分析化学课本本章小结中的基本概念汇总.docx

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分析化学课本本章小结中的基本概念汇总

课本本章小结中的基本概念

第2章误差和分析数据处理

1、绝对误差：

测量值与真实值之差

2、相对误差：

以真实值的大小为基础表示的误差值

3、系统误差也叫可定误差，是由某种确定的原因所引起的误差，一般有固定的方向（正和负）和大小，重复测定时重复出现，主要有方法误差、仪器或试剂误差和操作误差。

4、偶然误差也叫随机误差或不可定误差，是由一些偶然的原因所引起的误差，其大小和正负都不固定

5、准确度分析结果与真实值接近的程度，其大小可用误差表示

6、精密度平行测量的各测量数值之间互相接近的程度，其大小可用偏差表示。

7、置信区间在一定置信水平时，以测量结果为中心，包括总体均值在内的可信范围。

8、有效数字实际上能测量的数字。

第3章滴定分析概论

（1）化学计量点当化学反应按计算关系完全作用，即滴入的溶液中物质的量与待测定的组分的物质的量恰好符合化学反应式所表示的化学计量关系，称为反应达到了化学计量点.

（2）返滴定法：

又称剩余滴定法或回滴定法，当反应速率较慢或反应物是固体的情形，滴定剂加入样品后反应无法再瞬间定量完成，此时可先加入一定量的过量标准溶液，待反应定量完成后用另一种标准溶液作为滴定剂滴定剩余的标准溶液，称为返滴定法。

（3）置换滴定法：

对于不按确定化学计量关系反应（如伴有副反应）的物质，有时可通过其他化学反应进行滴定，即加入适当试剂与待测物质反应，使其被定量地置换成另一种可直接滴定的物质，再用标准溶液滴定此生成物，称为置换滴定法。

（4）分布系数一定型体的平衡浓度占分析浓度的比值，称为该形体的分布系数。

（5）副反应系数（α）物质每种存在型体浓度与物质各种存在型体总和比值的倒数，称为副反应系数。

第四章

1、酸碱的定义凡能给出质子的物质是酸，能接受质子的物质是碱。

2、酸碱强度用离解常数Ka或Kb表示，Ka（Kb）越大，其酸碱性越强。

3、溶剂的质子自递反应和质子自递系数：

在溶剂分子间发生的质子转移反应，称为溶剂的质子自递反应；反应的平衡常数称为溶剂的质子自递常数。

4、酸（碱）的浓度在一定体积溶液中含有某种酸（碱）溶质的量，即酸（碱）分子的分析浓度。

5、酸（碱）度溶液中H+（OH-）的浓度，严格地说是H+（OH+）的活度，常用p（OH）表示

6、酸碱的分布系数溶液中某种酸碱型体的平衡浓度占其总浓度的分数。

7、质子条件式酸碱反应达到平衡时，酸失去的质子数应该等于碱得到的质子数，这种质子平衡关系的数学表达式称为质子条件式。

8、酸碱指示剂和变色范围酸碱指示剂是一些有机酸或弱碱，这些弱酸或弱碱与其共轭碱或酸具有不同的颜色。

酸碱指示剂发生颜色突变的范围称为变色范围。

9、酸碱滴定曲线滴定过程中溶液pH随标准溶液体积或反应完全程度变化的图形，突变所在的pH值称为滴定突跃迁。

10、酸碱滴定突跃和滴定突跃范围化学计量点附近溶液pH值点突变称为滴定突跃，突跃所在的pH值范围称为滴定突跃范围。

11、滴定误差滴定终点与化学计量点间不一致引入的相对误差。

12、非水滴定法在非水溶剂中进行化学的滴定分析方法称为非水滴定法。

13、均化效应和区分效应将不同强度的酸或碱性均化到同一强度水平的效应称为均化效应。

能区分酸（碱）强弱的成为区分效应。

14、在酸碱滴定中，重要的是估计被测定物质能否被准确滴定以及如何选择合适的指示剂来确定滴定终点。

酸碱指示剂的理论变色范围为pH=PkIn+-1,变色范围全部或部分落在滴定突跃范围的指示剂可用来指示终点。

15、溶剂的性质（酸碱性、离解性和极性）对滴定产生影响，溶剂的碱性越强，酸性物质在该溶剂中中显示的酸性就越强；反之，溶剂的酸性越强，碱性物质在溶剂中显示的碱性越强。

质子溶剂存在质子自递反应，溶剂的Pka越大，滴定的突跃范围就越大，滴定终点越敏锐。

溶质在溶剂中的理解与溶剂的记性有关。

极性强的溶剂介电常数答，溶质在这种溶剂中容易解离，酸碱的强度增大。

常利用均化效应来测定混合酸碱的总量，利用区分效应来测定混合酸（碱）中各组分的含量。

16、非水溶液中滴定弱碱，通常选择对碱有均化效应的冰醋酸作为溶剂，高氯酸的冰醋酸溶液作标准溶液，滴定终点的确定常采用电位滴定法，或者以结晶紫为指示剂。

测定不太若的羧酸类，常以醇作溶剂；弱酸和极酸性的滴定，则以乙二胺、二甲基甲酰等碱性溶剂为宜；甲基异丁酮不发生自身解离，是良好的区分性溶剂，适用于混合酸的区分测定；常用的碱标准溶液为甲醇钠的苯-甲醇溶液，常用的指示剂是百里酚蓝。

第五章络合滴定法

1、稳定常数：

金属离子M与络合剂Y（通常指EDTA）发生络合反应生成络合化合物MY的平衡常数。

2、累积稳定常数（β）：

金属离子M与络合剂L逐级形成MLm型配合物，将逐级稳定常数一次相乘，则得到各级积累稳定常数。

3、副反应系数（α）：

将被测金属离子M与滴定剂Y之间的反应作为主反应，其他副反应对主反应的影响程度，包括酸效应系数αy（H）,络合效应系数αM（L）

4、条件稳定常数K’MY在一定条件下，校正了各种各副反应后，生成络合物的实际稳定常数称条件稳定常数。

5、EDTA与金属离子形成多基络合体的络合物，其络合比一般是1:

1,。

反应速率快，生理的络合物水溶性大，稳定性高，大多数金属与EDTA络合物无色，便于用指示剂确定终点。

6、络合滴定通常采用指示剂指示滴定终点，化学计量点与指示剂的变色不可能完全一致。

假设△pM’=+-0.2，用等浓度的EDTA滴定初始浓度为c的金属离子M。

通过计算lgc*KMY’为8，6,4时的终点误差非别为0..01%,0.1%,1%。

要使误差在滴定分析的允许范围内（0.1%），需满足lgc*K’MY

>=6，或cK’MY＞=10。

7、金属指示剂与金属离子生成的络合物颜色应与指示剂本身的颜色有明显区别，终点颜色变化才明显；金属指示剂与金属络合物（Mln）的稳定性应比金属-EDTA络合物（MY）的稳定性低。

这样EDTA才能夺取Min中的M，使In游离而变色。

一般要求K’MY/K’MIn>100.

8、某些金属离子可与指示剂生成稳定络合物，使终点时产生封闭现象，变色不敏锐，因此测定这些离子时需要采取消除指示剂的封闭现象。

9、为了消除干扰离子的影响，在络合滴定中常用的掩蔽方法有络合掩蔽法，沉淀掩蔽法和氧化还原掩蔽法。

第六章氧化还原滴定法

1、氧化还原滴定法以氧化还原反应为基础的滴定方法。

2、氧化形和还原形氧化还原反应中得到电子的物质为氧化剂，本身被还原，从氧化形变为还原形，本身被氧化，从还原形生成氧化形。

3、标准电极电位Φ给定电极与同温度下标准氢电极所组成的原电池的电动势。

成电对的半电池反应中氧化形和还原形的活度为1mol/L

4、条件电位Φ在考虑离子强度以及副反应存在的条件下，氧化形和还原形的分析浓度均为1mol/L时的电位称为条件电位，仅在一定条件下为常数。

5、影响条件电位的因素即影响电对物质的活度系数和副反应系数的因素，主要有盐效应，酸效应，生成沉淀和生成络合物。

6、指示氧化还原滴定重点的常用指示剂有自身指示剂，特殊指示剂和氧化还原指示剂。

7、氧化还原滴定法中直接滴定、置换滴定、回滴定和空白滴定等方法都有应用。

根据滴定剂名称，氧化还原滴定法可分为碘量法、高锰酸钾法、溴量法、铈量法、高碘酸钾法、亚硝酸钠法、重络酸钾等。

第七章沉淀滴定法和重量滴定法

（1）络酸钾指示剂法用AgNO3标准溶液滴定氯化物或溴化物时，采用K2CrO4为指示剂的滴定方法。

（2）铁铵矾指示剂法分为直接法和返滴定法。

直接滴定法是采用NH4SCN（或KSCN）为标准溶液，在HNO3酸性溶液中测定Ag+。

返滴定法是在含有卤素的HNO3溶液酸性溶液中测定Ag+,返滴定法是在含有卤素离子的HNO3溶液中，加入定量过量的AgNO3,用NH4SCN标准溶液返滴定过量的AgNO3,采用铁氨矾指示剂确定滴定终点的方法。

（3）吸附指示剂法用AgNO3为标准溶液，以吸附指示剂确定滴定终点的方法。

（4）重量分析法通过称量物质的量确定被测组分质量分数的一种定量滴定方法。

（5）共沉淀进行沉淀时溶液中某些可溶性杂质夹杂在沉淀中沉下来，混在于沉淀中的现象

（6）后沉淀在沉淀析出后，溶液中原来不能沉淀的组分，也在沉淀表面逐渐沉寂出来的现象。

（7）盐效应在难溶解电解质的饱和溶液中，由于加入其它易溶电解质，使难溶电解质的溶解度增大的现象。

（8）酸效应溶液的酸度对沉淀溶解度的影响。

（9）同离子效应溶液的酸度对沉淀溶解度的影响

（10）络合效应溶液中存在能与构品离子生成可溶性络合物的络合剂，使沉淀的溶解度增大，甚至不产生沉淀的现象。

第8章电位分析法及永停滴定法

（1）化学电池由两个电池和电解池组成。

根据电极反应是否自发产生，化学电池分为原电池和电解池两类。

若电池两电极上自发产生电极反应，即构成原电极。

若需在电池的两个电极上施加一个外电压，方可产生电极反应，称为电解池。

（2）可逆电极电极反应为可逆反应、且反应速率较快的电极为可逆电极。

组成电极的两个电极都是可逆电极的电池称为可逆电池。

（3）相界电位在不同相界接触的相界面上，由于电荷在相界面上的转移，正负电荷分别集中在相界面的两侧形成所谓的化学双电层，达到平衡后在相界两边产生的稳定电位差称相界电位。

（4）参比电极电位固定不变，不受溶液组成变化影响的电极称为参比电极。

（5）指示电极电极的电位随溶液中待测离子的活度（或浓度）的变化而变化的电极称为液接电位。

（6）液接电位两种组成不同或组成相同、浓度不同的电解质溶液接触界面两边存在的电位，称为液接电位。

（7）不对称电位当玻璃电极两侧H+浓度相同时膜两侧相界电位的差值，称为不对称电位。

（8）离子选择电极对溶液中特定离子有选择性响应能力的电极，其电极电位和响应离子的活度满足Nernst关系式。

（9）电位法根据测量电极电位值，以确定待测物含量的分析方法。

若根据电极电位测量值直接求待测物的含量称为直接电位法。

若根据滴定过程中电极电位的变化，确定滴定终点求算待测物含量的方法称为电位分析法。

（10）永停滴定法把两个相同的指示电极插入测定的溶液中，在两个电极间外加一电压，通过滴定过程中两个电极的电流变化确定终点的方法。

第9章光学分析法概论

（1）光学分析法根据物质发射的电磁辐射与物质的相互作用而建立起来的一类仪器分类方法。

（2）光谱法物质与辐射能作用时内部发生量子能级之间的跃迁，测量由此而产生的发射、吸收或散射辐射的波长的方法。

例如，原子发射光谱法、原子吸收光谱法、原子发射光谱法、原子吸收光谱法、原子荧光光谱法、分子荧光光谱法、紫外-可见光谱法、红外吸收光谱法、核磁共振光谱法、顺磁共振波谱法。

（3）电磁辐射又称电磁波，是一种以巨大速率通过空间而不需要任何媒介的光子流。

（4）光谱当物质与辐射相互作用时，物质内部发生能级跃迁，记录由能级跃迁所产生的辐射能随波长变化所得的图谱。

（5）光谱分析法利用物质的光谱进行定性定量和结构分析的方法称为光谱分析法，简称光谱法。

吸收光谱法、发射光谱法和散射光谱法是光谱法的三种基本类型。

（6）吸收光谱法物质吸收相应的辐射能而产生的光谱，其产生的必要条件是所提供的辐射能量恰好满足该物质两能级间跃迁所需的能量。

利用物质的吸收光谱进行定性定量及结构分析的方法称为吸收光谱法。

如紫外-可见分光光度法、红外分光光度法、原子吸收分光光度法

（7）发射光谱法发射光谱室指构成物质的原子、离子或分子受到辐射能、热能、电能或化学能的激发而产生的光谱。

利用物质的发射光谱进行定性定量及结构分析的方法称为发射光谱法，如荧光法、磷光法。

（8）非光谱法指那些不以光的波长为特征信号，仅通过电磁辐射的某些基本性质（反射、折射、干涉、衍射和偏振）的变化的分析方法。

这类方法主要有折射法、旋光法、浊度法、X射线衍射法等。

第10章紫外-可见分光光度法

（1）紫外-可见分光光度法研究物质在紫外-可见光区分子吸收光谱的分析方法。

（2）吸收光谱又称吸收曲线，是以波长λ（nm）为横坐标，以吸光度A（或透光率T）为纵坐标所描绘的曲线。

（3）吸收峰吸收光谱上吸收最大的地方，它所对应的波长称最大吸收波长。

（4）谷峰峰与峰之间的部位叫谷，该处的波长称最小吸收波长（λmin）

（5）肩峰在一个吸收峰旁边产生的一个曲折，称为肩峰。

（6）末端吸收在图谱短波端只呈现强吸收而不成峰形的部分称为末端吸收。

（7）生色团（chromochrome）有机化合物分子结构中含有π—π*键或n—n*跃迁的基团，如C=C,C=O,-N=N-，-NO2、-C=S等，能在紫外可见光范围内产生吸收的原子团。

（8）助色团（auxochrome）助色团：

助色团是指含有非键电子的杂原子饱和基团，如—OH，—NH2，—OR，—SH，—SR，—Cl，—Br，—I等。

当他们与生色团或饱和烃相连时，能使该生色团或饱和烃的吸收峰向长波方向移动，并能吸收强度增加的基团。

（9）红移（redshift）也称长移（bathochromicshift）,由于化合物的结构改变，如发生共轭作用，引人助色团以及溶剂改变等，使吸收峰向长波方向移动。

（10）蓝（紫）移（blueshift）也称短移（hypsochromicshift）,当化合物的结构改变时或受溶剂影响使吸收峰向短波方向移动。

（11）Lambert-Beer定律是吸收光度法的基本定律，说明物质对单色光吸收的强弱与吸收光物质的浓度和厚度之间的关系。

Beer定律说明吸收光度与浓度的关系，Lambert定律说明吸收度与厚度的关系。

（12）透光率透过样品的光强度与入射光强度之比，T=I/I0。

溶液的透光率越大，表示它对光的吸收率越小；反之，透光率越小，则对光的吸收越大。

（13）吸光度透光率的负对数，A=-lgT=lg（I0/I）

（14）吸光系数吸光物质在单位浓度及单位厚度时的吸光度。

在给定单色光、溶剂和温度的条件下，吸光系数是物质的特性常数，表明物质对某一特定莫畅的吸收能力。

不同物质对同一特定波长光的吸收能力。

不同物质对同一波长的单色光，可有不同的吸光系数。

（15）紫外-可见分光光度计在紫外可见光区可任意选择不同波长的光测定吸光度的一起。

（16）对比法是将样品化合物的吸收光谱特征与标准化合物的吸收光谱特征进行对照比较；也可以利用文献所载的紫外可见标准图谱进行核对。

如果两者完全相同，则可能是同一种物质；如果两者有明显差别，则肯定不是同一种物质。

（17）杂质检查如果化合物在紫外可见光区没有明显吸收，而所含杂质有较强的吸收，那么含有少量杂质就可用光谱检查出来。

若化合物含有较强的吸收峰，而所含杂质在此波长处物吸收峰或吸收很弱，杂质的存在将化合物的吸光系数值降低；弱杂质在此吸收峰处有比化合物更强的吸收，则将使吸光系数值增大；有吸收的杂质也将化合物的吸收光谱变性；这些都可用作检查是否存在的方法。

但是，被检测的化合物必须已经鉴别确证之后，放能认为光谱数据或形状的改变时由杂质存在所致。

（18）吸光系数法根据Beer定律A=εcl，若l和吸光系数ε或E1%1cm已知，即可根据测得的A求出被测物的浓度。

通常ε和E1%1cm可以从手册或文献中查到，这种方法也称绝对法。

（19）标准曲线法先配置一系列浓度不同的标准曲线，在测定条件相同的情况下，分别测定其吸光度，然后以标准溶液的浓度为横坐标，以相应的吸光度为纵坐标，绘制A-c关系图，如果符合Beer定律，可获得一条通过原点的直线。

在相同条件下测出样品溶液的吸光度，就可以从标准曲线上查出样品溶液的浓度。

如果要求测定时，可用回归直线方程计算样品溶液。

（20）双波长法吸收光谱重叠的a、b两组分混合物中，若要消除组分b的干扰以测定组分a，可从组分b的吸收光谱上选择两个吸光度相等的波长λ1和λ2，测定混合物的吸光度差值，然后根据△A值来计算组分a的含量。

（21）导数光谱法保持入射光的强度在整个测量波长范围内为一个常数，则根据Beer定律可得到吸光度（A）与波长的各阶导数。

导数光谱法可以有效地消除共存组分的干扰吸收。

导数信号与待测物的浓度成正比，因此从导数光谱上测出定量用的数据，就可以进行定量测量，其测量方法可分为几何法和代数法。

第11章

荧光分光度法

1）荧光的产生机理辐射跃迁和非辐射跃迁，振动弛豫，体系间跨越，斯托克斯位移，荧光的寿命，荧光和磷光，瑞利光，拉曼光。

2）荧光激发光谱和发射光谱的产生，特点与镜像关系。

3）荧光效率（又称荧光量子产率）的定义以及影响因素。

4）影响荧光强度的内部和外部因素；荧光熄灭的原因及常用的荧光熄灭剂。

5）散射光的分类，特点和干扰的减免

6）荧光定量分析的依据和条件

7）荧光仪器的主要部件和特点。

第12章

原子吸收光度法

（1）共振吸收线原子外层电子由基态跃迁到第一激发态时，吸收一定频率的光而产生的吸收线称为共振吸收线，简称共振线。

（2）Doppler变宽：

运动波源表现出来的一种更频率移位效应。

（3）Holtsmark变宽由同种原子碰撞引起的发射或吸收光量子频率改变而导致的谱线效应，又称共振变宽

（4）Lorentz变宽吸收原子与蒸汽中局外原子或分子等相互碰撞而引起的谱线变宽，谱线频移与不对称变化。

（5）分析线用于原子吸收测定的吸收线

（6）电离干扰由原子的电离而引起的干扰效应。

（7）物理干扰样品在转移、蒸发和原子化过程中，由于其物理特性的变化而引起吸收光谱下降的一种现象。

（8）原子的量子能级用光谱项表示。

原子吸收分光度法中，通常利用元素最灵敏的共振吸收线作为分析线来进行定量分析。

根据吸光度与试样中被测组分浓度的线性关系，常用的定量分析方法有标准曲线法、标准加入法和内标法。

当样品基体影响较大，又没有纯净的基体空白，或测定纯物质中极微量元素时，可采用标准加入法。

（9）影响谱线变宽的因素主要有Doppler线宽、Lorentz线宽、Holtsmark线宽和自然宽度。

在通常的原子吸收分光度法条件下，吸收线线宽主要由Doppler带宽与Lorentz变宽控制，当局外元素原子浓度很小时，吸收线线宽主要由Doppler变宽控制

（10）原子吸收分光光度计主要由光源、原子化器、单色器和检测系统四个部分组成。

第13章红外分光光度法

（1）伸缩振动使键长沿键轴发生周期性变化的震动

（2）弯曲振动使键角发生周期性变化的振动

（3）振动自由度基本振动的数目。

（4）简并振动形式不同，但震动频率相同而合并的现象称为简并。

（5）红外非活性振动不能吸收红外线发生震动能级跃迁的振动，称为红外非活性振动。

（6）基本振动产生红外吸收的条件

（1）△μ≠0，

（2）vL=v△V

（7）基频峰分子吸收一定波长的红外线，振动能级由基态跃迁到第一激发态所产生的吸收峰。

（8）倍频峰分子吸收一定波长的红外线，振动能级由基态跃迁到第二激发态、第三激发态等，所产生的吸收峰，称为倍频峰。

（9）泛频峰倍频峰、合频峰及差频峰统称为泛频峰。

（10）特征峰凡是可用于鉴别官能团存在的吸收峰，称为特征峰。

（11）相关峰由一个官能团所产生的一组相互依存的特征峰，称为相关峰。

（12）特征区在红外光谱中，4000-1250cm-1的高频区称为特征区。

（13）指纹区在红外光谱中，1250-200cm-1的低频区称为指纹区。

第十四章核磁共振波谱法

（1）原子核的进动有磁矩的原子核在磁场中一方面自旋，一方面取一定角度绕磁场转动，这种现象通常就叫做进动，也称为拉摩尔进动（Larmorprecession）

（2）弛豫历程激发核通过非辐射途径损失能量而恢复至基态的过程称为弛豫历程。

（3）化学位移由于核周围分子环境不同，使得核磁共振频率发生位移的现象叫做化学位移。

（4）局部抗磁屏蔽由于核外电子云产生感应磁场的存在，使得原子核实受磁场强度稍有降低，这种现象称为局部抗磁屏蔽。

（localdiamagneticshielding）

（5）磁各向异性在外磁场作用下，电子环电流所产生的感应磁力线具有闭合作用，使得质子在分子中所处的位置不同，屏蔽作用不同的现象称为磁各向异性。

（magneticanisotropy）

（6）自旋系统核自旋产生的核磁矩间的相互干扰称为自旋-自旋偶合。

（spin-spincoupling）

（7）自旋裂分由自旋偶合引起核共振峰分裂的现象称为自旋-自旋裂分（spin-spinsplitting）简称自旋裂分或自旋分裂。

（8）磁等价分子中一组化学等价核（化学位移相同的核）与分子中的任何一个核都有相同强弱的偶合，则这种核称为磁等价（magneticequivalence）核，或磁全同核。

（9）自旋系统分子中几个核相互发生自旋偶合作用的独立体系称为自旋系统（spinsystem）.

（10）一级图谱分子中质子偶合服从n+1律的图谱称为一级图谱或一级光谱。

（firstorderspectrum）

第15章质谱法

（1）离子源质谱仪中使分析物质由电离变成正离子或负离子的部分。

常见的有电子轰击离子源、化学离子源、场致源、快速原子轰击离子源等。

（2）质量分析器质谱仪中将不同质荷比的离子分离的装置称为质量分析器。

（3）相对丰度以质谱中最强峰的高度定位100%，此峰称为基峰，以此峰高度去除其他各峰的高度，所得的分数即为各离子的相对丰度，又称为相对强度。

（4）分子离子分子在离子源中失去一个电子形成的离子称为分子离子。

（5）碎片离子分子在离子源中获得能量，超过分子离子所需的能量时，分子中某化学链断裂而产生碎片离子。

（6）同位素离子质谱图中含有同位素的离子称为同位素离子。

（7）亚稳离子离子离开离子在飞行过程中发生裂解的母离子称为亚稳离子。

由于母离子中途已经裂解生成某种离子和中性碎片，记录器中只能记录这种离子，也称这种离子为亚稳离子，由它形成的质谱峰为亚稳峰。

第17章综合光谱解析法

（1）保留时间（ts）从进样开始到某个组分的色谱峰顶点的时间间隔为该组分的保留时间。

（2）死时间（t0）分配系数为零的组分的保留时间。

（3）调整保留时间（t0’）分配系数为零的组分在柱后停留的时间，即由保留时间扣除死时间所得的时间。

（4）死体积（V0）由进样器至检测器的流路中被流动相占有的空间

（5）保留体积（VR）从进样开始到某个组在柱后出现浓度极大时，所需通过色谱柱的流动相体积。

（6）调整保留体积（VR’）由保留体积中扣除死体积后的体积

（7）保留指数（Ix）以两个保留时间紧邻待测组分的正构烷烃为基准标定该组分保留的相对值。

（8）标准差（σ）正常色谱峰的两个拐点间距离之半。

（9）半峰宽（W1/2）色谱峰峰高一半处的峰宽。

（10）峰宽（W）通过色谱峰两个拐点的切线在基线上的截距。

（11）容量因子（k）组分在固定相与流动相中的质量之比。

（12）理论塔板高度（H）与理论塔板数（n）塔板理论中，将每层塔板的高度称为理论塔板高度，一个色谱系统具有理论塔板高度的数目称为理论塔板数。

（13）涡流扩展项或称多径项（A）：

由于组分分子在色谱柱中移动途径不同所造成的色谱峰展宽。

（14）纵向扩散项（B/μ）组分在色谱柱中的谱带前后存在浓度差而引起色谱峰的纵向扩散。

（15）传质阻抗项（Cu）影响组分（物质）在色谱柱中传递过程（溶解或吸附、平衡、转移等）的阻力，称为传质阻抗系数。

（16）分离度（R）相邻两色谱峰峰尖距离对平均峰宽的比值。

第18章经典液相色谱法

（1）分配系数（K）在一定温度下，某组分在固定相