不符合要求，须重测三次；如有一次符合，则此CABLE拉拔
力合格；如三次均不符合要求，需转换另一BOXHEADER（可连续转换三次新的BOXHEADER），以同样的
方式测试。
更换三次后仍不符合，则拒收退货。
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